JPH0567340A - 光学ヘツド及びその信号検出手段 - Google Patents
光学ヘツド及びその信号検出手段Info
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- JPH0567340A JPH0567340A JP22786991A JP22786991A JPH0567340A JP H0567340 A JPH0567340 A JP H0567340A JP 22786991 A JP22786991 A JP 22786991A JP 22786991 A JP22786991 A JP 22786991A JP H0567340 A JPH0567340 A JP H0567340A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学ヘッド内の迷光を無くす事による良好な
サーボエラー信号の検出と、周波数特性が良くしかも、
高Ｓ／Ｎを実現した情報再生信号検出を可能にする光学
ヘッド、及び、再生信号検出手段を提供する。 【構成】 光電変換素子の回りに独立した光電変換素子
を配置し、両者共無反射コートを施す。回りの光電変換
素子はアノードとカソードを短絡するか信号出力を取り
出せる構造にし、それぞれ電流ー電圧変換後演算により
光磁気信号を得る。 【効果】 光学ヘッド内の迷光処理ができ、しかも、浮
遊容量を減少させ高帯域な信号処理を実現し、高Ｓ／Ｎ
のエラー信号及び再生信号を得る事を可能にした。
サーボエラー信号の検出と、周波数特性が良くしかも、
高Ｓ／Ｎを実現した情報再生信号検出を可能にする光学
ヘッド、及び、再生信号検出手段を提供する。 【構成】 光電変換素子の回りに独立した光電変換素子
を配置し、両者共無反射コートを施す。回りの光電変換
素子はアノードとカソードを短絡するか信号出力を取り
出せる構造にし、それぞれ電流ー電圧変換後演算により
光磁気信号を得る。 【効果】 光学ヘッド内の迷光処理ができ、しかも、浮
遊容量を減少させ高帯域な信号処理を実現し、高Ｓ／Ｎ
のエラー信号及び再生信号を得る事を可能にした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光メモリー装置の光電
変換素子及び信号検出に関する。
変換素子及び信号検出に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のエラー信号検出系及び再生信号系
の概略図を図５に示す。記録膜から反射された光５０１
は、５０２のビームスプリッターによりフォーカスエラ
ー検出と光磁気信号検出の複合部５０３とトラッキング
エラー検出部５０４に入射する。トラッキングエラー検
出部では、２分割センサー５０５を用いたプッシュプル
法を採っている。
の概略図を図５に示す。記録膜から反射された光５０１
は、５０２のビームスプリッターによりフォーカスエラ
ー検出と光磁気信号検出の複合部５０３とトラッキング
エラー検出部５０４に入射する。トラッキングエラー検
出部では、２分割センサー５０５を用いたプッシュプル
法を採っている。
【０００３】フォーカスエラー検出と光磁気信号検出の
複合部には、ホログラム素子及びお互いに偏光軸を９０
°ずらせて配置した偏光板を用いている。従来のホログ
ラム素子によるフォーカスエラー検出方法の一例を図６
に示す。回折手段６０１は、実像の焦線６０２を生ずる
光束Ａ６０３と、虚像の焦線６０４を生ずる光束Ｂ６０
５とを生成する。凸レンズ６０６を用いて、回折手段６
０１から凸レンズの焦点６０７より近い位置に光束Ａを
受光するセンサーＡ６０８を、遠い位置に光束Ｂを受光
するセンサーＢ６０９を設置する。即ち ＬＡ＜ＬＢ である。
複合部には、ホログラム素子及びお互いに偏光軸を９０
°ずらせて配置した偏光板を用いている。従来のホログ
ラム素子によるフォーカスエラー検出方法の一例を図６
に示す。回折手段６０１は、実像の焦線６０２を生ずる
光束Ａ６０３と、虚像の焦線６０４を生ずる光束Ｂ６０
５とを生成する。凸レンズ６０６を用いて、回折手段６
０１から凸レンズの焦点６０７より近い位置に光束Ａを
受光するセンサーＡ６０８を、遠い位置に光束Ｂを受光
するセンサーＢ６０９を設置する。即ち ＬＡ＜ＬＢ である。
【０００４】こうする事により図７に示すごとく、対物
レンズの焦線が記録膜に合っている合焦時に、センサー
７０１、７０２上でほぼ円形の光スポット７０３、７０
４が得られる。またデフォーカスした場合は非点収差が
発生し差動出力をとる事により非点収差法によるフォー
カスエラー信号と同等のエラー信号が得られる。また、
光磁気信号検出は、センサーＡ、Ｂの入射側に配置され
た、お互いに偏光軸を９０°ずらせた偏光板７１０、７
１１の透過光をセンサーＡ，Ｂで検出し、差動をとるこ
とにより行う。
レンズの焦線が記録膜に合っている合焦時に、センサー
７０１、７０２上でほぼ円形の光スポット７０３、７０
４が得られる。またデフォーカスした場合は非点収差が
発生し差動出力をとる事により非点収差法によるフォー
カスエラー信号と同等のエラー信号が得られる。また、
光磁気信号検出は、センサーＡ、Ｂの入射側に配置され
た、お互いに偏光軸を９０°ずらせた偏光板７１０、７
１１の透過光をセンサーＡ，Ｂで検出し、差動をとるこ
とにより行う。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、センサー７０
１と７０２の外にはみ出した部分の光７０６，７０７は
アルミ遮光板、または、Ｎー基板（Ｐ−基板）によって
反射または散乱され迷光となり、エラー信号のオフセッ
トに影響し、しかも遮光部材による浮遊容量のため、信
号再生周波数特性が悪くなる。また、センサーからはみ
出した光は遮光部材により遮られセンサーには入力しな
いため、情報再生信号を持つ光の一部を捨てているとい
う問題があった。
１と７０２の外にはみ出した部分の光７０６，７０７は
アルミ遮光板、または、Ｎー基板（Ｐ−基板）によって
反射または散乱され迷光となり、エラー信号のオフセッ
トに影響し、しかも遮光部材による浮遊容量のため、信
号再生周波数特性が悪くなる。また、センサーからはみ
出した光は遮光部材により遮られセンサーには入力しな
いため、情報再生信号を持つ光の一部を捨てているとい
う問題があった。
【０００６】そこで、本発明はこの様な問題を解決する
もので、その目的とするところは、光学ヘッド内の迷光
を無くす事による良好なサーボエラー信号の検出と、周
波数特性が良くしかも、高Ｓ／Ｎを実現した情報再生信
号検出を可能にする光学ヘッド、及び、再生信号検出手
段を提供するところにある。
もので、その目的とするところは、光学ヘッド内の迷光
を無くす事による良好なサーボエラー信号の検出と、周
波数特性が良くしかも、高Ｓ／Ｎを実現した情報再生信
号検出を可能にする光学ヘッド、及び、再生信号検出手
段を提供するところにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明による光学ヘッド
及び信号再生手段は、 （１） 光記録媒体からの光をレンズまたは回折手段に
よって、光電変換素子に入射させサーボの為のエラー信
号、及び、情報再生信号を得る光学ヘッドにおいて、サ
ーボの為のエラー信号検出に適した光電変換素子形状を
得る為に用いている遮光部材、または形状を決めている
光電変換素子以外の部分を、前記光電変換素子と同様な
光電変換素子で構成することを特徴とする。
及び信号再生手段は、 （１） 光記録媒体からの光をレンズまたは回折手段に
よって、光電変換素子に入射させサーボの為のエラー信
号、及び、情報再生信号を得る光学ヘッドにおいて、サ
ーボの為のエラー信号検出に適した光電変換素子形状を
得る為に用いている遮光部材、または形状を決めている
光電変換素子以外の部分を、前記光電変換素子と同様な
光電変換素子で構成することを特徴とする。
【０００８】（２） サーボの為のエラー信号検出に適
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子及び、
それ以外の光電変換素子の表面に、光学ヘッドに用いた
レーザー波長に対する無反射コートを有する事を特徴と
する。
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子及び、
それ以外の光電変換素子の表面に、光学ヘッドに用いた
レーザー波長に対する無反射コートを有する事を特徴と
する。
【０００９】（３） サーボの為のエラー信号検出に適
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子と、そ
れ以外の前記光電変換素子との演算により、サーボの為
のエラー信号、及び、情報再生信号、及び、高帯域な情
報再生信号を得る、ことを特徴とする。
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子と、そ
れ以外の前記光電変換素子との演算により、サーボの為
のエラー信号、及び、情報再生信号、及び、高帯域な情
報再生信号を得る、ことを特徴とする。
【００１０】（４） サーボの為のエラー信号検出に適
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子以外の
光電変換素子のカソードとアノードを接続することを特
徴とする。
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子以外の
光電変換素子のカソードとアノードを接続することを特
徴とする。
【００１１】（５） サーボの為のエラー信号検出に適
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子の出力
と、それ以外の光電変換素子の出力とを加算し光記録媒
体からの全和出力を得ることを特徴とする。
した光電変換素子形状を決めている光電変換素子の出力
と、それ以外の光電変換素子の出力とを加算し光記録媒
体からの全和出力を得ることを特徴とする。
【００１２】（６） 光磁気記録媒体からの光を少なく
とも２つ以上の光電変換素子の方向に分割する回折手段
により、サーボの為のエラー信号検出とそれぞれの光を
検光子によって光磁気信号検出を行う光電変換素子にお
いて、同一の検光子を透過した光が入射するサーボの為
のエラー信号検出に適した光電変換素子形状を決めてい
る光電変換素子の出力と、それ以外の光電変換素子の出
力とを加算し、同一の検光子からの透過光の和とする。
その後、同一の検光子からの透過光の和の出力の差動を
とることにより光磁気信号出力を検出することを特徴と
する。
とも２つ以上の光電変換素子の方向に分割する回折手段
により、サーボの為のエラー信号検出とそれぞれの光を
検光子によって光磁気信号検出を行う光電変換素子にお
いて、同一の検光子を透過した光が入射するサーボの為
のエラー信号検出に適した光電変換素子形状を決めてい
る光電変換素子の出力と、それ以外の光電変換素子の出
力とを加算し、同一の検光子からの透過光の和とする。
その後、同一の検光子からの透過光の和の出力の差動を
とることにより光磁気信号出力を検出することを特徴と
する。
【００１３】
（実施例１）本発明における第１の実施例に基づく信号
検出部の概略図を図１に示す。図はフォーカスエラー信
号検出素子と対物レンズの位置によるセンサー上のスポ
ット形状を示している。対物レンズがメディアに近いと
き、センサー１０２に入射するスポットはセンサー１０
２にほとんど入射するような楕円のスポットとなり、一
方、センサー１０１に入射するスポットはセンサーの長
軸と直行する方向に楕円の長軸を持つ形状となる。ま
た、対物レンズがメディアと遠いとき、センサー１０１
と１０２に入射するスポット形状は、メディアに近いと
きと逆の形状となり、対物レンズの合焦位置ではセンサ
ー１０１，１０２共に円形のスポット形状となる。従っ
て、センサー１０１と１０２の差動をとることによりフ
ォーカスエラー信号が得られる。ここで、センサー１０
１、１０２の回りにセンサー１０７を配置し、センサー
１０１，１０２，１０７上に、センサー入射光線の波長
に対する無反射コートを施してある。従って、センサー
１０７上にはみ出した信号に寄与しない光１０５，１０
６は、センサー１０７での反射をほとんど無くしている
ために、迷光になり光学ヘッド内に戻ることが無い。
検出部の概略図を図１に示す。図はフォーカスエラー信
号検出素子と対物レンズの位置によるセンサー上のスポ
ット形状を示している。対物レンズがメディアに近いと
き、センサー１０２に入射するスポットはセンサー１０
２にほとんど入射するような楕円のスポットとなり、一
方、センサー１０１に入射するスポットはセンサーの長
軸と直行する方向に楕円の長軸を持つ形状となる。ま
た、対物レンズがメディアと遠いとき、センサー１０１
と１０２に入射するスポット形状は、メディアに近いと
きと逆の形状となり、対物レンズの合焦位置ではセンサ
ー１０１，１０２共に円形のスポット形状となる。従っ
て、センサー１０１と１０２の差動をとることによりフ
ォーカスエラー信号が得られる。ここで、センサー１０
１、１０２の回りにセンサー１０７を配置し、センサー
１０１，１０２，１０７上に、センサー入射光線の波長
に対する無反射コートを施してある。従って、センサー
１０７上にはみ出した信号に寄与しない光１０５，１０
６は、センサー１０７での反射をほとんど無くしている
ために、迷光になり光学ヘッド内に戻ることが無い。
【００１４】（実施例２）本発明における第２の実施例
に基づく光電変換素子（フォトダイオード）を含めたフ
ォーカスエラー検出系の回路図を図２に示す。フォトダ
イオード１０１，１０２，１０７は図１に示した形状の
光電変換素子である。フォトダイオード１０１、１０
２、１０７のそれぞれのカソード端子を接続しコモンと
している。フォトダイオード１０１，１０２からの電流
出力を電流ー電圧変換素子２０１，２０２によって電圧
出力とし、差動アンプ２０３でフォーカスエラー信号を
生成する。フォトダイオード１０７のカソードとアノー
ドを接続する事によって、フォトダイオード１０１，１
０２の見かけ上の容量を減少させ、フォトダイオード１
０１，１０２の信号検出帯域を広げている。
に基づく光電変換素子（フォトダイオード）を含めたフ
ォーカスエラー検出系の回路図を図２に示す。フォトダ
イオード１０１，１０２，１０７は図１に示した形状の
光電変換素子である。フォトダイオード１０１、１０
２、１０７のそれぞれのカソード端子を接続しコモンと
している。フォトダイオード１０１，１０２からの電流
出力を電流ー電圧変換素子２０１，２０２によって電圧
出力とし、差動アンプ２０３でフォーカスエラー信号を
生成する。フォトダイオード１０７のカソードとアノー
ドを接続する事によって、フォトダイオード１０１，１
０２の見かけ上の容量を減少させ、フォトダイオード１
０１，１０２の信号検出帯域を広げている。
【００１５】（実施例３）本発明における第３の実施例
に基づく光電変換素子の形状を示す概略図を図３に示
す。図は対物レンズと記録媒体が合焦位置にある場合
の、フォーカスエラー信号検出及び、光磁気信号検出用
光電変換素子上のスポットを示してある。合焦位置で
は、図に示すように集光スポット３０７，３０８はほぼ
円形となり、長方形の光線変換素子１０１と１０２にそ
れぞれ８０％程度入射する。この光電変換素子１０１と
１０２の出力の差動を行う事によりフォーカスエラー信
号を得る。長方形の光電変換素子１０１，１０２から外
れた光束は、光電変換素子１０１，１０２をそれぞれ囲
むように配置された光電変換素子３０１，３０２に入射
する。また、光電変換素子１０１と３０１の上部には偏
光板３０３が接着されており、集光スポット３０７は偏
光軸３０６を持つ偏光板３０３を透過し光電変換素子１
０１，３０１に入射する。一方、光電変換素子１０２と
３０２の上部には偏光軸３０６と９０°回転した偏光軸
３０５を持つ偏光板３０４が接着されており、偏光板３
０３と３０４が光磁気信号を検出する検光子となり再生
信号が得られる。光磁気再生信号は、光電変換素子１０
１と３０１の出力の和と、光電変換素子１０２と３０２
の出力の和との差動をとる事によって得られる。これに
より、今まで信号検出に用いられなかったスポットの一
部３０９と３１０も光磁気信号検出に用いる事が出来、
Ｓ／Ｎの良い情報再生信号が得られる様になった。図４
に、図３で示したフォーカスエラー検出部と光磁気信号
検出部回路の概略図を示す。
に基づく光電変換素子の形状を示す概略図を図３に示
す。図は対物レンズと記録媒体が合焦位置にある場合
の、フォーカスエラー信号検出及び、光磁気信号検出用
光電変換素子上のスポットを示してある。合焦位置で
は、図に示すように集光スポット３０７，３０８はほぼ
円形となり、長方形の光線変換素子１０１と１０２にそ
れぞれ８０％程度入射する。この光電変換素子１０１と
１０２の出力の差動を行う事によりフォーカスエラー信
号を得る。長方形の光電変換素子１０１，１０２から外
れた光束は、光電変換素子１０１，１０２をそれぞれ囲
むように配置された光電変換素子３０１，３０２に入射
する。また、光電変換素子１０１と３０１の上部には偏
光板３０３が接着されており、集光スポット３０７は偏
光軸３０６を持つ偏光板３０３を透過し光電変換素子１
０１，３０１に入射する。一方、光電変換素子１０２と
３０２の上部には偏光軸３０６と９０°回転した偏光軸
３０５を持つ偏光板３０４が接着されており、偏光板３
０３と３０４が光磁気信号を検出する検光子となり再生
信号が得られる。光磁気再生信号は、光電変換素子１０
１と３０１の出力の和と、光電変換素子１０２と３０２
の出力の和との差動をとる事によって得られる。これに
より、今まで信号検出に用いられなかったスポットの一
部３０９と３１０も光磁気信号検出に用いる事が出来、
Ｓ／Ｎの良い情報再生信号が得られる様になった。図４
に、図３で示したフォーカスエラー検出部と光磁気信号
検出部回路の概略図を示す。
【００１６】光電変換素子１０１，１０２，３０１，３
０２は、図３に示した光電変換素子に対応している。光
電変換素子１０１，１０２，３０１，３０２からの電流
信号出力は、それぞれ電流ー電圧変換部４０１，４０
１，４０３，４０４によって電圧信号に変換される。差
動アンプ４０５によって、光電変換素子１０１，１０２
に入射した光のみを演算しフォーカスエラー信号を得
る。この差動アンプ４０５は周波数検出帯域をフォーカ
スエラー信号検出の為の周波数帯域に設定しているの
で、ローパスフィルターも兼用している。差動アンプ４
０６では、光電変換素子１０１，３０１の和と、光電変
換素子１０２，３０２の和との差動の演算を行う。この
演算によって光磁気再生信号が得られる。また、差動ア
ンプ４０７は光磁気再生信号のみを検出するための周波
数帯域に設定しているため、ハイパスフィルターの機能
も備えている。アンプ４０７では、光電変換素子１０
１，１０２，３０１，３０２の和、即ち、光電変換素子
に入射する全光量に対する信号を出力する。これによっ
てＲＯＭ信号が得られる。加算アンプ４０７も差動アン
プ４０６と同様にハイパスフィルターの機能を備えてい
る。
０２は、図３に示した光電変換素子に対応している。光
電変換素子１０１，１０２，３０１，３０２からの電流
信号出力は、それぞれ電流ー電圧変換部４０１，４０
１，４０３，４０４によって電圧信号に変換される。差
動アンプ４０５によって、光電変換素子１０１，１０２
に入射した光のみを演算しフォーカスエラー信号を得
る。この差動アンプ４０５は周波数検出帯域をフォーカ
スエラー信号検出の為の周波数帯域に設定しているの
で、ローパスフィルターも兼用している。差動アンプ４
０６では、光電変換素子１０１，３０１の和と、光電変
換素子１０２，３０２の和との差動の演算を行う。この
演算によって光磁気再生信号が得られる。また、差動ア
ンプ４０７は光磁気再生信号のみを検出するための周波
数帯域に設定しているため、ハイパスフィルターの機能
も備えている。アンプ４０７では、光電変換素子１０
１，１０２，３０１，３０２の和、即ち、光電変換素子
に入射する全光量に対する信号を出力する。これによっ
てＲＯＭ信号が得られる。加算アンプ４０７も差動アン
プ４０６と同様にハイパスフィルターの機能を備えてい
る。
【００１７】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、光
メモリー装置における光学ヘッドで、エラー信号検出部
と再生信号検出部における、光電変換素子と信号検出手
段において、光電変換素子の形状を決める遮光部材に無
反射コートを施した光電変換素子とする事により、光学
ヘッド内の迷光処理ができ、しかも、光電変換素子のア
ノードとカソードを短絡する事により、浮遊容量を減少
させ高帯域な信号処理を実現させた。また、エラー信号
を検出する光電変換素子の回りに無反射コートを施した
光電変換素子を設置し、遮光されていた光も信号処理出
来るようにした事により、高Ｓ／Ｎで信頼性のより高い
エラー信号及び再生信号を得る事を可能にした。
メモリー装置における光学ヘッドで、エラー信号検出部
と再生信号検出部における、光電変換素子と信号検出手
段において、光電変換素子の形状を決める遮光部材に無
反射コートを施した光電変換素子とする事により、光学
ヘッド内の迷光処理ができ、しかも、光電変換素子のア
ノードとカソードを短絡する事により、浮遊容量を減少
させ高帯域な信号処理を実現させた。また、エラー信号
を検出する光電変換素子の回りに無反射コートを施した
光電変換素子を設置し、遮光されていた光も信号処理出
来るようにした事により、高Ｓ／Ｎで信頼性のより高い
エラー信号及び再生信号を得る事を可能にした。
【図１】 本発明の第一の実施例に基づく光電変換素子
を示す概略図。
を示す概略図。
【図２】 本発明の第二の実施例に基づくエラー信号検
出回路を示す概略図。
出回路を示す概略図。
【図３】 本発明の第三の実施例に基づく光電変換素子
を示す概略図。
を示す概略図。
【図４】 本発明の第三の実施例に基づくエラー信号検
出及び再生信号検出回路を示す概略図。
出及び再生信号検出回路を示す概略図。
【図５】 従来のエラー信号検出部及び再生信号検出部
を示す概略図。
を示す概略図。
【図６】 従来のフォーカスエラー信号検出部及び再生
信号検出部を示す概略図。
信号検出部を示す概略図。
【図７】 従来のエラー信号検出部及び再生信号検出部
の光電変換素子を示す概略図。
の光電変換素子を示す概略図。
１０１ センサー１ １０２ センサー２ １０３ スポット１ １０４ スポット２ １０５ センサー２から外れたスポット １０６ センサー１から外れたスポット ２０１ 電流ー電圧変換アンプ ２０３ 差動アンプ ３０３ 偏光板 ３０４ 偏光軸 ４０７ 加算アンプ ６０１ ホログラム素子 ６１０ 偏光板
Claims (6)
- 【請求項１】 光記録媒体からの光をレンズまたは回折
手段によって、光電変換素子に入射させサーボの為のエ
ラー信号、及び、情報再生信号を得る光学ヘッドにおい
て、サーボの為のエラー信号検出に適した光電変換素子
形状を得る為に用いている遮光部材、または形状を決め
ている光電変換素子以外の部分を、前記光電変換素子と
同様な光電変換素子で構成することを特徴とする光学ヘ
ッド。 - 【請求項２】 サーボの為のエラー信号検出に適した光
電変換素子形状を決めている光電変換素子及び、それ以
外の光電変換素子の表面に、光学ヘッドに用いたレーザ
ー波長に対する無反射コートを有する事を特徴とする請
求項１記載の光学ヘッド。 - 【請求項３】 サーボの為のエラー信号検出に適した光
電変換素子形状を決めている光電変換素子と、それ以外
の前記光電変換素子との演算により、サーボの為のエラ
ー信号、及び、情報再生信号、及び、高帯域な情報再生
信号を得る、ことを特徴とする請求項１及び請求項２記
載の光学ヘッドの信号検出手段。 - 【請求項４】 サーボの為のエラー信号検出に適した光
電変換素子形状を決めている光電変換素子以外の光電変
換素子のカソードとアノードを接続することを特徴とす
る請求項３記載の光学ヘッドの信号検出手段。 - 【請求項５】 サーボの為のエラー信号検出に適した光
電変換素子形状を決めている光電変換素子の出力と、そ
れ以外の光電変換素子の出力とを加算し光記録媒体から
の全和出力を得ることを特徴とする請求項３記載の光学
ヘッドの信号検出手段。 - 【請求項６】 光磁気記録媒体からの光を少なくとも２
つ以上の光電変換素子の方向に分割する回折手段によ
り、サーボの為のエラー信号検出とそれぞれの光を検光
子によって光磁気信号検出を行う光電変換素子におい
て、同一の検光子を透過した光が入射するサーボの為の
エラー信号検出に適した光電変換素子形状を決めている
光電変換素子の出力と、それ以外の光電変換素子の出力
とを加算し、同一の検光子からの透過光の和とする。そ
の後、同一の検光子からの透過光の和の出力の差動をと
ることにより光磁気信号出力を検出することを特徴とす
る請求項３記載の光学ヘッドの信号検出手段。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22786991A JPH0567340A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 光学ヘツド及びその信号検出手段 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22786991A JPH0567340A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 光学ヘツド及びその信号検出手段 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0567340A true JPH0567340A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=16867629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22786991A Pending JPH0567340A (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 光学ヘツド及びその信号検出手段 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0567340A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5532999A (en) * | 1993-06-25 | 1996-07-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical detector having stray carrier absorption regions between light receiving elements, and an optical head using the same |
| JP2012104489A (ja) * | 2011-12-12 | 2012-05-31 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよびプロジェクタの制御方法 |
| JP2014157823A (ja) * | 2014-03-07 | 2014-08-28 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよびプロジェクタの制御方法 |
-
1991
- 1991-09-09 JP JP22786991A patent/JPH0567340A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5532999A (en) * | 1993-06-25 | 1996-07-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical detector having stray carrier absorption regions between light receiving elements, and an optical head using the same |
| JP2012104489A (ja) * | 2011-12-12 | 2012-05-31 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよびプロジェクタの制御方法 |
| JP2014157823A (ja) * | 2014-03-07 | 2014-08-28 | Seiko Epson Corp | プロジェクタおよびプロジェクタの制御方法 |
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