JPS59231836A - 多層構造アルミニウム層の形成方法 - Google Patents
多層構造アルミニウム層の形成方法Info
- Publication number
- JPS59231836A JPS59231836A JP10617083A JP10617083A JPS59231836A JP S59231836 A JPS59231836 A JP S59231836A JP 10617083 A JP10617083 A JP 10617083A JP 10617083 A JP10617083 A JP 10617083A JP S59231836 A JPS59231836 A JP S59231836A
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- aluminum layer
- aluminum
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- tisi
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発ψ」の技術分野〕
本発明は、多層構造アルミニウム層の形成方法に関する
。
。
従来、半導体装置の配線としてアルミニウム層或は、ア
ルミニウムとシリコンの合金からなるアルミニウム合金
層が使用されている。更に、タングステン層を上下両側
からアルミニウム層で挾んだ三層構造のものが使用され
ている。
ルミニウムとシリコンの合金からなるアルミニウム合金
層が使用されている。更に、タングステン層を上下両側
からアルミニウム層で挾んだ三層構造のものが使用され
ている。
然るに、配線として形成された上述のアルミニウム層に
は、次のような欠点がある。
は、次のような欠点がある。
■ アルミニウム層は、極めて軟い。このため機械的強
度が小さく、障害物と極めて微弱な力で接触しただけで
も断線したり、或は隣接した配線と短絡し易い。
度が小さく、障害物と極めて微弱な力で接触しただけで
も断線したり、或は隣接した配線と短絡し易い。
■ アルミニウム層の表面は、化学的に活性である。こ
のため化学的に不安定であり、湿気があると腐食し易い
。
のため化学的に不安定であり、湿気があると腐食し易い
。
■ ■、■の欠点を解消するため、表面にリン化ガWス
膜を形成したアルミニウム層が用いられている。しかし
、リン化ガシス膜は、もろくて割れ易いため、依然■、
■の問題を十分に解消できなかった。
膜を形成したアルミニウム層が用いられている。しかし
、リン化ガシス膜は、もろくて割れ易いため、依然■、
■の問題を十分に解消できなかった。
本発明は、機械的強度を向上し、かつ化学的に安定化し
たアルミニウム層を容易に得ることができる多層構造ア
ルミニウム層の形成方法を提供することをその目的とす
るものである。
たアルミニウム層を容易に得ることができる多層構造ア
ルミニウム層の形成方法を提供することをその目的とす
るものである。
本発明は、アルミニウム層から流出させたシリコンを用
いてチタンシリサイド層をアルミニウム層上に形成する
ようにして、機械的強度を向上し、かつ、化学的に安定
化したアルミニウム層を容易に得ることができる多層構
造アルミニウム層の形成方法である。
いてチタンシリサイド層をアルミニウム層上に形成する
ようにして、機械的強度を向上し、かつ、化学的に安定
化したアルミニウム層を容易に得ることができる多層構
造アルミニウム層の形成方法である。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
先ず、例えば第1図(8)に示す如く、シリコン基板1
の所定領域に不純物の選択拡散により不純物領域2を形
成する。次いで、熱酸化法等により不純物領域2及びシ
リコン基板1の主面をうフィールド酸化膜3を形成する
。
の所定領域に不純物の選択拡散により不純物領域2を形
成する。次いで、熱酸化法等により不純物領域2及びシ
リコン基板1の主面をうフィールド酸化膜3を形成する
。
次に、同図中)に示す如く、不純物領域2と電気的に接
続する配線を形成するために、フィールド酸化膜3に、
不純物領域2に通じるコンタクトホール4を周知の写真
蝕刻法にて開口する。
続する配線を形成するために、フィールド酸化膜3に、
不純物領域2に通じるコンタクトホール4を周知の写真
蝕刻法にて開口する。
次いで、コンタクトホール4を介して不純物領域2に接
続するアルミニウム@5をスフ9ツタ蒸着法により約1
μ乳の厚さでフィールド酸化膜3上に形成する。ここで
、アルミニウム層5中には、約5重量%のシリコンが含
有されている。
続するアルミニウム@5をスフ9ツタ蒸着法により約1
μ乳の厚さでフィールド酸化膜3上に形成する。ここで
、アルミニウム層5中には、約5重量%のシリコンが含
有されている。
次いで、同図(e)に示す如く、アルミニウム層5上に
チタン層6を厚さ約200Aスパツタ蒸着法により形成
する。
チタン層6を厚さ約200Aスパツタ蒸着法により形成
する。
然る後、これに450℃のN、とH3の混合ガスからな
る所謂7オーミングガス中で約30分間熱処理を施す。
る所謂7オーミングガス中で約30分間熱処理を施す。
この熱処理によって、アルミニウム層5中からシリコン
がチタンの活性化力により引き出され、同図の)に示す
如く、アルミニウム層5上にチタンシリサイド層7が形
成される。
がチタンの活性化力により引き出され、同図の)に示す
如く、アルミニウム層5上にチタンシリサイド層7が形
成される。
このようにしてアルミニウム層50表面にチタンシリサ
イド層7が形成されるので、アルミニウム層5の機械的
強度を十分に高めることができる。また・アルミニウム
層5の活性な表面がチタンシリサイド層7で橢ゎれるの
で、アルミニウム層5を化学的姉安定にすることができ
る。
イド層7が形成されるので、アルミニウム層5の機械的
強度を十分に高めることができる。また・アルミニウム
層5の活性な表面がチタンシリサイド層7で橢ゎれるの
で、アルミニウム層5を化学的姉安定にすることができ
る。
その結果、機械的強度に優れ、しがも化学的に安定なア
ルミニウム層5を容易に得ることができる。
ルミニウム層5を容易に得ることができる。
l t、r 、チタ” 層6の形成処理とチタン層IJ
?イド層7を形成するための熱処理は、同一の真空容
器内で行うのが望ましい。これは、チタンシリサイド層
7を形成する際に、活性なチタンが空気中の酸素と反応
するのを防止して、再現性、均一性、均質性の亮いチタ
ンシリサイド層7を得るためである。
?イド層7を形成するための熱処理は、同一の真空容
器内で行うのが望ましい。これは、チタンシリサイド層
7を形成する際に、活性なチタンが空気中の酸素と反応
するのを防止して、再現性、均一性、均質性の亮いチタ
ンシリサイド層7を得るためである。
また、第2図(4)に示す如く、アルミニウム層5′を
形成する前に予めコンタクトホール4内にタングステン
等の高融点金属からなるバリヤ一層10を形成しておい
ても良い。この場合には、アルミニウム脂5′中のシリ
コンの含有量は、約7重量%に設定しておくのが望まし
い。更に、アルミニウム層5′の厚さは7000Aとし
、チタン層6上に厚さ約300OAのアルミニウム層1
1を形成し、これに実施例と同様の熱処理を施し、同図
(B)に示す如く、チタンシリサイド層7′を形成する
ようにしても良い。このようにして得られた多層構造ア
ルミニウム層では、表面に軟質のアルミニウム層11が
存在するので、ポンディング処理を容易に行うことがで
きる。しかも、機械的強度の向上と化学的に安定なアル
ミニウム層5′を提供できる。
形成する前に予めコンタクトホール4内にタングステン
等の高融点金属からなるバリヤ一層10を形成しておい
ても良い。この場合には、アルミニウム脂5′中のシリ
コンの含有量は、約7重量%に設定しておくのが望まし
い。更に、アルミニウム層5′の厚さは7000Aとし
、チタン層6上に厚さ約300OAのアルミニウム層1
1を形成し、これに実施例と同様の熱処理を施し、同図
(B)に示す如く、チタンシリサイド層7′を形成する
ようにしても良い。このようにして得られた多層構造ア
ルミニウム層では、表面に軟質のアルミニウム層11が
存在するので、ポンディング処理を容易に行うことがで
きる。しかも、機械的強度の向上と化学的に安定なアル
ミニウム層5′を提供できる。
更に、・第3図囚に示す如く、コンタクトホール4内に
T、Nからなるバリヤ一層10′を形成すると共に、多
結晶シリコン層13によってコンタクトホール4内を塞
いだ後に、この多結晶シリコン層13及びフィールド酸
化11K 3を―うアルミニウム層14を厚さ約700
OA形成する。
T、Nからなるバリヤ一層10′を形成すると共に、多
結晶シリコン層13によってコンタクトホール4内を塞
いだ後に、この多結晶シリコン層13及びフィールド酸
化11K 3を―うアルミニウム層14を厚さ約700
OA形成する。
然る後、このアルミニウム層14上に厚さ約200Aの
チタン層ノ5及び厚さ約300OAのアルミニウム層1
6を順次形成し、これに約450℃の熱処理を施すこと
により、同図の)に示す如く、チタンシリサイド層7′
′を形成すると共に、多結晶シリコン層13をアルミニ
ウム層14に代えるようにしても良い。このようにして
得られたアルミニウムJ+;i l 4 、16は、そ
の表面が平坦になっているので、平坦な配線として使用
することができる。更に、機械的強度の向上と化学的安
定化が達成されていることは勿論である。
チタン層ノ5及び厚さ約300OAのアルミニウム層1
6を順次形成し、これに約450℃の熱処理を施すこと
により、同図の)に示す如く、チタンシリサイド層7′
′を形成すると共に、多結晶シリコン層13をアルミニ
ウム層14に代えるようにしても良い。このようにして
得られたアルミニウムJ+;i l 4 、16は、そ
の表面が平坦になっているので、平坦な配線として使用
することができる。更に、機械的強度の向上と化学的安
定化が達成されていることは勿論である。
以上説明した如く、本発明に係る多層構造アルミニウム
層の形成方法によれば、機械的強度を向上し、かつ、化
学的に安定したアルミニウム層を容易に得ることができ
るものである。
層の形成方法によれば、機械的強度を向上し、かつ、化
学的に安定したアルミニウム層を容易に得ることができ
るものである。
第1図(4)乃至同図(D)は、本発明方法を工程順に
示す説明図、第2図(A) (B)は、コンタクトホー
ル内にバリヤ一層を形成した本発明の他の実施例を示す
説明図、第3図(A)(B)は、コンタクトホール内に
バリヤ一層及び多結晶シリコン層を形成した本発明の他
の実施例を示す説明図である。 1・・・シリコン基板、2・・・不純物領域、3・・・
フィールド酸化膜、4・・・コンタクトホール、5゜5
1・・・アルミニウム層、6・・・チタン層、7 H7
’+7′・・・チタンシリサイド#xo+10’・・・
ノく1ツヤ一層、11・・・アルミニウム層、13・・
・多結晶シリコン層、14°・・アルミニウム層、15
・・・チタン層、16・・・アルミニウム層。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 (A ) (B )(A)
(B)
示す説明図、第2図(A) (B)は、コンタクトホー
ル内にバリヤ一層を形成した本発明の他の実施例を示す
説明図、第3図(A)(B)は、コンタクトホール内に
バリヤ一層及び多結晶シリコン層を形成した本発明の他
の実施例を示す説明図である。 1・・・シリコン基板、2・・・不純物領域、3・・・
フィールド酸化膜、4・・・コンタクトホール、5゜5
1・・・アルミニウム層、6・・・チタン層、7 H7
’+7′・・・チタンシリサイド#xo+10’・・・
ノく1ツヤ一層、11・・・アルミニウム層、13・・
・多結晶シリコン層、14°・・アルミニウム層、15
・・・チタン層、16・・・アルミニウム層。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 (A ) (B )(A)
(B)
Claims (2)
- (1)半導体基板上にシリコン含有層を形成する工程と
、該シリコン含有層上にアルミニウム層を形成する工程
と、前記アルミニウム層上にチタン層を形成する工程と
、熱処理により前記アルミニウム層を貫通して流出した
シリコンと前記チタン層とのチタンシリサイド層を形成
する工程とを具備することを特徴とする多層構造アルミ
ニウム層の形成方法。 - (2) アルミニウム層に予めシリコンが含有されて
いる特許請求の範囲第1項記載の多層構造アルミニウム
層の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10617083A JPS59231836A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 多層構造アルミニウム層の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10617083A JPS59231836A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 多層構造アルミニウム層の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59231836A true JPS59231836A (ja) | 1984-12-26 |
Family
ID=14426783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10617083A Pending JPS59231836A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 多層構造アルミニウム層の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59231836A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62283643A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-12-09 | アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコ−ポレ−テツド | シリコンベースの半導体装置のためのコンタクト構造 |
JPS6390154A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-21 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
US4992152A (en) * | 1989-04-20 | 1991-02-12 | Eastman Kodak Company | Reducing hillocking in aluminum layers formed on substrates |
US5278099A (en) * | 1985-05-13 | 1994-01-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing a semiconductor device having wiring electrodes |
JPH06120165A (ja) * | 1990-12-14 | 1994-04-28 | Samsung Semiconductor Inc | 集積回路の接触抵抗低減方法と半導体へのオーミック金属コンタクト形成方法 |
JPH06168908A (ja) * | 1991-11-27 | 1994-06-14 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 集積回路の形成方法 |
EP0613180A2 (en) * | 1985-05-13 | 1994-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having wiring electrodes |
-
1983
- 1983-06-14 JP JP10617083A patent/JPS59231836A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5278099A (en) * | 1985-05-13 | 1994-01-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing a semiconductor device having wiring electrodes |
EP0613180A2 (en) * | 1985-05-13 | 1994-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having wiring electrodes |
EP0613180A3 (en) * | 1985-05-13 | 1994-10-19 | Toshiba Kk | Semiconductor device comprising interconnection electrodes. |
JPS62283643A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-12-09 | アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコ−ポレ−テツド | シリコンベースの半導体装置のためのコンタクト構造 |
JPS6390154A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-21 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
US4992152A (en) * | 1989-04-20 | 1991-02-12 | Eastman Kodak Company | Reducing hillocking in aluminum layers formed on substrates |
JPH06120165A (ja) * | 1990-12-14 | 1994-04-28 | Samsung Semiconductor Inc | 集積回路の接触抵抗低減方法と半導体へのオーミック金属コンタクト形成方法 |
JPH06168908A (ja) * | 1991-11-27 | 1994-06-14 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 集積回路の形成方法 |
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