JP2701660B2 - 実装部品検査データ作成装置 - Google Patents
実装部品検査データ作成装置Info
- Publication number
- JP2701660B2 JP2701660B2 JP4121614A JP12161492A JP2701660B2 JP 2701660 B2 JP2701660 B2 JP 2701660B2 JP 4121614 A JP4121614 A JP 4121614A JP 12161492 A JP12161492 A JP 12161492A JP 2701660 B2 JP2701660 B2 JP 2701660B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- inspection area
- knowledge
- inspection data
- component
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- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器などの実装回
路基板の検査に利用し、部品の実装状態の良否を判定す
る際に検査データの作成を行う実装部品検査データ作成
装置に関する。
路基板の検査に利用し、部品の実装状態の良否を判定す
る際に検査データの作成を行う実装部品検査データ作成
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の実装部品検査データ作成装
置の構成を示している。図４において、４１はビデオカ
メラなどから取り込んだ画像データを蓄える画像データ
記憶装置、４２は検査データを格納する検査データ記憶
装置、４３は検査データ記憶装置４２からの検査データ
に基づいて良否を判定し、その判定信号を出力する検査
判定回路、４４は検査データを修正する検査データ修正
回路である。
置の構成を示している。図４において、４１はビデオカ
メラなどから取り込んだ画像データを蓄える画像データ
記憶装置、４２は検査データを格納する検査データ記憶
装置、４３は検査データ記憶装置４２からの検査データ
に基づいて良否を判定し、その判定信号を出力する検査
判定回路、４４は検査データを修正する検査データ修正
回路である。
【０００３】次に、この従来の構成における動作を詳細
に説明する。検査データ記憶装置４２には検査エリアの
左上および右下の座標、判定用の値が格納されている。
画像データ記憶装置４１には、ビデオカメラなどによっ
て取り込まれたプリント回路基板上の実装部品の高さデ
ータが蓄えられており、この高さデータを検査判定回路
４３に出力する。
に説明する。検査データ記憶装置４２には検査エリアの
左上および右下の座標、判定用の値が格納されている。
画像データ記憶装置４１には、ビデオカメラなどによっ
て取り込まれたプリント回路基板上の実装部品の高さデ
ータが蓄えられており、この高さデータを検査判定回路
４３に出力する。
【０００４】検査判定回路４３では、検査データ記憶装
置４２からの検査エリア内の最大高さと最小高さの差を
部品の高さの記憶データに基づいて検査し、その高さが
一定の範囲内か否かによって部品の実装状態の良否を判
定した判定信号を出力する。
置４２からの検査エリア内の最大高さと最小高さの差を
部品の高さの記憶データに基づいて検査し、その高さが
一定の範囲内か否かによって部品の実装状態の良否を判
定した判定信号を出力する。
【０００５】この判定では、良品を不良品と判定する場
合がある。このため必要に応じて人手により検査データ
修正回路４４を操作して検査データを修正し、その検査
精度を向上させている。
合がある。このため必要に応じて人手により検査データ
修正回路４４を操作して検査データを修正し、その検査
精度を向上させている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の実装部品検査データ作成装置では、人手により検査
データ修正回路４４を操作して検査データを修正してい
る。このため修正時間が多大となり場合によっては修正
箇所を見のがしてしまうという問題があった。
来の実装部品検査データ作成装置では、人手により検査
データ修正回路４４を操作して検査データを修正してい
る。このため修正時間が多大となり場合によっては修正
箇所を見のがしてしまうという問題があった。
【０００７】本発明は、このような従来の技術における
問題を解決するものであり、部品の高さが一定の範囲内
か否かによって、自動的、かつ、高精度に部品の実装状
態の良否を判定できる優れた実装部品検査データ作成装
置の提供を目的とする。
問題を解決するものであり、部品の高さが一定の範囲内
か否かによって、自動的、かつ、高精度に部品の実装状
態の良否を判定できる優れた実装部品検査データ作成装
置の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の実装部品検査データ作成装置は、実装回路
基板の画像データを格納する画像データ記憶手段と、上
記実装回路基板に実装された部品毎に設定される標準検
査エリアを予め格納する検査データ記憶手段と、上記画
像データと上記標準検査エリアに基づいて上記部品毎に
実装状態の良否を判定する検査判定手段と、上記標準検
査エリアを変化させるための知識を記憶する追い込み知
識記憶手段と、この追い込み知識記憶手段に記憶された
知識及び上記検査判定手段からの判定結果に基づいて被
検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適検査エ
リアを推論し、上記部品毎に上記標準検査エリアを上記
最適検査エリアに更新して上記検査データ記憶手段に記
憶させる推論手段とを備える構成である。
に、本発明の実装部品検査データ作成装置は、実装回路
基板の画像データを格納する画像データ記憶手段と、上
記実装回路基板に実装された部品毎に設定される標準検
査エリアを予め格納する検査データ記憶手段と、上記画
像データと上記標準検査エリアに基づいて上記部品毎に
実装状態の良否を判定する検査判定手段と、上記標準検
査エリアを変化させるための知識を記憶する追い込み知
識記憶手段と、この追い込み知識記憶手段に記憶された
知識及び上記検査判定手段からの判定結果に基づいて被
検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適検査エ
リアを推論し、上記部品毎に上記標準検査エリアを上記
最適検査エリアに更新して上記検査データ記憶手段に記
憶させる推論手段とを備える構成である。
【０００９】
【作用】このような構成により、本発明の実装部品検査
データ作成装置は、登録された知識及び判定結果に基づ
いて最適な検査データを推論し、この推論による部品の
高さが一定の範囲内か否かによって部品の実装状態の良
否が高精度に判定される。
データ作成装置は、登録された知識及び判定結果に基づ
いて最適な検査データを推論し、この推論による部品の
高さが一定の範囲内か否かによって部品の実装状態の良
否が高精度に判定される。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実装部品検査データ作成装置
の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
【００１１】図１は実施例の構成を示している。図１に
おいて、１１は実装回路基板を撮影するビデオカメラな
どから取り込んだ画像データを蓄える画像データ記憶装
置、１２は検査データを格納する検査データ記憶装置、
１３は検査データ記憶装置１２からの検査データに基づ
いて良否を判定し、その判定信号を出力する検査判定回
路、１４は検査データを最適化する知識を予め登録し、
記憶する追い込み知識記憶装置、１５は登録された知識
及び検査判定回路１３からの判定結果に基づいて最適な
検査データを推論する推論回路である。
おいて、１１は実装回路基板を撮影するビデオカメラな
どから取り込んだ画像データを蓄える画像データ記憶装
置、１２は検査データを格納する検査データ記憶装置、
１３は検査データ記憶装置１２からの検査データに基づ
いて良否を判定し、その判定信号を出力する検査判定回
路、１４は検査データを最適化する知識を予め登録し、
記憶する追い込み知識記憶装置、１５は登録された知識
及び検査判定回路１３からの判定結果に基づいて最適な
検査データを推論する推論回路である。
【００１２】図２（ａ）（ｂ）は、プリント回路基板の
実装部品に設定された検査エリアを示している。図２
（ａ）（ｂ）において、２１はプリント回路基板、２２
はプリント回路基板２１上に実装された小型部品、２３
はプリント回路基板２１上に実装された大型部品、２４
は小型部品２２に設定された標準検査エリア、２５は標
準検査エリア２４を最適化した最適検査エリアである。
実装部品に設定された検査エリアを示している。図２
（ａ）（ｂ）において、２１はプリント回路基板、２２
はプリント回路基板２１上に実装された小型部品、２３
はプリント回路基板２１上に実装された大型部品、２４
は小型部品２２に設定された標準検査エリア、２５は標
準検査エリア２４を最適化した最適検査エリアである。
【００１３】次に、この実施例の構成における動作につ
いて説明する。検査データ記憶装置１２には標準検査エ
リア２４の左上および右下の座標、判定用の値Ｋ１、Ｋ
２が格納されている。画像データ記憶装置１１には、位
置検出装置によって取り込まれたプリント回路基板上２
１に実装された小型部品２２、大型部品２３の高さデー
タが蓄えられており、この高さデータを検査判定回路１
３に出力する。
いて説明する。検査データ記憶装置１２には標準検査エ
リア２４の左上および右下の座標、判定用の値Ｋ１、Ｋ
２が格納されている。画像データ記憶装置１１には、位
置検出装置によって取り込まれたプリント回路基板上２
１に実装された小型部品２２、大型部品２３の高さデー
タが蓄えられており、この高さデータを検査判定回路１
３に出力する。
【００１４】検査判定回路１３では、検査データ記憶装
置１２からの検査エリア内において、図３（ａ）に示す
ように最大高さＨ１、および最小高さＨ０を求め、その
差（Ｈ１−Ｈ０）を部品の高さとして検出する。そし
て、正しい高さの部品が実装されているか否かを次式
（１）、（２）の条件式によって判定する。
置１２からの検査エリア内において、図３（ａ）に示す
ように最大高さＨ１、および最小高さＨ０を求め、その
差（Ｈ１−Ｈ０）を部品の高さとして検出する。そし
て、正しい高さの部品が実装されているか否かを次式
（１）、（２）の条件式によって判定する。
【００１５】良品の条件 Ｋ１＜（Ｈ１−Ｈ０）＜Ｋ２ …（１） 不良品の条件 Ｋ１≧（Ｈ１−Ｈ０）又は（Ｈ１−Ｈ０）≦Ｋ２ …（２） ここで、図３（ｂ）のように小型部品２２の隣に背の高
い大型部品２３が実装されている場合、部品の高さは
（Ｈ２−Ｈ０）となり、正しい小型部品２２が実装され
ているにかかわらず不良品と判定されてしまう。
い大型部品２３が実装されている場合、部品の高さは
（Ｈ２−Ｈ０）となり、正しい小型部品２２が実装され
ているにかかわらず不良品と判定されてしまう。
【００１６】このように不良品と判定された場合、検査
判定回路１３から推論回路１５へその結果が出力され
る。推論回路１５では、追い込み知識記憶装置１４に登
録された知識「標準検査エリアがＸ方向に長く、かつ、
検出された部品の高さがＫ２よりも大きい場合、標準検
査エリアをＹ方向に長くし、最適検査エリアとする」に
基づいて推論し最適検査エリアを設定する。
判定回路１３から推論回路１５へその結果が出力され
る。推論回路１５では、追い込み知識記憶装置１４に登
録された知識「標準検査エリアがＸ方向に長く、かつ、
検出された部品の高さがＫ２よりも大きい場合、標準検
査エリアをＹ方向に長くし、最適検査エリアとする」に
基づいて推論し最適検査エリアを設定する。
【００１７】このようにして、プリント回路基板２１に
実装されている部品毎に、画像データ記憶装置１１から
出力された画像データに検査データ記憶装置１２からの
標準検査エリア２４を設定し、検査判定回路１３におい
て部品の高さを検出し良否の判定を行う。その誤判定結
果を推論回路１５へ出力し、追い込み知識記憶装置１４
に登録された知識に基づいて、被検査部品である小型部
品２２以外の部品がエリア内に含まれない最適検査エリ
ア２５を推論して最適化し、これを検査データ記憶手段
に記憶する。そしてプリント回路基板２１に実装された
部品毎に、上述した動作と同様にして、標準検査エリア
２４の位置、大きさあるいは方向などを変化させながら
被検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適な検
査エリアを推定し、部品毎の標準検査エリア２４を更新
して最適検査エリア２５を設定する。この結果、部品配
置に影響されずにプリント回路基板２１に実装されてい
る全ての部品の実装状態の良否を高精度に判定ができる
ことになる。
実装されている部品毎に、画像データ記憶装置１１から
出力された画像データに検査データ記憶装置１２からの
標準検査エリア２４を設定し、検査判定回路１３におい
て部品の高さを検出し良否の判定を行う。その誤判定結
果を推論回路１５へ出力し、追い込み知識記憶装置１４
に登録された知識に基づいて、被検査部品である小型部
品２２以外の部品がエリア内に含まれない最適検査エリ
ア２５を推論して最適化し、これを検査データ記憶手段
に記憶する。そしてプリント回路基板２１に実装された
部品毎に、上述した動作と同様にして、標準検査エリア
２４の位置、大きさあるいは方向などを変化させながら
被検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適な検
査エリアを推定し、部品毎の標準検査エリア２４を更新
して最適検査エリア２５を設定する。この結果、部品配
置に影響されずにプリント回路基板２１に実装されてい
る全ての部品の実装状態の良否を高精度に判定ができる
ことになる。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の実装部品検査データ作成装置は、登録された知識及び
判定結果に基づいて、回路基板に実装された部品毎に検
査エリアの位置、大きさあるいは方向などを変化させな
がら被検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適
な検査エリアを推定し、部品毎の最適検査エリアを検査
データ記憶手段に記憶させることにより、効率良く最適
検査エリアのデータ作成ができるとともに、この実装部
品検査データ作成装置で作成された検査データを用いた
検査装置によって実装部品の高さが一定範囲内か否か実
装状態の良否を判定する場合にも、複数の検査エリアか
ら選択する必要がなく一つの最適検査エリアにより自動
的に、かつ、高精度に部品の実装状態の良否を判定でき
るという効果を有する。
の実装部品検査データ作成装置は、登録された知識及び
判定結果に基づいて、回路基板に実装された部品毎に検
査エリアの位置、大きさあるいは方向などを変化させな
がら被検査部品以外の部品がエリア内に含まれない最適
な検査エリアを推定し、部品毎の最適検査エリアを検査
データ記憶手段に記憶させることにより、効率良く最適
検査エリアのデータ作成ができるとともに、この実装部
