JPH083911B2 - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH083911B2 JPH083911B2 JP1025982A JP2598289A JPH083911B2 JP H083911 B2 JPH083911 B2 JP H083911B2 JP 1025982 A JP1025982 A JP 1025982A JP 2598289 A JP2598289 A JP 2598289A JP H083911 B2 JPH083911 B2 JP H083911B2
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- JP
- Japan
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- light
- spot
- recording medium
- head device
- optical head
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- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光を利用して情報の記録再生を行う情報入
出力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。
出力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。
光ディスク装置における記録密度，記録容量は、記録
媒体上に形成する光ヘッド装置からの光スポット径によ
って支配される。
媒体上に形成する光ヘッド装置からの光スポット径によ
って支配される。
近年、光ヘッド装置において、第３図（ａ）に示すよ
うにレーザ光源からの出射光を記録媒体面に集光するレ
ンズとレーザ光源との間に、コリメートビーム21の断面
内で中心付近の光強度を減少させる遮光帯３を設けるこ
とにより、第３図（ｂ）に示した超解像スポット22を発
生させ、従来の通常スポット23を縮小する方式が本発明
者により提案されている。
うにレーザ光源からの出射光を記録媒体面に集光するレ
ンズとレーザ光源との間に、コリメートビーム21の断面
内で中心付近の光強度を減少させる遮光帯３を設けるこ
とにより、第３図（ｂ）に示した超解像スポット22を発
生させ、従来の通常スポット23を縮小する方式が本発明
者により提案されている。
第４図はこの効果を示す実測例である。測定条件は光
源波長が0.83μｍ、コリメートビーム径が5mm、集光レ
ンズの開口数が0.55である。遮光帯幅の増加にともな
い、メインローブ径が減少する一方でサイドローブの高
さが増加する。
源波長が0.83μｍ、コリメートビーム径が5mm、集光レ
ンズの開口数が0.55である。遮光帯幅の増加にともな
い、メインローブ径が減少する一方でサイドローブの高
さが増加する。
サイドローブの高さを記録媒体のしきい値以下とする
ことで、従来よりも密度の高い記録ピットを形成するこ
とが可能である。
ことで、従来よりも密度の高い記録ピットを形成するこ
とが可能である。
超解像スポットにより高い記録密度を記録媒体上で実
現することができるが、再生時にはサイドローブが問題
となる。
現することができるが、再生時にはサイドローブが問題
となる。
従来の光ヘッド装置では記録媒体からの反射光量を検
出しているため、メインローブだけでなくサイドローブ
での反射光をそのまま受光してしまい、再生信号の劣化
が生じる。
出しているため、メインローブだけでなくサイドローブ
での反射光をそのまま受光してしまい、再生信号の劣化
が生じる。
本発明の目的は、このような再生信号の劣化の生じる
ことの少ない信号検出系を有する光ヘッド装置を得るこ
とにある。
ことの少ない信号検出系を有する光ヘッド装置を得るこ
とにある。
本発明は、光源からの出射光ビーム断面内で、中心付
近の光強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面
に光を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出
射光を微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘ
ッド装置において、 記録媒体面からの反射光を集光して再度スポットを形
成する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロ
ーブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを
特徴とする。
近の光強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面
に光を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出
射光を微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘ
ッド装置において、 記録媒体面からの反射光を集光して再度スポットを形
成する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロ
ーブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを
特徴とする。
第３図に示すような超解像スポットを用いれば、従来
より細いビーム径が得られ、記録ピットの密度が上が
る。
より細いビーム径が得られ、記録ピットの密度が上が
る。
しかし、再生動作においては、サイドローブからの反
射光も同時に検出してしまうため、メインローブのみか
らの良好な再生波形を得ることができない。
射光も同時に検出してしまうため、メインローブのみか
らの良好な再生波形を得ることができない。
