JPS5960206A - 試験装置用電子試験ヘツド位置決め装置 - Google Patents
試験装置用電子試験ヘツド位置決め装置Info
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- JPS5960206A JPS5960206A JP58154237A JP15423783A JPS5960206A JP S5960206 A JPS5960206 A JP S5960206A JP 58154237 A JP58154237 A JP 58154237A JP 15423783 A JP15423783 A JP 15423783A JP S5960206 A JPS5960206 A JP S5960206A
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- G—PHYSICS
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- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
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- G—PHYSICS
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- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
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- G—PHYSICS
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、電子試験ヘッド位置決め装置に関する。
(背景技術)
集積回路(IC)や他の電子ディバイスの自動試験では
、これらのディバイスを試験する位置に設置するための
特別のディバイスハンドラが用いられている。電気的な
試験そのものは、ディバイスハンドラに接続しかつドッ
キングすることが要求される試験ヘッドを含む大規模か
つ高価な自動試験装置により行なわれる。このような装
置では、試験ヘッドは通常重さが34〜136kg(7
5〜300ポンド)と極めて重い。このように重い理由
は、試験ヘッドは高速電気タイミング信号を用い、この
結果電子回路を試験下にあるディバイスにできるだけ近
接するように位置決めしなければならないことにある。
、これらのディバイスを試験する位置に設置するための
特別のディバイスハンドラが用いられている。電気的な
試験そのものは、ディバイスハンドラに接続しかつドッ
キングすることが要求される試験ヘッドを含む大規模か
つ高価な自動試験装置により行なわれる。このような装
置では、試験ヘッドは通常重さが34〜136kg(7
5〜300ポンド)と極めて重い。このように重い理由
は、試験ヘッドは高速電気タイミング信号を用い、この
結果電子回路を試験下にあるディバイスにできるだけ近
接するように位置決めしなければならないことにある。
従って、試験ヘッドは、複雑化したディバイスの高速試
験を行なうために、電子回路か密にパッケージ化されて
いる。
験を行なうために、電子回路か密にパッケージ化されて
いる。
従来技術では、ディバイスハンドラ機構に対して重い試
験ヘッドを所定の位置に正確にかつ容易に動かすための
移動装置又は位置決め装置を備えておくことが多く望ま
れている。ある従来の位置決め装置では、各々移動可能
なリードスクリュと回転及びスライドする機構により、
一度に位置決めされる。これらの従来装置では、ハンド
ラに容易にかつ正確にドッキングするために必要なすべ
ての方向の自由度を備えていないので、利用者は重いデ
ィバイスハンドラ又は重い位置決め装置自体を動かさね
ばならなかった。別の従来の移動装置は、リードスクリ
ューを上又は下方向に駆動するためのモータを用いてい
る。このようにリードスクリューをモータで駆動するか
あるいは手動で駆動することにより、試験ヘッドソケッ
ト接続あるいは過度の応力によるディバイスハンドラ上
の接続に、損傷を与える可能性がある。
験ヘッドを所定の位置に正確にかつ容易に動かすための
移動装置又は位置決め装置を備えておくことが多く望ま
れている。ある従来の位置決め装置では、各々移動可能
なリードスクリュと回転及びスライドする機構により、
一度に位置決めされる。これらの従来装置では、ハンド
ラに容易にかつ正確にドッキングするために必要なすべ
ての方向の自由度を備えていないので、利用者は重いデ
ィバイスハンドラ又は重い位置決め装置自体を動かさね
ばならなかった。別の従来の移動装置は、リードスクリ
ューを上又は下方向に駆動するためのモータを用いてい
る。このようにリードスクリューをモータで駆動するか
あるいは手動で駆動することにより、試験ヘッドソケッ
ト接続あるいは過度の応力によるディバイスハンドラ上
の接続に、損傷を与える可能性がある。
従来装置の他の欠点は、これらは大規模であり試験施設
において額面以上の床のスペースを考慮しなければなら
ないということにある。大規摸な従来装置の更に別の問
題点は、試験装置を試験ヘッドに接続するための通常短
かく邪魔で弱いケーブルを有することにある。従って、
これらの大きさと構造のために、従来装置を試験装置に
十分に近接して動かすことはできなかった。
において額面以上の床のスペースを考慮しなければなら
ないということにある。大規摸な従来装置の更に別の問
題点は、試験装置を試験ヘッドに接続するための通常短
かく邪魔で弱いケーブルを有することにある。従って、
これらの大きさと構造のために、従来装置を試験装置に
十分に近接して動かすことはできなかった。
調査の結果、興味あるものとしては次の米国特許がある
。
。
米国特許番号 発明者4,
199,294 ストレック(Streck)外4,
062,455 カール フラトー(Carl Fl
atau)4,132,318 ウォング(Wang
)外3,873,148 ロバート ケニキット(R
obert Kennicuit)4,076,131
ダルストーム(Dahlstrom)外4,188
,166 モリュー(Moreau)外4,273,
506 トムソン(Thomson)外4,299,
529 イナバ(Inaba)外4,264,266
ハンス トレクセル(Hans Trechsel
)3,791,052 コルネリー バン デル レ
リ(Cornelis Van DerLely) 3,826,383 ハンス リクタ(Hans R
ichter)4,303,368 デント(Den
t)外(発明の目的) 従って本発明の目的は、6つの自由度をもち、容易にか
つ正確に試験ヘッドをディバイスハンドラに連結させ又
は切り離すために、手で動かすことができる試験ヘッド
に実質上重さのない状態を与える電子試験ヘッド位置決
め装置を提供することにある。
199,294 ストレック(Streck)外4,
062,455 カール フラトー(Carl Fl
atau)4,132,318 ウォング(Wang
)外3,873,148 ロバート ケニキット(R
obert Kennicuit)4,076,131
ダルストーム(Dahlstrom)外4,188
,166 モリュー(Moreau)外4,273,
506 トムソン(Thomson)外4,299,
529 イナバ(Inaba)外4,264,266
ハンス トレクセル(Hans Trechsel
)3,791,052 コルネリー バン デル レ
リ(Cornelis Van DerLely) 3,826,383 ハンス リクタ(Hans R
ichter)4,303,368 デント(Den
t)外(発明の目的) 従って本発明の目的は、6つの自由度をもち、容易にか
つ正確に試験ヘッドをディバイスハンドラに連結させ又
は切り離すために、手で動かすことができる試験ヘッド
に実質上重さのない状態を与える電子試験ヘッド位置決
め装置を提供することにある。
本発明はシャフト手段を含むハウジングを有する。位置
決めアセンブリはシャフト手段に沿って垂直に動き、6
つの自由度をもって水平面で実質上展開可能な動きを与
える。位置決めアセンブリは、試験ヘッドを取り付ける
ための手段を含む。
決めアセンブリはシャフト手段に沿って垂直に動き、6
つの自由度をもって水平面で実質上展開可能な動きを与
える。位置決めアセンブリは、試験ヘッドを取り付ける
ための手段を含む。
平衡手段は、試験ヘッドが取り付けられた位置決めアセ
ンブリに実質上重さがない状態を与えるために、位置決
めアセンブリに接続されている。
ンブリに実質上重さがない状態を与えるために、位置決
めアセンブリに接続されている。
(発明の構成及び作用)
第5図Aには、本発明による試験ヘッド位置決め装置1
0が示されている。図示のように、位置決め装置10は
集積回路ハンドラ15の機構プレート17とドッキング
させるために、試験装置のための試験ヘッド11を支持
する。他の電子ディバイスはトランジスタ、チップ又は
ダイス等のようなディバイスハンドラによって操作され
るということが理解されるであろう。動作において、位
置決め装置10は重い試験ヘッド11を正確に寸分違う
ことなく動かしかつ機構プレート17にドッキングさせ
るために、実質上重さのない状態で手動で動かされる。
0が示されている。図示のように、位置決め装置10は
集積回路ハンドラ15の機構プレート17とドッキング
させるために、試験装置のための試験ヘッド11を支持
する。他の電子ディバイスはトランジスタ、チップ又は
ダイス等のようなディバイスハンドラによって操作され
るということが理解されるであろう。動作において、位
置決め装置10は重い試験ヘッド11を正確に寸分違う
ことなく動かしかつ機構プレート17にドッキングさせ
るために、実質上重さのない状態で手動で動かされる。
ドッキングにおいて、位置選定ピン11bはプレート1
7の対応する開口部に挿入され、試験コネクタ11aは
試験されるディバイス15aに対するコネクタに接続さ
れる。試験ヘッド11の位置は、あらゆる位置にある他
の機構プレートとドッキングさせるために、水平面内の
実質上拡張可能な6つの自由度をもって、他の位置に実
質上重さのない状態で正確に動かすことができる。例え
ば、プローバ又はハンドラに対する機構プレートは水平
面から垂直面までのいかなる位置をとることができる。
7の対応する開口部に挿入され、試験コネクタ11aは
試験されるディバイス15aに対するコネクタに接続さ
れる。試験ヘッド11の位置は、あらゆる位置にある他
の機構プレートとドッキングさせるために、水平面内の
実質上拡張可能な6つの自由度をもって、他の位置に実
質上重さのない状態で正確に動かすことができる。例え
ば、プローバ又はハンドラに対する機構プレートは水平
面から垂直面までのいかなる位置をとることができる。
位置決め装置10の詳細は第1図ないし第3図に示され
ている。これらの図において、H型の梁は垂直の柱12
を形成する。柱12は対向する壁12a、12bを有し
、フランジ12cはこれらの壁を接続する。柱12は基
体22と外側に拡がっている脚24a−eを有するアセ
ンブリ20によって底部で支持されている。
ている。これらの図において、H型の梁は垂直の柱12
を形成する。柱12は対向する壁12a、12bを有し
、フランジ12cはこれらの壁を接続する。柱12は基
体22と外側に拡がっている脚24a−eを有するアセ
ンブリ20によって底部で支持されている。
試験ヘッド11は、メインシャフト50上を垂直方向に
動く位置決めアームアセンブリ30により支持され、連
結した状態で動く。アセンブリ30は、メインアームア
センブリ32、前部アムアセンブリ34、リスト連結ア
センブリ36、クレドールアセンブリ38及び試験ヘッ
ドアダプタプレート40a、bを有する。メインシャフ
ト50は対向する軸受けブロック52、53によりしっ
かりと固着されている。
動く位置決めアームアセンブリ30により支持され、連
結した状態で動く。アセンブリ30は、メインアームア
センブリ32、前部アムアセンブリ34、リスト連結ア
センブリ36、クレドールアセンブリ38及び試験ヘッ
ドアダプタプレート40a、bを有する。メインシャフ
ト50は対向する軸受けブロック52、53によりしっ
かりと固着されている。
位置決めアームアセンブリ30は、柱12の後部領域内
の垂直方向のいずれかに動くウェイトキャリッジ62を
有するカウンタウェイトアセンブリ60により、メイン
シャフト50上の垂直方向で停止するようにつり合いが
とられている。キャリッジ62はこれらに固定された垂
直方向に伸びているキャリッジシャフト65a、bを有
し、移動可能なウェイト62a−cを支持する。ウェイ
ト62a−cは、アセンブリ30と試験ヘッド4の重さ
に対して正確につり合いをとる。この結果、これらは実
質上重さがない状態となる。
の垂直方向のいずれかに動くウェイトキャリッジ62を
有するカウンタウェイトアセンブリ60により、メイン
シャフト50上の垂直方向で停止するようにつり合いが
とられている。キャリッジ62はこれらに固定された垂
直方向に伸びているキャリッジシャフト65a、bを有
し、移動可能なウェイト62a−cを支持する。ウェイ
ト62a−cは、アセンブリ30と試験ヘッド4の重さ
に対して正確につり合いをとる。この結果、これらは実
質上重さがない状態となる。
シャフト65a、bの上端部は部材67a、bをささえ
る。シャフト74は滑車72a、bを回転させる。シャ
フト74は柱12の上端部領域でささえられている。ケ
ーブル68a、bは伸びており、メインアームアセンブ
リ32の下に位置するリフトブロック80にスエッジ部
材により締め付けられている。ブロック80はシャフト
50を収容するための開口部を有する。ブロックはフラ
ンジ12cに沿ってスライドし、シャフト50のまわり
を回転することはない。
る。シャフト74は滑車72a、bを回転させる。シャ
フト74は柱12の上端部領域でささえられている。ケ