品検査データ作成装置で作成された検査データを用いた
検査装置によって実装部品の高さが一定範囲内か否か実
装状態の良否を判定する場合にも、複数の検査エリアか
ら選択する必要がなく一つの最適検査エリアにより自動
的に、かつ、高精度に部品の実装状態の良否を判定でき
るという効果を有する。
【図１】本発明の実装部品検査データ作成装置の実施例
における構成を示すブロック図
における構成を示すブロック図
【図２】（ａ）（ｂ）は実施例の動作説明に供され、プ
リント回路基板の実装部品に設定された検査エリアを示
す上面及び側面図
リント回路基板の実装部品に設定された検査エリアを示
す上面及び側面図
【図３】（ａ）（ｂ）は実施例における検査判定回路の
処理を示すための説明図
処理を示すための説明図
【図４】従来の実装部品検査データ作成装置の構成を示
すブロック図
すブロック図
１１ 画像データ記憶装置 １２ 検査データ記憶装置 １３ 検査判定回路 １４ 追い込み知識記憶装置 １５ 推論回路 ２１ プリント回路基板 ２２ 小型部品 ２３ 大型部品 ２４ 標準検査エリア ２５ 最適検査エリア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安田 彰夫 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (72)発明者 小関 洋子 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (72)発明者 児玉 知晃 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−117897（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−226874（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】 実装回路基板の画像データを格納する画
像データ記憶手段と、上記実装回路基板に実装された部
品毎に設定される標準検査エリアを予め格納する検査デ
ータ記憶手段と、上記画像データと上記標準検査エリア
に基づいて上記部品毎に実装状態の良否を判定する検査
判定手段と、上記標準検査エリアを変化させるための知
識を記憶する追い込み知識記憶手段と、この追い込み知
識記憶手段に記憶された知識及び上記検査判定手段から
の判定結果に基づいて被検査部品以外の部品がエリア内
に含まれない最適検査エリアを推論し、上記部品毎に上
記標準検査エリアを上記最適検査エリアに更新して上記
検査データ記憶手段に記憶させる推論手段とを備える実
装部品検査データ作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4121614A JP2701660B2 (ja) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 実装部品検査データ作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4121614A JP2701660B2 (ja) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 実装部品検査データ作成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05315800A JPH05315800A (ja) | 1993-11-26 |
| JP2701660B2 true JP2701660B2 (ja) | 1998-01-21 |
Family
ID=14815617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4121614A Expired - Fee Related JP2701660B2 (ja) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 実装部品検査データ作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2701660B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61117897A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-05 | 株式会社日立製作所 | 電子部品の位置検出方法 |
| JPH0831135B2 (ja) * | 1990-02-01 | 1996-03-27 | 富士通株式会社 | 画像認識方法 |
-
1992
- 1992-05-14 JP JP4121614A patent/JP2701660B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05315800A (ja) | 1993-11-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |