JPS60171696A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPS60171696A
JPS60171696A JP59028043A JP2804384A JPS60171696A JP S60171696 A JPS60171696 A JP S60171696A JP 59028043 A JP59028043 A JP 59028043A JP 2804384 A JP2804384 A JP 2804384A JP S60171696 A JPS60171696 A JP S60171696A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
decoder
output
lines
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59028043A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Mizukami
武 水上
Masumi Nakao
真澄 中尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP59028043A priority Critical patent/JPS60171696A/ja
Publication of JPS60171696A publication Critical patent/JPS60171696A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、半導体記憶装置に関し、とくにそのデコーダ
回路に関するものである。
半導体記憶装置は、パターンの微細化により大容量化が
進んでいる。この中でメモリセルとしては、高集積化が
可能な1トランジスタメモリセルが1代表的である。以
下は、NチャンネルMO81トランジスタメモリを例に
説明する。第1図はlトランジスタメモリのブロック図
である。図において、XDは行デコーダ、YDは列デコ
ーダ。
Mはメモリセル1ビツト、Cはデコーダ出力のクランプ
回路、8Aはディジットセンスアンプ、行デコーダ出力
信号である、Wn 、 W11+1 、・・・・・・は
ディジット線、Iloは書き込みおよび読み出しを制御
する信号線、Ax o 、Ax ” H”・Ax n 
*およびAYO。
Ays、・・・、 AYnは外部からのアドレス信号と
同相の信号線、Ax ’ HAx ” s ・・・t 
Axn sおよびAyo、Ay+ 、・、。
Aynは外部アドレス信号と逆相の信号線である。
逆相信号線はアドレス増巾回路の出力で、通常、動作前
は低電位である。
同図に示すデコーダは多入力で1出力の論理回路、通常
はNORゲートで構成される。従って。
図では多入力のNORゲートがワード線の数だけ必要で
ある。しかし、メモリ容量が増加するにつれ、アドレス
ピット数とワード線数とは比例的に増加する。このため
、大容量のメモリに対して第1図に示す従来のデータを
そのまま適用すると各NOR,ゲートの入力ビツト数が
多くなるので、大きな面積のNORゲートが必要となる
。このことはさらにNORゲートの駆動速度を遅くし、
高速化においても大きな欠点となる。また、とくに大容
量メモリでは、隣り合うワード線間のピッチが短かくな
るので、大きなNORゲートをワード線毎に配置するの
は非常に困難である。
よって第2図(alに示すようなデコーダ回路が使用さ
れている。このデコーダ回路は複数のワード線(図では
4本)に対して1個のNORゲートを割り当てたもので
ある。すなわち、ワード線選択用のアドレス、縁の上位
ビットをNORゲートに入力し、その出力を各ワード線
毎に設置されたAMP (ANDNOゲートの増幅回路
)の一方の入力端に共通に与えるようにNORゲートを
設ける。
各AMPの他方の入力端にはアドレスAxの下位ピント
(もしくはそれがデコードされた信号)が夫々供給され
る。これはワード線選択用として用いられる。こうすれ
ば、N01%ゲートの数もまたその占有面積も減少する
ことができ、高集積化、犬容l・化に対処できる。同様
のデコーダはディジット線選択用(アドレスAy)デコ
ーダYDについても適用できる。かかる構成のデコーダ
を以下では多出力デコーダという。
第2図Q)lおよび(clは夫々1メモリセルMの回路
図と、クランプ回jliIICの回路図である。Wはワ
ード線、Dはディジット線、Pはプリチャージ信号■D
Dは電源電圧を夫々示す。
更に第3図(a)は第2図(a)のブロック図中のNO
Rゲートの回路図、第3図(t)lはAMPに相当する
回路図である。AO,A、1.・・・Anは前記アドレ
ス信号のAx o g Ax 1+ ”ん」またはAy
 o 、 Ay 1 、−= 、 Aynに相当し、A
o 、 Al、・・・Anは、前記アドレス信号のAx
o 、 A−xl、−AxnまたはAyo 、 A−Y
l 、 Aynに相当する。
以下に説明を簡単化して解り易くするために4本のワー
ド線に対して1個のNORゲートを設けた、いわゆるl
N0R4出力デコーダを例にとる。
この場合、PDo乃至PD、はアドレスの下位2ビツト
を、デコードして作られるワード線選択信号である。
パターンの微細化により、配線の全容量に対して、隣接
する配線間容量、上下に交差する配線間容量の割合が大
きいので、ワード線、ディジット線間容量が増加し、ワ
ード線、ディジット線に他のワード線、ディジット線か
らの雑音が生じ、回路(主と[7てセンスアンプ)が誤
動作することが多い。この雑音を抑え之には、動作時に
非選択のデコーダ出力を低インピーダンスで固定(たと
えばグランド)電位にクランプする必要がある。ところ
が従来のクランプ回路(第2 o (c) )では、メ
モリセルが小さくなり、ワード線及びディジット線を形
成する配線ピッチか小さくなるとこれをピッチ間に形成
することが難しくなる。またインピーダンスを下げるた
めに、第2図(C)のトランジスタQを大きくすると、
選択時に7リツプフロツプ回路を反転するため出力線の
立ち上がりが遅れる。
つまり動作速度がその分遅くなる欠点がある。
(発明9目的) 本発明は、非選択時のデコーダ出力を低インピ ゛−ダ
ンスで固定したとえばグランド電位にクランプし1選択
時には、高速動作が可能なデコーダ回路を提供すること
である。
(発明の構成) 本発明はワード線とディジット線とをマトリクス状に配
置し、各セトリクス交点にメモリセルを有する半導体記
憶装置において、複数のワード線(もしくはディジット
線)を共通に選択する第1の手段と、義弟1の手段によ
って選択されたワード線(もしくはディジット線)の中
から1つを選択する第2の手段と、各ワード線(もしく
は各ディジット線)に接続され、前記第1の手段によっ
てワード線(もしくはディジット線)が非選択状態のと
き当該ワード線(もしくはディジット線)を固定電位に
保持する手段とを有することを特徴とする。
また、前記保持手段は隣接するワード線間(もしくはデ
ィジット線間)に形成されていることを特徴とする。
さらに、前記保持手段は少なくとも1個のMOSトラン
ジスタで実現でき、ワード線間(ディジット線間)を問
わず、非常に小さい面積でメモリチップ上に集積化され
ていることを特徴とする。
(実施例の説明) 第4図は、本発明の一実施例を示す多出力デコーダの回
路図である。
ここではl’J OB回路と、NAND回路が用いられ
る。NAND回路はN0I(、回路と逆相アドレス信号
(例えばNOIv)入カフ5% Ao e AI w 
4 pAs e A4トfるとNANDの入力は友、 
Al y A2 g A、3 HA4となる)を入力と
するもので、第5図にその一例を示す。
NAND回路の出力CLPは、プリチャージ信号Pによ
りプリチャージされるためデコーダ動作前は高電位を保
持している。またT、。〜Ta11 は各ワード線毎に
設けられたクランプトランジスタである。本実施例によ
るクランプ回路は、NAND回路とクランプトランジス
タで構成され、NAND回路は一デコーダ4出力あたり
1個でよいため大きな占有面積とはならない。また、デ
コーダ出力を低インピーダンスにする時は、クランプト
ランジスタTIO〜T13を太きくすればよく、その場
合でも、従来p第1図のCや第2ν1(C)に示すクラ
ンプ回路はど大きくならない。NAND回路はNOR回
路と同時に動作させることができ、余分の駆動信号は不
要である。かつ、NOR,回路が選択されたとき、す々
わち論理I11″が出力された時、クランプトランジス
タ11□。〜T+3はすべてオフとなるため、4個のA
MPのうちP Do−P D3のうち1つの信号によっ
て選択されたものだけが出力111+1となり、電位が
立ち上がるが、他は低電位であるため増巾回路AMPを
通してデコーダ出力は、低電位にクランプされる。従っ
て、NORが選択され、かつ増巾回路駆動信号が非選択
であるAMPデコーダ出力もクランプトランジスタ T
I o ”’−T + Bがオフであるにもかかわらず
安定な電位となる。
まだNOR回路が非選択の場合は、NAND回路の出力
CLPは高電位(論理11111)であるため、デコー
ダ出力は常に低電位(例ではグランド(アース)電位)
にクランプされる。
このように本実施例によれば、多出力デコーダの個々の
出力端子を、ソースが定電位に接続されたトランジスタ
のドレインに接続し、デコーダのNOR回路と逆相のア
ドレス信号を入力とし、動作前は前記トランジスタのオ
ン電位を出力し、NOR回路と同時に動作するNAND
回路の出力を、前記トランジスタのゲートに入力するこ
とによって、非選択時のデコーダ出力を低抵抗でグラン
ド電位にクランプしておくことができ、かつ選択時には
高速動作が可能なデコーダ出力回路を実現することがで
きる。
第6図、第7図(a)(b)は本発明の他の実施例を示
す回路図である。第6図でNOR回路、A、 M Pお
よびTI、乃至TISは第4図と同一のものでよい。
INVはパルスSをうけて動作する反転回路であり、第
4図のN A N J)回路の代わりに設けられたもの
である。ただし、その出力CL PはパルスSが立ち上
がる前は高電位であるものとする。Sは上記の反転回路
′f:動作させるパルスでPDo−PD。
のうちで1つが一選択されて立ち上がるのとほぼ同時刻
に立ち上がるようなパルスである。第6図(a)。
[有])は上記の反転回路iNVの2つの例である。第
6図(a)は7リツプ・フロップを用いた例であるが従
来のクランプ回路と比べ、フリップフロップは4出力(
4ワード線)あたり1つでよいため、面積は小さくてよ
い。また、デコーダ出力を低インピーダンスにする時は
、トランジスタTl0−T18を大きくすればよいが、
それでも各ワード線間に十分 きめることができる。ま
だ反転回路駆動信号Sを増巾器駆動信号PDo−PD3
と同期さぜれは、NORが選択された時T10−TlB
は一斉1(オフとなるため速度の低下は起こらない。こ
の状態で、PDo−PD、のうち1つか選択されてその
AMPの出力が立ち上がるが、他のAMPは低電位出力
となるため、デコーダ出力は低電位にクランプされる。
よって、NORが選択されて、かつ駆動パルスが非選択
のデコーダ出力もトランジスタT1o〜’I’1mがオ
フにもかかわらず安定電位に保掲される。
このように本実施例は、多出力デコーダの個々出力端子
を、ソースが固定電位に接続されたトランジスタの各ド
レインに接続し、NOR回路の出力を入力とし、動作前
は前記トランジスタのオン電位を出力し、増巾回路と同
様の位相で動作する反転回路の出力を前記トランジスタ
のゲートに入力することによって、非選択時のデコーダ
出力を低抵抗で固定電位にクランプし、選択時には高速
動作が可能なデコーダ出力回路を実現することができる
以上のように1本発明によれば、各ワード線のクランプ
回路を非常に小さく実現でき、しかも例の高速動作を何
等阻害することはないので、大容量メモリのデコーダと
して非常に有効である。なお1本実施例ではワード線デ
コーダ回路、を例示したが、勿論同様の回路をディジッ
ト線のデコーダ回路として使用できることは明らかであ
る。また各クランプ用のトランジスタはワード係当り1
個でよいから、隣接するワード線間に十分おさまるよう
に形成することができる。しかも、従来よりもワード線
間/ディジット線間の間隔を小さくすることかできるの
で、より大容量のメモリを提供することができる。
また本発明は、Nチャネルlトランジスタメモリに限ら
れるもので々<、CMO81)ランジスタメモリ、或い
は他のメモリ(例えば、6トランジスタメモリ)にも適
用できる。さらに、lN0R4出力デコーダでなくても
よく、lN0Rs出力デコーダ、lN0R16出力デコ
ーダ等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の1トランジスタメモリのブロック図、第
2図(a)は従来のデコーダ回路図、第2図(b)はl
トランジスタメモリセルの回路図、第2図(c)は従来
のクランプ回路図、第3図(a)はNOR回路図、第3
図(b)はAMP回路図、第4図は本発明の一実施例の
デコーダ回路図、第5図はNAND回路図、第6図は本
発明の他の実施例を示すデコーダ回路図、第7図(a)
 、 (b)は夫々反転回路図である。 XD・・・・・・行デコーダ、YD・・・・・・列デコ
ーダ、M・・・・・・メモリセル、C・・・・・・クラ
ンプ回路、SA・・・・・・ディジットセンスアンプ、
W” t・・・・・・行デコーダ出力であるワード線、
 Yn・・・・・・列デコーダ出力、Dn・・・・・・
ディジット線、Ilo・・・・・・読み出し、書き込み
バス、Axng 40・・・・・・行アドレス、AY□
、A、、用列アドレス、NOR・・・・・・NOR回路
、’AMP・・・・・・増巾回路、PDo−FD、・・
・・・・増巾回路駆動信号、P・・・・・・プリチャー
ジ信号、NAND・・・・・・NAND回路、 T、、
、−T、、・・・・・・クランプトランジスタ、VDD
・・・・・・電源電圧、INV・・・・・・反転回路5
・;1、・。 代理人 弁理士 内 原 ヨ 、。 \ 第 IUfE 茅2図(a) $ 2 m(b) 茅2 閃C(:) 芽3図(a) 竿3 図Cb) 芋 4 図 VDI) 羊5図 pD夕 茅 Z 図 葬 7図(a、□) 芹 7図(−b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のワード線(もしくはディジット線)を共通に選択
    するデコーダ手段を有する半導体記憶装置において、前
    記複数のワードI9(もしくはディジット線)が非選択
    状態にある時、これを固定電位にクランプする回路を少
    なくとも1個のトランジスタイ実現したことを特徴とす
    る半導体記憶装置。
JP59028043A 1984-02-17 1984-02-17 半導体記憶装置 Pending JPS60171696A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59028043A JPS60171696A (ja) 1984-02-17 1984-02-17 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59028043A JPS60171696A (ja) 1984-02-17 1984-02-17 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60171696A true JPS60171696A (ja) 1985-09-05

Family

ID=12237711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59028043A Pending JPS60171696A (ja) 1984-02-17 1984-02-17 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60171696A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0250722U (ja) * 1988-09-28 1990-04-10
US5161121A (en) * 1988-06-27 1992-11-03 Oki Electric Industry Co., Ltd. Random access memory including word line clamping circuits

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5161121A (en) * 1988-06-27 1992-11-03 Oki Electric Industry Co., Ltd. Random access memory including word line clamping circuits
JPH0250722U (ja) * 1988-09-28 1990-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4365319A (en) Semiconductor memory device
JPH11126491A (ja) 半導体記憶装置
JP3779480B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH054757B2 (ja)
US11361818B2 (en) Memory device with global and local latches
US6661731B2 (en) Semiconductor memory, semiconductor integrated circuit and semiconductor mounted device
JP3365650B2 (ja) 半導体メモリ装置
EP0121394A2 (en) Static semiconductor memory device incorporating redundancy memory cells
KR910000388B1 (ko) 메모리셀 블록의 선택적 동작이 가능한 반도체 메모리장치
US4901281A (en) Semiconductor memory device having two column transfer gate transistor groups independently provided for a sense amplifier and a programmed circuit
JPH07111824B2 (ja) 半導体メモリ
US4563598A (en) Low power consuming decoder circuit for a semiconductor memory device
JPH0421956B2 (ja)
US6781917B2 (en) Semiconductor memory device with dual port memory cells
US6331963B1 (en) Semiconductor memory device and layout method thereof
JPS60171696A (ja) 半導体記憶装置
JPS61222090A (ja) フラツシユクリア機能をもつスタテイツクram
US6320814B1 (en) Semiconductor device
CN112581998B (zh) 存储器器件及其操作方法
US6349069B2 (en) Semiconductor memory device
JP2591907B2 (ja) 読み出し専用半導体記憶装置のデコード回路
JPH06334138A (ja) 半導体記憶装置
JPH0376098A (ja) 半導体不揮発性記憶装置
KR100903694B1 (ko) 반도체 장치 및 데이터 써넣기 방법
KR950001125B1 (ko) 반도체 기억장치