JPH0519853Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0519853Y2 JPH0519853Y2 JP3946286U JP3946286U JPH0519853Y2 JP H0519853 Y2 JPH0519853 Y2 JP H0519853Y2 JP 3946286 U JP3946286 U JP 3946286U JP 3946286 U JP3946286 U JP 3946286U JP H0519853 Y2 JPH0519853 Y2 JP H0519853Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording medium
- light source
- optical
- pickup device
- astigmatism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光デイスク、デイジタルオーデイオ
デイスク、ビデオデイスクなどに好適な光ピツク
アツプ装置に関する。
デイスク、ビデオデイスクなどに好適な光ピツク
アツプ装置に関する。
（従来の技術）
従来の光デイスクに用いられている小型光ピツ
クアツプの一例を第２図に示す。半導体レーザ１
からの出射光は、回析格子２を通つた後に平行平
板３のハーフミラー面４で反射されてコリメート
レンズ５、集光レンズ６を通過して記録媒体７上
に微小スポツトとして集光される。記録媒体７か
らの反射光は集光レンズ６、コリメートレンズ５
を介し、平行平板３で通過して光検出器８上に集
光される。この構成においては記録媒体７からの
反射光は斜めに平行平板３で通過するので光検出
器８上で非点収差を生じる。この収差により非点
収差法によるフオーカスエラー信号を得ることが
できる。トラツクエラー信号はグレーテイングに
より分離した回析光を受光する３ビーム法で得る
ことができる。このようにハーフミラーを非点収
差の形成にも用いることでシリンドリカルレンズ
を省略することができ部品点数が低減でき、小型
化につながる。
クアツプの一例を第２図に示す。半導体レーザ１
からの出射光は、回析格子２を通つた後に平行平
板３のハーフミラー面４で反射されてコリメート
レンズ５、集光レンズ６を通過して記録媒体７上
に微小スポツトとして集光される。記録媒体７か
らの反射光は集光レンズ６、コリメートレンズ５
を介し、平行平板３で通過して光検出器８上に集
光される。この構成においては記録媒体７からの
反射光は斜めに平行平板３で通過するので光検出
器８上で非点収差を生じる。この収差により非点
収差法によるフオーカスエラー信号を得ることが
できる。トラツクエラー信号はグレーテイングに
より分離した回析光を受光する３ビーム法で得る
ことができる。このようにハーフミラーを非点収
差の形成にも用いることでシリンドリカルレンズ
を省略することができ部品点数が低減でき、小型
化につながる。
（考案が解決しようとする問題点）
第２図のような光ピツクアツプ装置での重要な
問題の一つの半導体レーザへの戻り光による雑音
レベルの増加がある。屈折率導波型で縦単一モー
ドのレーザでは戻り光量により大きな雑音増加が
生じる。戻り光による雑音増加を抑制するため
に、利得導波型に近い構造を持つ縦マルチモード
の半導体レーザが開発されている。しかし、この
レーザは発光出力の非点収差が30μｍ以上と大き
い欠点を有する。したがつて、光ピツクアツプ装
置の光源として用いて回析限界に近い集光ビーム
スポツトを得るためには、シリンドリカルレンズ
等を用いて補正を行なう必要があり、光学系が複
雑になつてしまう。本考案の目的は、部品点数が
従来より増えることなく、非点収差を有する半導
体レーザの利用が可能な光ピツクアツプ装置を提
供することにある。
問題の一つの半導体レーザへの戻り光による雑音
レベルの増加がある。屈折率導波型で縦単一モー
ドのレーザでは戻り光量により大きな雑音増加が
生じる。戻り光による雑音増加を抑制するため
に、利得導波型に近い構造を持つ縦マルチモード
の半導体レーザが開発されている。しかし、この
レーザは発光出力の非点収差が30μｍ以上と大き
い欠点を有する。したがつて、光ピツクアツプ装
置の光源として用いて回析限界に近い集光ビーム
スポツトを得るためには、シリンドリカルレンズ
等を用いて補正を行なう必要があり、光学系が複
雑になつてしまう。本考案の目的は、部品点数が
従来より増えることなく、非点収差を有する半導
体レーザの利用が可能な光ピツクアツプ装置を提
供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本考案の光ピツクアツプ装置は、レーザ光源か
らの出射光をコリメートレンズ及び集光レンズを
介して記録媒体上に絞り込む光学系が備えてある
光ピツクアツプ装置であつて、前記レーザ光源と
前記コリメートレンズとの間に前記レーザ光源側
にハーフミラー用コーデイングを施した平行平板
が光軸に対して斜めに設置してあり、前記平行平
板で分離された前記記録媒体からの反射光を検出
する光検出器が設けてあることを特徴とする。
らの出射光をコリメートレンズ及び集光レンズを
介して記録媒体上に絞り込む光学系が備えてある
光ピツクアツプ装置であつて、前記レーザ光源と
前記コリメートレンズとの間に前記レーザ光源側
にハーフミラー用コーデイングを施した平行平板
が光軸に対して斜めに設置してあり、前記平行平
板で分離された前記記録媒体からの反射光を検出
する光検出器が設けてあることを特徴とする。
（作用）
本考案においては、半導体レーザの非点収差を
反射光を分離するための平行平板を用いて補正す
る。またこの平行平板はフオーカスエラー検出用
の非点収差を発生させるためにも用いられてい
る。また、半導体レーザの非点収差が30〜50μｍ
程度であるのに対してフアーカスエラー検出では
80μｍ程度以上の大きな非点収差があることが望
ましい。平行平板によつて発生する収差はほぼ板
厚に比例する。そこで、本考案においては、レー
ザ出射光に対しては平行平板を１回透過させ、記
録媒体からの反射光に対しては裏面反射により平
行平板を２回透過することで異なる非点収差を発
生させる。
反射光を分離するための平行平板を用いて補正す
る。またこの平行平板はフオーカスエラー検出用
の非点収差を発生させるためにも用いられてい
る。また、半導体レーザの非点収差が30〜50μｍ
程度であるのに対してフアーカスエラー検出では
80μｍ程度以上の大きな非点収差があることが望
ましい。平行平板によつて発生する収差はほぼ板
厚に比例する。そこで、本考案においては、レー
ザ出射光に対しては平行平板を１回透過させ、記
録媒体からの反射光に対しては裏面反射により平
行平板を２回透過することで異なる非点収差を発
生させる。
（実施例）
第１図に本考案の一実施例を示す。半導体レー
ザの出射光は、回析格子２、平行平板３、コリメ
ートレンズ５、集光レンズ６を透過して記録媒体
７上に集光される。このとき平行平板３を斜めに
透過して非点収差が補正される。記録媒体７から
の反射光は平行平板３のハーフミラーコーテイン
グ面４で反射して光検出器８に入射する。本実施
例では、記録媒体７の反射光は平行平板３を斜め
に２回透過するので大きな非点収差を得ることが
できる。本考案の光学系はコリメートレンズと集
光レンズが一体のものでも、光検出器の前に凹レ
ンズを用いたものでもよい。またトラツクエラー
検出は回析格子を用いずにヘテロダイン検出法で
もよい。
ザの出射光は、回析格子２、平行平板３、コリメ
ートレンズ５、集光レンズ６を透過して記録媒体
７上に集光される。このとき平行平板３を斜めに
透過して非点収差が補正される。記録媒体７から
の反射光は平行平板３のハーフミラーコーテイン
グ面４で反射して光検出器８に入射する。本実施
例では、記録媒体７の反射光は平行平板３を斜め
に２回透過するので大きな非点収差を得ることが
できる。本考案の光学系はコリメートレンズと集
光レンズが一体のものでも、光検出器の前に凹レ
ンズを用いたものでもよい。またトラツクエラー
検出は回析格子を用いずにヘテロダイン検出法で
もよい。
（考案の効果）
本考案により、部品数を増やすことなく非点収
差を有する半導体レーザを光源に用いることがで
き、しかも雑音の低減が可能な光ピツクアツプ装
置が得られる。
差を有する半導体レーザを光源に用いることがで
き、しかも雑音の低減が可能な光ピツクアツプ装
置が得られる。
第１図は本考案の一実施例を示す模式的な側面
図、第２図は従来の光ピツクアツプ装置を示す模
式的な側面図である。 １……半導体レーザ、２……回析格子、３……
平行平板、４……ハーフミラーコーテイング面、
５……コリメートレンズ、６……集光レンズ、７
……記録媒体、８……光検出器。
図、第２図は従来の光ピツクアツプ装置を示す模
式的な側面図である。 １……半導体レーザ、２……回析格子、３……
平行平板、４……ハーフミラーコーテイング面、
５……コリメートレンズ、６……集光レンズ、７
……記録媒体、８……光検出器。
Claims (1)
- レーザ光源からの出射光をコリメートレンズ及
び集光レンズを介して記録媒体上に絞り込む光学
系が備えてある光ピツクアツプ装置において、前
記レーザ光源と前記コリメートレンズとの間に前
記レーザ光源側にハーフミラー用コーデイングを
施した平行平板が光軸に対して斜めに設置してあ
り、前記平行平板で分離された前記記録媒体から
の反射光を検出する光検出器が設けてあることを
特徴とする光ピツクアツプ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3946286U JPH0519853Y2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3946286U JPH0519853Y2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62153621U JPS62153621U (ja) | 1987-09-29 |
| JPH0519853Y2 true JPH0519853Y2 (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=30852649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3946286U Expired - Lifetime JPH0519853Y2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0519853Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-03-18 JP JP3946286U patent/JPH0519853Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62153621U (ja) | 1987-09-29 |
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