そこで本発明においては、記録媒体からの反射光を集
光し再度超解像スポットを形成する。そして、そのメイ
ンローブ成分を独立に受光した検出信号ａと、サイドロ
ーブ成分を独立に受光した検出信号ｂを得る。この再集
光したスポットのメインローブ成分には、記録媒体上の
メインローブからの反射光が主に含まれている。従っ
て、検出信号ａよりサイドローブからの回り込みの少な
い再生信号を得ることができる。
光し再度超解像スポットを形成する。そして、そのメイ
ンローブ成分を独立に受光した検出信号ａと、サイドロ
ーブ成分を独立に受光した検出信号ｂを得る。この再集
光したスポットのメインローブ成分には、記録媒体上の
メインローブからの反射光が主に含まれている。従っ
て、検出信号ａよりサイドローブからの回り込みの少な
い再生信号を得ることができる。
また、反射光は、集光レンズで開口制限を受けるた
め、上記のように再集光スポットにおけるメインローブ
成分を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制す
ることはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要
な場合には、上記のサイドローブからの検出信号ｂを使
用する。この受光成分には、記録媒体上のサイドローブ
からの成分が主に含まれている。従って、検出信号ｂを
最適に減衰し検出信号ａより差し引くことで更に劣化の
少ない信号成分を得ることができる。
め、上記のように再集光スポットにおけるメインローブ
成分を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制す
ることはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要
な場合には、上記のサイドローブからの検出信号ｂを使
用する。この受光成分には、記録媒体上のサイドローブ
からの成分が主に含まれている。従って、検出信号ｂを
最適に減衰し検出信号ａより差し引くことで更に劣化の
少ない信号成分を得ることができる。
第１図に本発明の実施例を示す。
この光ヘッド装置は、光源としての半導体レーザ１
と、半導体レーザ１からの出射光を平行光とするコリメ
ートレンズ２と、レーザ光源からの出射光ビーム断面内
で、中心付近の光強度を減衰させる手段である遮光帯３
と、２つのビームスプリッタ４−1,4−２と、記録媒体
６の面に光を集光する集光レンズ５と、収束レンズ７
と、分割型光検出器８と、エラー検出光学系９とを有し
ている。
と、半導体レーザ１からの出射光を平行光とするコリメ
ートレンズ２と、レーザ光源からの出射光ビーム断面内
で、中心付近の光強度を減衰させる手段である遮光帯３
と、２つのビームスプリッタ４−1,4−２と、記録媒体
６の面に光を集光する集光レンズ５と、収束レンズ７
と、分割型光検出器８と、エラー検出光学系９とを有し
ている。
第２図は、分割型光検出器８上での光スポットの分布
を示す図である。分割型光検出器８は、メインローブ成
分を検出する光検出部14とサイドローブ成分を検出する
２つの光検出部15,16とを有し、光検出部14は差動増幅
器13の＋入力端子に接続され、光検出部15,16は減衰器1
2の入力端子に接続され、減衰器12の出力端子は差動増
幅器13の−入力端子に接続されている。
を示す図である。分割型光検出器８は、メインローブ成
分を検出する光検出部14とサイドローブ成分を検出する
２つの光検出部15,16とを有し、光検出部14は差動増幅
器13の＋入力端子に接続され、光検出部15,16は減衰器1
2の入力端子に接続され、減衰器12の出力端子は差動増
幅器13の−入力端子に接続されている。
ビームスプリッタ４−２と収束レンズ７とは、記録媒
体面からの反射光を集光して再度スポットを形成する光
学系を構成し、分割型光検出器８は、反射光のメインロ
ーブ成分と、サイドローブ成分とを独立に検出する光検
出器を構成している。
体面からの反射光を集光して再度スポットを形成する光
学系を構成し、分割型光検出器８は、反射光のメインロ
ーブ成分と、サイドローブ成分とを独立に検出する光検
出器を構成している。
次に、本実施例の動作を説明する。
半導体レーザ１からの出射光をコリメートレンズ２で
平行光とし、遮光帯３で中心強度を減衰したのち、ビー
ムスプリッタ４−1,4−２を介して、集光レンズ５によ
り記録媒体６上に超解像スポットを形成する。
平行光とし、遮光帯３で中心強度を減衰したのち、ビー
ムスプリッタ４−1,4−２を介して、集光レンズ５によ
り記録媒体６上に超解像スポットを形成する。
このスポットからの反射光は２つのビームスプリッタ
４−1,4−２で分けられ、一方は収束レンズ７で分割型
光検出器８上にスポットを形成する。他方はエラー検出
光学系９に導かれ、フォーカスエラー及びトラックエラ
ーを検出する。
４−1,4−２で分けられ、一方は収束レンズ７で分割型
光検出器８上にスポットを形成する。他方はエラー検出
光学系９に導かれ、フォーカスエラー及びトラックエラ
ーを検出する。
第２図の分割型光検出器８上での光スポットの分布に
示すように、メインスポット10と２つのサイドスポット
11が、独立の検出部上に形成される。すなわち、メイン
スポット10は、メインローブ成分検出部14上に形成さ
れ、２つのサイドスポット11はそれぞれサイドローブ成
分検出部15,16上に形成される。
示すように、メインスポット10と２つのサイドスポット
11が、独立の検出部上に形成される。すなわち、メイン
スポット10は、メインローブ成分検出部14上に形成さ
れ、２つのサイドスポット11はそれぞれサイドローブ成
分検出部15,16上に形成される。
これら光検出部からは、メインローブ成分を独立に受
光した検出信号ａと、サイドローブ成分を独立に受光し
た検出信号ｂが得られる。この再集光したスポットのメ
インローブ成分には、記録媒体上のメインローブからの
反射光が主に含まれている。従って、検出信号ａよりサ
