JP3406455B2 - 赤外線撮像装置 - Google Patents
赤外線撮像装置Info
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Description
【発明の属する技術分野】本発明は赤外線撮像装置に関
し、特に電荷蓄積（ＣＣＤ）型赤外線検知器（ＩＲＦＰ
Ａ）を用いた赤外線撮像装置に関するものである。
し、特に電荷蓄積（ＣＣＤ）型赤外線検知器（ＩＲＦＰ
Ａ）を用いた赤外線撮像装置に関するものである。
【０００１】近年、電荷蓄積型赤外線検知器は多画素化
の一途を辿っており、高品質な赤外画像を得るために
は、欠陥画素を可能な限り少なくすると共に、いかに欠
陥画素を補正するかが重要となっている。
の一途を辿っており、高品質な赤外画像を得るために
は、欠陥画素を可能な限り少なくすると共に、いかに欠
陥画素を補正するかが重要となっている。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来より知られている赤外線撮像
装置の構成を示したブロック図であり、この赤外線撮像
装置は、入射した赤外線を光電変換して温度を示すアナ
ログ映像信号を出力する赤外線検知器１と、赤外線検知
器１によって得られたアナログ温度信号を温度データに
Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路２と、Ａ／Ｄ変換回路２
からの温度データのうちのオフセット成分のみを取り除
くオフセット補正回路３と、赤外線検知器１の検知感度
ムラを取り除く感度補正回路４と、予め実験等により求
めた欠陥画素情報を有し、Ａ／Ｄ変換回路２からの温度
データに対応して欠陥画素アドレスを正常な近隣の画素
のアドレスに置き換える欠陥画素置き換え情報発生回路
６と、該欠陥画素置き換え情報発生回路６からのアドレ
スに従って該欠陥画素の温度データを近隣の画素のデー
タに変換するとともにＴＶ等に出力する際の出力対象に
適合したデータフォーマット（出力順序、出力レベル
等）に変換するデータ変換回路５と、で構成されてい
る。
装置の構成を示したブロック図であり、この赤外線撮像
装置は、入射した赤外線を光電変換して温度を示すアナ
ログ映像信号を出力する赤外線検知器１と、赤外線検知
器１によって得られたアナログ温度信号を温度データに
Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路２と、Ａ／Ｄ変換回路２
からの温度データのうちのオフセット成分のみを取り除
くオフセット補正回路３と、赤外線検知器１の検知感度
ムラを取り除く感度補正回路４と、予め実験等により求
めた欠陥画素情報を有し、Ａ／Ｄ変換回路２からの温度
データに対応して欠陥画素アドレスを正常な近隣の画素
のアドレスに置き換える欠陥画素置き換え情報発生回路
６と、該欠陥画素置き換え情報発生回路６からのアドレ
スに従って該欠陥画素の温度データを近隣の画素のデー
タに変換するとともにＴＶ等に出力する際の出力対象に
適合したデータフォーマット（出力順序、出力レベル
等）に変換するデータ変換回路５と、で構成されてい
る。
【０００３】このような赤外線撮像装置における欠陥画
素置き換え情報発生回路６は、図６に示すように例えば
２４０個の画素個々について予め測定した画素別出力電
圧、画素別ノイズ電圧を基に、この例では画素番号
「３」の画素が欠陥していることが分かったとき、この
画素についての欠陥画素情報を人為的にＲＯＭに書き込
んでおき、その欠陥画素情報を元に以降欠陥画素データ
の置き換えを行うものである。
素置き換え情報発生回路６は、図６に示すように例えば
２４０個の画素個々について予め測定した画素別出力電
圧、画素別ノイズ電圧を基に、この例では画素番号
「３」の画素が欠陥していることが分かったとき、この
画素についての欠陥画素情報を人為的にＲＯＭに書き込
んでおき、その欠陥画素情報を元に以降欠陥画素データ
の置き換えを行うものである。
【０００４】これを図７を参照して説明すると、
試験時において熱板を使用して赤外線検知器１の全検
知素子に一様に温度を加え、その時の温度データをパソ
コンに取り込み、算出された画素別出力信号電圧・画素
別ノイズ電圧を基に抽出された各画素の判定情報（正常
時は“０”、欠陥時は“１”）を人為的に欠陥画素情報
用ＲＯＭ（ＥＰＲＯＭ６ａ）に書き込んでおき、 欠陥画素情報用ＥＰＲＯＭ６ａにＡ／Ｄ変換回路２か
ら各画素の温度データが与えられると、順次各画素の判
定情報を読み出してその結果をアドレス生成部６ｂに与
えると、アドレス生成部６ｂは“０”の正常な画素はそ
のままのアドレスを出力し、“１”の欠陥画素はノイズ
の少ない近隣の画素のアドレスを出力してデータ変換回
路５へ与える。
知素子に一様に温度を加え、その時の温度データをパソ
コンに取り込み、算出された画素別出力信号電圧・画素
別ノイズ電圧を基に抽出された各画素の判定情報（正常
時は“０”、欠陥時は“１”）を人為的に欠陥画素情報
用ＲＯＭ（ＥＰＲＯＭ６ａ）に書き込んでおき、 欠陥画素情報用ＥＰＲＯＭ６ａにＡ／Ｄ変換回路２か
ら各画素の温度データが与えられると、順次各画素の判
定情報を読み出してその結果をアドレス生成部６ｂに与
えると、アドレス生成部６ｂは“０”の正常な画素はそ
のままのアドレスを出力し、“１”の欠陥画素はノイズ
の少ない近隣の画素のアドレスを出力してデータ変換回
路５へ与える。
【０００５】データ変換回路５では、感度補正回路４
からの各画素のデータをデータ変換回路５からのアドレ
スに従って出力するが、このとき欠陥画素は近隣画素の
アドレスに変換されているので該欠陥画素は近隣画素の
データに置き換えられて出力されることとなる。
からの各画素のデータをデータ変換回路５からのアドレ
スに従って出力するが、このとき欠陥画素は近隣画素の
アドレスに変換されているので該欠陥画素は近隣画素の
データに置き換えられて出力されることとなる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この欠陥画素置き換え
回路６は以下の問題点を有している。
回路６は以下の問題点を有している。
【０００７】検知器特性（画素別ノイズ電圧）の経時
変化に対処するためには、欠陥画素の抽出を絶えず人為
的に行っていなければならない。 欠陥画素の抽出・記憶が赤外線撮像装置内で自動的に
できないため、検知器の交換毎に欠陥画素情報ＲＯＭも
交換しなければならない。 欠陥画素のＲＯＭへの記憶を人間が行わなければなら
ない。 欠陥画素の抽出に赤外線撮像装置外のパソコンを必要
とする。
変化に対処するためには、欠陥画素の抽出を絶えず人為
的に行っていなければならない。 欠陥画素の抽出・記憶が赤外線撮像装置内で自動的に
できないため、検知器の交換毎に欠陥画素情報ＲＯＭも
交換しなければならない。 欠陥画素のＲＯＭへの記憶を人間が行わなければなら
ない。 欠陥画素の抽出に赤外線撮像装置外のパソコンを必要
とする。
【０００８】このように、欠陥画素の中でも低周波ノイ
ズ欠陥画素は、装置の運用中その状態の変化しやすい欠
陥であるため、この低周波ノイズ欠陥画素をいかに補正
するかが課題となっている。
ズ欠陥画素は、装置の運用中その状態の変化しやすい欠
陥であるため、この低周波ノイズ欠陥画素をいかに補正
するかが課題となっている。
【０００９】従って本発明は、赤外線検知器で検知した
温度信号をＡ／Ｄ変換回路で温度データに変換した後、
オフセット補正回路で該温度データのオフセット成分を
取り除き、さらに感度補正回路で該温度データ中の感度
ムラを取り除くとともに、欠陥画素置き換え情報発生回
路が該温度データ中の欠陥画素をノイズの少ない近隣の
画素に置き換えるための情報を発生し、該感度補正回路
からの各画素のデータを該置き換え情報に従ってデータ
変換回路で該近隣の画素データに置き換える赤外線撮像
装置において、自動的に欠陥画素の抽出・置き換えがで
きるようにすることを目的とする。
温度信号をＡ／Ｄ変換回路で温度データに変換した後、
オフセット補正回路で該温度データのオフセット成分を
取り除き、さらに感度補正回路で該温度データ中の感度
ムラを取り除くとともに、欠陥画素置き換え情報発生回
路が該温度データ中の欠陥画素をノイズの少ない近隣の
画素に置き換えるための情報を発生し、該感度補正回路
からの各画素のデータを該置き換え情報に従ってデータ
変換回路で該近隣の画素データに置き換える赤外線撮像
装置において、自動的に欠陥画素の抽出・置き換えがで
きるようにすることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明に係る赤外線撮像
装置では、従来からの赤外線撮像装置における欠陥画素
置き換え方式のうち、画素別出力信号電圧を基にした欠
陥画素は検知器の感度に依存するものであり、検知器が
同じであれば欠陥画素位置もほぼ固定なのでこの技術に
関しては従来技術を踏襲するものとし、本発明では特
に、画素別低周波ノイズ電圧に着目して、電源立ち上げ
時／運用時を問わず、指令信号を受けると、欠陥画素置
き換え回路は、画素別変動電圧値計測を開始し、取り込
んだ電圧値から画素別低周波ノイズ算出を行い、算出結
果から低周波ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出し、該
欠陥画素をノイズの少ない近隣の画素に置き換えるため
の情報を次回の電源立ち上げ時又は運用時のために記憶
しておくことを特徴としたものである。
装置では、従来からの赤外線撮像装置における欠陥画素
置き換え方式のうち、画素別出力信号電圧を基にした欠
陥画素は検知器の感度に依存するものであり、検知器が
同じであれば欠陥画素位置もほぼ固定なのでこの技術に
関しては従来技術を踏襲するものとし、本発明では特
に、画素別低周波ノイズ電圧に着目して、電源立ち上げ
時／運用時を問わず、指令信号を受けると、欠陥画素置
き換え回路は、画素別変動電圧値計測を開始し、取り込
んだ電圧値から画素別低周波ノイズ算出を行い、算出結
果から低周波ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出し、該
欠陥画素をノイズの少ない近隣の画素に置き換えるため
の情報を次回の電源立ち上げ時又は運用時のために記憶
しておくことを特徴としたものである。
【００１１】また上記に加えて欠陥画素置き換えの精度
を向上させるために、以下の構成を付加することができ
る。
を向上させるために、以下の構成を付加することができ
る。
【００１２】低周波ノイズ算出に際して、計測時間間
隔指定信号を受けることにより任意の計測時間間隔で該
Ａ／Ｄ変換回路から出力された温度データを計測して該
画素別低周波ノイズを算出することができる。また、
欠陥画素抽出に際して、全画素について、１回あるいは
複数回数分行って算出された画素別低周波ノイズを蓄積
でき、欠陥判定方式指定信号を受けたとき１つ又は複数
の画素別低周波ノイズに基づいて欠陥画素を抽出するこ
とも可能である。すなわち、欠陥画素の置き換えを行う
際、複数の時間間隔で計測・抽出された欠陥画素情報の
うち、１つの時間間隔の情報によって置き換える方式
と、複数の時間間隔の情報によって置き換える方式の２
種類を持ち、それらの情報を切り換えて欠陥画素を置き
換えることを可能にしている。
隔指定信号を受けることにより任意の計測時間間隔で該
Ａ／Ｄ変換回路から出力された温度データを計測して該
画素別低周波ノイズを算出することができる。また、
欠陥画素抽出に際して、全画素について、１回あるいは
複数回数分行って算出された画素別低周波ノイズを蓄積
でき、欠陥判定方式指定信号を受けたとき１つ又は複数
の画素別低周波ノイズに基づいて欠陥画素を抽出するこ
とも可能である。すなわち、欠陥画素の置き換えを行う
際、複数の時間間隔で計測・抽出された欠陥画素情報の
うち、１つの時間間隔の情報によって置き換える方式
と、複数の時間間隔の情報によって置き換える方式の２
種類を持ち、それらの情報を切り換えて欠陥画素を置き
換えることを可能にしている。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１に本発明に係る赤外線撮像装
置の実施例を示す。本発明では特に欠陥画素置き換え回
路６に変更を加えており、赤外線検知器（ＩＲＦＰＡ）
１とＡ／Ｄ変換回路２とオフセット補正回路３と感度補
正回路４とデータ変換回路５は図３の従来例と同様のも
のを用いることができる。
置の実施例を示す。本発明では特に欠陥画素置き換え回
路６に変更を加えており、赤外線検知器（ＩＲＦＰＡ）
１とＡ／Ｄ変換回路２とオフセット補正回路３と感度補
正回路４とデータ変換回路５は図３の従来例と同様のも
のを用いることができる。
【００１４】また、欠陥画素置き換え情報発生回路６
は、温度データの画素別変動電圧値を計測して該変動電
圧値から画素別低周波ノイズを算出する低周波ノイズ算
出部６１と、該低周波ノイズ算出部６１の算出結果から
該低周波ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出する欠陥画
素抽出部６２と、該欠陥画素のアドレスを記憶する記憶
部６３と、該欠陥画素のアドレスに対して欠陥画素をノ
イズの少ない近隣の画素に置き換えるための欠陥画素置
き換え情報を発生する第１の欠陥画素置き換え情報発生
部６４と、該欠陥画素置き換え情報を電源を切る前の該
近隣の画素に置き換えるためのアドレスを記憶しておく
第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５とを有し、デー
タ変換回路６は次回の電源立ち上げ時又は運用時に該第
２の欠陥画素置き換え情報発生部６５からの該欠陥画素
置き換えアドレスに従って該欠陥画素のデータを該近隣
の画素のデータに置き換えるようにしている。
は、温度データの画素別変動電圧値を計測して該変動電
圧値から画素別低周波ノイズを算出する低周波ノイズ算
出部６１と、該低周波ノイズ算出部６１の算出結果から
該低周波ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出する欠陥画
素抽出部６２と、該欠陥画素のアドレスを記憶する記憶
部６３と、該欠陥画素のアドレスに対して欠陥画素をノ
イズの少ない近隣の画素に置き換えるための欠陥画素置
き換え情報を発生する第１の欠陥画素置き換え情報発生
部６４と、該欠陥画素置き換え情報を電源を切る前の該
近隣の画素に置き換えるためのアドレスを記憶しておく
第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５とを有し、デー
タ変換回路６は次回の電源立ち上げ時又は運用時に該第
２の欠陥画素置き換え情報発生部６５からの該欠陥画素
置き換えアドレスに従って該欠陥画素のデータを該近隣
の画素のデータに置き換えるようにしている。
【００１５】また、低周波ノイズ算出部６１にはノイズ
算出の開始を指示するノイズ算出開始指令信号と、画素
別変動電圧値計測の計測時間間隔を可変させるための計
測時間間隔指定信号とが外部より与えられており、欠陥
画素抽出部６２には欠陥画素判定の方式を指定するため
の判定方式指定信号が外部から与えられており、記憶部
６３には欠陥情報クリア指令信号が外部より与えられて
おり、そして第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５に
は電源再立上時等の置き換え指令信号が外部から与えら
れている。
算出の開始を指示するノイズ算出開始指令信号と、画素
別変動電圧値計測の計測時間間隔を可変させるための計
測時間間隔指定信号とが外部より与えられており、欠陥
画素抽出部６２には欠陥画素判定の方式を指定するため
の判定方式指定信号が外部から与えられており、記憶部
６３には欠陥情報クリア指令信号が外部より与えられて
おり、そして第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５に
は電源再立上時等の置き換え指令信号が外部から与えら
れている。
【００１６】次にこの実施例の動作を図２〜４を参照し
て説明する。まず、画素別低周波ノイズ算出部６１の実
施例を、ＤＳＰを用いることによりノイズを算出する場
合について説明する。
て説明する。まず、画素別低周波ノイズ算出部６１の実
施例を、ＤＳＰを用いることによりノイズを算出する場
合について説明する。
【００１７】まず、画素別低周波ノイズ算出部６１
は、電源立ち上げ時又は運用時においてノイズ算出開始
指令信号を受けると、計測時間間隔指定信号に基づいて
決まる所定の計測時間間隔で全画素について画素信号出
力（画素別変動電圧値）をＡ／Ｄ変換回路２から取り込
み、それによって以下の式に基づいて各画素の低周波ノ
イズ電圧値Ｎを算出する。
は、電源立ち上げ時又は運用時においてノイズ算出開始
指令信号を受けると、計測時間間隔指定信号に基づいて
決まる所定の計測時間間隔で全画素について画素信号出
力（画素別変動電圧値）をＡ／Ｄ変換回路２から取り込
み、それによって以下の式に基づいて各画素の低周波ノ
イズ電圧値Ｎを算出する。
【００１８】
【数１】
【００１９】なお、Ｖ（ｉ）はＡ／Ｄ変換回路２からの
検知器出力（変動電圧値：温度データ）の内、ｉ番目の
画素のデータを示しており、ｎはＡ／Ｄ変換回路２の検
知器出力を計測時間間隔指定する総数であり、Ｖcは予
め計算された既知の値である。
検知器出力（変動電圧値：温度データ）の内、ｉ番目の
画素のデータを示しており、ｎはＡ／Ｄ変換回路２の検
知器出力を計測時間間隔指定する総数であり、Ｖcは予
め計算された既知の値である。
【００２０】この式（１）において、電圧値Ｎが大きい
ほどノイズの多い画素となる（したがって、ある閾値よ
り大きい画素を欠陥画素とすることができる）。
ほどノイズの多い画素となる（したがって、ある閾値よ
り大きい画素を欠陥画素とすることができる）。
【００２１】このようにして画素別低周波ノイズ算出部
６１で算出された低周波ノイズ電圧は欠陥画素抽出部６
２に送られる。
６１で算出された低周波ノイズ電圧は欠陥画素抽出部６
２に送られる。
【００２２】図２はこの欠陥画素抽出部６２の実施例を
示し、ここでは、メモリ６２ａと欠陥画素判定部６２ｂ
とで構成されており、メモリ６２ａでは画素別低周波ノ
イズ算出部６１で算出された低周波ノイズ電圧値を１つ
以上蓄積するための判定方式指定信号を受けて蓄積し、
欠陥画素判定部６２ｂでは判定方式指定信号を受けて欠
陥画素のアドレスを出力する。
示し、ここでは、メモリ６２ａと欠陥画素判定部６２ｂ
とで構成されており、メモリ６２ａでは画素別低周波ノ
イズ算出部６１で算出された低周波ノイズ電圧値を１つ
以上蓄積するための判定方式指定信号を受けて蓄積し、
欠陥画素判定部６２ｂでは判定方式指定信号を受けて欠
陥画素のアドレスを出力する。
【００２３】これを図３を参照して説明すると、全画素
が図６に示したように２４０個であるとすると、判定方
式指定信号に基づき全画素について、１回目の低周波ノ
イズ、２回目の低周波ノイズ、３回目の低周波ノイズ、
及び４回目の低周波ノイズを図示の如く求めてメモリ６
２ａに記憶しておく。
が図６に示したように２４０個であるとすると、判定方
式指定信号に基づき全画素について、１回目の低周波ノ
イズ、２回目の低周波ノイズ、３回目の低周波ノイズ、
及び４回目の低周波ノイズを図示の如く求めてメモリ６
２ａに記憶しておく。
【００２４】そして、このメモリ６２ａに記憶した４回
に渡る全画素の低周波ノイズを、欠陥画素判定部６２ｂ
において判定方式指定信号により、図示のごとく、方式
１のみ、方式１と４の組み合わせ、及び方式１と３と４
の組み合わせで欠陥画素を判定する。
に渡る全画素の低周波ノイズを、欠陥画素判定部６２ｂ
において判定方式指定信号により、図示のごとく、方式
１のみ、方式１と４の組み合わせ、及び方式１と３と４
の組み合わせで欠陥画素を判定する。
【００２５】すなわち、指定方式１のみの場合には１回
目の低周波ノイズが値「１」を越えていれば欠陥と判定
し、「１」以下であれば正常と判定する。指定方式１，
４の場合には、１回目の低周波ノイズ及び４回目の低周
波ノイズのいずれかが「１」を越えていれば欠陥と判定
し、そうでなければ正常と判定し、指定方式１の場合よ
り欠陥画素の検出精度を上げている。指定方式１，３，
４は指定方式１，４に指定方式３が加わっただけであ
る。
目の低周波ノイズが値「１」を越えていれば欠陥と判定
し、「１」以下であれば正常と判定する。指定方式１，
４の場合には、１回目の低周波ノイズ及び４回目の低周
波ノイズのいずれかが「１」を越えていれば欠陥と判定
し、そうでなければ正常と判定し、指定方式１の場合よ
り欠陥画素の検出精度を上げている。指定方式１，３，
４は指定方式１，４に指定方式３が加わっただけであ
る。
【００２６】このようにして全画素について判定方式を
指定して判定を行うことにより欠陥画素を見出すことが
でき、この欠陥画素は全画素中の位置を示す情報として
アドレスの形で出力され、欠陥画素アドレス記憶部（Ｒ
ＡＭ）６３に記憶される。
指定して判定を行うことにより欠陥画素を見出すことが
でき、この欠陥画素は全画素中の位置を示す情報として
アドレスの形で出力され、欠陥画素アドレス記憶部（Ｒ
ＡＭ）６３に記憶される。
【００２７】なお、この欠陥画素アドレス記憶部６３に
は、クリア指令信号が外部から与えられることにより欠
陥画素アドレスがクリアされ、新たな欠陥画素アドレス
を記憶・出力することができるようにしている。
は、クリア指令信号が外部から与えられることにより欠
陥画素アドレスがクリアされ、新たな欠陥画素アドレス
を記憶・出力することができるようにしている。
【００２８】欠陥画素アドレス記憶部６３の欠陥画素ア
ドレスは第１の欠陥画素置き換え情報発生部６４に送ら
れると、全画素において欠陥画素は“１”が割り当てら
れ、正常画素には“０”が割り当てられて各画素の判定
値として第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５に与え
られることになる。
ドレスは第１の欠陥画素置き換え情報発生部６４に送ら
れると、全画素において欠陥画素は“１”が割り当てら
れ、正常画素には“０”が割り当てられて各画素の判定
値として第２の欠陥画素置き換え情報発生部６５に与え
られることになる。
【００２９】図４は第２の欠陥画素置き換え情報発生部
６５の実施例を示したもので、この実施例では、ＥＰＲ
ＯＭ６５ａとＯＲ回路６５ｂとアドレス生成部６５ｃと
ＥＥＰＲＯＭ６５ｄとで構成されており、このうち、Ｅ
ＰＲＯＭ６５ａとアドレス生成部６５ｃは図７に示した
従来例に対応している。
６５の実施例を示したもので、この実施例では、ＥＰＲ
ＯＭ６５ａとＯＲ回路６５ｂとアドレス生成部６５ｃと
ＥＥＰＲＯＭ６５ｄとで構成されており、このうち、Ｅ
ＰＲＯＭ６５ａとアドレス生成部６５ｃは図７に示した
従来例に対応している。
【００３０】まず、第２の欠陥画素置き換え情報発生部
６５において、第１の欠陥画素置き換え情報発生部６４
からの各画素の判定値（“０”／“１”）はＯＲ回路６
５ｂに与えられるとともにＥＰＲＯＭ６５ａにもタイミ
ング信号として与えられ、両者の内のいずれかが“１”
であれば欠陥画素であるとしてアドレス生成部６５ｃに
与えられる。
６５において、第１の欠陥画素置き換え情報発生部６４
からの各画素の判定値（“０”／“１”）はＯＲ回路６
５ｂに与えられるとともにＥＰＲＯＭ６５ａにもタイミ
ング信号として与えられ、両者の内のいずれかが“１”
であれば欠陥画素であるとしてアドレス生成部６５ｃに
与えられる。
【００３１】なお、この実施例においてもＥＰＲＯＭ６
５ａを用いているのは、図７の従来例のように予め運用
前計測で得られた結果によって判明した欠陥画素も併せ
て考慮すればより一層精度の高い欠陥画素抽出・置き換
えが可能となるからである。
５ａを用いているのは、図７の従来例のように予め運用
前計測で得られた結果によって判明した欠陥画素も併せ
て考慮すればより一層精度の高い欠陥画素抽出・置き換
えが可能となるからである。
【００３２】アドレス生成部６５ｃでは、ＯＲ回路６５
ｂからの各画素の判定値に基づいてアドレスを出力す
る。すなわち、判定値が“０”であれば正常画素である
ので、その画素のアドレスをそのまま変化させずに出力
するが、“１”であれば欠陥画素であるので近隣の画素
のアドレスに置換して出力する。
ｂからの各画素の判定値に基づいてアドレスを出力す
る。すなわち、判定値が“０”であれば正常画素である
ので、その画素のアドレスをそのまま変化させずに出力
するが、“１”であれば欠陥画素であるので近隣の画素
のアドレスに置換して出力する。
【００３３】図示の例では、画素番号３の画素は欠陥画
素であるので元のアドレス「００３」は出力せず、その
代わりに画素番号２の画素のアドレス「００２」を出力
する。また、画素番号４の画素も欠陥画素であるが、元
のアドレス「００４」の代わりに画素番号５の画素のア
ドレス「００５」を出力する。なお、このように画素番
号が後ろのアドレスを用いるためには、アドレス生成部
６５ｃには全画素の判定値を一旦格納する必要がある。
素であるので元のアドレス「００３」は出力せず、その
代わりに画素番号２の画素のアドレス「００２」を出力
する。また、画素番号４の画素も欠陥画素であるが、元
のアドレス「００４」の代わりに画素番号５の画素のア
ドレス「００５」を出力する。なお、このように画素番
号が後ろのアドレスを用いるためには、アドレス生成部
６５ｃには全画素の判定値を一旦格納する必要がある。
【００３４】このようにしてアドレス生成部６５ｃから
出力された画素アドレスはＥＥＰＲＯＭ６５ｄに格納さ
れる。
出力された画素アドレスはＥＥＰＲＯＭ６５ｄに格納さ
れる。
【００３５】そして、電源再立ち上げ信号等の置き換え
指令信号を受けるとデータ変換回路６へアドレスを出力
することとなる。
指令信号を受けるとデータ変換回路６へアドレスを出力
することとなる。
【００３６】その後の運用時では、データ変換回路６つ
いて図５で説明したように第２の欠陥画素置き換え情報
発生部６５のＥＥＰＲＯＭ６５ｄからの画素アドレスに
したがって感度補正回路５からの温度データを出力する
こととなる。
いて図５で説明したように第２の欠陥画素置き換え情報
発生部６５のＥＥＰＲＯＭ６５ｄからの画素アドレスに
したがって感度補正回路５からの温度データを出力する
こととなる。
【００３７】以上の動作を実際に運用するときの状態を
まとめると、以下のようになる。装置電源立ち上げ時
に、ノイズ算出開始指令信号を発信すると共に計測時間
間隔指定信号を発信して、数通りの計測時間間隔で計測
したノイズを算出する。判定方式指定信号により取得
した数通りの中の置き換えパターンで最も欠陥が少ない
置き換えパターンを選択し、そのモードで装置を通常運
転する。長時間運転する中で、もしも低周波ノイズが
めだってくるようだったら、再度とを繰り返す。
まとめると、以下のようになる。装置電源立ち上げ時
に、ノイズ算出開始指令信号を発信すると共に計測時間
間隔指定信号を発信して、数通りの計測時間間隔で計測
したノイズを算出する。判定方式指定信号により取得
した数通りの中の置き換えパターンで最も欠陥が少ない
置き換えパターンを選択し、そのモードで装置を通常運
転する。長時間運転する中で、もしも低周波ノイズが
めだってくるようだったら、再度とを繰り返す。
【００３８】
【発明の効果】以上説明した如く本発明では、電源立ち
上げ時、運用時を問わず、指令信号を受け取ると、画素
別変動電圧値計測を開始し、取り込んだ変動電圧値から
画素別低周波ノイズを算出を行い、算出結果から低周波
ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出し、該欠陥画素をノ
イズの少ない近隣の画素に置き換えるための情報を次回
の電源立ち上げ時又は運用時のために記憶しておくよう
に構成したので、以下の効果が得られる。
上げ時、運用時を問わず、指令信号を受け取ると、画素
別変動電圧値計測を開始し、取り込んだ変動電圧値から
画素別低周波ノイズを算出を行い、算出結果から低周波
ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出し、該欠陥画素をノ
イズの少ない近隣の画素に置き換えるための情報を次回
の電源立ち上げ時又は運用時のために記憶しておくよう
に構成したので、以下の効果が得られる。
【００３９】ノイズ電圧を基にした欠陥画素の抽出に
赤外線撮像装置外のパソコンが不要となる。ノイズ電
圧を基にした欠陥画素の記憶を人間がＲＯＭに書き込む
必要がなくなる。ノイズ電圧を基にした欠陥画素の抽
出・記憶が赤外線撮像装置内で自動的にできるようにな
るため、検知器の交換毎にノイズ欠陥画素情報用ＲＯＭ
を交換する必要がなくなる。装置内で画素別の低周波
ノイズを算出できるようになる。画素別変動電圧値取
得のための計測時間間隔を可変でき、それらを組み合わ
せた欠陥画素置き換えを行うため、高精度な欠陥画素置
き換えが可能となる。電源立ち上げ時、運用時を問わ
ず、画素別変動電圧値の計測、取り込んだ電圧値から画
素別低周波ノイズ算出、算出結果から自動的欠陥画素の
抽出、記憶、置き換えという一連の流れを、指令信号の
みで行えるようになる。
赤外線撮像装置外のパソコンが不要となる。ノイズ電
圧を基にした欠陥画素の記憶を人間がＲＯＭに書き込む
必要がなくなる。ノイズ電圧を基にした欠陥画素の抽
出・記憶が赤外線撮像装置内で自動的にできるようにな
るため、検知器の交換毎にノイズ欠陥画素情報用ＲＯＭ
を交換する必要がなくなる。装置内で画素別の低周波
ノイズを算出できるようになる。画素別変動電圧値取
得のための計測時間間隔を可変でき、それらを組み合わ
せた欠陥画素置き換えを行うため、高精度な欠陥画素置
き換えが可能となる。電源立ち上げ時、運用時を問わ
ず、画素別変動電圧値の計測、取り込んだ電圧値から画
素別低周波ノイズ算出、算出結果から自動的欠陥画素の
抽出、記憶、置き換えという一連の流れを、指令信号の
みで行えるようになる。
【図１】本発明に係る赤外線撮像装置の実施例を示した
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明に係る赤外線撮像装置に用いられる欠陥
画素抽出部の実施例を示したブロック図である。
画素抽出部の実施例を示したブロック図である。
【図３】本発明に係る赤外線撮像装置に用いられる欠陥
画素抽出部の動作を説明するための図である。
画素抽出部の動作を説明するための図である。
【図４】本発明に係る赤外線撮像装置に用いられる第２
の欠陥画素置き換え情報発生部の実施例を示したブロッ
ク図である。
の欠陥画素置き換え情報発生部の実施例を示したブロッ
ク図である。
【図５】従来例を示したブロック図である。
【図６】赤外線検知器（ＩＲＦＰＡ）の画素構成を示し
た図である。
た図である。
【図７】従来例における欠陥画素抽出部の実施例を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
１ 赤外線検知器（ＩＲＦＰＡ）
２ Ａ／Ｄ変換回路
３ オフセット補正回路
４ 感度補正回路
５ データ変換回路
６ 欠陥画素置き換え情報発生回路
６１ 画素別低周波ノイズ算出部
６２ 欠陥画素抽出部
６３ 欠陥画素記憶部
６４ 第１の欠陥画素置き換え情報発生部
６５ 第２の欠陥画素置き換え情報発生部
図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H04N 5/33
G01J 1/44
G01J 5/48
Claims (4)
- 【請求項１】赤外線検知器で検知した温度信号をＡ／Ｄ
変換回路で温度データに変換した後、オフセット補正回
路で該温度データのオフセット成分を取り除き、さらに
感度補正回路で該温度データ中の感度ムラを取り除くと
ともに、欠陥画素置き換え情報発生回路が該温度データ
中の欠陥画素をノイズの少ない近隣の画素に置き換える
ための情報を発生し、該感度補正回路からの各画素のデ
ータを該置き換え情報に従ってデータ変換回路で該近隣
の画素データに置き換える赤外線撮像装置において、 該欠陥画素置き換え情報発生回路が、電源立ち上げ時又
は運用時において与えられるノイズ算出開始指令により
該温度データの画素別変動電圧値を取得し、該変動電圧
値から画素別低周波ノイズを算出し、この算出結果から
該低周波ノイズが閾値以上の欠陥画素を抽出し、該欠陥
画素をノイズの少ない近隣の画素に置き換えるための情
報を次回の電源立ち上げ時又は運用時のために記憶して
おくことを特徴とした赤外線撮像装置。 - 【請求項２】請求項１において、 該欠陥画素置き換え情報発生回路が、該温度データの画
素別変動電圧値を計測して該変動電圧値から画素別低周
波ノイズを算出する低周波ノイズ算出部と、該低周波ノ
イズ算出部の算出結果から該低周波ノイズが閾値以上の
欠陥画素を抽出する欠陥画素抽出部と、該欠陥画素のア
ドレスを記憶する記憶部と、該欠陥画素のアドレスに対
して欠陥画素をノイズの少ない近隣の画素に置き換える
ための欠陥画素置き換え情報を発生する第１の欠陥画素
置き換え情報発生部と、該欠陥画素置き換え情報を電源
を切る前の該近隣の画素に置き換えるためのアドレスを
記憶しておく第２の欠陥画素置き換え情報発生部とを有
し、該データ変換回路が次回の電源立ち上げ時又は運用
時に該第２の欠陥画素置き換え情報発生部からの該欠陥
画素置き換えアドレスに従って該欠陥画素のデータを該
近隣の画素のデータに置き換えることを特徴とした赤外
線撮像装置。 - 【請求項３】請求項２において、 該低周波ノイズ算出部が、計測時間間隔指定信号を受け
ることにより任意の計測時間間隔で該Ａ／Ｄ変換回路か
ら出力された温度データを計測して該画素別低周波ノイ
ズを算出することを特徴とした赤外線撮像装置。 - 【請求項４】請求項２において、 該欠陥画素抽出部が、全画素について、１回あるいは複
数回数分行って算出された該画素別低周波ノイズを蓄積
でき、欠陥判定方式指定信号を受けたとき１つ又は複数
の画素別低周波ノイズに基づいて欠陥画素を抽出するこ
とを特徴とした赤外線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11658596A JP3406455B2 (ja) | 1996-05-10 | 1996-05-10 | 赤外線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11658596A JP3406455B2 (ja) | 1996-05-10 | 1996-05-10 | 赤外線撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09307815A JPH09307815A (ja) | 1997-11-28 |
| JP3406455B2 true JP3406455B2 (ja) | 2003-05-12 |
Family
ID=14690785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11658596A Expired - Lifetime JP3406455B2 (ja) | 1996-05-10 | 1996-05-10 | 赤外線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3406455B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10744535B2 (en) | 2016-11-02 | 2020-08-18 | Lg Chem, Ltd. | System for detecting, removing, transferring, and retrieving incompletely dried raw material |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6230108B1 (en) | 1997-10-23 | 2001-05-08 | Fujitsu Limited | Realtime sensitivity correction method and infrared imaging system |
| JP3876400B2 (ja) * | 1999-06-23 | 2007-01-31 | 富士通株式会社 | 赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法 |
| JP3995511B2 (ja) * | 2002-04-05 | 2007-10-24 | 三菱電機株式会社 | 点滅欠陥検出方法、映像補正方法及び固体撮像装置 |
| JP4816210B2 (ja) * | 2006-04-05 | 2011-11-16 | 日産自動車株式会社 | 赤外線検出装置 |
| JP5346781B2 (ja) * | 2009-11-17 | 2013-11-20 | 能美防災株式会社 | 赤外線カメラの欠落素子位置を特定する装置および方法 |
| CN102193223A (zh) * | 2011-05-30 | 2011-09-21 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板的检测方法及检测系统 |
-
1996
- 1996-05-10 JP JP11658596A patent/JP3406455B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10744535B2 (en) | 2016-11-02 | 2020-08-18 | Lg Chem, Ltd. | System for detecting, removing, transferring, and retrieving incompletely dried raw material |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09307815A (ja) | 1997-11-28 |
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Legal Events
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