JPS63288435A - 光情報処理装置 - Google Patents

光情報処理装置

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JPS63288435A
JPS63288435A JP62124954A JP12495487A JPS63288435A JP S63288435 A JPS63288435 A JP S63288435A JP 62124954 A JP62124954 A JP 62124954A JP 12495487 A JP12495487 A JP 12495487A JP S63288435 A JPS63288435 A JP S63288435A
Authority
JP
Japan
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reflection mirror
optical
optical element
light
light beam
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Pending
Application number
JP62124954A
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English (en)
Inventor
Osamu Koyama
理 小山
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、光源から発した光束を光学的記録媒体上に照
射するとともに、この媒体からの光束を光検出器で受光
し、情報の記録又は再生を行う光情報処理装置に関する
〔従来技術〕
上記の如き光情報処理装置としては、デジタル・オーデ
ィオ・ディスク装置(DAD)、光磁気メモリー装置等
、種々のものが知られている。以下に、このような従来
の光情報処理装置を、光磁気メモリー装置を例に説明す
る。
第11図(a)、(b)は従来の光情報処理装置の構成
例を示し、夫々(a)は概略平面図、(b)は概略側面
図である。図中、半導体レーザlより発した光束(紙面
内P偏光)は、コリメータレンズ2で平行光束とされ、
ビーム整形プリズム22.23により、はぼ円形の断面
を有する光束に整形される。そして、偏光ビームスプリ
ッタ24(P偏光振幅透過率tl’+ S偏光振幅反射
率rs、以後P、B、Sと記す)を透過した光束は、反
射ミラー25により光路を折り曲げられ、対物レンズ4
を経て、光磁気ディスク5の所定のトラック上に微小な
スポットとして結像され、記録・再生が行われる。再生
時、トラック上の情報に応じて偏光面の回転を受けた反
射光束は、再び対物レンズ4を通り平行光束とされ、反
射ミラー25.P、B、S、24で反射されて、集光レ
ンズ6により検出器8上に集光される。偏光面の回転は
、所定の角度θAだけ光学軸を傾けられた検光子7によ
り、強度の変化に変換され、増幅器9で増幅されて所望
の情報信号10が得られる。間車のため、振幅1の直線
偏光光束がディ、スフ5に入射するとすれば、ディスク
5からの反射光束は、第12図(a)に示す様に、トラ
ック上の情報に応じて±θにの偏光面の回転を受けてい
る。記録媒体のフレネル振幅反射率をR,カー振幅反射
率をKとすれば、次式が成り立つ。
RI 従来例では、一般に反射ミラー25或いはP、B。
8.24で光磁気信号を含む記録媒体からの反射光束が
反射される際、第12図(b)に示す様にP−8偏光間
に位相差δを生じてしまい、楕円偏光となる。
反射ミラー(例えば、P偏光、S偏光振幅反射率とも1
)及びP、B、S、(P偏光振幅反射率rp+ l t
p l”=1 1rpl’、S偏光反射率ri)で反射
されるとすれば、次式が成り立つ。
但し、Xkは楕円率である。検光子7で検出された光束
■は、 1〜IRl ” l rp l 2sin”θA+R*
 K a rp I rs 5in2θKCO3δ (
4)となる。(4)式の第2項が光磁気変調成分であり
、位相差δにより、変調度が低下することがわかる。
以上説明した例においては、反射ミラー25で光路を折
り曲げることによって、装置の高さを低減し、薄型化が
図れる。
しかしながら、このような反射ミラー25としては従来
、図のような表面反射ミラーが用いられていた為、他の
光学素子(例えばビーム整形プリズムやP、B、S、)
との一体化が困難で、部品点数や調整工程の増加を招き
、コストアップにつながるといった欠点があった。
〔発明の概要〕
本発明の目的は、上記従来例の欠点を解決し、薄型で且
つ安価に作製出来る光情報処理装置を提供することにあ
る。
本発明の上記目的は、光源から発した光束を光学的記録
媒体上に照射するとともに、この媒体からの光束を光検
出器で受光し、情報の記録又は再生を行う光情報処理装
置において、光源から媒体を介して光検出器に至る光路
