JP2952793B2 - ウェブの蛇行認識方法および装置 - Google Patents
ウェブの蛇行認識方法および装置Info
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- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
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- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、検査対象の印刷され
たウェブより得られる検査画像データと予め記憶された
基準画像データとを比較することにより不良印刷物の検
出を行う際に用いて好適な、ウェブの蛇行認識方法およ
び装置に関するものである。
たウェブより得られる検査画像データと予め記憶された
基準画像データとを比較することにより不良印刷物の検
出を行う際に用いて好適な、ウェブの蛇行認識方法およ
び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】最近、印刷機においては、光学的な撮像
系を有する画像処理手段を用いて基準となる印刷物の各
画素データ（濃度データ）を基準画像データとして取り
込み、その後同一の画像処理手段を用いて検査対象の印
刷物の各画素データを検査画像データとして取り込み、
基準画像データと検査画像データとを比較することによ
り、自動的に不良印刷物を検出することが行われてい
る。かかる不良印刷物検出装置は、ＣＣＤカメラ，ライ
ンセンサ等の撮像手段、この撮像手段の出力信号である
電気信号を処理する信号処理回路、およびこの信号処理
回路に処理のための基準信号を供給する基準信号発生手
段等からなり、基準画像データと検査画像データとで相
対する画素データ（相対する画素位置のデータ）のレベ
ルを比較し、両者のレベル差が所定値内に収まっている
か否かを判定することにより、印刷物の良否を判定す
る。ここで、基準となる印刷物は、印刷開始時に、試し
刷りを行いながら実際に印刷された印刷物の状態を視認
し、良好であると判断した印刷物を用いる。
系を有する画像処理手段を用いて基準となる印刷物の各
画素データ（濃度データ）を基準画像データとして取り
込み、その後同一の画像処理手段を用いて検査対象の印
刷物の各画素データを検査画像データとして取り込み、
基準画像データと検査画像データとを比較することによ
り、自動的に不良印刷物を検出することが行われてい
る。かかる不良印刷物検出装置は、ＣＣＤカメラ，ライ
ンセンサ等の撮像手段、この撮像手段の出力信号である
電気信号を処理する信号処理回路、およびこの信号処理
回路に処理のための基準信号を供給する基準信号発生手
段等からなり、基準画像データと検査画像データとで相
対する画素データ（相対する画素位置のデータ）のレベ
ルを比較し、両者のレベル差が所定値内に収まっている
か否かを判定することにより、印刷物の良否を判定す
る。ここで、基準となる印刷物は、印刷開始時に、試し
刷りを行いながら実際に印刷された印刷物の状態を視認
し、良好であると判断した印刷物を用いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の不良印刷物検出装置によると、輪転印刷機を
想定した場合、検査対象の印刷されたウェブの印刷中の
蛇行に伴い、基準画像データと検査画像データとで相対
する画素位置が少しずつずれ、これを不良として判定す
ることがあった。すなわち、一般に、輪転印刷機におい
ては、テンションなどの微妙な違いにより、印刷中にウ
ェブがゆっくりと蛇行する。このため、基準画像データ
と検査画像データとで相対する画素位置が少しずつずれ
るが、大幅なずれでない限り、多少のずれならば商品と
して十分に通用する。しかし、従来の不良印刷物検出装
置では、印刷開始時の基準画像データが一律に用いられ
るので、蛇行するにつれて基準画像データと検査画像デ
ータとのレベル差が徐々に大きくなり、商品として十分
に通用するにも拘らず不良印刷物と判断されてしまうこ
とがあった。
うな従来の不良印刷物検出装置によると、輪転印刷機を
想定した場合、検査対象の印刷されたウェブの印刷中の
蛇行に伴い、基準画像データと検査画像データとで相対
する画素位置が少しずつずれ、これを不良として判定す
ることがあった。すなわち、一般に、輪転印刷機におい
ては、テンションなどの微妙な違いにより、印刷中にウ
ェブがゆっくりと蛇行する。このため、基準画像データ
と検査画像データとで相対する画素位置が少しずつずれ
るが、大幅なずれでない限り、多少のずれならば商品と
して十分に通用する。しかし、従来の不良印刷物検出装
置では、印刷開始時の基準画像データが一律に用いられ
るので、蛇行するにつれて基準画像データと検査画像デ
ータとのレベル差が徐々に大きくなり、商品として十分
に通用するにも拘らず不良印刷物と判断されてしまうこ
とがあった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような課題
を解決するためになされたもので、その第１および第２
発明（請求項１および２に係る発明）は、基準となる印
刷物の画素アドレスと画素データを受け取り、各画素に
ついて濃淡の急変領域すなわちエッジであるか否かを判
別し、エッジであると判別された各画素（エッジ画素）
の画素アドレスと画素データを基準データとして記憶