イドローブからの回り込みの少ない再生信号を得ること
ができる。
光した検出信号ａと、サイドローブ成分を独立に受光し
た検出信号ｂが得られる。この再集光したスポットのメ
インローブ成分には、記録媒体上のメインローブからの
反射光が主に含まれている。従って、検出信号ａよりサ
イドローブからの回り込みの少ない再生信号を得ること
ができる。
また、反射光は、集光レンズで開口制限を受けるた
め、上記のように再集光スポットにおけるメインローブ
成分を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制す
ることはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要
な場合には、サイドローブからの検出信号ｂを使用す
る。この場合、第２図に示すように、サイドスポットの
検出信号ｂは減衰器12を介し、差動増幅器13でメインス
ポットからの検出信号ａから差し引かれる。検出信号ｂ
には、記録媒体面上のサイドローブからの成分が主に含
まれているので、更に劣化の少ない信号成分を得ること
ができる。
め、上記のように再集光スポットにおけるメインローブ
成分を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制す
ることはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要
な場合には、サイドローブからの検出信号ｂを使用す
る。この場合、第２図に示すように、サイドスポットの
検出信号ｂは減衰器12を介し、差動増幅器13でメインス
ポットからの検出信号ａから差し引かれる。検出信号ｂ
には、記録媒体面上のサイドローブからの成分が主に含
まれているので、更に劣化の少ない信号成分を得ること
ができる。
なお、減衰器としては、検出器上に光学的なフィルタ
ーとして設けてもよい。
ーとして設けてもよい。
本発明により、超解像スポットを有効に活用し、記録
密度の高い光ディスク装置を得ることができる。
密度の高い光ディスク装置を得ることができる。
第１図は本発明の実施例を示す図、 第２図は検出器上でのスポット分布を示す図、 第３図は超解像スポット発生の原理を示す図、 第４図は超解像の効果を示す図である。 １……半導体レーザ ２……コリメートレンズ ３……遮光帯 ４……ビームスプリッタ ５……集光レンズ ６……記録媒体 ７……収束レンズ ８……分割型光検出器 ９……エラー検出光学系 10……メインスポット 11……サイドスポット 12……減衰器 13……差動増幅器 14,15,16……光検出部 21……コリメートビーム 22……超解像スポット 23……通常スポット
Claims (1)
- 【請求項１】光源からの出射光ビーム断面内で、中心付
近の光強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面
に光を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出
射光を微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘ
ッド装置において、 記録媒体面からの反射光を集光して再度スポットを形成
する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロー
ブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを特
徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025982A JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025982A JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206036A JPH02206036A (ja) | 1990-08-15 |
| JPH083911B2 true JPH083911B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=12180927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1025982A Expired - Fee Related JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH083911B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5615050A (en) * | 1993-09-02 | 1997-03-25 | International Business Machines Corporation | Optical system with reduced focus spot size |
| JP2655066B2 (ja) * | 1993-12-28 | 1997-09-17 | 日本電気株式会社 | 超解像光ヘッド装置 |
| EP0713216B1 (en) | 1994-11-15 | 2001-10-17 | Nec Corporation | Optical head device utilizing super-resolution technique |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP1025982A patent/JPH083911B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02206036A (ja) | 1990-08-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |