JPH087869B2 - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents
光ピツクアツプ装置Info
- Publication number
- JPH087869B2 JPH087869B2 JP58083205A JP8320583A JPH087869B2 JP H087869 B2 JPH087869 B2 JP H087869B2 JP 58083205 A JP58083205 A JP 58083205A JP 8320583 A JP8320583 A JP 8320583A JP H087869 B2 JPH087869 B2 JP H087869B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- beam splitter
- laser
- optical
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体レーザを光源とする光ピツクアツプ装
置に関し、特にノイズ低減手段に関する。
置に関し、特にノイズ低減手段に関する。
従来の半導体レーザを光源として使用した光ピツクア
ツプ装置においては、反射光の帰還によるレーザの光量
変動がフオーカスおよびトラツキング制御信号に妨害を
与えるため、偏光ビームスプリツタおよび1/4波長板を
使用する偏光光学系により往復の光路を分割し、レーザ
に反射光が帰還しないようにしている。しかし偏光ビー
ムスプリツタや1/4波長板の精度不足および光デイスク
での復屈折等により、一部の光がレーザに戻るのは避け
られない。
ツプ装置においては、反射光の帰還によるレーザの光量
変動がフオーカスおよびトラツキング制御信号に妨害を
与えるため、偏光ビームスプリツタおよび1/4波長板を
使用する偏光光学系により往復の光路を分割し、レーザ
に反射光が帰還しないようにしている。しかし偏光ビー
ムスプリツタや1/4波長板の精度不足および光デイスク
での復屈折等により、一部の光がレーザに戻るのは避け
られない。
一方最近の発表によれば、レーザへの光帰還により発
生するノイズはある程度以下およそ0.01%〜0.1%にお
いて最大となり1%以上において極小となるとされてい
る。レーザへの帰還量とノイズレベルとの相関関係を第
1図に示す。そこでレーザにより積極的に光を戻すこと
によりレーザの安定化を計るべく、偏光ビームスプリツ
タおよび1/4波長板に代えてハーフプリズムを使用する
光学系が提案されている。しかしこの光学系は往路,復
路で光の一部が損失するため特に光量を必要とする記録
再生用ピツクアツプ装置には不向きである。レーザへの
戻り光に関する技術が特開昭58−125245号公報、特開昭
55−24460号公報に説明されているが、構成並びに効果
が本発明と異なる。
生するノイズはある程度以下およそ0.01%〜0.1%にお
いて最大となり1%以上において極小となるとされてい
る。レーザへの帰還量とノイズレベルとの相関関係を第
1図に示す。そこでレーザにより積極的に光を戻すこと
によりレーザの安定化を計るべく、偏光ビームスプリツ
タおよび1/4波長板に代えてハーフプリズムを使用する
光学系が提案されている。しかしこの光学系は往路,復
路で光の一部が損失するため特に光量を必要とする記録
再生用ピツクアツプ装置には不向きである。レーザへの
戻り光に関する技術が特開昭58−125245号公報、特開昭
55−24460号公報に説明されているが、構成並びに効果
が本発明と異なる。
本発明の目的は半導体レーザを光源とする光ピツクア
ツプ装置において、光デイスクからの反射光の一部をレ
ーザに帰還することにより、レーザのノイズを小さくで
きると共に、レーザから光デイスクまでの光路での光損
失が少ない光ピツクアツプ装置を提供することである。
ツプ装置において、光デイスクからの反射光の一部をレ
ーザに帰還することにより、レーザのノイズを小さくで
きると共に、レーザから光デイスクまでの光路での光損
失が少ない光ピツクアツプ装置を提供することである。
本発明は上記目的を達成するために次の如く構成した
ことを特徴としている。すなわち、本発明は半導体レー
ザを光源とする光学系において、偏光ビームスプリツタ
の反射率を、入射時の偏光面を有する光束については全
て対物レンズ側に差し向けると共に、反射時の偏光面を
有する光束については当該偏光ビームスプリッタへの入
射光束の10〜20%を前記光源側に差し向け残りをディテ
クタ側に差し向けるように設定することにより、レーザ
のノイズを小さくすると共に、光路での光損失を小さく
するようにしたことを特徴としている。
ことを特徴としている。すなわち、本発明は半導体レー
ザを光源とする光学系において、偏光ビームスプリツタ
の反射率を、入射時の偏光面を有する光束については全
て対物レンズ側に差し向けると共に、反射時の偏光面を
有する光束については当該偏光ビームスプリッタへの入
射光束の10〜20%を前記光源側に差し向け残りをディテ
クタ側に差し向けるように設定することにより、レーザ
のノイズを小さくすると共に、光路での光損失を小さく
するようにしたことを特徴としている。
第2図は本発明の一実施例の構成を示す図である。半
導体レーザ1から放射された光ビームはコリメートレン
ズ2で平行光となり偏光ビームスプリツタ3に入る。上
記偏光ビームスプリツタ3から出た前記光ビームは1/4
波長板4を介し対物レンズ5により集光され、スピンド
ルモータ6により回転している光デイスク7上に照射さ
れる。前記光ビームは上記光デイスク7上で反射され、
これまでとは逆方向に対物レンズ5、1/4波長板4を介
し偏光ビームスプリツタ3に入射する。入射した光の大
部分は直角方向に反射されデイテクタ8に到達する。こ
こで前記偏光ビームスプリツタ3の反射率はP偏光反射
率0%、S偏光反射率80〜90%に設定してある。従つて
偏光ビームスプリツタ3に入射した光の10〜20%の光は
前記偏光ビームスプリツタ3を透過する。その結果例え
ば往路効率50%、デイスク反射率50%、前記偏光ビーム
スプリツタ3を除く復路効率90%とすると、前記半導体
レーザ1への帰還量は数%(上記例では2.25〜4.5%)
となりレーザは安定になりノイズは小さくなる。
導体レーザ1から放射された光ビームはコリメートレン
ズ2で平行光となり偏光ビームスプリツタ3に入る。上
記偏光ビームスプリツタ3から出た前記光ビームは1/4
波長板4を介し対物レンズ5により集光され、スピンド
ルモータ6により回転している光デイスク7上に照射さ
れる。前記光ビームは上記光デイスク7上で反射され、
これまでとは逆方向に対物レンズ5、1/4波長板4を介
し偏光ビームスプリツタ3に入射する。入射した光の大
部分は直角方向に反射されデイテクタ8に到達する。こ
こで前記偏光ビームスプリツタ3の反射率はP偏光反射
率0%、S偏光反射率80〜90%に設定してある。従つて
偏光ビームスプリツタ3に入射した光の10〜20%の光は
前記偏光ビームスプリツタ3を透過する。その結果例え
ば往路効率50%、デイスク反射率50%、前記偏光ビーム
スプリツタ3を除く復路効率90%とすると、前記半導体
レーザ1への帰還量は数%(上記例では2.25〜4.5%)
となりレーザは安定になりノイズは小さくなる。
偏光ビームスプリツタ3における光ビームの道程を第
3図に示す。第3図においてA方向は半導体レーザ側、
B方向は光デイスク側、C方向はデイテクタ側である。
半導体レーザ側Aから入射した光ビームは偏光ビームス
プリツタ3を透過し光デイスク(不図示)で一部反射し
光デイスク側Bから前記偏光ビームスプリツタ3に再び
入射する。そして一部すなわち数%は前記半導体レーザ
側Aに透過し、残りはデイテクタ側Cに反射する。
3図に示す。第3図においてA方向は半導体レーザ側、
B方向は光デイスク側、C方向はデイテクタ側である。
半導体レーザ側Aから入射した光ビームは偏光ビームス
プリツタ3を透過し光デイスク(不図示)で一部反射し
光デイスク側Bから前記偏光ビームスプリツタ3に再び
入射する。そして一部すなわち数%は前記半導体レーザ
側Aに透過し、残りはデイテクタ側Cに反射する。
第4図は本発明の他の実施例である。第4図11は半導
体レーザ、12はコリメートレンズ、13は偏光ビームスプ
リツタ、14は1/4波長板、15は対物レンズ、16はスピン
ドルモータ、17は光デイスク、18はデイテクタを示す。
この実施例の場合、例えば上記偏光ビームスプリツタ13
のS偏光反射率100%とし、P偏光反射率10〜20%とす
れば偏光ビームスプリッタ13に入射する反射光の10〜20
%が光源である半導体レーザ11へ差し向けられることに
なり、前記実施例と同様の作用効果を奏する。
体レーザ、12はコリメートレンズ、13は偏光ビームスプ
リツタ、14は1/4波長板、15は対物レンズ、16はスピン
ドルモータ、17は光デイスク、18はデイテクタを示す。
この実施例の場合、例えば上記偏光ビームスプリツタ13
のS偏光反射率100%とし、P偏光反射率10〜20%とす
れば偏光ビームスプリッタ13に入射する反射光の10〜20
%が光源である半導体レーザ11へ差し向けられることに
なり、前記実施例と同様の作用効果を奏する。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。すなわち偏光ビームスプリツタのS偏光反射率およ
びP偏光反射率の値は光学的効率やデイスク反射率等に
より変化する値であり、要はレーザへの帰還量がレーザ
ノイズの小さくなる量に設定されれば良い。
い。すなわち偏光ビームスプリツタのS偏光反射率およ
びP偏光反射率の値は光学的効率やデイスク反射率等に
より変化する値であり、要はレーザへの帰還量がレーザ
ノイズの小さくなる量に設定されれば良い。
本発明は、偏光ビームスプリッタの反射率を、入射時
の偏光面を有する光束については全て対物レンズ側に差
し向けると共に、反射時の偏光面を有する光束について
は当該偏光ビームスプリッタへの入射光束の10〜20%を
前記光源側に差し向け残りを前記ディテクタ側に差し向
けるように設定したことを特徴としている。したがって
本発明によれば次のような作用効果を奏する。
の偏光面を有する光束については全て対物レンズ側に差
し向けると共に、反射時の偏光面を有する光束について
は当該偏光ビームスプリッタへの入射光束の10〜20%を
前記光源側に差し向け残りを前記ディテクタ側に差し向
けるように設定したことを特徴としている。したがって
本発明によれば次のような作用効果を奏する。
(a)反射時の偏光面を有する光束は、偏光ビームスプ
リッタへ入射する光束のうち10〜20%が光源側に差し向
けられる。その結果、この種の光学系における通常の光
の往路効率,復路効率,ディスク反射率等を加味した光
源への最終的な光の帰還量は数%程度になる。したがっ
てレーザのノイズを十分小さくすることができる。かく
して光ディスクから再生された信号のS/N比を向上でき
ると共に、サーボ系の安定化を図ることができる。
リッタへ入射する光束のうち10〜20%が光源側に差し向
けられる。その結果、この種の光学系における通常の光
の往路効率,復路効率,ディスク反射率等を加味した光
源への最終的な光の帰還量は数%程度になる。したがっ
てレーザのノイズを十分小さくすることができる。かく
して光ディスクから再生された信号のS/N比を向上でき
ると共に、サーボ系の安定化を図ることができる。
(b)ハーフミラー等を一切使用せずに、偏光ビームス
プリッタの反射率を特定するだけで、レーザのノイズを
小さくするという所期の目的を達成することができる。
このためレーザ光源から光ディスクに至る光路での光損
失を少なくでき、レーザ光をディスク面に有効に導くこ
とができる。かくして所定光量を必要とする記録再生用
ピックアップに極めて好適なものとなる。
プリッタの反射率を特定するだけで、レーザのノイズを
小さくするという所期の目的を達成することができる。
このためレーザ光源から光ディスクに至る光路での光損
失を少なくでき、レーザ光をディスク面に有効に導くこ
とができる。かくして所定光量を必要とする記録再生用
ピックアップに極めて好適なものとなる。
第1図は本発明に係るレーザへの帰還量とノイズレベル
との相関関係を示す特性図、第2図は本発明の一実施例
を示す図、第3図は作用を説明するための図、第4図は
本発明の他の実施例を示す図である。 1,11……半導体レーザ、2,12……コリメートレンズ、3,
13……偏光ビームスプリツタ、4,14……1/4波長板、5,1
5……対物レンズ、7,17……光デイスク、8,18……デイ
テクタ。
との相関関係を示す特性図、第2図は本発明の一実施例
を示す図、第3図は作用を説明するための図、第4図は
本発明の他の実施例を示す図である。 1,11……半導体レーザ、2,12……コリメートレンズ、3,
13……偏光ビームスプリツタ、4,14……1/4波長板、5,1
5……対物レンズ、7,17……光デイスク、8,18……デイ
テクタ。
Claims (1)
- 【請求項1】半導体レーザ光源と、この光源からの光を
平行光に近くするレンズと、このレンズを透過した光を
集光して光ディスク上に照射する対物レンズと、前記光
ディスクからの反射光をディテクタ上に導くように光路
変換を行なう偏光ビームスプリッタとを具備し、 前記偏光ビームスプリッタは、入射時の偏光面を有する
光束については全て前記対物レンズ側に差し向けると共
に、反射時の偏光面を有する光束については当該偏光ビ
ームスプリッタへの入射光束の10〜20%を前記光源側に
差し向け残りを前記ディテクタ側に差し向けるように、
反射率を設定されていることを特徴とする光ピックアッ
プ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58083205A JPH087869B2 (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 光ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58083205A JPH087869B2 (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 光ピツクアツプ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59207441A JPS59207441A (ja) | 1984-11-24 |
JPH087869B2 true JPH087869B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=13795821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58083205A Expired - Lifetime JPH087869B2 (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 光ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH087869B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS599086B2 (ja) * | 1980-08-20 | 1984-02-29 | 株式会社日立製作所 | 光学的情報再生装置 |
JPS58125245A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-26 | Hitachi Ltd | 光ピツクアツプ装置 |
-
1983
- 1983-05-12 JP JP58083205A patent/JPH087869B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59207441A (ja) | 1984-11-24 |
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