JPS5946052B2 - 輻射線反射型記録担体の読取り装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はトラック状に配設された光学的に読取り可能な
情報構体に情報を蓄わえた輻射線反射型記録担体を読取
るために、読取りビームを発生する輻射線源と、この読
取りビームを前記記録担体を経て、情報構体で変調され
た読取りビームを電気信号に変換するための輻射線感応
検出系に送る対物レンズ系と、この対物レンズ系の焦点
面の所望位置と現実の位置との間の偏差を定めるための
少くとも１個のオプト−エレクトロニック焦点誤差検出
系とを具え、この焦点誤差検出系に非点収差素子と輻射
線感応検出器とを設け、この輻射線感応検出器には４個
の副検出器を設け、これらの副検出器を仮想Ｘ−Ｙ座標
系の４個の異る象限に配置し、Ｘ及びＹ軸を前記非点収
差素子の非点収差焦線に対して４５０の角度を持たせた
輻射線反射型記録担体の読取り装置に関するものである
。

斯種装置については公開されたドイツ国特許願第２５０
１１２４号明細書に記載されている。この装置は例えば
（カラー）テレビジョン番組を記憶している記録担体を
読取るのに用いられる。ここで情報構体は交互に中間領
域を介在せしめた多数の領域をら旋トラックに沿つて配
設したものである。この領域と中間領域とは読取りビー
ムヘの影響の仕方が異る。こゝで情報は例えば前記領域
の長さ及び中間領域の長さに含まれる。大きさが限られ
た記録担体で再生時間を十分長くするには、情報構体の
寸法を非常に小さくする必要がある。例えば、丸いデイ
スク形記録担体の片面上の外周半径約１５ｃ７ｒＬ、内
周半径約７ＣｆＬの環状領域に３０分のテレビジヨン番
組を記憶させるには、トラツク幅は約０．５μｍとなり
、前記領域及び中間領域の平均の長さは約１μｍとなる
。斯かる微小な情報構体を読取るためには、可成り大き
な開口数の対物レンズ系を用いねばならない。

しかし、かＸる対物レンズ系の焦点深度は小さい。読取
り装置では情報構体面と対物レンズ系との間の距離の変
動が焦点深度より大きくなりうるから、これらの変動を
検出して焦点合わせを補正する手段を設ける必要がある
。前記ドイツ国特許願明細書によれば、この目的のため
に記録担体によつて反射された輻射線ビームに非点収差
を与えるが、そのため対物レンズ系以后のこの輻射線ビ
ームの通路に円柱レンズを設ける。

対物レンズ系と円柱レンズによつて構成される非点収差
系の焦線間に４個の副検出器より成る輻射線感応検出器
を設ける。対物レンズ系に対する情報構体面の位置が変
わると副検出器土に形成される点像の形状が変わる。４
個の副検出器の出力信号を正しく組合わせればこの形状
変化を検出できる。

しかし、読取り装置に欠陥があると、焦点検出用の検出
器上の輻射線分布に悪影響が生ずる恐れがあり、取出さ
れた焦点誤差信号もこれらの欠陥に依存するものとなつ
てしまう。

輻射線源や対物レンズ系のような輻射線径路内の各種光
学素子が互に正しく配列されていない時は、これにより
輻射線分布、従つて焦点誤差検出器上の点像に永続的な
非対称性が生ずる。

この永続的非対称性を防ぐには、読取り装置の製造に際
し公差に極めて厳しい条件を課さねばならない。

輻射線分布の永続的欠陥は光路内に設けられた素子の光
学的欠陥、或は例えばこれら素子上にあるかき傷によつ
てもひき起こされる。上記永続的欠陥に加えて例えば光
路内の光学素子又は記録担体土に一時的に付着した塵埃
粒子によつて焦点誤差検出器での輻射線分布に一時的欠
陥が生ずる。読取るべきトラツクの一部分の位置に対す
る記録担体上に形成された光点の位置も焦点誤差検出器
土の輻射線分布に影響する。

電子的フイルタ作用により焦点誤差信号中の上記欠陥に
帰因する成分を取除くことも考えられる。

しかし、これではサーボ システムの利得を下げない限
り、対物レンズ系の焦点合わせを補正するためのサーボ
システムが不安定になる。しかしサーボ システムの
利得を下げることは容易ではない。したがつて焦点合わ
せを補正するためのサーボ システムによつて供給され
る焦点制御信号も上述した種々の欠陥に依存することに
なる。対物レンズ系を記録担体に対して動かして対物レ
ンズ系の焦点合わせを補正するような場合には、上述し
た一時的欠陥は対物レンズ系が「ガチヤツク」耳ざわり
な音響雑音として現われる。更にこの場合対物レンズ系
の駆動機構、例えば電磁コイルは余分な電力を消費する
ので、斯かるコイルは一層頑丈に作らねばならない。諸
々の光学的欠陥により対物レンズ系の焦点は狂つてしま
う。本発明の目的は土述したような欠陥に基づくスプリ
アス信号に依存する程度をできるだけ小さくした焦点誤
差信号を得ることができる読取り装置を提供することに
ある。本発明の読取り装置は記録担体によつて反射され
た輻射線ビームの径路であつて記録担体に向う輻射線ビ
ームの径路とは分離された径路内にビーム スプリツタ
を設け、これにより前記反射輻射線ビームを略々強さが
等しい２個の副ビームに分割し、各副ビームの径路内に
焦点誤差検出系を設け、一方の焦点誤差検出系の非点収
差を他方の焦点誤差検出系の非点収差と反対にしたこと
を特徴とするものである。

本発明の読取り装置に於ては、各焦点誤差検出系で取出
された焦点誤差検出信号同志は効果を強め合い、他方こ
れら焦点誤差信号中のスプリアス成分同志は互に相殺し
合い、合成スプリアス成分は略々零になる。

焦点誤差信号を取出すために別個の輻射線ビームを用い
ることもできるが、焦点合わせ検出ビームに読取りビー
ムを兼ねさせ、且つ焦点誤差検出系の検出器に記録担体
上の情報を読取るための検出器を兼ねさせると好適であ
る。

図面につき本発明を説明する。

第１図は丸いデイスク形記録担体２の一部の断面図であ
る。

情報構体は例えば位相構造とし、多数の同心又は準同心
トラツク３を設ける。これらトラツクは一連の領域ｇと
その間に介在する中間領域ｔ（第７図参照）とから構成
される。情報は例えばカラー テレビジヨン番組でもよ
いが、代りに多数の異なる画像やデイジタル情報のよう
なその他の情報でもよい。記録担体には光源７（例えば
連続波レーザ）が発する読取りビーム６を照射する。

対物レンズ系（簡単のため単一のレンズ８で表す）によ
り、この読取りビームの焦点をトラツク面上に結ばせる
。補助レンズ９の焦点距離を適当に選択して十分対物ｋ
ンズ系の瞳一杯に読取りビームを入射させる。こＯ錬取
りビームは記録担体で反射されるが、その際読取らるべ
きトラツク部に記憶されていた情報に従つて変調を受け
る。（変調されていない）入射読取りビームと（変調さ
れた）反射読取りビームを分離するため、光路の途中に
例えば半透明鏡とすることができるビーム スプリツタ
１０を設ける。ビーム スプリツタ１０は変調された読
取りビームを光感応検出器１１に向ける。この光感応検
出器１１は電子回路１２に接続されており、この電子回
路１２により高周波の情報信号Ｓｉと、以下に説明する
低周波の焦点誤差信号Ｓｆとを取出す。焦点誤差を検出
するためにビーム スプリツタ１０以後の光路の途中に
非点収差素子１３を設ける。

この非点収差素子１３は、第１図に示すように、円柱レ
ンズとすることができる。代りに例えば透明平板をビー
ム内に斜に配置したり、或はビーム内にビームに対して
斜にレンズを配置することによりビームに非点収差を与
えることもできる。非点収差系では１個の焦点の代りに
２本の焦線ができ、この２本の焦線は、光軸方向に見て
、別の位置を占め、且つ互に垂直である。斯くして対物
レンズ系及び円柱レンズ１３により読取り点Ｖの２本の
焦線１４及び１５ができる。第１図では焦線１５は画面
に垂直とする。光感応検出器１１は焦線１４と１５の中
間の面１６に置く。面１６の位置を適当に設定して読取
りビーム６を情報構体面に正しく焦点合わせした場合に
読取り点Ｖの像の２個の互に垂直な方向の寸法が出来る
限り等くくなるようにする。第２ａ図は対物レンズ系と
トラツク面との距離が所望通りの場合に面１６に生ずる
点像Ｖ″の形状を示す。

この図並びに第２ｂ図及び第２ｃ図には焦線１４と１５
の方向を示してある。トラツク面と対物レンズ系との間
の距離が長すぎる場合は、焦線１４と１５とは円柱レン
ズ１３に一層近づく。したがつて焦線１４は面１６に近
づき、焦線１５は面１６から遠ざかり、点像ｖの形は第
２ｃ図に示す通りになる。対物レンズ系とトラツク面と
の間の距離が短かすぎる場合は、焦線１４と１５とはレ
ンズ１３から遠くなり、点像ｖの形は第２ｂ図に示す通
りになる。検出器１１は４個の副検出器から成る所謂四
象限セルとする。

第４図は第１図の４，４″線方向から見た図である。４
個の副検出器Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤはＸ−Ｙ座標系の各象限
に配置する。

焦線１４及び１５に対するＸ，Ｙ軸の方向を第４図の左
側に示す。副検出器Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤから供給される信
号を夫々ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ及びＳＤで表わせば、焦点誤
差検出系１３，１１が与える焦点誤差信号Ｓｆ′は次の
ように定義される。

Ｓ′ｆ−（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ）対物レンズ系
とトラツク面とが互に所望通りの距離だけ離れている場
合（第２ａ図の状況）には信号（ＳＡ＋ＳＢ）が信号（
Ｓｃ＋ＳＤ）に等しく、第２ｂ図の状況に対しては信号
（ＳＡ＋ＳＢ）が信号（Ｓｃ＋ＳＯ）より大きく、第２
ｃ図の状況に対しては信号（ＳＡ＋ＳＢ）が信号（Ｓｃ
＋ＳＤ）より小さい。

この焦点誤差信号Ｓ／ｆからは、既知の方法で焦点制御
信号を電子的に取出すことができ、この制御信号により
例えば対物レンズ系を動かすことができる。光学的欠陥
が最終的に得られる焦点制御信号に及ぼす影響を最小に
するために、前記読取りビームの円柱レンズ１３の手前
の光路に半透明鏡のビーム スプリツタ１７を設ける。

このビーム スプリツタ１７により読取りビームを同じ
強さの２個の副ビーム２２と２３とに分割する。副ビー
ム２２と同様にして、即ち円柱レンズ１９で以つて副ビ
ーム２３にも非点収差を与える。対物レンズ系８と円柱
レンズ１９の組合わせにより２本の焦線２０及び２１が
生ずるが、その内焦線２０は焦線１４と同様に図面の平
面内にあり、焦線２１は焦線１５と同様に図面の平面に
垂直である。系８，１９による非点収差を確実に系８，
１３による非点収差と反対にする手段を採る。それには
第１図に示すように円柱レンズ１３を凸レンズとし、円
柱レンズ１９を凹レンズとすればよい。第１図では、焦
線２１は焦線２０以后の光路にあるのに対し、他方焦線
１５は焦線１４の手前にある。或はまた円柱レンズ１３
と１９の両方を凸レンズとすることもできる。この場合
に系８，１３の非点収差と系８，１９の非点収差を確実
に反対するには、円柱レンズ１３と１９の円柱軸を互に
直角にする。これまた四象限セルとする第２の光感応検
出器１８を焦線２０と２１との間の面２４に設ける。

光感応検出器１８上の点像２の形状もトラツク面上での
読取りビーム６の焦点合わせの程度に依存する。しかし
焦点合わせの関数としての点像Ｖ″の形状の変化は点像
ｖの形状の変化と反対になる。第３ａ図は対物レンズ系
とトラツク面との間の距離が正しい場合の点像ＶＩの形
状を示す。この図並びに第３ｂ図及び第３ｃ図には焦線
２０及び２１の方向も示してある。対物レンズ系とトラ
ツク面との間の距離が長すぎる場合は、焦線２０及び２
１は円柱レンズ１９の方に寄る。この時焦線２１は面２
４に近づき、焦線２０は面２４から遠ざかる。従つて点
像Ｖ２は第３ｃ図に示す形状となる。対物レンズ系とト
ラツク面との間の距離が短かすぎる場合は焦線２０及び
２１は円柱レンズ１９から遠ざかり、点像Ｖ″は第３ｂ
図に示す形状となる。第５図は第１図の線５，５′方向
から見た光感応検出器１８の図である。

光感応検出器１８も４個の副検出器Ａ″，Ｂ″，Ｃ及び
σを具備し、これらはＸ−Ｙ座標系の異る四象限に配置
する。第５図の右側に焦線２０及び２１に対するＸ，Ｙ
軸の方向を示す。副ビーム２２にＸ−Ｙ座標を設定した
のと同様にして副ビーム２３にＫ−Ｙ座標系を設定する
。明らかに、対物レンズ系とトラツク面との間の距離が
長すぎる場合は、光感応検出器１８で取出された焦点誤
差信号Ｓ″ｆ、即ち信号Ｓ７−（ＳＡ？＋ＳＢ′）一（
Ｓｃ′＋ＳＯ′）は正になる。

他方この時光感応検出器１１からの信号Ｓ′ｆは負であ
る。明らかに、対物レンズ系とトラツク面との間の距離
が短かすぎる場合は、逆になる。本発明によれば信号Ｓ
″ｆとＳｆの効果が互に強め合うように８個の副検出器
の信号を結合させる。

第６図はこれら副検出器からの信号を処理する方法を模
式的に示したものである。副検出器Ａ及びＢの信号と副
検出器Ｃ及びびの信号とを加算回路３１で加算する。加
算回路３０では副検出器Ｃ及びＤの信号と副検出器Ｎ及
びＢ″の信号とを加算する。加算回路３０の出力信号と
加算回路３１の出力信号とは減算回路３２に送り、減算
回路３２の出力信号を低域通過フイルタ３４に通す。こ
の低域通過フイルタ３４は例えば数＋ＫＨｚ以下の周波
数の信号を通過させるものとする。低域通過フイルタ３
４の出力端子には次式で表わされる信号Ｓｆが得られる
。この信号Ｓｆが正であれば、対物レンズ系とトラツク
面との間の距離が短かすぎるのである。

対物レンズ系とトラツク面との間の距離が長すぎる場合
は、この信号Ｓｆは負になる。上記距離が正しい場合は
信号Ｓｆは零である。この焦点誤差信号Ｓｆを処理して
焦点制御信号を作り、これを用いて例えばトラツク面に
対して対物レンズ系を動かし、以つて対物レンズ系の焦
点を補正することができる。８個の副検出器の信号を第
６図に示すように加算回路３０及び３１に直接加える代
りに、まず或る時点で信号を２個ずつ、即ちＳＡとＳＢ
．ＳＣとＳ。

．ＳＡ′とＳＢ／．及びＳｃ′とＳＤ′を結合させ、次
いでこれらをポテンシヨメータを経て加算回路３０及び
３１に加えるようにすることも可能である。こうすれば
読取り装置の組立に際し、ポテンシヨメータを調整する
ことにより焦点誤差検出系の零点調整を達成できる。こ
うすれば例えば副ビーム２２と副ビーム２３の強さが完
全には同じでない場合に、これを補償できる。光学的欠
陥のため副検出器Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤの光分布が変動する
と、夫々副検出器Ｂ″，Ａ゛，Ｔｊ及びＣの光分布が逆
の非点収差のため同じように変わる。

焦点誤差信号Ｓｆを導き出すには対応する副検出器から
の信号同志を互に差引くから（即ち、ＳＡからＳＢ′を
減算し、ＳＢからＳＡ′を減算し等等）、光学的欠陥が
焦点誤差信号Ｓｆに及ぼす影響は消去される。焦点誤差
信号Ｓｆを取出すために使われる光ビーム６によつて、
記録担体２上に蓄わえられている高周波情報をも読取る
ことができる。

この目的で８個の副検出器の信号全部を例えば互に加え
合わせる。第６図の回路では、加算回路３０の出力信号
と加算回路３１の出力信号とを加算回路３３に加える。
この最後に述べた回路は高域通過フイルタ３５に接続す
る。これは例えば１００ＫＨｚ以上の周波数の信号成分
しか通過させない。この出力信号Ｓｉが記録担体上の情
報に対応するものである。この信号Ｓｉはそれ自体既知
の方法で復号化し、次いで普通のテレビジヨン受像機に
加える。なお前述した光学的欠陥は情報信号Ｓｉに何の
影響も及ぼさない。その理由は、これらの光学的欠陥の
周波数は高域通過フイルタ３５の遮断周波数以下である
からである。同時出願したオランダ国特許願第７７０３
０７６号明細書では、非点収差を利用する焦点誤差検出
系を１個用いた場合に、光スポツトＶの中心が読取らる
べきトラツクの中心からトラツクの周縁部の方へ移動す
ると、取出した焦点誤差信号には重大な誤差が生ずる虞
れがあることが指摘されている。

これによりトラツクによる光ビームの回折に対してトラ
ツク方向に垂直な方向の変動が生ずる。そしてこの変動
により焦点誤差検出系の検出器での光分布が変動する。
この問題を回避するため、前記特許明細書では、Ｘ−Ｙ
座標系の座標軸の１つを「実効トラツク方向」に平行に
するように副検出器の向きを定めることが提案されてい
る。但し、「実効トラツク方向」とは読取らるべきトラ
ツク部分を副検出器面へ投影したものの方向である。本
発明に係る手段を前記特許明細書に記載された手段と組
合わせることができる。

それによれば２個の非点収差を利用する焦点誤差検出系
を有すフる読取り装置が得られ、そこでは各成分検出器
の座標軸の一つが実効トラツク方向に平行になる。

説明を完結するため、第７図に座標軸の方向をしかるべ
く定めた１個の焦点誤差検出系につき、この焦点誤差検
出系をどのように読取り装置内で配設するかを示す。第
８ａ，８ｂ及び８ｃ図は副検出器Ａ，Ｂ，Ｃ及びＤに対
して点像ｖの形状がどのように変化するかを示す。

第８ａ，８ｂ及び８ｃ図に示された状況は夫々第２ａ，
２ｃ及び２ｂ図に示された状況に対応するものである。
第１図に示した２個の焦点誤差検出系を第ｒ図に従つて
配設する場合でも、８個の副検出器の信号を第６図に示
した方法で処理できる。

こうすれば、一般に光学的欠陥の影響を、特に読取らる
べきトラツクに対する光スポツトの位置の影響を除去し
た焦点誤差信号が得られる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明読取り装置の説明図、第２ａ，２ｂ，２
ｃ，３ａ，３ｂ及び３ｃ図は上記装置で用いられる焦点
誤差検出法の原理を示す説明図、第４及び５図は上記装
置で用いられる光感応検出器を示す説明図、第６図はこ
れらの検出器の信号を処理する方法を模式的に示す回路
接続図、第７図は光ビームの回折の変動がトラツク方向
に垂直な方向で焦点誤差信号に及ぼす影響を除去するよ
うに焦点誤差検出系の方告を適合させる方法を示す説明
図、第８図は第７図の装置における副検出器に対する点
像の形状変化を示す説明図である。 ２・・・・・・デイスク形記録担体、３・・・・・・ト
ラツク、４，４″，５，５″・・・・・・光感応検出器
を見る方向、６・・・・・・読取り（光）ビーム、７・
・・・・・光源、８・・・・・・対物レンズ系、９・・
・・・・補助レンズ、１０，１７・・・・・・ビームス
プリツタ、１１，１８・・・・・・光感応検出器、１２
・・・・・・電子回路、１３，１９・・・・・・非点収
差素子、１４，１５，２０，２１・・・・・・焦線、１
６，２４・・・・・・面、２２，２３・・・・・・副ビ
ーム、３０，３１，３３・・・・・・加算回路、３２・
・・・・・減算回路、３４・・・・・・低域通過フイル
タ、３５・・・・・・高域通過フイルタ、ｇ・・・・・
・領域、ｔ・・・・・・中間領域、Ｓｉ・・・・・・情
報信号、Ｓｆ・・・・・・焦点誤差信号、Ｖ・・・・・
・読取り点、Ｖ，Ｖ″゜゛゜゜゛点像、ＡツＢ２Ｃ》Ｄ
ツＡ′２Ｂ′ラＣ？び゜゛゜゜゜゛副検出器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ トラック状に配設された、光学的に読取り可能な情
   報構体に情報を蓄わえた輻射線反射型記録担体を読取る
   ために、読取りビームを発生する輻射線源と、この読取
   りビームを前記記録担体を経て、情報構体で変調された
   読取りビームを電気信号に変換する輻射線感応検出系へ
   送る対物レンズ系と、この対物レンズ系の焦点面の所望
   位置と現実の位置との間の偏差を定めるための少くとも
   １個のオプト−エレクトロニツク焦点誤差検出系とを具
   え、この焦点誤差検出系に非点収差素子と輻射線感応検
   出器とを設け、この輻射線感応検出器には４個の副検出
   器を設け、これらの副検出器を仮想Ｘ−Ｙ座標系の４個
   の異る象限に配置し、Ｘ及びＹ軸を前記非点収差素子の
   非点収差焦線に対して４５°の角度を持たせた輻射線反
   射型記録担体の読取り装置に於て、記録担体によつて反
   射された輻射線ビームの径路であつて記録担体に向う輻
   射線ビームの径路とは分離された径路内にビームスプリ
   ッタを設け、これにより前記反射された輻射線ビームを
   略々強さが等しい２個の副ビームに分割し、各副ビーム
   の光路内に焦点誤差検出系を設け、一方の焦点誤差検出
   系の非点収差を他方の焦点誤差検出系の非点収差と反対
   にしたことを特徴とする輻射線反射型記録担体の読取り
   装置。 ２ 第１及び第２焦点誤差検出系の検出器を情報検出器
   ともしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   輻射線反射型記録担体の読取り装置。 ３ 各々の検出器の座標軸の１つを実効トラック方向に
   平行としたことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は
   第２項記載の輻射線反射型記録担体の読取り装置。