JPS59207441A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

光ピツクアツプ装置

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JPS59207441A
JPS59207441A JP58083205A JP8320583A JPS59207441A JP S59207441 A JPS59207441 A JP S59207441A JP 58083205 A JP58083205 A JP 58083205A JP 8320583 A JP8320583 A JP 8320583A JP S59207441 A JPS59207441 A JP S59207441A
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JP
Japan
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light
reflected
optical
beam splitter
objective lens
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JP58083205A
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English (en)
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JPH087869B2 (ja
Inventor
Kiichi Kato
喜一 加藤
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体レーデを光源とする光ピツクアップ装置
に関し、特にノイズ低減手段に関する。
〔発明の技術的背景およびその問題点〕従来の半導体レ
ーデを光源として使用した光ピツクアップ装置において
は、反射光の帰葆によるレーザの光量変動がフォーカス
およびトラッキング制御信号に妨害を与えるため、偏光
ビームスプリッタおよび1/4波長板を使用する偏光光
学系によυ往復の光路を分割し、レーザに反射光が帰還
しないようにしている。しかし偏光ビームスプリッタや
1/4波長板の精度不足および元ディスクでの複屈折等
により、一部の光がレーザに戻るのは避けられない〇 一方最近の発表〈よれば、レーデへの光帰還により発生
するノイズはある程度以下およそ0.01%〜0.1%
において最大とな91%以上において極小となるとされ
ている。レーザへの帰還量とノイズレベルとの相関関係
を第1図に示す。
そこでレーザたより積極的だ光を戻すことによシレーザ
の安定化を計るべく、偏光ビームスシリツタおよび1/
4波長板に代えて〜・−フ7’ IJ rムを使用する
光学系が提案されている。しかしこの光学系は往路、復
路で光の一部が損失するため特に光量を必要とする記録
再生用ピックアップ装置には不向きである。
〔発明の目的〕
本発明の目的は半導体レーザを光源とする光ピツクアッ
プ装置において、光ディスクからの反射光の一部をレー
デに帰還することにより、レーザのノイズを小さくでき
ると共に、レーザから光ディスクまでの光路での光損失
が少なし光ピツクアップ装置を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を達成するために次の如く構成したこ
とを特徴としている。すなわち、本発明は半導体レーザ
を光源とする光学系において、偏光ビームスプリンタの
反射率を、入射時の偏光面を有する光束については全て
光デイスク上に集束するためのレンズ側に透過または反
射するように設定し、反射時の偏光面を有する光束につ
いては一部を光源側に帰還させ残りをディテクタ側に反
射するように設定することだよシ、レーザのノイズを小
さくすると共に、光路での光損失を小さくするようにし
たことを特徴としている。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の一実施例の構成を示す図である。半導
体レーザ1から放射された光ビーム  、はコリメート
レンズ2で平行光となし偏光ビームスシリツタ3に入る
。上記偏光ビームスf IJフッタから出た前記光ビー
ムは1/4波長板4を介し対物レンズ5によシ集光され
、スピンドルモータ6によシ回転している光ディスクz
上に照射される。前記光ビームは上記光デイスク7上で
反射され、これまでとは逆方向r対物レンズ5.1/4
波長板4を介し偏光ビームスプリッタ3に入射する。入
射した光の大部分は面角方向九反射されディテクタ8に
到達する。ここで前記偏光ビームスプリッタ3の反射率
はP偏光反射率O%、S偏光反射率80〜90%に設定
しである。従って偏光ビームスシリツタ3に入射した光
の10〜20%の光は前記偏光ビームスプリッタ3を透
過する。その結果例えば往路効率50%、ディスク反射
率50%、前記偏光ビームスプリッタ3を除く復路効率
90%とすると、前記半導体レーザ1への帰還量は数%
(上記例では2.25〜4,5%)となシレーデは安定
になシノイズは小さくなる。
偏光ビームスプリッタ3における光ビームの道程を第3
図に示す。第3図において入方向は半導体レーデ側、B
方向は光デイスク側、C方向はディテクタ側である。半
導体レーデ側Aから入射した光ビームは偏光ビームスシ
リツタ3を透過し光ディスク(不図示)で一部反射し光
デイスク側Bから前記偏光ビームスプリッタ3に再び入
射する。そして一部すなわち数%は前記半導体レーザ側
Aに透過し、残シはディテクタ側Cに反射する。
第4図は本発明の他の実施例である。第4図11は半導
体レーザ、12はコリメートレンズ、13は偏光ビーム
スプリッタ、14は1/4波長板、15は対物レンズ、
16はスピンドルモータ、17は光ディスク、18はデ
ィテクタを示す。この実施例の場合、例えば上記偏光ビ
ームスシリツタ13のS偏光反射率100%とし、P偏
光反射率10〜20%とすれば前記実施例と同様の作用
効果を奏する。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではない
。すなわち偏光ビームスプリッタの・S偏光反射率およ
びP偏光反射率の値は光学的効率やディスク反射率等に
よシ変化する値であシ、要はレーザへの帰還量がレーデ
ノイズの小さくなる量に設定されれば良い。
〔発明の効果〕
本発明によれば半導体レーデを光源とする光学系におい
て、偏光ビームスプリッタの反射率を、入射時の偏光面
の光束は全て対物レンズ側に透過または反射するように
設定し、反射時の偏光面を有する光束については一部を
光源側に帰還し残りをディテクタ側に分割する様に設定
したので、レーデのノイズを小さくでき再生信号のSA
比の向上およびサーボの安定化を計ることができる。〜
まだ偏光ビームスプリッタの反射率を特定すること(で
より目的を達しておシ、ハーフミラ−等を一切使用しな
いので往路での光損失がなく、レーザ光を有効にディス
ク面に導くことができるという効果をも奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るレーザへの帰還量とノイズレベル
との相関関係を示す特性図、第2図は本発明の一実施例
を示す図、第3図は作用を説明するための図、第4図は
本発明の他の実施例を示す図である。 1.11・・・半導体レーザ、2.12・・・コリメー
トレンズ1.9.13・・・偏光ビームスプリッタ、4
.14・・・1/4波長板、5.15・・・対物レンズ
、7.17・・・光rイスク、8.18・・・ディテク
タ。 ′A 1 図 第2F;/J 2−一部; ゝ、7′ \、7/ 1−.5 第3図 第4 図 i   : i   : 1     ( 18せ二力

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体レーデ光源と、この光源からの光を平行光に近く
    するレンズと、このレンズを透過した光を集光して光デ
    イスク上に照射する対物レンズと、前記光ディスクから
    の反射光の偏光面を入射光の偏光面と直交する方向に回
    転する1/4波長板と、このIA波長板を通った反射光
    束をディテクタ上に導くように光路変換を行なう偏光ビ
    ームスプリッタとを具備し、前記偏光ビームスプリッタ
    は反射率を、入射時の偏光面を有する光束については全
    て前記対物レンズ側(C透過または反射するように設定
    され、反射時の偏光面を有する光束については一部を光
    源側に帰還させ残9をディテクタ側に反射するように設
    定されていることを特徴とする光ピツクアップ装置。
JP58083205A 1983-05-12 1983-05-12 光ピツクアツプ装置 Expired - Lifetime JPH087869B2 (ja)

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JP58083205A JPH087869B2 (ja) 1983-05-12 1983-05-12 光ピツクアツプ装置

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JPS59207441A true JPS59207441A (ja) 1984-11-24
JPH087869B2 JPH087869B2 (ja) 1996-01-29

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ID=13795821

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JP58083205A Expired - Lifetime JPH087869B2 (ja) 1983-05-12 1983-05-12 光ピツクアツプ装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5637834A (en) * 1980-08-20 1981-04-11 Hitachi Ltd Optical pickup
JPS58125245A (ja) * 1982-01-22 1983-07-26 Hitachi Ltd 光ピツクアツプ装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5637834A (en) * 1980-08-20 1981-04-11 Hitachi Ltd Optical pickup
JPS58125245A (ja) * 1982-01-22 1983-07-26 Hitachi Ltd 光ピツクアツプ装置

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JPH087869B2 (ja) 1996-01-29

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