JPS5956768A - 固体イメ−ジセンサの欠陥補正装置 - Google Patents
固体イメ−ジセンサの欠陥補正装置Info
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- JPS5956768A JPS5956768A JP57167261A JP16726182A JPS5956768A JP S5956768 A JPS5956768 A JP S5956768A JP 57167261 A JP57167261 A JP 57167261A JP 16726182 A JP16726182 A JP 16726182A JP S5956768 A JPS5956768 A JP S5956768A
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- Japan
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、たとえばＢＢＤやＣＯＤのような固体イメ
ージセンサの欠陥補正装置に関し、特にたとえば固体イ
メージセンサの画素信号に含まれる白欠陥および黒欠陥
の補正装置に関する。
ージセンサの欠陥補正装置に関し、特にたとえば固体イ
メージセンサの画素信号に含まれる白欠陥および黒欠陥
の補正装置に関する。
固体イメージセンサは、従来市販されている真空管方式
イメージセンサに化べ、小型軽量である、機械的振動に
強い、強い光源に対する焼付きが少ない、消費電力が少
ないなどの多くの利点を有している。しかしながら、現
在の真空管方式のイメージ領域を得るためには、たとえ
ばいわゆる真空管方式の２Ｘ３インチフォーマツ１〜の
場合は６゜６Ｘ８．８ｍｍ２、Ｌ／たがって固体イメー
ジセンサのチップの大きさとしては周辺回路を合わせて
約１ｃｍ角の大きなチップが必要となる。そして、この
チップには、２〜２．５μｍの微細パターンが使用され
るっこのように、固体イメージセンサでは、微細パター
ンを広範囲にわたって形成しな（）ればならない。これ
らの集積規模は現在の超ＬＳＩ技術をもってしても歩留
りよく製造することは困難である。そこで、製造工程で
発生する固体イメージセンサの欠陥ビットセルを救済す
る方法が必要となる。しかしながら、たとえばＭＯＳメ
モリなどの欠陥救済法と異なり、イメージセンサの場合
イメージ領域上に形成されたイメージの信号をその位置
から無関係な他の余分な画素から取出すことは原理的に
できない。
イメージセンサに化べ、小型軽量である、機械的振動に
強い、強い光源に対する焼付きが少ない、消費電力が少
ないなどの多くの利点を有している。しかしながら、現
在の真空管方式のイメージ領域を得るためには、たとえ
ばいわゆる真空管方式の２Ｘ３インチフォーマツ１〜の
場合は６゜６Ｘ８．８ｍｍ２、Ｌ／たがって固体イメー
ジセンサのチップの大きさとしては周辺回路を合わせて
約１ｃｍ角の大きなチップが必要となる。そして、この
チップには、２〜２．５μｍの微細パターンが使用され
るっこのように、固体イメージセンサでは、微細パター
ンを広範囲にわたって形成しな（）ればならない。これ
らの集積規模は現在の超ＬＳＩ技術をもってしても歩留
りよく製造することは困難である。そこで、製造工程で
発生する固体イメージセンサの欠陥ビットセルを救済す
る方法が必要となる。しかしながら、たとえばＭＯＳメ
モリなどの欠陥救済法と異なり、イメージセンサの場合
イメージ領域上に形成されたイメージの信号をその位置
から無関係な他の余分な画素から取出すことは原理的に
できない。
それゆえに、この発明の主たる目的は、上述のような欠
陥ピッ１−セルから出された画素信号を補正し得る固体
イメージセンサの欠陥補正装置を提供することである。
陥ピッ１−セルから出された画素信号を補正し得る固体
イメージセンサの欠陥補正装置を提供することである。
この発明は、要約すれば、固体イメージセンサからの画
素信号に欠陥が存在する場合、その周辺の画素信号を平
均化して欠陥部分の信号を推定し、その推定した信号を
欠陥部分に介挿するようにしたものである。
素信号に欠陥が存在する場合、その周辺の画素信号を平
均化して欠陥部分の信号を推定し、その推定した信号を
欠陥部分に介挿するようにしたものである。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特徴は、図
面を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかど
なろう。
面を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかど
なろう。
図面は、この発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、スキャン回路１から出力される走査信号は
、固体イメージセンサ２に与えられる。固体イメージセ
ンサ２は、スキャン回路１からの走査信号に応じて、画
素単位に直列に画素信号を出力する。この画素信号は、
白欠陥弁別回路３および黒欠陥弁別回路４に与えられる
。ここで、画素の欠陥としては、通常表示したときに白
どなる白欠陥と、同じく黒となる黒欠陥とがある。
、固体イメージセンサ２に与えられる。固体イメージセ
ンサ２は、スキャン回路１からの走査信号に応じて、画
素単位に直列に画素信号を出力する。この画素信号は、
白欠陥弁別回路３および黒欠陥弁別回路４に与えられる
。ここで、画素の欠陥としては、通常表示したときに白
どなる白欠陥と、同じく黒となる黒欠陥とがある。
特に、白欠陥は表示したとき目立つものであり欠陥とし
て（４重視しな番ブればならない。たとえば、正常なイ
メージセンサに光を遮断した状態で得られる画素信号は
、バックグラウンドで決まるダークレベルを示す。しか
し、白欠陥は異常な出力レベルを示す。したがって、一
定のレベル以上の画素信号を白欠陥弁別回路３で白欠陥
と判別する。
て（４重視しな番ブればならない。たとえば、正常なイ
メージセンサに光を遮断した状態で得られる画素信号は
、バックグラウンドで決まるダークレベルを示す。しか
し、白欠陥は異常な出力レベルを示す。したがって、一
定のレベル以上の画素信号を白欠陥弁別回路３で白欠陥
と判別する。
そのために、白欠陥弁別回路３（Ｊ比較器などを含む。
これに対し、黒欠陥は、固体イメージセンサーに光を照
射した場合、先出ツノがない部分である。
射した場合、先出ツノがない部分である。
黒欠陥弁別回路はそのような光出力がない画素信号を判
別する。そのために、黒欠陥弁別回路４は比較器などを
含む。
別する。そのために、黒欠陥弁別回路４は比較器などを
含む。
白欠陥弁別回路３および黒欠陥弁別回路４の出力はＯＲ
グー１〜Ｇ１に与えられる。このＯＲゲートＧ１の出力
は、アドレス記憶制御回路５に与えられる。このアドレ
ス記憶制御回路５は、白欠陥弁別回路３および黒欠陥弁
別回路４によって検出された欠陥部分のアドレスを記憶
する回路と、後述の遅延回路６．遅延回路７および平均
化回路８の動作を制ＯＩｌするための制御回路とを含む
。前者のアドレス記憶回路は、スキャン回路１から与え
られる走査信号に応じて、欠陥部分のアドレスを記憶す
る。後者の制御回路は、前者のアドレス記憶回路に記憶
された欠陥部分のアドレスに基づいて遅延回路６，７お
よび平均化回路８を制御する。
グー１〜Ｇ１に与えられる。このＯＲゲートＧ１の出力
は、アドレス記憶制御回路５に与えられる。このアドレ
ス記憶制御回路５は、白欠陥弁別回路３および黒欠陥弁
別回路４によって検出された欠陥部分のアドレスを記憶
する回路と、後述の遅延回路６．遅延回路７および平均
化回路８の動作を制ＯＩｌするための制御回路とを含む
。前者のアドレス記憶回路は、スキャン回路１から与え
られる走査信号に応じて、欠陥部分のアドレスを記憶す
る。後者の制御回路は、前者のアドレス記憶回路に記憶
された欠陥部分のアドレスに基づいて遅延回路６，７お
よび平均化回路８を制御する。
一方、固体イメージセンサ２から出力される画素信号は
、遅延回路６に与えられる。この遅延回路６の出力は、
遅延回路７に与えられるとともに、平均化回路８に与え
られる。平均化回路８は、たとえばアナログ遅延回路と
加算回路と除算回路とを含み、アドレス記憶制御回路５
から指定される欠陥部分の前後の画素信号を平均化する
。遅延回路７および平均化回路８の出力は、ＯＲゲート
Ｇ２に与えられる。
、遅延回路６に与えられる。この遅延回路６の出力は、
遅延回路７に与えられるとともに、平均化回路８に与え
られる。平均化回路８は、たとえばアナログ遅延回路と
加算回路と除算回路とを含み、アドレス記憶制御回路５
から指定される欠陥部分の前後の画素信号を平均化する
。遅延回路７および平均化回路８の出力は、ＯＲゲート
Ｇ２に与えられる。
動作において、たとえば１水平走査時間ごとに欠陥画素
の補正をするとすれば、遅延回路６は少なくとも１水平
走査時間の遅延時間を有づるものが使われる。したがっ
て、固体イメージセンサ２から導出される画素信号は遅
延回路６によっ１少なくとも１水平走査時間遅延される
。遅延回路６の出力は、平均化回路８に与えられる。平
均化回路８はアドレス記憶制御回路５から指定されるタ
イミングで、欠陥画素信号前後の画素信号を記憶し、そ
れら記憶した画素信号を加算して平均化する。画素信号
は、その性質上前後の画素信号と相関性が強いので、平
均化された画素信号はほぼ元のイメージと同じになる。
の補正をするとすれば、遅延回路６は少なくとも１水平
走査時間の遅延時間を有づるものが使われる。したがっ
て、固体イメージセンサ２から導出される画素信号は遅
延回路６によっ１少なくとも１水平走査時間遅延される
。遅延回路６の出力は、平均化回路８に与えられる。平
均化回路８はアドレス記憶制御回路５から指定されるタ
イミングで、欠陥画素信号前後の画素信号を記憶し、そ
れら記憶した画素信号を加算して平均化する。画素信号
は、その性質上前後の画素信号と相関性が強いので、平
均化された画素信号はほぼ元のイメージと同じになる。
そして、平均化回路８は、遅延回路７から欠陥画素信号
が出力されるタイミングで平均化した画素信号を出力す
る。そのために、遅延回路７の遅延時間が適当な時間に
選ばれている。ＯＲゲー１−Ｇ２は、遅延回路７から出
力される欠陥画素信号の部分に平均化回路８から出力さ
れる平均化信号を介挿させる。したがって、このＯＲゲ
ートＧ２から欠陥画素信号の補正された画素信号が出力
される。
が出力されるタイミングで平均化した画素信号を出力す
る。そのために、遅延回路７の遅延時間が適当な時間に
選ばれている。ＯＲゲー１−Ｇ２は、遅延回路７から出
力される欠陥画素信号の部分に平均化回路８から出力さ
れる平均化信号を介挿させる。したがって、このＯＲゲ
ートＧ２から欠陥画素信号の補正された画素信号が出力
される。
なお、上述の実施例では、固体イメージセンサ２の出力
順の前後の信号出力によって欠陥画素信号を補正するよ
うにしたが、欠陥画素信号の前後左右の画素信号を平均
化して補正することもできる。さらに、欠陥画素信号の
周辺の画素信号に何らかの重みをつけて平均化し、補正
を行なうこともできる。
順の前後の信号出力によって欠陥画素信号を補正するよ
うにしたが、欠陥画素信号の前後左右の画素信号を平均
化して補正することもできる。さらに、欠陥画素信号の
周辺の画素信号に何らかの重みをつけて平均化し、補正
を行なうこともできる。
また、上述の実施例では、白黒画素信号を例に挙げて説
明したが、カラー画素信号の欠陥を補正することもでき
る。
明したが、カラー画素信号の欠陥を補正することもでき
る。
以上のように、この発明によれば、たとえ固体イメージ
センサのビットセルに欠陥があっても、そのビットセル
からの信号部分に周辺部の画素信号を平均化したものを
介挿するようにしたので、元のイメージにほぼ忠実な画
素信号を得ることができる。
センサのビットセルに欠陥があっても、そのビットセル
からの信号部分に周辺部の画素信号を平均化したものを
介挿するようにしたので、元のイメージにほぼ忠実な画
素信号を得ることができる。
図面は、この発明の一実施例を示づ一ブロック図である
。 図において、２は固体イメージセンサ、３は白欠陥弁別
回路、４は黒欠陥弁別回路、５はアドレス記憶制御回路
、６および７は遅延回路、８は平均化回路、Ｇ１および
Ｇ２はＯＲゲートを示す。
。 図において、２は固体イメージセンサ、３は白欠陥弁別
回路、４は黒欠陥弁別回路、５はアドレス記憶制御回路
、６および７は遅延回路、８は平均化回路、Ｇ１および
Ｇ２はＯＲゲートを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 固体イメージセンサの画素信号に含まれる欠陥画素信号
を補正する装置であって、 前記画素信号に含まれる欠陥画素信号を検出する手段、 前記検出手段出力に基づいて、前記欠陥画素信号のアド
レスを記憶する手段、 前記アドレス記憶手段に記憶されたアドレスに基づいて
、前記欠陥画素信号の周辺部の画素信号を平均化する手
段、および 前記平均化手段の出力を前記欠陥画素信号部分に介挿す
る手段を備える固体イメージセンサの欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167261A JPS5956768A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 固体イメ−ジセンサの欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167261A JPS5956768A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 固体イメ−ジセンサの欠陥補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956768A true JPS5956768A (ja) | 1984-04-02 |
Family
ID=15846452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57167261A Pending JPS5956768A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 固体イメ−ジセンサの欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956768A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61260772A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 画像欠陥補償装置 |
| JPS61260773A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 画像欠陥補償装置 |
| JP2015080125A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | カシオ計算機株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法及びプログラム |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP57167261A patent/JPS5956768A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61260772A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 画像欠陥補償装置 |
| JPS61260773A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 画像欠陥補償装置 |
| JPH0521392B2 (ja) * | 1985-05-14 | 1993-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPH0523551B2 (ja) * | 1985-05-14 | 1993-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JP2015080125A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | カシオ計算機株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法及びプログラム |
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