中に、光路の折り曲げを行う手段を設け、この手段を、
装置を構成する他の光学素子の少なくとも1つと一体に
形成した裏面反射ミラー又は全反射ミラーとすることに
よって達成される。
更に、本発明を光磁気情報再生装置に適用する場合には
、前記裏面反射ミラー又は全反射ミラーに、再生系全体
によって生ずる位相差をほぼπの整数倍とするような位
相調整機能を持たせることにより、光磁気信号の変調度
の低下を防止することが出来る。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図(a)、(b)は、本発明の光情報処理装置の一
実施例を示し、夫々(a)は概略平面図、(b)は概略
側面図である。第1図において、第11図と同一の部材
には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施例は、第11図示の従来例におけるビーム整形プ
リズム22,23、P、B、S、24及び反射ミラー2
5の代わりに、一体型の光学素子3を用いた点に特徴を
有する。第2図(a)、(b)は夫々この光学素子3の
概略平面図及び概略側面図である。図において、L、M
及びDは夫々光源側、媒体側及び光検出器側を示す。こ
こで、光学素子3はビーム整形プリズム部3aSP、B
、S、部3 b + 3 CN反射ミラ一部3dよりな
る。半導体レーザ1より紙面内P偏光で入射した光束は
、3aでほぼ円形断面をもつ光束とされた後、3b、3
cより成るP、B、S、(P偏光振幅透過率tp+例え
ばl tp 12=80%)を透過し、3dでデイスフ
5の方向へ折り曲げられている。再生時には、ディスク
5からの反射光束は、記録された情報で変調されており
、ディスク5への入射光束の偏光方向と垂直の偏光成分
を生じている。そして、再び3dで反射された後、P、
B、S、(P偏光振幅反射率”9+l rp l”=1
− l tp 12+ S偏光振幅反射率rs、例えば
、l rpl”=20% 1rsl””100%)で反
射され、光検出器8の方向へ射出される。
本実施例において、反射ミラ一部3dは、光学素子3の
反射面Aに銅(Cu)から成る増反射膜コートを施した
裏面反射ミラーとなっている。面AのP偏光振幅反射率
をrp’、S偏光振幅反射率をr 、/とすれば、1r
p’ ” l >98%+ l rs’ ” l > 
98%1反射によるP−8偏光間位相差δ1はほぼ18
0°である。P、B、S、(3b、3cの間の面)には
、多層膜コートを施し、I tp l”=80%+ l
 rs l”==1oo%1反射によるP−8偏光間位
相差δ2はほぼ180°のものを用いる。従って、一体
型光学素子3で反射されるディスクからの反射光束のP
−8偏光間の位相は、πの整数倍となるので、前述の(
4)式における光磁気変調成分の変調度は低下しない。
Cuコート裏面反射ミラーは、更に保護膜をコートする
ことにより耐久性、耐候性も満足いくものが得られる。
このように反射ミラ一部、  P、B、S、部とビーム
整形プリズム部を接着することにより、小型化、部品点
数及び調整工程を減らすことができる。
上記実施例において、位相差δ1.δ2は各々をπの整
数倍とする必要はなく、δ1+62がπの整数倍となっ
ていればよい。また、ディスクからの反射光束があらか
じめP−8偏光間に位相差δ。
を有している場合は、δ。+δ1+δ2をπの整数倍と
してやれば良い。
又上記光学素子3の面Aを全反射ミラー(1,′12=
100%+ l rs’ 1” =100%)としても
良い。
P−8偏光間の位相差δ1は次式であられせる。
δ1 = δ、−δs          (7)但し
、iγ=±i  n5in  −1で、nはガラスの屈
折率、θは入射角である。硝材にBK7 (n =]、
、51.λ= 830 n m )を用い、θ=45°
 とした場合、δI〜37° となる。P、B、S、(
3b、3cの間の面)には多層膜コートを施し、1tp
l”=80%。
1rs12=100%2反射によるp−s偏光間位相差
62〜−37°のものを用いる。この場合にも、一体型
光学素子3で反射されるディスク5からの反射光束のp
−s偏光間の位相差をπの整数倍とすれば、(4)式に
おける光磁気変調成分の変調度は低下しない。勿論A面
には特別コートを施す必要もなく、ブランクのままで良
い。また、ディスクからの反射光束があらかじめP−8
偏光間に位相差δ。を有している場合は、δ0+δ1+
δ2をπの整数倍とする様にδ2を選んでやれば良いこ
とは、裏面反射ミラーの場合と同様である。
本実施例の別の特徴としては、記録・再生時に不必要な
光束が入射する面BをG面として、検出器側に迷光が混
入するこ、°とを防止している。これは、3b、3cの
P、B、S、が不完全(r p f=O)であった場合
、或いは、3b、3cにハーフミラ−を用いた場合など
に有効であり、再生信号のS/Nを向上させることがで
きる。また、B面を光検出器側りに向う光束の光軸に対
し、垂直からある程度傾けても同等の効果が得られる。
前述の光学素子3の他の構成例を第3図(a)。
(b)に示す。(a)は概略平面図、(b)は概略側面
図である。ここでは、第2図におけるプリズム部3aと
P、B、S、部の3bとを一体化した単一の部材3f及
びP、B、S、部の30と反射ミラ一部3dとを一体化
した単一の部材3gの2部品から光学素子3が構成され
ている。従って、さらに部品点数及び調整工程を減らす
ことができた。
次に、本発明の光情報処理装置の他の実施例を第4図〜
第9図で説明する。各々の図において、夫々(a)は概
略平面図、(b)は概略側面図を示す。また、第7図(
c)は光学素子12の概略正面図である。更に、これら
の図において、第1図及び第2図と同一の部分には同一
の符号を付し、詳細な説明は省略する。
第4図の実施例は、第1図における光学素子3の代わり
に、第5図に拡大して示す光学素子11を用いたもので
ある。光学素子11は、半導体レーザ1より紙面内P偏
光で入射した光束を、ビーム整形プリズム部を経て、S
偏光方向でP、B、S、部(例えばrs=80%)に入
射させディスク5の方向へ反射させる。そして、ディス
ク5からの反射光束を、P。
B、S、部(例えばtp=100%、ts=20%)を
透過させ、裏面反射ミラー(p、sどちらの偏光方向に
入射させても良い)が構成された面Aで検出器8の方向
に反射させる。p−s偏光間の位相差は、第1図示の実
施例と同様にδ。+δ1+62がπの整数倍となる組み
合せが選ばれている。
第6図の実施例は、第1図における光学素子3の代わり
に、第7図に拡大して示す光学素子12を用いたもので
ある。光学素子12は、半導体レーザ1より紙面内P@
光で入射した光束を、ビーム整形プリズム部を経て、面
Aに設けられた裏面反射ミラーで反射させる。そして、
この光束をP偏光方向でP、B、S、部(例えばtp=
80%)に入射させ、ディスク方向へ透過させる。また
、ディスク5からの反射光束を再びP、B、S、部(例
えばrp=20%。
rs=100%)に入射させ、光検出器8の方向へ反射
させる。P−8偏光間の位相差は、第1図示の実施例と
同様にδ。+δ1+62がπの整数倍となる組み合せが
選ばれている。
第8図の実施例は、第1図における光学素子3の代わり
に、第9図に拡大して示す光学素子13を用いたもので
ある。光学素子13は、全反射ミラーを2回片いており
、光磁気ヘッドの光学素子配置に空間的な制約がある場
合などに有効である。
半導体レーザ1より紙面内P偏光で光学素子13に入射
した光束は、ビーム整形プリズム部を経て、面Aに設け
られた全反射ミラーで反射P、B、S、部(例えばtp
=80%)を透過する。そして、P、B、S、部を透過
した光束は、面A′ の全反射ミラーでディスク方向に
折り曲げられる。ディスクからの反射光束は、再び面A
′ に設けられた全反射ミラーで反射され、P、B、S
、部(例えばrp==20% r、=100%)で検出
器8の方向へ反射される。P−8偏光間の位相差は第1
図示の実施例と同様に、δ。+δ、十δ2がπの整数倍
となる組み合せが選ばれている。
以上の光学素子11,12.13では裏面反射ミラーの
かわりに全反射ミラーを用いても良い。また、すべての
実施例において不必要ならばビーム整形プリズムは省略
して良い。また、すべての実施例において、ビーム整形
はP編光方向を拡大したが、8編光方向を縮小しても良
い。
第10図は、第1図示の基本構成を用い、更に検出部を
改良した本発明の実施例を示す斜視図である。第1O図
において、第°1図と同一の部分には同一の符号を付し
詳細な説明は省略する。
本実施例では半導体レーザ1より射出した光束を、コリ
メータレンズ2で平行光速とし、一体形光学素子3に入
射させる。光学素子3は半導体レーザ1の直線編光方向
をビーム整形プリズム部で拡大し、はぼ円形の断面を有
する光束とした後、P、B、S、部(l tp I’=
so%)を透過させ、裏面反射ミラ一部(l rp’ 
 l”=100%)で光路をディスク5方向に折り曲げ
る。折り曲げられた光束は、対物レンズ4によりディス
ク5の所定のトラック上に微小なスポットとして結像さ
れ、記録・再生が行われる。
再生時、トラック上の情報に応じて線光面の回転を受け
た反射光束は再び対物レンズ4を通り平行光束とされ、
一体形光学素子3に入射する。そして裏面反射ミラ一部
(l rp/  12=100% l r、/  1f
i=100%)で光路を折り曲げられたこの反射光束は
、P、B、S、部(1rp12=20%+  l rs
 1”=io。
%)で反射されて、みかけ上のカー回転角が増大される
。尚、光学素子3の各反射面で生ずるp−s縮充間の位
相差はトータルすると、ディスクの磁性膜面での反射の
際に生ずる位相と合わせて、はぼπの整数倍となるよう
なものが選ばれている。
これにより光磁気信号の変調度が低下することなく、S
/Nの良い信号が得られる。P、B、S、部で反射され
た光束は集光レンズ6を経て、P、B、S、14(l 
tp l”=too%*  l ts l”=so%)
により透過側の光磁気宿号検出系と反射側のサーボ信号
検出系に分割される。上記の様な線光特性を有するP、
B。
8.14を用いることにより、更にみかけ上のカー回転
角が増大し、S/Nの良好な光磁気信号が得られる。光
磁気信号成分を含まない反射側光束はサーボ用ディテク
タ16で検知され周知の方法により、フォーカスサーボ
信号、トラッキングサーボ信号等の信号19が得られる
。一方透過側の光束はP、B。
S、15 (l tp l””100%+  l rs
 l”= 100%)の光学軸を45°傾けたもので2
分され、夫々光検出器17a、17bで受光される。こ
れらの出力信号は差動増幅器20で差動増幅され、光磁
気信号21を得る。
この様な構成をとることにより、第1図における検光子
7が省略出来、しかも光束を有効に使えるので良好なS
/Nが得られる。
本発明は、以上説明した実施例に限らず、種々の応用が
可能である。例えば本発明は光磁気ディスク装置のよう
な記録再生機の他にも、記録専用機或いはDADのよう
な再生専用機にも適用出来る。
本発明は特許請求の範囲を逸脱しない限りにおいて、こ
のような応用を全て包含するものである。
〔発明の効果〕
本発明は従来の光情報処理装置において、光路中に、他
の光学素子と一体に形成された裏面反射ミラー又は全反
射ミラーを設けて光路を折り曲げるようにしたので、部
品点数や調整工程を増加させることな(、安価で薄型の
装置が実現出来る。また、光磁気情報再生装置に適用す
る際に、上記ミラーで生ずるp−s線光間の位相差を調
整し、再生系全体で位相差がほぼπの整数倍とすること
によって、光磁気信号の変調度の低下を防ぎ、S/Nの
良い再生を行うことが可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は夫々本発明の光情報処理装置の
一実施例を示す概略図、第2図(a)、(b)は夫々第
1図示の実施例で用いる光学素子を示す概略図、第3図
(a)、(b)は夫々第2図示の光学素子の変形例を示
す概略図、第4図乃至第10図は夫々本発明の他の実施
例を示す概略図、第11図(a)。 (b)は夫々従来の光情報処理装置の構成例を示す概略
図、第12図(a)、(b)は夫々第11図示の装置で
得られる光磁気信号の様子を示す図である。 1・・・半導体レーザ、2・・・コリメータレンズ、3
・・・光学素子、4・・・対物レンズ、5・・・光磁気
ディスク、6・・・集光レンズ、7・・・検光子、8・
・・光検出器、9・・・増幅器、10・・・光磁気信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源から発した光束を光学的記録媒体上に照射す
    るとともに、この媒体からの光束を光検出器で受光し、
    情報の記録又は再生を行う光情報処理装置において、前
    記光源から媒体を介して光検出器に至る光路中に、光路
    の折り曲げを行う手段を有し、この手段が装置を構成す
    る他の光学素子の少なくとも1つと一体に設けられた裏
    面反射ミラー又は全反射ミラーから成ることを特徴とす
    る光情報処理装置。
JP62124954A 1987-05-20 1987-05-20 光情報処理装置 Pending JPS63288435A (ja)

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JP62124954A JPS63288435A (ja) 1987-05-20 1987-05-20 光情報処理装置

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JP62124954A JPS63288435A (ja) 1987-05-20 1987-05-20 光情報処理装置

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JP (1) JPS63288435A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02192043A (ja) * 1989-01-19 1990-07-27 Fujitsu Ltd 光学式情報処理装置
KR100438290B1 (ko) * 2001-09-13 2004-07-02 엘지전자 주식회사 광픽업 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02192043A (ja) * 1989-01-19 1990-07-27 Fujitsu Ltd 光学式情報処理装置
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