ーブル68a、bは伸びており、メインアームアセンブ
リ32の下に位置するリフトブロック80にスエッジ部
材により締め付けられている。ブロック80はシャフト
50を収容するための開口部を有する。ブロックはフラ
ンジ12cに沿ってスライドし、シャフト50のまわり
を回転することはない。
第3図及び第8図に図示するように、メインアームアセ
ンブリ32は上部ベアリングブロック86とブロック8
0により支持された下部ベアリングブロック87とを有
する。ブロック86、87はそれぞれ、下に伸びている
領域86aと上に伸びている領域87aとを有する。特
に、■型の梁90の前壁90aはブロック86、87の
前面に固着されており、一方■ビーム90の後部領域9
0bは領域86a、87aに固着されている。
ンブリ32は上部ベアリングブロック86とブロック8
0により支持された下部ベアリングブロック87とを有
する。ブロック86、87はそれぞれ、下に伸びている
領域86aと上に伸びている領域87aとを有する。特
に、■型の梁90の前壁90aはブロック86、87の
前面に固着されており、一方■ビーム90の後部領域9
0bは領域86a、87aに固着されている。
ロック55は、アセンブリ32の垂直方向の動き及び回
転する動きを、アセンブリがいかなる位置にあっても、
一方的にロックすることができる。
転する動きを、アセンブリがいかなる位置にあっても、
一方的にロックすることができる。
シャフト50と同一中心のスリーブ226は、これをシ
ャフト50上で上方向あるいは下方向に動かすことがで
きるように、内部に設けられた線状ベアリング228を
有するブロック87と91の間に固着されている。この
方法により、シャフト50上で垂直方向の動き及び回転
する動き(垂直軸を中心とする)が可能な単一のメイン
アームアセンブリ32が形成される。
ャフト50上で上方向あるいは下方向に動かすことがで
きるように、内部に設けられた線状ベアリング228を
有するブロック87と91の間に固着されている。この
方法により、シャフト50上で垂直方向の動き及び回転
する動き(垂直軸を中心とする)が可能な単一のメイン
アームアセンブリ32が形成される。
アセンブリ32に速度に応答する内部からの制動を与え
るために、流体シリンダ220は軸受けブロック52に
一端が固定され、他端がスリーブ226の外部表面に固
着された板230に固定されている。シリンダ220は
アームアセンブリ30の迅速な垂直方向の動きを阻止し
、ハンドラと試験ヘッドに損傷を与えないようにする。
るために、流体シリンダ220は軸受けブロック52に
一端が固定され、他端がスリーブ226の外部表面に固
着された板230に固定されている。シリンダ220は
アームアセンブリ30の迅速な垂直方向の動きを阻止し
、ハンドラと試験ヘッドに損傷を与えないようにする。
一組の軸受けブロック95、96は、I型の梁90の前
面90aに固着されている。垂直シャフト98は軸受け
ブロック95、96を介して伸長をしている。前部アー
ムアセンブリ34は、更に後部領域101を有する前部
アーム100を有する。
面90aに固着されている。垂直シャフト98は軸受け
ブロック95、96を介して伸長をしている。前部アー
ムアセンブリ34は、更に後部領域101を有する前部
アーム100を有する。
シャフト98は領域101にある垂直方向の開口部10
7を介して伸長している。前部アセンブリ34は、前部
アームロックアセンブリ106により垂直軸を中心とす
る回転領域において、一時的に固定可能である。
7を介して伸長している。前部アセンブリ34は、前部
アームロックアセンブリ106により垂直軸を中心とす
る回転領域において、一時的に固定可能である。
前部ブームアセンブリ34は事実上180°回転可能で
あり、一方他のすべての素子をこれらの当初の位置に維
持することができるということは理解されるであろう。
あり、一方他のすべての素子をこれらの当初の位置に維
持することができるということは理解されるであろう。
前部アーム100は、リスト連結アセンブリ36の取り
付け部材120を回転可能な状態で支持する前部が“C
”型状の領域を有する。部材120は、垂直方向の上部
及び下部ピボットピン122により前部アーム100に
対して回転する。
付け部材120を回転可能な状態で支持する前部が“C
”型状の領域を有する。部材120は、垂直方向の上部
及び下部ピボットピン122により前部アーム100に
対して回転する。
部材120は、ブロック112内に形成されたリスト連
結ロックアセンブリ110により、アセンブリ34に対
する回転を一時的に固定することができる。
結ロックアセンブリ110により、アセンブリ34に対
する回転を一時的に固定することができる。
部材120は、垂直方向に伸長しているシャフト300
を収容するための縦方向開口部を有する。
を収容するための縦方向開口部を有する。
外部端におけるシャフト300は、クレードルアセンブ
リ38の後部プレート130を固着するためにキャップ
ねじ312を収容するための接続ハブ310に連結され
ている。
リ38の後部プレート130を固着するためにキャップ
ねじ312を収容するための接続ハブ310に連結され
ている。
クレードルアセンブリ38は接合された3つの壁130
−132により形成され、これらは試験ヘッドに対する
U字型のホールダを形成する。シャフト300は水平軸
を中心としてアセンブリ38を回転させるものであり、
アセンブリ38はクレードルロックアセンブリ306を
締め付けることによって固着される。
−132により形成され、これらは試験ヘッドに対する
U字型のホールダを形成する。シャフト300は水平軸
を中心としてアセンブリ38を回転させるものであり、
アセンブリ38はクレードルロックアセンブリ306を
締め付けることによって固着される。
壁131、132は試験ヘッドアダプタプレート40a
、bを支持し、これらのプレートを壁に対して回転させ
そしてしっかりと固定することができる。アーム131
はその端部領域に円形状の溝135と肩ねじ137を収
容するための開口部136とを有する。ロックノブ14
0はプレート40a内を通り、通常の方法で円形状の溝
135に沿って動く。この方法によれば、ロックノブ1
40をしっかりと締めることにより、プレート40aは
壁131に対してしっかりと固着される。
、bを支持し、これらのプレートを壁に対して回転させ
そしてしっかりと固定することができる。アーム131
はその端部領域に円形状の溝135と肩ねじ137を収
容するための開口部136とを有する。ロックノブ14
0はプレート40a内を通り、通常の方法で円形状の溝
135に沿って動く。この方法によれば、ロックノブ1
40をしっかりと締めることにより、プレート40aは
壁131に対してしっかりと固着される。
試験ヘッド位置決め装置10はX、Y、Z、φ_X、φ
_Y、φ_Zの6つの方向に同時に位置決めされるとい
うことが理解されるであろう。第6図に示すように、試
験コネクタ11aを例えば15aのような試験されるデ
ィバイスに対して正確にかつ容易に位置決めするために
、6つの自由度を有するということは、試験ヘッド11
を適切にドッキングさせるためには重要である。Y方向
が垂直すなわち上下方向であると考えるならば、シャフ
ト50に対して垂直方向のアセンブリ32の動きはY方
向の自由度を与える。Y軸を中心とする回転を示す自由
度φ_Yは、垂直軸50、98及び122を中心とする
すべてのジョイントの同時に起こる回転により与えられ
る。Xが左から右の方向であるとすれば、自由度φ_Y
と同じようにピボット50、98及び122によって与
えられる。自由度φ_Xは肩ねじ137により与えられ
る。出たり入ったりする動きとして考えられるZ方向の
動きに対して、このような自由度はφ_Yと同じように
ピボットシャフト50、98及び122により与えられ
、φ_Zはシャフト300がピボットすることにより与
えられる。
_Y、φ_Zの6つの方向に同時に位置決めされるとい
うことが理解されるであろう。第6図に示すように、試
験コネクタ11aを例えば15aのような試験されるデ
ィバイスに対して正確にかつ容易に位置決めするために
、6つの自由度を有するということは、試験ヘッド11
を適切にドッキングさせるためには重要である。Y方向
が垂直すなわち上下方向であると考えるならば、シャフ
ト50に対して垂直方向のアセンブリ32の動きはY方
向の自由度を与える。Y軸を中心とする回転を示す自由
度φ_Yは、垂直軸50、98及び122を中心とする
すべてのジョイントの同時に起こる回転により与えられ
る。Xが左から右の方向であるとすれば、自由度φ_Y
と同じようにピボット50、98及び122によって与
えられる。自由度φ_Xは肩ねじ137により与えられ
る。出たり入ったりする動きとして考えられるZ方向の
動きに対して、このような自由度はφ_Yと同じように
ピボットシャフト50、98及び122により与えられ
、φ_Zはシャフト300がピボットすることにより与
えられる。
第4図には、通常のくさびロック装置を有するメインア
ームアセンブリロック55が示されている。特に、2つ
のくさび150と152はシャフト50のいずれかの側
に与えられている。ロックハンドル153を時計方向に
回すことにより、くさび部材150と152は近づきシ
ャフト50上に圧力を与える。この方法はブロック91
のシャフト50を中心とする回転を阻止し、更にブロッ
ク91とアセンブリ30全体の垂直方向の動きを阻止す
る。同様のロックアセンブリが前部アームロックアセン
ブリ106、リスト連結ロックアセンブリ110及びク
レードルロックアセンブリ306−これらはそれぞれ回
転アーム106a、110a、306aを有する−に対
して与えられている。
ームアセンブリロック55が示されている。特に、2つ
のくさび150と152はシャフト50のいずれかの側
に与えられている。ロックハンドル153を時計方向に
回すことにより、くさび部材150と152は近づきシ
ャフト50上に圧力を与える。この方法はブロック91
のシャフト50を中心とする回転を阻止し、更にブロッ
ク91とアセンブリ30全体の垂直方向の動きを阻止す
る。同様のロックアセンブリが前部アームロックアセン
ブリ106、リスト連結ロックアセンブリ110及びク
レードルロックアセンブリ306−これらはそれぞれ回
転アーム106a、110a、306aを有する−に対
して与えられている。
第5図B、Cには機構プレート17と試験ヘッド11の
詳細が示されている。特に、機構プレート17はハンド
ラ後部プレート17aとドッキングガセットアセンブリ
17bとを有する。プレート17aは、この背面に固定
されたオスのコネクタ15bに可動性の接点を介して電
気的に接続された試験されるディバイス15aを支持す
る。アセンブリ17bはコネクタ15bにアクセスでき
るように開口部200を有し、アセンブリ17をプレー
ト17aの背面にボルトで締めることにより、ガセット
又はブロック202a、bを背面に与える。同様のガセ
ットは、他の実施例では背面に直接据え付けられている
ということが理解されるであろう。
詳細が示されている。特に、機構プレート17はハンド
ラ後部プレート17aとドッキングガセットアセンブリ
17bとを有する。プレート17aは、この背面に固定
されたオスのコネクタ15bに可動性の接点を介して電
気的に接続された試験されるディバイス15aを支持す
る。アセンブリ17bはコネクタ15bにアクセスでき
るように開口部200を有し、アセンブリ17をプレー
ト17aの背面にボルトで締めることにより、ガセット
又はブロック202a、bを背面に与える。同様のガセ
ットは、他の実施例では背面に直接据え付けられている
ということが理解されるであろう。
ガセット202a、bの各々は中心に位置決めされたガ
イド開口部204a、bを有し、試験ヘッド11のガイ
ドすなわち位置決め用ピン11bを収容するように適合
されている。特に、試験ヘッド11はドッキングアセン
ブリ205と試験ヘッド面プレート206上に設けられ
た試験コネクタ11aとを有する。ガイドピン11bは
コネクタ11aをハンドラコネクタ15bに正確に位置
決めする。
イド開口部204a、bを有し、試験ヘッド11のガイ
ドすなわち位置決め用ピン11bを収容するように適合
されている。特に、試験ヘッド11はドッキングアセン
ブリ205と試験ヘッド面プレート206上に設けられ
た試験コネクタ11aとを有する。ガイドピン11bは
コネクタ11aをハンドラコネクタ15bに正確に位置
決めする。
コネクタ11a、15bは極めてもろく、損傷を避ける
ために極めて正確に一致させなければならないというこ
とが理解されるであろう。これは、特に試験ヘッド15
の重さすなわち質量の見地からの問題である。従って、
心合せを確立しコネクタ11aと15bの完全に正確な
接続を確立するガイド開口部204a、bにピン11b
が実際に収容されるまで、ガイドピン11bとブロック
202a、bはコネクタ11a、15bを互いに分離さ
せておく作用をする。ピン11bが開口部に心合せされ
たとき、コネクタ11a、15bを互いに引き寄せるこ
とが必要である。これは、ブロック202a、bから外
側に伸長しているカム従動ピン206a、bを支えるプ
レート206上に設けられたカムアセンブリ210によ
り行なわれる。アセンブリ210は、循環ケーブル21
4により同時に動作する一組の円筒状カム212a、b
を有する。各々のカム212a、bは、図示のように滑
車214a−dを介してカム間を連結する緊張したケー
ブル214を支持する低い溝を有する。各々のカム21
2a、bは、各ハンドルの回転により同時に両方のカム
を動作させるために、外側に伸長するハンドル215a
、bを有する。
ために極めて正確に一致させなければならないというこ
とが理解されるであろう。これは、特に試験ヘッド15
の重さすなわち質量の見地からの問題である。従って、
心合せを確立しコネクタ11aと15bの完全に正確な
接続を確立するガイド開口部204a、bにピン11b
が実際に収容されるまで、ガイドピン11bとブロック
202a、bはコネクタ11a、15bを互いに分離さ
せておく作用をする。ピン11bが開口部に心合せされ
たとき、コネクタ11a、15bを互いに引き寄せるこ
とが必要である。これは、ブロック202a、bから外
側に伸長しているカム従動ピン206a、bを支えるプ
レート206上に設けられたカムアセンブリ210によ
り行なわれる。アセンブリ210は、循環ケーブル21
4により同時に動作する一組の円筒状カム212a、b
を有する。各々のカム212a、bは、図示のように滑
車214a−dを介してカム間を連結する緊張したケー
ブル214を支持する低い溝を有する。各々のカム21
2a、bは、各ハンドルの回転により同時に両方のカム
を動作させるために、外側に伸長するハンドル215a
、bを有する。
カム212a、bの各々は、ピン11bが開口部204
a、b内のあるときにピン206a、bを各々収容する
ための上部面上に上部カットアウトを有する側部ら線状
溝216a、bを有する。
a、b内のあるときにピン206a、bを各々収容する
ための上部面上に上部カットアウトを有する側部ら線状
溝216a、bを有する。
ハンドル215a、bの1つを回転させると、カムは試
験ヘッドをハンドラ機構プレート17内に引き寄せるよ
うに同時に動作し、これによってコネクタ11a、15
bどうしを接続関係にする。
験ヘッドをハンドラ機構プレート17内に引き寄せるよ
うに同時に動作し、これによってコネクタ11a、15
bどうしを接続関係にする。
接続後、多数のディバイス15aはハンドラシステムに
より試験される。試験の形態を変えるために、コネクタ
11a、15bを分離させハンドラを試験ヘッドから移
動させる必要がある。従って、ハンドルの1つをプレー
ト17aをプレート206から引っ張るように動作させ
る。
より試験される。試験の形態を変えるために、コネクタ
11a、15bを分離させハンドラを試験ヘッドから移
動させる必要がある。従って、ハンドルの1つをプレー
ト17aをプレート206から引っ張るように動作させ
る。
ガイドピン11bの各々はキャリブレイト可能であり、
ガイドピン据付け体207を収容する内部チャンバを有
する外部ピンハウジング203を有する。据付け体20
7は、実質的に遊隙を提供する開口部を介して伸長する
キャップねじ209を収容するための内部チャンバを有
する。従って、ねじ209を、ハウジング203がプレ
ート206上に正確に配列されるように、ゆるめること
ができる。
ガイドピン据付け体207を収容する内部チャンバを有
する外部ピンハウジング203を有する。据付け体20
7は、実質的に遊隙を提供する開口部を介して伸長する
キャップねじ209を収容するための内部チャンバを有
する。従って、ねじ209を、ハウジング203がプレ
ート206上に正確に配列されるように、ゆるめること
ができる。
第7図Aには、試験装置の試験キャビネット11cに隣
接する床に直接ボルト締めされた基体22bが示されて
いる。
接する床に直接ボルト締めされた基体22bが示されて
いる。
第7図Bに示す他の実施例では、基体22cは一方の側
部に沿った低部表面に水平に設けられた固いロッド又は
脚160により据付けられている。
部に沿った低部表面に水平に設けられた固いロッド又は
脚160により据付けられている。
別の脚165はキャビネット11cと柱12の壁12a
に固定されている。この方法によれば、柱12はキャビ
ネット11cに近接して固定される。
に固定されている。この方法によれば、柱12はキャビ
ネット11cに近接して固定される。
第7図Cの実施例では、基体22dは試験キャビネット
11cの近接する側壁に接続され、基体の低部表面に設
けられた垂直の脚170、171に接続されている。キ
ャビネット11cにボルトで締める代わりに、ロッド1
70、171は第7図Dに示すロッド170a、170
bのようにキャビネット11cの端からはみ出させても
よい。これらのロッドは互いにボルトで締め付けられ、
また2つの補助的なロッド173、175にボルトで締
め付けられている。
11cの近接する側壁に接続され、基体の低部表面に設
けられた垂直の脚170、171に接続されている。キ
ャビネット11cにボルトで締める代わりに、ロッド1
70、171は第7図Dに示すロッド170a、170
bのようにキャビネット11cの端からはみ出させても
よい。これらのロッドは互いにボルトで締め付けられ、
また2つの補助的なロッド173、175にボルトで締
め付けられている。
本発明の更に別な実施例を第9図に示す。同図において
、装置250は装置10のウェイト60及びケーブルア
センブリ68a、bをピストン252を有する加圧シリ
ンダ251で置き換えたものである。シリンダ251は
、アセンブリ30aの実際の位置にかかわらず重力と反
対方向にアームアセンブリ30a(試験ヘッド11を含
む)上に一定の力を作用させる点において、ウェイトア
センブリ60と同一の機能を効果的に与える。アセンブ
リ30aの異なる重さのバランスをとることは、ポンプ
257により与えられるレギュレータ258により、シ
リンダ251内に一定値の圧力を維持することで行なわ
れる。
、装置250は装置10のウェイト60及びケーブルア
センブリ68a、bをピストン252を有する加圧シリ
ンダ251で置き換えたものである。シリンダ251は
、アセンブリ30aの実際の位置にかかわらず重力と反
対方向にアームアセンブリ30a(試験ヘッド11を含
む)上に一定の力を作用させる点において、ウェイトア
センブリ60と同一の機能を効果的に与える。アセンブ
リ30aの異なる重さのバランスをとることは、ポンプ
257により与えられるレギュレータ258により、シ
リンダ251内に一定値の圧力を維持することで行なわ
れる。
シリンダ251は第1図の柱12の中央にある板12c
′にしっかりと固着されている。ピストン252は上部
方向に伸びており、板12c′内に形成されたスロット
256を介して伸びている水平アーム254に固定され
て接続されている。他端には、第1図及び第8図に示す
ようにスリーブ226に固定されて接続されている。他
のすべての部分に関しては、装置10と実質上同一であ
る。
′にしっかりと固着されている。ピストン252は上部
方向に伸びており、板12c′内に形成されたスロット
256を介して伸びている水平アーム254に固定され
て接続されている。他端には、第1図及び第8図に示す
ようにスリーブ226に固定されて接続されている。他
のすべての部分に関しては、装置10と実質上同一であ
る。
第10図及び第11図には、装置10において垂直に設
けられた柱12を装置400にあっては垂直に設けられ
た円筒状の支持チューブ403で置き換えた他の実施例
が示されている。チューブ403はシリンダとシール4
14a、414bを有するはめ込み式のロッド402に
対してシリンダを形成する。装置10と250における
ように、支持チューブ403は伸長している脚24aを
有する基体アセンブリ20bにより、装置の底部で支持
されている。チューブ403とピストン402は、チュ
ーブ251とピストン252と同様の動作をする。
けられた柱12を装置400にあっては垂直に設けられ
た円筒状の支持チューブ403で置き換えた他の実施例
が示されている。チューブ403はシリンダとシール4
14a、414bを有するはめ込み式のロッド402に
対してシリンダを形成する。装置10と250における
ように、支持チューブ403は伸長している脚24aを
有する基体アセンブリ20bにより、装置の底部で支持
されている。チューブ403とピストン402は、チュ
ーブ251とピストン252と同様の動作をする。
特に、流体キャビティ412はピストンとシリンダとの
間に形成される。加圧下にある流体は、接続された流体
供給源からライン407によりレギュレータ404と圧
力ゲージ406を介してキャビティ412内に流れ込み
あるいは逆に流れ出ず。通常の方法によればレギュレー
タは、圧力がレギュレータのセッティング404bを越
えたときにキャビティ412からの圧力を放出させるた
めの大気に対する開口部404aを有する。好ましい実
施例によれば、流体は17577〜70308kg/m
^2(単位平方インチ当り25〜100ポンド)の圧力
下にある空気である。これにより、試験ヘッド−その重
さは34〜136kg(75〜300ポンド)−を含む
アームアセンブリ405の全重量を支持できる。この方
法によれば、一定圧力の“気体スプリング”が形成され
、この結果位置決めアームアセンブリ405は事実上重
さのない状態となる。アセンブリ405の位置を上又は
下のいずれか一方に手動で動かそうとするとき、圧力レ
ギュレータ404により迅速に補償されるキャビティ4
12内の流体体積は変化する。アセンブリ405は38
.1〜50.8cm(15〜20インチ)の間を移動で
きることが好ましい。
間に形成される。加圧下にある流体は、接続された流体
供給源からライン407によりレギュレータ404と圧
力ゲージ406を介してキャビティ412内に流れ込み
あるいは逆に流れ出ず。通常の方法によればレギュレー
タは、圧力がレギュレータのセッティング404bを越
えたときにキャビティ412からの圧力を放出させるた
めの大気に対する開口部404aを有する。好ましい実
施例によれば、流体は17577〜70308kg/m
^2(単位平方インチ当り25〜100ポンド)の圧力
下にある空気である。これにより、試験ヘッド−その重
さは34〜136kg(75〜300ポンド)−を含む
アームアセンブリ405の全重量を支持できる。この方
法によれば、一定圧力の“気体スプリング”が形成され
、この結果位置決めアームアセンブリ405は事実上重
さのない状態となる。アセンブリ405の位置を上又は
下のいずれか一方に手動で動かそうとするとき、圧力レ
ギュレータ404により迅速に補償されるキャビティ4
12内の流体体積は変化する。アセンブリ405は38
.1〜50.8cm(15〜20インチ)の間を移動で
きることが好ましい。
ピストン402内には、第1図及び第8図に示されてい
るものと同一の制動ロッド222aを有するダンパ22
0aが配置されている。ダンパ220aの上部端は、ア
ームアセンブリ405の上部プレート424に接続され
たベアリング418内の軸の首部である。この方法によ
れば、ダンパ220aはアセンブリ405を制動させる
ことができ、一方アセンブリはロッド222aを逆方向
に回転させない。
るものと同一の制動ロッド222aを有するダンパ22
0aが配置されている。ダンパ220aの上部端は、ア
ームアセンブリ405の上部プレート424に接続され
たベアリング418内の軸の首部である。この方法によ
れば、ダンパ220aはアセンブリ405を制動させる
ことができ、一方アセンブリはロッド222aを逆方向
に回転させない。
アセンブリ405はアセンブリ30と同様であるか、更
に簡素化されている。特にロッド402の回転と垂直方
向の動きを、図示するロックアセンブリ416によりロ
ックすることができる。ピストン402の上部領域は、
ベアリング据付けプレート428、430が固着されて
いる据付けブロック426にしっかりと固着されている
。プレート428はベアリングブロックの外側表面42
8a、bに固着されており、同様にプレート430もベ
アリングブロックの外側表面430a、bに固着されて
いる。これらのブロックはそれぞれ、水平シャフト43
2、431を支持するための直線状のベアリングを有す
る。プレート428に設けられたロックブロック437
はシャフト432を支持し、ロックされたときにこれら
の動きを阻止する。シャフト432、434はこれらの
左側端部て、アセンブリ110と同様のロックアセンブ
リ443を有するリストベアリングブロック442を固
定した状態で支持するリスト据え付けプレート440に
接続されている。ロック442はこの内部領域に、装置
10のアセンブリ36、38と同様のクレードルアセン
ブリ38aを支持するリスト連結アセンブリ36aを固
定する。
に簡素化されている。特にロッド402の回転と垂直方
向の動きを、図示するロックアセンブリ416によりロ
ックすることができる。ピストン402の上部領域は、
ベアリング据付けプレート428、430が固着されて
いる据付けブロック426にしっかりと固着されている
。プレート428はベアリングブロックの外側表面42
8a、bに固着されており、同様にプレート430もベ
アリングブロックの外側表面430a、bに固着されて
いる。これらのブロックはそれぞれ、水平シャフト43
2、431を支持するための直線状のベアリングを有す
る。プレート428に設けられたロックブロック437
はシャフト432を支持し、ロックされたときにこれら
の動きを阻止する。シャフト432、434はこれらの
左側端部て、アセンブリ110と同様のロックアセンブ
リ443を有するリストベアリングブロック442を固
定した状態で支持するリスト据え付けプレート440に
接続されている。ロック442はこの内部領域に、装置
10のアセンブリ36、38と同様のクレードルアセン
ブリ38aを支持するリスト連結アセンブリ36aを固
定する。
動作は装置10のように、位置決め装置400のすべて
のロックが開いており、従ってクレードルアセンブリ3
8aを所望の位置に動かす。すなわち、アセンブリ40
5はシリンダ403のまわりを回転し、シャフト432
、434により水平に回転し、そしてアセンブリ442
、36a及び38aにより決定される他の位置に動く。
のロックが開いており、従ってクレードルアセンブリ3
8aを所望の位置に動かす。すなわち、アセンブリ40
5はシリンダ403のまわりを回転し、シャフト432
、434により水平に回転し、そしてアセンブリ442
、36a及び38aにより決定される他の位置に動く。
シャフト432、434により水平方向の動きを与える
ことによって、前部アームシャフト98の必要性を除去
し、なおかつ上述した6つの自由度のある動きが可能で
ある。所望の位置が得られたとき、各ロック416、4
37、443、306b及びクレードル38aのロック
は所望の位置を維持するように駆動される。
ことによって、前部アームシャフト98の必要性を除去
し、なおかつ上述した6つの自由度のある動きが可能で
ある。所望の位置が得られたとき、各ロック416、4
37、443、306b及びクレードル38aのロック
は所望の位置を維持するように駆動される。
位置決め装置400の変形例として、第12図に位置決
め装置450を示す。位置決め装置450は、比較的軽
い重量の試験ヘッドに適している。
め装置450を示す。位置決め装置450は、比較的軽
い重量の試験ヘッドに適している。
これは、ブロック429a、b及び452に水平方向に
ジャーナルされた単一のシャフト432aを有する簡素
な構成となっている。ブロック429a、b及び452
は、ピストン402により支持されている据付けブロッ
ク426aに支持され固着されている。シャフト432
aの水平方向及び回転する動きは、ブロック452内の
前述したくさびロック装置55aによりロックされる。
ジャーナルされた単一のシャフト432aを有する簡素
な構成となっている。ブロック429a、b及び452
は、ピストン402により支持されている据付けブロッ
ク426aに支持され固着されている。シャフト432
aの水平方向及び回転する動きは、ブロック452内の
前述したくさびロック装置55aによりロックされる。
更に、シャフト432aの端はリストベアリングブロッ
ク440aにしっかりと固着されている。ブロック44
0aは、クレードルアセンブリ38bを支持する簡単な
リスト連結アセンブリ460を支持する。ロックは前述
した方法によりブロック440a、460及びアセンブ
リ38b内に与えられるのが適当である。
ク440aにしっかりと固着されている。ブロック44
0aは、クレードルアセンブリ38bを支持する簡単な
リスト連結アセンブリ460を支持する。ロックは前述
した方法によりブロック440a、460及びアセンブ
リ38b内に与えられるのが適当である。
第1図ないし第3図は本発明による試験ヘッド位置決め
装置の斜視図、第4図は第3図の断面図、第5図Aはハ
ンドラの機構プレートと試験ヘッドのドッキングを示す
第1図ないし第3図の概略図、第5図B、Cはそれぞれ
機構プレートと試験ヘッドの詳細な構造の斜視図及び断
面図、第6図は第1図ないし第3図に示す装置の6つの
自在性を示す図、第7図AないしDは試験装置に横付け
された位置決め装置の取り付けに関する本発明の他の実
施例を示す図、第8図は第3図の一部切り欠き斜視図、
第9図は加圧されるシリンダが用いられる本発明の他の
実施例を示す図、第10図及び第11図は第1図ないし
第3図の垂直柱が垂直シリンダ支持チューブにより置き
換えられた本発明の他の実施例の斜視図、及び第12図
は第10図及び第11図に示す垂直柱を持つ本発明によ
る他の実施例の斜視図である。 10・・・試験ヘッド位置決め装置、11・・・試験ヘ
ッド、11a・・・試験コネクタ、11b・・ガイドピ
ン、15・・・集積回路ハンドラ、15a・・・ディバ
イス、17・・・機構プレート、30・・・位置決めア
ームアセンブリ、32・・・メインアームアセンブリ、
34・・・前部アームアセンブリ、36・・・リスト連
結アセンブリ、38・・・クレードルアセンブリ、40
a、b・・・試験ヘッドアダプタプレート、50・・・
メインシャフト、52、53・・・軸受けブロック、5
5・・・ロック、60・・・カウンタウェイトアセンブ
リ、62・・・ウェイトキャリッジ、65a、b・・・
キャリッジシャフト、68a、b・・・ケーブル、72
a、b・・・滑車、74・・・シャフト、80・・・リ
フトブロック、86・・・上部ベアリングブロック、8
7・・・下部ベアリングブロック、95、96・・・軸
受けブロック、98・・垂直シャフト、100・・・前
部アーム、106前部アームロックアセンブリ、110
・・・リスト連結ロックアセンブリ、122・・・下部
ピボットピン、131・・・アーム、137・・・肩ね
じ、150、152・・・くさび、153・・・ロック
ハンドル、202a、b・・・ガセット、203・・・
ピンハウジング、205・・・ドッキングアセンブリ、
206a、b・・・カム従動ピン、207・・・ガイド
ピン据付け体、210・・・カムアセンブリ、212a
、b・・・円筒状カム、214・・・循環ケーブル、2
15a、b・・・ハンドル、216a、b・・・側部ら
線状溝、222a・・・制動ロッド、226・・・スリ
ーブ、251・・・加圧シリンダ、252・・・ピスト
ン、256・・・スロット、257・・・ポンプ、25
8・・・レギュレータ、300・・・シャフト、310
・・・接続ハブ、404・・・レギュレータ、405・
・・位置決めアームアセンブリ、406・・・圧力ゲー
ジ、412・・・流体キャビティ、416・・・ロック
アセンブリ。
装置の斜視図、第4図は第3図の断面図、第5図Aはハ
ンドラの機構プレートと試験ヘッドのドッキングを示す
第1図ないし第3図の概略図、第5図B、Cはそれぞれ
機構プレートと試験ヘッドの詳細な構造の斜視図及び断
面図、第6図は第1図ないし第3図に示す装置の6つの
自在性を示す図、第7図AないしDは試験装置に横付け
された位置決め装置の取り付けに関する本発明の他の実
施例を示す図、第8図は第3図の一部切り欠き斜視図、
第9図は加圧されるシリンダが用いられる本発明の他の
実施例を示す図、第10図及び第11図は第1図ないし
第3図の垂直柱が垂直シリンダ支持チューブにより置き
換えられた本発明の他の実施例の斜視図、及び第12図
は第10図及び第11図に示す垂直柱を持つ本発明によ
る他の実施例の斜視図である。 10・・・試験ヘッド位置決め装置、11・・・試験ヘ
ッド、11a・・・試験コネクタ、11b・・ガイドピ
ン、15・・・集積回路ハンドラ、15a・・・ディバ
イス、17・・・機構プレート、30・・・位置決めア
ームアセンブリ、32・・・メインアームアセンブリ、
34・・・前部アームアセンブリ、36・・・リスト連
結アセンブリ、38・・・クレードルアセンブリ、40
a、b・・・試験ヘッドアダプタプレート、50・・・
メインシャフト、52、53・・・軸受けブロック、5
5・・・ロック、60・・・カウンタウェイトアセンブ
リ、62・・・ウェイトキャリッジ、65a、b・・・
キャリッジシャフト、68a、b・・・ケーブル、72
a、b・・・滑車、74・・・シャフト、80・・・リ
フトブロック、86・・・上部ベアリングブロック、8
7・・・下部ベアリングブロック、95、96・・・軸
受けブロック、98・・垂直シャフト、100・・・前
部アーム、106前部アームロックアセンブリ、110
・・・リスト連結ロックアセンブリ、122・・・下部
ピボットピン、131・・・アーム、137・・・肩ね
じ、150、152・・・くさび、153・・・ロック
ハンドル、202a、b・・・ガセット、203・・・
ピンハウジング、205・・・ドッキングアセンブリ、
206a、b・・・カム従動ピン、207・・・ガイド
ピン据付け体、210・・・カムアセンブリ、212a
、b・・・円筒状カム、214・・・循環ケーブル、2
15a、b・・・ハンドル、216a、b・・・側部ら
線状溝、222a・・・制動ロッド、226・・・スリ
ーブ、251・・・加圧シリンダ、252・・・ピスト
ン、256・・・スロット、257・・・ポンプ、25
8・・・レギュレータ、300・・・シャフト、310
・・・接続ハブ、404・・・レギュレータ、405・
・・位置決めアームアセンブリ、406・・・圧力ゲー
ジ、412・・・流体キャビティ、416・・・ロック
アセンブリ。
Claims (8)
- (1)支持手段と、該支持手段に接続されかつこれに対
し垂直方向に移動可能であり、6つの自由度をもって水
平面で実質上展開可能な動きを与える位置決め手段とを
有し、前記位置決め手段は前記試験ヘッドを取り付ける
ための手段を有し、前記支持手段は試験ヘッドが取り付
けられた前記位置決め手段に対し実質上重さがない状態
を与える平衡手段を有することを特徴とする電子ディバ
イスハンドラに対して電子試験ヘッドを位置決めする装
置。 - (2)前記平衡手段は、一方がしっかりと固定され他方
は位置決めアセンブリを支持する流体シリンダ及びピス
トンと、流体シリンダ内の流体圧力を予め決められた値
に設定しかつ位置決め手段のすべての垂直方向の位置に
対して実質上一定の前記値を維持する手段とを有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の装置。 - (3)前記平衡手段は、位置決め手段と試験ヘッドに実
質上等しい重さのカウンタウェイト手段を含みかつケー
ブルによって位置決め手段に接続され、支持手段は位置
決め手段に対して内部からの制動を与えるための速度感
応性手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の装置。 - (4)前記位置決め手段は、リスト手段の水平方向の動
きを与えるためにリスト手段に固着された水平シャフト
と、水平軸のまわりのクレードル手段に回転を与えるた
めのリスト手段に固着されたピボット手段を持つクレー
ドル手段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
2項又は第3項のいずれか一項に記載の装置。 - (5)前記支持手段は第1の垂直軸を形成するシャフト
を含み、前記位置決め手段は前記シャフトに沿った垂直
方向の動きと前記第1の垂直軸のまわりの回転とを与え
るためのメインアーム手段に対して第1のピボット手段
を持つメインアーム手段を含むことを特徴とする特許請
求の範囲第2項又は第3項のいずれか一項に記載の装置
。 - (6)ヘッドとハンドラとをいっしょに引き寄せまた別
々に押すためのカムアセンブリと、一方が試験ヘッドに
取り付けられ他方がハンドラに取り付けられた心合せピ
ンと該ピンを収容するソケット手段とを有することを特
徴とする電子ディバイスハンドラに対して電子試験ヘッ
ドを連結し及び切り離す装置。 - (7)前記カムアセンブリはカム従動ピンを収容するら
線状の溝を有する少なくとも2つのカムと、該カムが同
時に回転するためにカムを共に連結するためのケーブル
手段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第6項
に記載の装置。 - (8)前記心合せピンが心合せピンの位置を調整するた
めの手段と、試験ヘッドとハンドラとの接続が行なわれ
るまでこれらを分離させておくガセット手段を含むソケ
ット手段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
6項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US411311 | 1982-08-25 | ||
US06/411,311 US4527942A (en) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | Electronic test head positioner for test systems |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14519191A Division JP2513362B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 電子試験ヘッドと電子装置ハンドラとの取付け取外し装置 |
JP14519091A Division JPH06100634B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 試験装置用電子試験ヘッド位置決め装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5960206A true JPS5960206A (ja) | 1984-04-06 |
JPH0461281B2 JPH0461281B2 (ja) | 1992-09-30 |
Family
ID=23628432
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58154237A Granted JPS5960206A (ja) | 1982-08-25 | 1983-08-25 | 試験装置用電子試験ヘツド位置決め装置 |
JP14519091A Expired - Lifetime JPH06100634B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 試験装置用電子試験ヘッド位置決め装置 |
JP14519191A Expired - Lifetime JP2513362B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 電子試験ヘッドと電子装置ハンドラとの取付け取外し装置 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14519091A Expired - Lifetime JPH06100634B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 試験装置用電子試験ヘッド位置決め装置 |
JP14519191A Expired - Lifetime JP2513362B2 (ja) | 1982-08-25 | 1991-05-22 | 電子試験ヘッドと電子装置ハンドラとの取付け取外し装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4527942A (ja) |
JP (3) | JPS5960206A (ja) |
KR (1) | KR870001754B1 (ja) |
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