し、検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像
データにおいて上記基準データと対応する検査データに
ついて、基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求め、この差分が所定値を越えて所定
数以上生じた場合、これをウェブの蛇行状態として認識
するようにしたものである。また、その第３および第４
発明（請求項３および４に係る発明）は、基準となる印
刷物の画素アドレスと画素データを受け取り、各画素に
ついて濃淡の急変領域すなわちエッジであるか否かを判
別し、エッジであると判別された各画素（エッジ画素）
の画素アドレスと画素データを基準データとして記憶
し、検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像
データにおいて上記基準データと対応する検査データに
ついて、基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求め、これら差分の絶対値を累計し平
均化して差分平均を求め、この差分平均が所定値を越え
た場合、これをウェブの蛇行状態として認識するように
したものである。
を解決するためになされたもので、その第１および第２
発明（請求項１および２に係る発明）は、基準となる印
刷物の画素アドレスと画素データを受け取り、各画素に
ついて濃淡の急変領域すなわちエッジであるか否かを判
別し、エッジであると判別された各画素（エッジ画素）
の画素アドレスと画素データを基準データとして記憶
し、検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像
データにおいて上記基準データと対応する検査データに
ついて、基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求め、この差分が所定値を越えて所定
数以上生じた場合、これをウェブの蛇行状態として認識
するようにしたものである。また、その第３および第４
発明（請求項３および４に係る発明）は、基準となる印
刷物の画素アドレスと画素データを受け取り、各画素に
ついて濃淡の急変領域すなわちエッジであるか否かを判
別し、エッジであると判別された各画素（エッジ画素）
の画素アドレスと画素データを基準データとして記憶
し、検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像
データにおいて上記基準データと対応する検査データに
ついて、基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求め、これら差分の絶対値を累計し平
均化して差分平均を求め、この差分平均が所定値を越え
た場合、これをウェブの蛇行状態として認識するように
したものである。
【０００５】
【作用】したがって、本願の第１および第２発明によれ
ば、検査データについて基準データと相対する画素アド
レス毎にその画素データの差分が求められ、この差分が
所定値を越えて所定画素数以上生じた場合、すなわちそ
のエッジのずれが所定量を越えるエッジ画素が所定数以
上生じた場合、これがウェブの蛇行状態として認識され
る。また、本願の第３および第４発明によれば、検査デ
ータについて基準データと相対する画素アドレス毎にそ
の画素データの差分が求められ、これら差分の絶対値を
累計し平均化して差分平均が求められ、この差分平均が
所定値を越えた場合、すなわち全エッジ画素におけるエ
ッジのズレの平均が所定量を越えた場合、これがウェブ
の蛇行状態として認識される。
ば、検査データについて基準データと相対する画素アド
レス毎にその画素データの差分が求められ、この差分が
所定値を越えて所定画素数以上生じた場合、すなわちそ
のエッジのずれが所定量を越えるエッジ画素が所定数以
上生じた場合、これがウェブの蛇行状態として認識され
る。また、本願の第３および第４発明によれば、検査デ
ータについて基準データと相対する画素アドレス毎にそ
の画素データの差分が求められ、これら差分の絶対値を
累計し平均化して差分平均が求められ、この差分平均が
所定値を越えた場合、すなわち全エッジ画素におけるエ
ッジのズレの平均が所定量を越えた場合、これがウェブ
の蛇行状態として認識される。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき詳細に
説明する。
説明する。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すブロック回
路構成図である。撮像手段であるスキャニングヘッド１
は、レンズ１ａ等の光学系およびこの光学系を介して結
像される画像をこれに対応する電気信号に変換するＣＣ
Ｄラインセンサ１ｂからなり、刷り上がった印刷物を画
像として撮像し得るようになっている。
路構成図である。撮像手段であるスキャニングヘッド１
は、レンズ１ａ等の光学系およびこの光学系を介して結
像される画像をこれに対応する電気信号に変換するＣＣ
Ｄラインセンサ１ｂからなり、刷り上がった印刷物を画
像として撮像し得るようになっている。
【０００８】図示二点鎖線で囲む信号処理回路２は、基
準画像データを読み込み記憶する基準メモリ６と、検査
画像データを読み取り記憶する検出メモリ７と、メモリ
コントローラ８と、差分回路９と、比較器１０と、補正
回路１１と、アンプ１２と、Ａ／Ｄコンバータ１３と、
判定値メモリ１９とを備えている。
準画像データを読み込み記憶する基準メモリ６と、検査
画像データを読み取り記憶する検出メモリ７と、メモリ
コントローラ８と、差分回路９と、比較器１０と、補正
回路１１と、アンプ１２と、Ａ／Ｄコンバータ１３と、
判定値メモリ１９とを備えている。
【０００９】信号処理回路２は制御タイミング信号，基
準値メモリ信号により制御される。制御タイミング信号
は、検出・制御タイミング発生回路１４の出力信号であ
り、図示せぬ版胴の１回転毎に立ち上がるパルス信号で
ある基準信号および版胴の一定回転毎に立ち上がるデー
タ読み込みおよび書き出し用のパルス信号でもあるクロ
ックパルスからなり、メモリコントローラ８および補正
回路１１に供給される。基準値メモリ信号は、図示しな
いスイッチを投入することにより、あるいは後述する一
点鎖線で囲む蛇行認識回路３より、メモリコントローラ
８へ供給される。
準値メモリ信号により制御される。制御タイミング信号
は、検出・制御タイミング発生回路１４の出力信号であ
り、図示せぬ版胴の１回転毎に立ち上がるパルス信号で
ある基準信号および版胴の一定回転毎に立ち上がるデー
タ読み込みおよび書き出し用のパルス信号でもあるクロ
ックパルスからなり、メモリコントローラ８および補正
回路１１に供給される。基準値メモリ信号は、図示しな
いスイッチを投入することにより、あるいは後述する一
点鎖線で囲む蛇行認識回路３より、メモリコントローラ
８へ供給される。
【００１０】検出・制御タイミング発生回路１４は回転
検出手段である。ロータリエンコーダ１５で検出する印
刷機の回転速度に応じてその出力信号である検出タイミ
ング信号および印刷タイミング信号の時間間隔が変化す
るアップダウンカウンタである。このとき、ＰＬＬ回路
１７は基準クロック発生回路１６の出力信号である基準
クロックパルスとロータリエンコーダ１５の出力信号で
ある回転速度を表すパルス信号とを比較し、印刷機の回
転速度に対応する検出タイミング信号および制御タイミ
ング信号となるよう検出・制御タイミング発生回路１４
を制御する。ＣＣＤ検出タイミング発生回路１８は検出
タイミング信号を受けて版胴の１回転毎にＣＣＤライン
センサ１ｂを制御してその映像信号を信号処理回路２に
取り込ませる。
検出手段である。ロータリエンコーダ１５で検出する印
刷機の回転速度に応じてその出力信号である検出タイミ
ング信号および印刷タイミング信号の時間間隔が変化す
るアップダウンカウンタである。このとき、ＰＬＬ回路
１７は基準クロック発生回路１６の出力信号である基準
クロックパルスとロータリエンコーダ１５の出力信号で
ある回転速度を表すパルス信号とを比較し、印刷機の回
転速度に対応する検出タイミング信号および制御タイミ
ング信号となるよう検出・制御タイミング発生回路１４
を制御する。ＣＣＤ検出タイミング発生回路１８は検出
タイミング信号を受けて版胴の１回転毎にＣＣＤライン
センサ１ｂを制御してその映像信号を信号処理回路２に
取り込ませる。
【００１１】すなわち、本実施例においては、ＣＣＤラ
インセンサ１ｂからの映像信号の読み込みおよび信号処
理回路２における信号処理のタイミングは、ロータリエ
ンコーダ１５が検出する印刷機の回転数（版胴の回転
数）に追従して変化するようになっている。
インセンサ１ｂからの映像信号の読み込みおよび信号処
理回路２における信号処理のタイミングは、ロータリエ
ンコーダ１５が検出する印刷機の回転数（版胴の回転
数）に追従して変化するようになっている。
【００１２】一方、蛇行認識回路３は、エッジメモリコ
ントローラ３１と、エッジ判別回路３２と、エッジ基準
メモリ３３と、差分回路３４と、第１の比較回路３５
と、第２の比較回路３６と、差分積算回路３７と、第１
の判定値メモリ３８と、第２の判定値メモリ３９とを備
えている。この蛇行認識回路３の比較回路３５および３
６より上述した基準値メモリ信号が送出される。なお、
比較回路３５の送出する基準値メモリ信号と比較回路３
６の送出する基準値メモリ信号とは、その機能が多少異
なっている。この点については後述する。
ントローラ３１と、エッジ判別回路３２と、エッジ基準
メモリ３３と、差分回路３４と、第１の比較回路３５
と、第２の比較回路３６と、差分積算回路３７と、第１
の判定値メモリ３８と、第２の判定値メモリ３９とを備
えている。この蛇行認識回路３の比較回路３５および３
６より上述した基準値メモリ信号が送出される。なお、
比較回路３５の送出する基準値メモリ信号と比較回路３
６の送出する基準値メモリ信号とは、その機能が多少異
なっている。この点については後述する。
【００１３】次に、この装置における不良印刷物検出動
作について、すなわちその基本機能について説明する。
作について、すなわちその基本機能について説明する。
【００１４】先ず、印刷開始時に、試し刷りを行いなが
ら実際に印刷された印刷物の状態を視認し、良好である
と判断すれば、スイッチを投入して基準値メモリ信号を
送出する。その後、基準位置を表す検出タイミングおよ
び制御タイミング信号が検出・制御タイミング発生回路
１４より送出された時点で、基準となる印刷物から基準
画像データの基準メモリ６への読み込みを行う。この読
み込みは、ロータリエンコーダ１５のクロックパルスに
制御される検出・制御タイミング発生回路１４の検出タ
イミングおよび制御タイミング信号により行われる。
ら実際に印刷された印刷物の状態を視認し、良好である
