JPS5924492A - 半導体記憶装置の構成方法 - Google Patents

半導体記憶装置の構成方法

Info

Publication number
JPS5924492A
JPS5924492A JP57131976A JP13197682A JPS5924492A JP S5924492 A JPS5924492 A JP S5924492A JP 57131976 A JP57131976 A JP 57131976A JP 13197682 A JP13197682 A JP 13197682A JP S5924492 A JPS5924492 A JP S5924492A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
unit
word
words
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP57131976A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0429158B2 (ja
Inventor
Yoichi Sato
陽一 佐藤
Takashi Oba
大場 隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57131976A priority Critical patent/JPS5924492A/ja
Publication of JPS5924492A publication Critical patent/JPS5924492A/ja
Publication of JPH0429158B2 publication Critical patent/JPH0429158B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、半導体集積回路にiaける記憶装置の構成
方法に関し、特に論理■1−8I(超大規模集積回路)
のチップ内に形成されるの忙適した半導体記憶装置の構
成方法に関する。
ゲート数が1万個を超えるような論理VLSIにおいて
は、第1図に示すように、1′導体チッグl上の一部に
、1個あるいは複数個のIt、 A M (ランダム・
アクセス・メモリ)2a 、2bやItOM(リード・
オンリ・メモリ)のよ5なFli’: ltZ 装fi
l。
(以下オンチップRAMあるいはメン゛トツ7′メモリ
と称する)を設ける場合がある。この」、5な記憶装置
及び処理回路3などは、周知の半導付集積回路技術によ
り、1つの半導体チップ上1=(、形成される。処理回
路3は、このオンチップIt A Mを、例えばレジス
タとして使う。また、処理回路3は、その構成によって
、同一チップ上に色りの種類のレジスタを必要とする場
合がある。このため、オンチップRAMとしCは、ビッ
ト数が同一であってもワード数の異なるIt A Mが
同一チップ上に要求されることがある。すなわち、lワ
ードなflり成するビット数が同じで、ワード数が異な
るRAMが同一チップ上に要求されることがある。
また、新たに論理L S I (いわゆるカスタムLS
I)を開発する場合にも、以前に股引したLSIに使用
され【いるItAMと、ピット数やワード数が異なるも
のが必要とされることがある。
このように、ピット数数やワード数の異なるメモリを設
計する場合、従来のメモリ構成方法では、メモリごとに
それぞれ別個に設計しなければならないため、多くの人
手と時間を要していた。
この際、ワード数が同一でピット数が異なるメモリ同士
では、メモリヒルアレイを構成するメモリセルの数は異
なっても、メモリセルアレイの周辺のデコーダ。
アドレスバッファ、入出力回路等は全く同じ構成のもの
を使用して回路を構成することができる。そのため、ビ
ット数の異なるメモリの設@lは、比較的容易に行なえ
る。
ところが、メモリのワード数を変えるには、デコーダや
アドレスバッファの構成を変える必要があるため、股H
1が面倒となっていた。しかも、論理LSIのオンチッ
プメモリは、ワンチップのILA八4へIt □ Mの
ような汎用性がないので、経費や開発期間等の面から多
くの人手や時間をかけて設計−ノること7Itできない
この発明はこのような背景の下に74されたもので、そ
の目的は、デコーダやアドレスバッファの基本的構成を
全く変えることなく、ワード数の異なるオンチップメモ
リなイ1N成することができる干導体記憶装置の+rr
t成方法を提供するごとにある。
この発明の他の目的は、以下に述ベイ)説明及び図面か
ら明確になるであろう。
以下図面を利用して本発明を説明゛Jる。
先ず内容を分かり易くするために、8ワード構成のIt
 A Mに基づい−Cワード数がその半分である4ワー
ドのit A Mを設計する場合を示12“t、本発明
の基本的な考え方を説明する。
第2図は8ワー)°構成のRAMθ)ワード°線駆II
b部の回路を示す。図において、A I) It 、〜
A I) I)、は、それぞれワード線選択用の゛アド
レスバ・ノファヲ構成する単位アドレスバッファ、l)
 ト; (To−D EC。
はそれぞれデコーダを構成する単位デニトーダ、W。
〜W、はワード線である。
7)’L/スパッファを構成する上記単位アドレスバッ
ファADH,−ADB、は、特に制限されないが、それ
ぞれ2段のインバータla 、lbかうなり、前段およ
び後段のインバータla、lbの出力端子からそれぞれ
出力信号が取り出されている。これによって、入力アド
レス信号A。−A。
と同相の出力信号a。−a2およびアドレス信号Ao、
=A、と逆相の出力信号a0〜a!が、アドレスバッフ
ァ(単位アドレスバッファADB、〜ADBJ)から出
力されるようにされている。
上記アドレスバッファ(単位アドレスバッファADH,
〜ADB、)の出力信号a。−a、およびa。−a、は
、3ビツトのアドレス信号A。〜A!の組合せ数″8″
に対応して設けられた8個の3人力AND7(ガ回路か
らなる単位デコーダDECo−DEc、に入力されてい
る。そして、第2図の各ワード線W。−W、にそれぞれ
付記されたアドレス信号の各組合せ(ただし、Ao側を
下位ビットとする)のときにのみそのAND回路(単位
デコーダ)の出力がハイレベルにされることによって、
アドレス信号A。〜・A、に対応する一つのワード線が
選択されるようにされている。
第2図には示されていないが、各ワード線W。
〜Wフには、それぞれ例えば32個のメモリセルが接続
されており、デコーダ(単位デコーダDEC8〜D E
C、) K ヨッ”c、’7  )”#’N’Vo 〜
Wv ノ5ち一本が選択レベルにされると、そのワー 
ド線に接続されている32個のメモリセルから、同時に
32ビツトのデータが1ワー ドとして前、ノブ、出さ
れるようにされている。すなわち、このシイ雄側では、
1ワードが32ビツトで構成されCいる。
次に、このように構成された8ワー l’1%Y成のR
AMを基本にして4ワード構成(ただしピッ)・数は同
じ)のRAMを構成する方法を説明する。この場合、例
えばアドレスバッファ(111位−1゛ドレスバツフア
Al)B、〜Al)B、)の近傍の半導体チ己t タブ上に形成されている電極ラインt、、(v、3. 
 L/ベベルとL2  (”DDレベル)の5ら、一方
の電源ラインL、に対して単位アドレスバッファAI月
3゜の入力ライン43を接続させる。つまり、第2図中
破線イで示されるラインI4.と、esの交点にて、両
者を電気的に接続させる。
すると、単位アドレスバッファADH,の入力は常にロ
ウレベル(V88)に固定される。これによって、単位
アドレスバッファA D B 、の出力信号a!とa!
は、それぞれノ1イレベル(vDD)とロウレベル(v
o)に固定される。
その結果、単位アドレスバッファADB8の出力信号a
1が供給されている単位デコーダ(DEC4〜DEC7
)の入力・信号は、そのうち一つが常にロウレベルにさ
れる。そのため、アドレス信号へ〇とA、に対応する他
のバッファ出力a。、aI(a(1+”l)のいかんに
かかわらずAND回路すなわち単位、デコーダI)EC
,〜DEC,の出力はロウレベルにされて、鎖線C−C
より下方のワード線W4〜W、は選択されないようにな
−る。
一方、単位アドレスバッファADBsの出力信号a!が
供給されているA N I)回路(単位デコーダDEC
o −DECs  )は、信号a!が常にノ・イレベル
にされているため、他のΦ位アl°レスバッフ71r)
B、  とAI)B、の出カイn゛号R6r”or8、
、a、に応じて、いずれか一つの出力がハイレベルにさ
れて、ワード線W。−W、の5ち一本が選択レベルにさ
れる。
コノヨうVC,、単位アドレスバッファAI)B、の入
力をロウレベルにすることによって、ワード線( W、−W、の5ち半分すなわち鎖線(ニーCJ、り下側
のメモリセルが選択されないよう圧することができる。
従りて、4ワードf1り成のRAMを股111する場合
に、8ワード構成のIt、 A Mをそのまま使うこと
ができ、このような構成方法をとることにより、股n1
に伴なう人手と時間を減少させることができる。
しかも、単位アドレスバッファA D 11.の入力を
固定することにより選択されなくな−)たワード線W4
〜W丁およびそのメモリセル11/イと、そのワード線
駆動用の単位デコーダ1月シC4〜DEC1を回路から
削ってしまい、その窒隙に他の周辺回路を詰めてやれば
、オンデツプメモリの実装面積を減少させることができ
る。このようなレイアウトの変更は極めて容易に行なう
ことができる。
なお、選択されなり1.【つて不用となったメモリセル
アレイは、これをそのままチップ上に形成しC使わずに
残しておくようにしてもよい。
また、上記実施例では、単位アドレスノくツファADB
、の入力をロウレベルに固定したものについて説明した
が、単位アドレスノくツファADB。
の入力ラインp、を電源ラインLl (VDD)に接続
して、入力をノ\イレベルに固定するようにしてもよい
。この場合には、第2図の鎖線C−C線よりモ上flt
lのワード線W。−W3およびこれに接続されているメ
モリセルがこれによって選択されなくなる。従って、下
側半分のメモリセル7レイのみを使ってデータの入出力
を行ない、上側半分のメモリセルアレイとその単位デコ
ーダDEC0〜■)EC,を削って、回路全体の面積を
縮小−させることができる。半導体メモリにおいては、
デコーダとメモリセルの占有面積が比較的大きいので、
多少不要な単位アドレスバッファが残っても記憶装置全
体の面積として゛は、個別設則したものとあまり変わら
ない大きさにすることができる。
さらに、学位アドレスバッファA I) lSsの入力
レベルを固定するのではなく、他の部位例えば単位アド
レスバッファA I) B、のインバータ1aとibと
の接続ノードII 、のレベル1%/ /% 41/ベ
ルに固定するようにし′Cもよい。この場合1こは、ア
ドレスバッファADDsの出力(1a?〆lζハイレヘ
ルに、またa、がロウレベルに固定されるため、第2図
の下側半分のワード線W4〜W丁が選択されなくなる。
また、アドレスバッファADI3.では!J゛り、他の
アドレスバッファADB、  またはA I)口、にお
いて、入力やノード”l+”!のレベル4j固定スるこ
とによって、ワード線のうち半分が選r;されなくなる
ようにすることも司能である。
ただし、この場合には固定したピットよりも上位のアド
レスビット名を変更する必要がある。例エバアドレスバ
ッファADB、に“〔アドレスA。
を固定した場合には、A、をAoK、1゛たA!をA、
に変更する・ 上記実施例では、比較的回路構成の簡単な8ワードのR
A Mに基づい″C4ワードのRAMを構成する方法を
説明したが、この発明は回路構成が更に複雑になるもつ
とワード数の太き!、CRA Mを構成する場合に適用
されるとその効果が太きい。
そこで、次に例えば64ワードX36ピツト構成のRA
Mを基本にして、ワード数がその半分でアル32 ’7
−ドX36ビツトのIt A Mを構成する方法を、第
3図および第4図を用いて説明する。
第3図は本発明を適用する場合において最も適当である
と考えられるパターンに構成された64ワード×36ビ
ツトのオンチップRAM全体のブロック図を示す。
図において、MAILはメモリセルアレイで、各メモリ
セルアレイMAILは64個のメモリセルが横一列に配
設されCなり、各行のメモリセル警↓一つのビット線に
共通に接続されている。また、各ビット線には、センス
アンプや出カッくツファ等を含む入出力回路I10が接
続されている。各入出力回路I/Qは、特に制限され/
、C(・が・行6きにメモリセルアレイMARの左まブ
(−1r)でi k’、’配[iNされている。
ぞして、この実施例では、上記メー1’= II )’
 L−′−f MAlNが、デコーダ191路D E 
Cの上下に、fトぞれ18個づつ計36個並べ゛C配設
されており、名メモリセル゛アレイMAILのメモリセ
ルは、それ、Cれ64本のソード線を介し゛Cデコーダ
回路1月包:内σ)各単位デコーダに接続され、64ワ
ード×36ピントのIOAMが構成されている。
64本のソード線から一木々選択し〔駆動するデコーダ
回路旧ル(:は、背に制限され/jいが、第2図の回路
と同一般81思想により、f11λげ6人力A N D
回路かlうなるj11i′Lグコ−ダな64個を並べる
ことによって構成することができイ)。
上記デコーダ回路1) l!: Cの画側(/、′、(
i)には、アドレスバッファ回路43 、413が配(
庫され、このアドレスバッファ回路4 a、 41)に
(j、自わせて6ビツトのアドレス信号A。−A、が入
力されている。
更に、1片に制限されないが、上記入出力回路I10の
」ユニにはそ]1ぞれリード/ライトコントロール回路
58〜5dが設けられており、このライトコントロール
回路5a〜5dによって、バ・イト単位でメモリセルア
レイMARへのデータの宵込みが行なえるようにされて
いる。
上記64ワード構成のItAMに基づいて、ビット数が
同一(36ビツト)でワード数が半分の32ワードのI
t A Mを構成するには、次のようにして実行する。
先ス、各メモ、リセルアレイM A IL (−行)を
構成するメモリセルの数を第3図の回路の半分(32個
)に減らし、かつデコーダ回路D E C内のjIt 
位デコーダ(実施例では6人力AND回路)の数も半分
にして、回路全体を第4図のように左右方向から中央に
向かって詰めるようにする。この場合、他の入出力回路
1/(J、アドレスバッファ4a、4bおよびリード/
ライトコントロール回路53〜5dは、第3図のものと
全く同一構成にすることができる。
次に、上記アドレスバッファ回路4q、4b  内の単
位アドレスバッファの入力あるいは内部の適当なノード
を、第2図の実施例と同様の方法により、ハイレベルま
たはロウレベルに固定し゛C1削除されたワード線が選
択され7.Cい、h 5 Itτ、ザーる。
なお、64ワードRAへ4から32ソー ト’ 11.
 A Mを構成するもっと簡単な方法と+、、 ′c 
&、t、上記第3図の回路をそのまま用いて、アドレ′
;(バッファ回路4 a 、 4 b内のいずれか一つ
のバソノアの人力をハイレベルまたはロウレベルレC0
固5i;+ 1.−(、メモリセルアレイMAIL内の
半分のメー什すヒル(ワード線)が選択されないように
−(る方〆寿もある。
第3図および第4図の実施例c+)回h’4s−C’:
ItJ’、、メモリセルアレイMARとその入出力回路
110かbなる機能ブロックを、図において十F”J向
に適当な数だけ積み重ねてワード線をfjE長さ1℃や
ることにより、容易にそのビット数を増加さ耽ることが
できる。また、メモリセルアレイ〜IA)(を削ること
によりビット数を減らすことも容易に行なえる。
この場合、葦にワード線の駆動能力を充分なものにする
ためには、必要とされる最も構成の大きなメモリを想定
して、デコーダDECの駆動能力を設削しておくのが良
い。このようにすることにより、常に動作速度を低下さ
せることなく、ビット数の増減が図れる。
更に、上記64ワードのIIA Mに基づいて4分のl
の16ワードのIt A M ff、構成する場合には
、各メモリセルアレイM A ILのワード数およびデ
コーダDll’の数を4分の1に減らして回路を詰めて
やるとともK、ごのよ5にして削除されたワード線が選
択されないように、アドレスバッファ回路4 a 、 
4 b内の2つの単4s’tアドレスバッファの入力レ
ベル等を固定(7℃やればよい。
同様にして211  ワード(1? IL A Mに基
づいて21n分の1 (n )m )のワード数のIt
AMを構成することができる。
前記実Ka例では、各メモリセルアレイMARが一行に
構成されたものを説明したが、各メモリセルアレイMA
ILをX行(64xxのマトリックメンとなるように構
成し、かつ各メモリセルアレイごとに、つまり各ビット
中1位で行゛アト1/スデコータを設け、前記(列)デ
コーダD 1:: C)・狛たプj行アドレスデコーダ
によって選択されイ)贋メ壬すヒルアレイ当り一つのビ
ットのデータが並列にhW1ツノ出されるようにされた
メモリ装置、にも、適当できるものである。
この発明は前記実施例に限定さJtJjい1、例えヲ1
:、単位デコーダ回路は、N A N 1,1回路によ
−)″fX構成してもよい。
更に、この発明はRAM(ランダムパアクセス・メモリ
)のみで7;c(ROM(リード・メン・メモリ)にも
容易に適用できるものである。
以上説明したよ5に、この発明によれば、基本となる大
きさくワード数Xピット数)のメモリ装置を一つ股引し
てやれば、基本メモリ装置に基づいてそのワード数が2
の+1乗分のlσ)大きさを口するメモリ装置を、基本
メモリ44 INの+’tt能を落とすことなく、容易
に構成することができる。そのため、特にワード数の異
なるオンブノブメモリが必要とされる論311 L S
 Iを開発する場合に、開発に要する人手と期間が大幅
に縮減されるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法が適用される論理LSIの概略構成
図、第2図は本発明方法が適用されたRAMのワード線
駆動部の構成の一例を示す回路図、第3図および第4図
は本発明方法の一実施例を説明するだめの半導体記憶装
置の概略構成図である。 ■・・・半導体チップ、2a、2b・・・オンチップメ
モlJ、ADB・・・アドレスバッファ、DEC,’・
・・デコーダ、W・・・ワード線、MAlし・・メモリ
セルアレイ。 代理人 弁理士  薄 1)利 幸 第  1  図 cL 第  2  図 第  3  図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)論理L S Iが形成される半導体チップ上の一
    部に半導体記憶装置を構成する方法において、入出力可
    能なデータのワード数を所望の数にするために、予めワ
    ード数の大きな記憶装置を設計してお診、不要なワード
    線、メモリセルアレイおよびアドレスデコーダを取り除
    (とともに、取り除かれたワード線が選択されないよう
    に、ワード線を選択、駆動するための回路の適当な部位
    のレベルを固定するようにしたことを特徴とする半導体
    記憶装置の構成方法。
  2. (2)前記アドレスデコーダに供給されるワード線選択
    用の信号を形成するためのアドレスノ(ソファのいずれ
    か−ちまたは複数の入力を・・イレペ、・またはロウレ
    ベルに固定して、不要になったワード線が選択されIL
    いようにさせることを特徴とする特許請求の範囲Kc1
    項記載の半導体記憶装置の構成方法。
JP57131976A 1982-07-30 1982-07-30 半導体記憶装置の構成方法 Granted JPS5924492A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57131976A JPS5924492A (ja) 1982-07-30 1982-07-30 半導体記憶装置の構成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57131976A JPS5924492A (ja) 1982-07-30 1982-07-30 半導体記憶装置の構成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5924492A true JPS5924492A (ja) 1984-02-08
JPH0429158B2 JPH0429158B2 (ja) 1992-05-18

Family

ID=15070625

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57131976A Granted JPS5924492A (ja) 1982-07-30 1982-07-30 半導体記憶装置の構成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5924492A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6122649A (ja) * 1984-07-02 1986-01-31 Fujitsu Ltd ゲ−トアレイlsi装置
JPS6122648A (ja) * 1984-07-02 1986-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置
JPH0346192A (ja) * 1989-07-14 1991-02-27 Hitachi Ltd 半導体装置及び半導体メモリ装置
JPH0696584A (ja) * 1992-06-25 1994-04-08 Siemens Ag 集積半導体メモリの製造方法
JPH0823996B2 (ja) * 1986-08-11 1996-03-06 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイランペンファブリケン 2個以上の集積半導体回路の集合体

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5624946A (en) * 1979-08-08 1981-03-10 Fujitsu Ltd Master slice type integrated circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5624946A (en) * 1979-08-08 1981-03-10 Fujitsu Ltd Master slice type integrated circuit

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6122649A (ja) * 1984-07-02 1986-01-31 Fujitsu Ltd ゲ−トアレイlsi装置
JPS6122648A (ja) * 1984-07-02 1986-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置
JPH0570943B2 (ja) * 1984-07-02 1993-10-06 Fujitsu Ltd
JPH0823996B2 (ja) * 1986-08-11 1996-03-06 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイランペンファブリケン 2個以上の集積半導体回路の集合体
JPH0346192A (ja) * 1989-07-14 1991-02-27 Hitachi Ltd 半導体装置及び半導体メモリ装置
JPH0696584A (ja) * 1992-06-25 1994-04-08 Siemens Ag 集積半導体メモリの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0429158B2 (ja) 1992-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7630230B2 (en) Static random access memory architecture
US7710764B2 (en) Semiconductor memory cells with shared p-type well
KR930000712B1 (ko) 반도체 집적회로
US6515915B2 (en) Circuits and methods for outputting multi-level data through a single input/output pin
JPH0697560B2 (ja) 半導体記憶装置
JP3533227B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH01130385A (ja) メモリ装置
US4972380A (en) Decoding circuit for functional block
US5490115A (en) Method and apparatus for writing to memory cells in a minimum number of cycles during a memory test operation
US6219283B1 (en) Memory device with local write data latches
JPS5924492A (ja) 半導体記憶装置の構成方法
US6243319B1 (en) Semiconductor memory equipped with row address decoder having reduced signal propagation delay time
JPH0421956B2 (ja)
JP2982902B2 (ja) 半導体メモリ
US6349069B2 (en) Semiconductor memory device
JP3020614B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS59225615A (ja) ゲ−トアレイ内のram構成方法
JP2786020B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH08221976A (ja) 半導体記憶装置
JPH0325793A (ja) 半導体記憶装置
JPS60171696A (ja) 半導体記憶装置
JPS6323336A (ja) マスタスライス方式半導体集積回路
JP2001195877A (ja) 半導体集積装置
JPH0793036B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH036598B2 (ja)