と判断すれば、スイッチを投入して基準値メモリ信号を
送出する。その後、基準位置を表す検出タイミングおよ
び制御タイミング信号が検出・制御タイミング発生回路
１４より送出された時点で、基準となる印刷物から基準
画像データの基準メモリ６への読み込みを行う。この読
み込みは、ロータリエンコーダ１５のクロックパルスに
制御される検出・制御タイミング発生回路１４の検出タ
イミングおよび制御タイミング信号により行われる。
【００１５】このようにして基準画像データを基準メモ
リ６に記憶した後、版胴の回転に伴い、検出対象の印刷
物すなわち検査対象の印刷されたウェブより得られる検
査画像データが、検出メモリ７に読み込まれる。
リ６に記憶した後、版胴の回転に伴い、検出対象の印刷
物すなわち検査対象の印刷されたウェブより得られる検
査画像データが、検出メモリ７に読み込まれる。
【００１６】これにより、差分回路９が、基準画像デー
タと検査画像データとで相対する画素データのレベル差
を算出し、比較器１０へ与える。比較器１０は、供与さ
れるレベル差と判定値メモリ１９に記憶されている所定
値とを比較し、供与されるレベル差が所定値よりも大き
ければ、印刷不良であることを示す比較出力を送出す
る。
タと検査画像データとで相対する画素データのレベル差
を算出し、比較器１０へ与える。比較器１０は、供与さ
れるレベル差と判定値メモリ１９に記憶されている所定
値とを比較し、供与されるレベル差が所定値よりも大き
ければ、印刷不良であることを示す比較出力を送出す
る。
【００１７】次に、この不良印刷物検出動作（基本機
能）に対し平行して行われる本実施例特有の基準画像デ
ータ自動再入力動作（付加機能）について、蛇行認識回
路３での各回路の機能を交えながら説明する。
能）に対し平行して行われる本実施例特有の基準画像デ
ータ自動再入力動作（付加機能）について、蛇行認識回
路３での各回路の機能を交えながら説明する。
【００１８】エッジ判別回路３２は、メモリコントロー
ラ８からステップ信号と画素の濃淡のデータ（０〜２５
５の２５６階調）、すなわち検出される印刷物の画素ア
ドレスと画素データを受け取る。そして、エッジ判別回
路３２は、各画素について、濃淡の急変領域すなわちエ
ッジであるか否かを判定する。このエッジ判定について
は、本出願人による特開平２−１６３８７９号公報など
に開示されているので、その詳細については説明を省
く。
ラ８からステップ信号と画素の濃淡のデータ（０〜２５
５の２５６階調）、すなわち検出される印刷物の画素ア
ドレスと画素データを受け取る。そして、エッジ判別回
路３２は、各画素について、濃淡の急変領域すなわちエ
ッジであるか否かを判定する。このエッジ判定について
は、本出願人による特開平２−１６３８７９号公報など
に開示されているので、その詳細については説明を省
く。
【００１９】図２は基準となる印刷物での絵柄を例示す
る図であり、エッジ判別回路３２は、この絵柄の画素ア
ドレスと画素データを受け取り、図３に斜線部で示す各
画素をエッジ画素と判定する。
る図であり、エッジ判別回路３２は、この絵柄の画素ア
ドレスと画素データを受け取り、図３に斜線部で示す各
画素をエッジ画素と判定する。
【００２０】エッジ判別回路３２は、判定したエッジ画
素について、エッジ判別信号をエッジ基準メモリ３３お
よびエッジメモリコントローラ３１へ送る。エッジメモ
リコントローラ３１は、メモリコントローラ８からの基
準値データ取り込み許可信号を受けて、エッジ基準メモ
リ３３に、エッジ画素の画素アドレスと画素データを基
準データとして記憶させる。
素について、エッジ判別信号をエッジ基準メモリ３３お
よびエッジメモリコントローラ３１へ送る。エッジメモ
リコントローラ３１は、メモリコントローラ８からの基
準値データ取り込み許可信号を受けて、エッジ基準メモ
リ３３に、エッジ画素の画素アドレスと画素データを基
準データとして記憶させる。
【００２１】すなわち、エッジメモリコントローラ３１
は、スイッチを投入することによりメモリコントローラ
８に先の基準値メモリ信号が与えられた場合、当該メモ
リコントローラ８より基準値データ取り込み許可信号を
受ける。そして、この基準値データ取り込み許可信号を
受けていることを前提として、エッジ判別回路３２より
エッジ判別信号を受けると、エッジ基準メモリ３３にエ
ッジ画素の画素アドレスと画素データを基準データとし
て記憶させる。これでエッジ基準メモリ３３への基準デ
ータの取り込みが終了する。
は、スイッチを投入することによりメモリコントローラ
８に先の基準値メモリ信号が与えられた場合、当該メモ
リコントローラ８より基準値データ取り込み許可信号を
受ける。そして、この基準値データ取り込み許可信号を
受けていることを前提として、エッジ判別回路３２より
エッジ判別信号を受けると、エッジ基準メモリ３３にエ
ッジ画素の画素アドレスと画素データを基準データとし
て記憶させる。これでエッジ基準メモリ３３への基準デ
ータの取り込みが終了する。
【００２２】図４に図２に示す絵柄に対応してエッジ基
準メモリ３３に記憶される基準データを概念的に示す。
準メモリ３３に記憶される基準データを概念的に示す。
【００２３】一方、差分回路３４には、検出メモリ７よ
り検査画像データが与えられる。この検査画像データ
は、エッジ画素，非エッジ画素とは無関係に、全画素に
ついて与えられる。エッジメモリコントローラ３１は、
エッジ基準メモリ３３よりエッジ画素の画素アドレスを
受け、検査画像データの画素アドレスがエッジ画素に対
応する場合にのみ差分回路３４を動作させ、かつエッジ
基準メモリ３３の対応する画素データを差分回路３４へ
送る。すなわち、検査画像データの画素アドレスがエッ
ジ画素に対応しない場合には、差分回路３４は動作せ
ず、エッジ基準メモリ３３の対応する画素データも差分
回路３４へは送られない。
り検査画像データが与えられる。この検査画像データ
は、エッジ画素，非エッジ画素とは無関係に、全画素に
ついて与えられる。エッジメモリコントローラ３１は、
エッジ基準メモリ３３よりエッジ画素の画素アドレスを
受け、検査画像データの画素アドレスがエッジ画素に対
応する場合にのみ差分回路３４を動作させ、かつエッジ
基準メモリ３３の対応する画素データを差分回路３４へ
送る。すなわち、検査画像データの画素アドレスがエッ
ジ画素に対応しない場合には、差分回路３４は動作せ
ず、エッジ基準メモリ３３の対応する画素データも差分
回路３４へは送られない。
【００２４】エッジメモリコントローラ３１による許可
により、差分回路３４は動作し、エッジ基準メモリ３３
より送られてくるエッジ画素の画素データ（基準画素デ
ータ）と検査画像データにおいて対応する画素アドレス
の画素データ（検査画素データ）とについて、その差分
を求める。すなわち、差分回路３４は、検査画像データ
において基準データと対応する検査データについて、基
準データと対応する画素アドレス毎にその画素データの
差分（基準画素データ−検査画素データ）を求める。
により、差分回路３４は動作し、エッジ基準メモリ３３
より送られてくるエッジ画素の画素データ（基準画素デ
ータ）と検査画像データにおいて対応する画素アドレス
の画素データ（検査画素データ）とについて、その差分
を求める。すなわち、差分回路３４は、検査画像データ
において基準データと対応する検査データについて、基
準データと対応する画素アドレス毎にその画素データの
差分（基準画素データ−検査画素データ）を求める。
【００２５】差分回路３４により求められたエッジ画素
毎の差分は、比較回路３５および差分積算回路３７へ与
えられ、並列処理される。
毎の差分は、比較回路３５および差分積算回路３７へ与
えられ、並列処理される。
【００２６】比較回路３５へ与えられた差分は、判定値
メモリ３８に記憶された第１の判定値Ｎ１と比較され
る。そして、この判定値Ｎ１を越える差分の数が第２の
判定値Ｎ２と比較され、Ｎ１を越える差分の数がＮ２以
上生じた場合、基準値メモリ信号が出力される。すなわ
ち、そのエッジのずれが所定量Ｎ１を越えるエッジ画素
が所定画素数Ｎ２以上生じた場合、これがウェブの蛇行
状態として認識され、基準値メモリ信号が出力される。
この基準値メモリ信号は、先にスイッチを投入して与え
たと同様にして、メモリコントローラ８へ供与される。
これにより、次に得られる検査画像データが基準画像デ
ータとして基準メモリ６に更新記憶されるものとなる。
メモリ３８に記憶された第１の判定値Ｎ１と比較され
る。そして、この判定値Ｎ１を越える差分の数が第２の
判定値Ｎ２と比較され、Ｎ１を越える差分の数がＮ２以
上生じた場合、基準値メモリ信号が出力される。すなわ
ち、そのエッジのずれが所定量Ｎ１を越えるエッジ画素
が所定画素数Ｎ２以上生じた場合、これがウェブの蛇行
状態として認識され、基準値メモリ信号が出力される。
この基準値メモリ信号は、先にスイッチを投入して与え
たと同様にして、メモリコントローラ８へ供与される。
これにより、次に得られる検査画像データが基準画像デ
ータとして基準メモリ６に更新記憶されるものとなる。
【００２７】なお、比較回路３５より送出される基準値
メモリ信号では、エッジメモリコントローラ３１への基
準値データ取り込み許可信号は与えられない。また、１
画面についてのエッジ画素の差分の比較が終了すれば、
その差分がＮ１を越えるエッジ画素数の累計は、ステッ
プ信号を受けて零へ戻す。
メモリ信号では、エッジメモリコントローラ３１への基
準値データ取り込み許可信号は与えられない。また、１
画面についてのエッジ画素の差分の比較が終了すれば、
その差分がＮ１を越えるエッジ画素数の累計は、ステッ
プ信号を受けて零へ戻す。
【００２８】参考として表１に、上記Ｎ１をＮ１＝±２
０，上記Ｎ２をＮ２＝３とした場合の基準画素データ，
検査画素データ，差分，Ｎ１を越える画素数（ＮＧ画素
数）の累計を示す。この場合、ＮＧ画素数の累計が４と
なるエッジ画素において、比較回路３５より基準値メモ
リ信号が出力される。
０，上記Ｎ２をＮ２＝３とした場合の基準画素データ，
検査画素データ，差分，Ｎ１を越える画素数（ＮＧ画素
数）の累計を示す。この場合、ＮＧ画素数の累計が４と
なるエッジ画素において、比較回路３５より基準値メモ
リ信号が出力される。
【００２９】
【表１】
【００３０】一方、差分積算回路３７へ与えられた差分
は、１画面についてそのエッジ画素の差分の絶対値が累
計され、平均化されて、差分平均が求められる。すなわ
ち、下記（１）式により差分平均が求められる。 〔Σ（基準画素データー検査画素データ）の絶対値〕／
エッジ画素数 ・・・（１）
は、１画面についてそのエッジ画素の差分の絶対値が累
計され、平均化されて、差分平均が求められる。すなわ
ち、下記（１）式により差分平均が求められる。 〔Σ（基準画素データー検査画素データ）の絶対値〕／
エッジ画素数 ・・・（１）
【００３１】この差分平均は、比較回路３６へ与えら
れ、判定値メモリ３９に記憶された判定値Ｎ３と比較さ
れる。ここで、差分平均が判定値Ｎ３を越えれば、比較
回路３６より基準値メモリ信号が出力される。すなわ
ち、全エッジ画素におけるエッジのズレの平均が所定量
Ｎ３を越えた場合、これがウェブの蛇行状態として認識
され、基準値メモリ信号が出力される。この基準値メモ
リ信号は、先にスイッチを投入して与えたと同様にし
て、メモリコントローラ８へ供与される。これにより、
次に得られる検査画像データが基準画像データとして基
準メモリ６に更新記憶されるものとなる。
れ、判定値メモリ３９に記憶された判定値Ｎ３と比較さ
れる。ここで、差分平均が判定値Ｎ３を越えれば、比較
回路３６より基準値メモリ信号が出力される。すなわ
ち、全エッジ画素におけるエッジのズレの平均が所定量
Ｎ３を越えた場合、これがウェブの蛇行状態として認識
され、基準値メモリ信号が出力される。この基準値メモ
リ信号は、先にスイッチを投入して与えたと同様にし
て、メモリコントローラ８へ供与される。これにより、
次に得られる検査画像データが基準画像データとして基
準メモリ６に更新記憶されるものとなる。
【００３２】なお、比較回路３６より送出される基準値
メモリ信号は比較回路３５より送出される基準値メモリ
信号とは多少異なり、この基準値メモリ信号を受けてメ
モリコントローラ８は、エッジメモリコントローラ３１
へ基準値データ取り込み許可信号を与える。したがっ
て、比較回路３６より基準値メモリ信号が送出された場
合には、基準メモリ６における基準画像データの更新と
併せて、エッジ基準メモリ３３での基準データの更新も
行われる。また、１画面についての差分平均の比較が終
了すれば、差分の絶対値の累計は、ステップ信号を受け
て零へ戻す。
メモリ信号は比較回路３５より送出される基準値メモリ
信号とは多少異なり、この基準値メモリ信号を受けてメ
モリコントローラ８は、エッジメモリコントローラ３１
へ基準値データ取り込み許可信号を与える。したがっ
て、比較回路３６より基準値メモリ信号が送出された場
合には、基準メモリ６における基準画像データの更新と
併せて、エッジ基準メモリ３３での基準データの更新も
行われる。また、１画面についての差分平均の比較が終
了すれば、差分の絶対値の累計は、ステップ信号を受け
て零へ戻す。
【００３３】参考として表２に、Ｎ３＝５とした場合の
基準画素データ，検査画素データ，差分の絶対値，差分
の絶対値の累計を示す。エッジ画素の最終を１００番目
とした場合、差分平均は、２３５／１００＝２．３５と
なり、Ｎ３を越えないので、比較回路３６からは基準値
メモリ信号は送出されない。
基準画素データ，検査画素データ，差分の絶対値，差分
の絶対値の累計を示す。エッジ画素の最終を１００番目
とした場合、差分平均は、２３５／１００＝２．３５と
なり、Ｎ３を越えないので、比較回路３６からは基準値
メモリ信号は送出されない。
【００３４】
【表２】
【００３５】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
第１および第２発明によれば、検査データについて基準
データと相対する画素アドレス毎にその画素データの差
分が求められ、この差分が所定値を越えて所定数以上生
じた場合、すなわちそのエッジのずれが所定量を越える
エッジ画素が所定画素数以上生じた場合、これがウェブ
の蛇行状態として認識されるので、また第３および第４
発明によれば、検査データについて基準データと相対す
る画素アドレス毎にその画素データの差分が求められ、
これら差分の絶対値を累計し平均化して差分平均が求め
られ、この差分平均が所定値を越えた場合、すなわち全
エッジ画素におけるエッジのズレの平均が所定量を越え
た場合、これがウェブの蛇行状態として認識されるの
で、この認識結果に基づいて基準画像データの再入力を
自動的に行うようにすれば、多少のウェブの蛇行では、
不良印刷物と判断しないようにすることが可能となる。
第１および第２発明によれば、検査データについて基準
データと相対する画素アドレス毎にその画素データの差
分が求められ、この差分が所定値を越えて所定数以上生
じた場合、すなわちそのエッジのずれが所定量を越える
エッジ画素が所定画素数以上生じた場合、これがウェブ
の蛇行状態として認識されるので、また第３および第４
発明によれば、検査データについて基準データと相対す
る画素アドレス毎にその画素データの差分が求められ、
これら差分の絶対値を累計し平均化して差分平均が求め
られ、この差分平均が所定値を越えた場合、すなわち全
エッジ画素におけるエッジのズレの平均が所定量を越え
た場合、これがウェブの蛇行状態として認識されるの
で、この認識結果に基づいて基準画像データの再入力を
自動的に行うようにすれば、多少のウェブの蛇行では、
不良印刷物と判断しないようにすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック回路構成図。
【図２】基準となる印刷物での絵柄を例示する図。
【図３】この絵柄に対するエッジ画素の判定状況を示す
図。
図。
【図４】この絵柄に対応して記憶される基準データを概
念的に示す図。
念的に示す図。
３ 蛇行認識回路 ３１ エッジメモリコントローラ ３２ エッジ判別回路 ３３ エッジ基準メモリ ３４ 差分回路 ３５ 第１の比較回路 ３６ 第２の比較回路 ３７ 差分積算回路 ３８ 第１の判定値メモリ ３９ 第２の判定値メモリ
Claims (4)
- 【請求項１】 基準となる印刷物の画素アドレスと画素
データを受け取り、各画素について濃淡の急変領域すな
わちエッジであるか否かを判別し、エッジであると判別
された各画素の画素アドレスと画素データを基準データ
として記憶し、検査対象の印刷されたウェブより得られ
る検査画像データにおいて前記基準データと対応する検
査データについて、前記基準データと相対する画素アド
レス毎にその画素データの差分を求め、この差分が所定
値を越えて所定数以上生じた場合、これを前記ウェブの
蛇行状態として認識するようにしたことを特徴とするウ
ェブの蛇行認識方法。 - 【請求項２】 基準となる印刷物の画素アドレスと画素
データを受け取り、各画素について濃淡の急変領域すな
わちエッジであるか否かを判別するエッジ判別手段と、 このエッジ判別手段によりエッジであると判別された各
画素の画素アドレスと画素データを基準データとして記
憶する基準データ記憶手段と、 検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像デー
タにおいて前記基準データと対応する検査データについ
て、前記基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求める差分演算手段と、 この差分演算手段により求められる差分が所定値を越え
て所定数以上生じた場合、これを前記ウェブの蛇行状態
として認識する蛇行認識手段とを備えたことを特徴とす
るウェブの蛇行認識装置。 - 【請求項３】 基準となる印刷物の画素アドレスと画素
データを受け取り、各画素について濃淡の急変領域すな
わちエッジであるか否かを判別し、エッジであると判別
された各画素の画素アドレスと画素データを基準データ
として記憶し、検査対象の印刷されたウェブより得られ
る検査画像データにおいて前記基準データと対応する検
査データについて、前記基準データと相対する画素アド
レス毎にその画素データの差分を求め、これら差分の絶
対値を累計し平均化して差分平均を求め、この差分平均
が所定値を越えた場合、これを前記ウェブの蛇行状態と
して認識するようにしたことを特徴とするウェブの蛇行
認識方法。 - 【請求項４】 基準となる印刷物の画素アドレスと画素
データを受け取り、各画素について濃淡の急変領域すな
わちエッジであるか否かを判別するエッジ判別手段と、 このエッジ判別手段によりエッジであると判別された各
画素の画素アドレスと画素データを基準データとして記
憶する基準データ記憶手段と、 検査対象の印刷されたウェブより得られる検査画像デー
タにおいて前記基準データと対応する検査データについ
て、前記基準データと相対する画素アドレス毎にその画
素データの差分を求める差分演算手段と、 この差分演算手段により求められる差分の絶対値を累計
し平均化して差分平均を求める差分平均演算手段と、 この差分平均演算手段により求められる差分平均が所定
値を越えた場合、これを前記ウェブの蛇行状態として認
識する蛇行認識手段とを備えたことを特徴とするウェブ
の蛇行認識装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3266984A JP2952793B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | ウェブの蛇行認識方法および装置 |
| EP19920250264 EP0533306A3 (en) | 1991-09-19 | 1992-09-18 | Method and apparatus for recognizing meandering of web |
| US08/506,434 US5559896A (en) | 1991-09-19 | 1995-07-24 | Method and apparatus for recognizing meandering of web |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3266984A JP2952793B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | ウェブの蛇行認識方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0577408A JPH0577408A (ja) | 1993-03-30 |
| JP2952793B2 true JP2952793B2 (ja) | 1999-09-27 |
Family
ID=17438444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3266984A Expired - Fee Related JP2952793B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | ウェブの蛇行認識方法および装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5559896A (ja) |
| EP (1) | EP0533306A3 (ja) |
| JP (1) | JP2952793B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0671864A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-03-15 | Komori Corp | 印刷物検査装置におけるウェブの蛇行認識方法および装置、印刷物検査装置における撮像位置補正方法および装置 |
| US5903671A (en) * | 1993-12-27 | 1999-05-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Data compression method and apparatus therefor |
| US5999636A (en) * | 1997-10-10 | 1999-12-07 | Printprobe Technology, Llc | Apparatus and process for inspecting print material |
| EP2525978B1 (en) * | 2010-01-21 | 2018-04-11 | Hewlett-Packard Indigo B.V. | Automated inspection of a printed image |
| JP6295561B2 (ja) * | 2013-09-17 | 2018-03-20 | 株式会社リコー | 画像検査結果判断装置、画像検査システム及び画像検査結果の判断方法 |
| JP2016133417A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 富士通テン株式会社 | 印字検査装置、印字検査方法および印字検査プログラム |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4566042A (en) * | 1979-02-13 | 1986-01-21 | Coulter Systems Corporation | Electrophotographic imaging apparatus by variably placing pixel elements |
| US4468706A (en) * | 1979-02-13 | 1984-08-28 | Coulter Systems Corporation | Imaging by varying the placement of elements in the pixels |
| GB2159622B (en) * | 1981-07-29 | 1986-05-21 | Dainippon Printing Co Ltd | Print inspecting method |
| US4545031A (en) * | 1981-09-17 | 1985-10-01 | Kita Electrics Co., Ltd. | Photo-electric apparatus for monitoring printed papers |
| US4677680A (en) * | 1982-08-31 | 1987-06-30 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Method and device for inspecting image |
| US5255331A (en) * | 1984-06-20 | 1993-10-19 | The Governor And Company Of The Bank Of England | Production of an image model and inspection of a pixel representation of an image |
| JP2556894B2 (ja) * | 1988-12-19 | 1996-11-27 | 株式会社小森コーポレーション | 印刷物の品質検査装置及びその方法 |
| US5058175A (en) * | 1990-01-11 | 1991-10-15 | Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha | Quality inspection method for a printed matter |
| DE69019951T2 (de) * | 1990-02-22 | 1995-10-26 | Komori Printing Mach | Apparat zur Untersuchung von Drucksachen und entsprechendes Verfahren. |
-
1991
- 1991-09-19 JP JP3266984A patent/JP2952793B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-09-18 EP EP19920250264 patent/EP0533306A3/en not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-07-24 US US08/506,434 patent/US5559896A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0533306A2 (en) | 1993-03-24 |
| EP0533306A3 (en) | 1994-05-18 |
| JPH0577408A (ja) | 1993-03-30 |
| US5559896A (en) | 1996-09-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |