JPH02206036A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH02206036A JPH02206036A JP1025982A JP2598289A JPH02206036A JP H02206036 A JPH02206036 A JP H02206036A JP 1025982 A JP1025982 A JP 1025982A JP 2598289 A JP2598289 A JP 2598289A JP H02206036 A JPH02206036 A JP H02206036A
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- Japan
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- spot
- light
- recording medium
- main lobe
- signal
- Prior art date
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000306 recurrent effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光を利用して情報の記録再生を行う情報入出
力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。
力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。
光デイスク装置における記録密度、記録容量は、記録媒
体上に形成する光ヘッド装置からの光スポツト径によっ
て支配される。
体上に形成する光ヘッド装置からの光スポツト径によっ
て支配される。
近年、光ヘッド装置において、第３図（ａ）に示すよう
にレーザ光源からの出射光を記録媒体面に集光するレン
ズとレーザ光源との間に、コリメートビーム２１の断面
内で中心付近の光強度を減少させる遮光帯３を設けるこ
とにより、第３図（ｂ）に示した超解像スポット２２を
発生させ、従来の通常スポット２３を縮小する方式が本
発明者により提案されている。
にレーザ光源からの出射光を記録媒体面に集光するレン
ズとレーザ光源との間に、コリメートビーム２１の断面
内で中心付近の光強度を減少させる遮光帯３を設けるこ
とにより、第３図（ｂ）に示した超解像スポット２２を
発生させ、従来の通常スポット２３を縮小する方式が本
発明者により提案されている。
第４図はこの効果を示す実測例である。測定条件は光源
波長が０．８３μｍ、コリメートビーム径が５ｍｍ、集
光レンズの開口数が０．５５である。遮光帯幅の増加に
ともない、メインローブ径が減少する一方でサイドロー
ブの高さが増加する。
波長が０．８３μｍ、コリメートビーム径が５ｍｍ、集
光レンズの開口数が０．５５である。遮光帯幅の増加に
ともない、メインローブ径が減少する一方でサイドロー
ブの高さが増加する。
サイドローブの高さを記録媒体のしきい値以下とするこ
とで、従来よりも密度の高い記録ビットを形成すること
が可能である。
とで、従来よりも密度の高い記録ビットを形成すること
が可能である。
超解像スポットにより高い記録密度を記録媒体上で実現
することができるが、再往時にはサイドローブが問題と
なる。
することができるが、再往時にはサイドローブが問題と
なる。
従来の光ヘッド装置では記録媒体からの反射光量を検出
しているため、メインローブだけでなくサイドローブで
の反射光をそのまま受光してしまい、再生信号の劣化が
生じる。
しているため、メインローブだけでなくサイドローブで
の反射光をそのまま受光してしまい、再生信号の劣化が
生じる。
本発明の目的は、このような再往信号の劣化の生じるこ
との少ない信号検出系を有する光ヘッド装置を得ること
にある。
との少ない信号検出系を有する光ヘッド装置を得ること
にある。
本発明は、光源からの出射光ビーム断面内で、中心付近
の光強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面に
光を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射
光を微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘッ
ド装置において、記録媒体面からの反射光を集光して再
度スポットを形成する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロー
ブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを特
徴とする。
の光強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面に
光を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射
光を微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘッ
ド装置において、記録媒体面からの反射光を集光して再
度スポットを形成する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロー
ブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを特
徴とする。
第３図に示すような超解像スポットを用いれば、従来よ
り細いビーム径が得られ、記録ピントの密度が上がる。
り細いビーム径が得られ、記録ピントの密度が上がる。
しかし、再生動作においては、サイドローブからの反射
光も同時に検出してしまうため、メインローブのみから
の良好な再往波形を得ることができない。
光も同時に検出してしまうため、メインローブのみから
の良好な再往波形を得ることができない。
そこで本発明においては、記録媒体からの反射光を集光
し再度超解像スポットを形成する。そして、そのメイン
ローブ成分を独立に受光した検出信号ａと、サイドロー
ブ成分を独立に受光した検出信号すを得る。この再集光
したスポットのメインローブ成分には、記録媒体上のメ
インローブがらの反射光が主に含まれている。従って、
検出信号ａよりサイドローブからの回り込みの少ない再
生信号を得ることができる。
し再度超解像スポットを形成する。そして、そのメイン
ローブ成分を独立に受光した検出信号ａと、サイドロー
ブ成分を独立に受光した検出信号すを得る。この再集光
したスポットのメインローブ成分には、記録媒体上のメ
インローブがらの反射光が主に含まれている。従って、
検出信号ａよりサイドローブからの回り込みの少ない再
生信号を得ることができる。
また、反射光は、集光レンズで開口制限を受けるため、
上記のように再集光スポットにおけるメインローブ成分
を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制するこ
とはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要な場
合には、上記のサイドローブからの検出信号すを使用す
る。この受光成分には、記録媒体面上のサイドローブか
らの成分が主に含まれている。従って、検出信号すを最
適に減衰し検出信号ａより差し引くことで更に劣化の少
ない信号成分を得ることができる。
上記のように再集光スポットにおけるメインローブ成分
を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制するこ
とはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要な場
合には、上記のサイドローブからの検出信号すを使用す
る。この受光成分には、記録媒体面上のサイドローブか
らの成分が主に含まれている。従って、検出信号すを最
適に減衰し検出信号ａより差し引くことで更に劣化の少
ない信号成分を得ることができる。
第１図に本発明の実施例を示す。
この光ヘッド装置は、光源としての半導体レーザ１と、
半導体レーザ１からの出射光を平行光とするコリメート
レンズ２と、レーザ光源からの出射光ビーム断面内で、
中心付近の光強度を減衰させる手段である遮光帯３と、
２つのビームスプリッタ４−１．４−２と、記録媒体６
の面に光を集光する集光レンズ５と、収束レンズ７と、
分割型光検出器８と、エラー検出光学系９とを有してい
る。
半導体レーザ１からの出射光を平行光とするコリメート
レンズ２と、レーザ光源からの出射光ビーム断面内で、
中心付近の光強度を減衰させる手段である遮光帯３と、
２つのビームスプリッタ４−１．４−２と、記録媒体６
の面に光を集光する集光レンズ５と、収束レンズ７と、
分割型光検出器８と、エラー検出光学系９とを有してい
る。
第２図は、分割型光検出器８上での光スポットの分布を
示す図である。分割型光検出器８は、メインローブ成分
を検出する光検出部１４とサイドローブ成分を検出する
２つの光検出部１５．１６とを有し、光検出部１４は差
動増幅器１３の十入力端子に接続され、光検出部１５．
１６は減衰器１２の入力端子に接続され、減衰器１２の
出力端子は差動増幅器１３の入力端子に接続されている
。
示す図である。分割型光検出器８は、メインローブ成分
を検出する光検出部１４とサイドローブ成分を検出する
２つの光検出部１５．１６とを有し、光検出部１４は差
動増幅器１３の十入力端子に接続され、光検出部１５．
１６は減衰器１２の入力端子に接続され、減衰器１２の
出力端子は差動増幅器１３の入力端子に接続されている
。
ビームスプリンタ４−２と収束レンズ７とは、記録媒体
面からの反射光を集光して再度スポットを形成する光学
系を構成し、分割型光検出器８は、反射光のメインロー
ブ成分と、サイドローブ成分とを独立に検出する光検出
器を構成している。
面からの反射光を集光して再度スポットを形成する光学
系を構成し、分割型光検出器８は、反射光のメインロー
ブ成分と、サイドローブ成分とを独立に検出する光検出
器を構成している。
次に、本実施例の動作を説明する。
半導体レーザ１からの出射光をコリメートレンズ２で平
行光とし、遮光帯３で中心強度を減衰したのち、ビーム
スプリッタ４−１．４−２を介して、集光レンズ５によ
り記録媒体６上に超解像スポットを形成する。
行光とし、遮光帯３で中心強度を減衰したのち、ビーム
スプリッタ４−１．４−２を介して、集光レンズ５によ
り記録媒体６上に超解像スポットを形成する。
このスポットからの反射光は２つのビームスプリッタ４
−１．４−２で分けられ、一方は収束しンズ７で分割型
光検出器８上にスポットを形成する。他方はエラー検出
光学系９に導かれ、フォーカスエラー及びトラックエラ
ーを検出する。
−１．４−２で分けられ、一方は収束しンズ７で分割型
光検出器８上にスポットを形成する。他方はエラー検出
光学系９に導かれ、フォーカスエラー及びトラックエラ
ーを検出する。
第２図の分割型光検出器８上での光スポットの分布に示
すように、メインスポット１０と２つのサイドスポット
１１が、独立の検出部上に形成される。
すように、メインスポット１０と２つのサイドスポット
１１が、独立の検出部上に形成される。
すなわち、メインスポット１０はメインローブ成分検出
部１４上に形成され、２つのサイドスポット１１はそれ
ぞれサイドローブ成分検出部１５．１６上に形成される
。
部１４上に形成され、２つのサイドスポット１１はそれ
ぞれサイドローブ成分検出部１５．１６上に形成される
。
これら光検出部からは、メインローブ成分を独立に受光
した検出信号ａと、サイドローブ成分を独立に受光した
検出信号すが得られる。この再集光したスポットのメイ
ンローブ成分には、記録媒体上のメインローブからの反
射光が主に含まれている。従って、検出信号ａよりサイ
ドローブからの回り込みの少ない再生信号を得ることが
できる。
した検出信号ａと、サイドローブ成分を独立に受光した
検出信号すが得られる。この再集光したスポットのメイ
ンローブ成分には、記録媒体上のメインローブからの反
射光が主に含まれている。従って、検出信号ａよりサイ
ドローブからの回り込みの少ない再生信号を得ることが
できる。
また、反射光は、集光レンズで開口制限を受けるため、
上記のように再集光スポットにおけるメインローブ成分
を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制するこ
とはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要な場
合には、サイドローブからの検出信号すを使用する。こ
の場合、第２図に示すように、サイドスポットの検出信
号すは減衰器１２を介し、差動増幅器１３でメインスポ
ットからの検出信号ａから差し引かれる。検出信号すに
は、記録媒体面上のサイドローブからの成分が主に含ま
れているので、更に劣化の少ない信号成分を得ることが
できる。
上記のように再集光スポットにおけるメインローブ成分
を受光するだけでは再生信号の劣化を完全に抑制するこ
とはできない。そこで更に高い劣化の抑制比が必要な場
合には、サイドローブからの検出信号すを使用する。こ
の場合、第２図に示すように、サイドスポットの検出信
号すは減衰器１２を介し、差動増幅器１３でメインスポ
ットからの検出信号ａから差し引かれる。検出信号すに
は、記録媒体面上のサイドローブからの成分が主に含ま
れているので、更に劣化の少ない信号成分を得ることが
できる。
なお、減衰器としては、検出器上に光学的なフィルター
として設けてもよい。
として設けてもよい。
本発明により、超解像スポットを有効に活用し、記録密
度の高い光デイスク装置を得ることができる。
度の高い光デイスク装置を得ることができる。
第１図は本発明の実施例を示す図、
第２図は検出器上でのスポット分布を示す図、第３図は
超解像スポット発生の原理を示す図、第４図は超解像の
効果を示す図である。 １・・・・・半導体レーザ ２・・・・・コリメートレンズ ３・・・・・遮光帯 ４・・・・・ビームスプリッタ 、５・・・・・集光レンズ ６・・・・・記録媒体 ７・・・・・収束レンズ ８・・・・・分割型光検出器 ９・・・・・エラー検出光学系 １０・・・・・メインスポット １１・・・・・サイドスポット １２・・・・・減衰器 １３・・・・・差動増幅器 １４、１５．１６・・・光検出部 ２１・・・・・コリメートビーム ２２・・・・・超解像スポット ２３・・・・・通常スポット
超解像スポット発生の原理を示す図、第４図は超解像の
効果を示す図である。 １・・・・・半導体レーザ ２・・・・・コリメートレンズ ３・・・・・遮光帯 ４・・・・・ビームスプリッタ 、５・・・・・集光レンズ ６・・・・・記録媒体 ７・・・・・収束レンズ ８・・・・・分割型光検出器 ９・・・・・エラー検出光学系 １０・・・・・メインスポット １１・・・・・サイドスポット １２・・・・・減衰器 １３・・・・・差動増幅器 １４、１５．１６・・・光検出部 ２１・・・・・コリメートビーム ２２・・・・・超解像スポット ２３・・・・・通常スポット
Claims (1)
- （１）光源からの出射光ビーム断面内で、中心付近の光
強度を減衰させる手段を、前記光源と記録媒体面に光を
集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射光を
微小スポットとして記録媒体面上に集光する光ヘッド装
置において、 記録媒体面からの反射光を集光して再度スポットを形成
する光学系と、 前記スポットにおけるメインローブ成分と、サイドロー
ブ成分とを独立に検出する光検出器とを有することを特
徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025982A JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025982A JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206036A true JPH02206036A (ja) | 1990-08-15 |
| JPH083911B2 JPH083911B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=12180927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1025982A Expired - Fee Related JPH083911B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH083911B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0661698A1 (en) * | 1993-12-28 | 1995-07-05 | Nec Corporation | Super-resolution optical head using optical separator |
| EP0713216A1 (en) | 1994-11-15 | 1996-05-22 | Nec Corporation | Optical head device utilizing super-resolution technique |
| US5615050A (en) * | 1993-09-02 | 1997-03-25 | International Business Machines Corporation | Optical system with reduced focus spot size |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP1025982A patent/JPH083911B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5615050A (en) * | 1993-09-02 | 1997-03-25 | International Business Machines Corporation | Optical system with reduced focus spot size |
| EP0661698A1 (en) * | 1993-12-28 | 1995-07-05 | Nec Corporation | Super-resolution optical head using optical separator |
| US5590110A (en) * | 1993-12-28 | 1996-12-31 | Nec Corporation | Super-resolution optical head using optical separator |
| EP0713216A1 (en) | 1994-11-15 | 1996-05-22 | Nec Corporation | Optical head device utilizing super-resolution technique |
| US5724334A (en) * | 1994-11-15 | 1998-03-03 | Nec Corporation | Optical head device utilizing super-resolution technique |
| US5802036A (en) * | 1994-11-15 | 1998-09-01 | Nec Corporation | Optical head device utilizing super-resolution technique |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH083911B2 (ja) | 1996-01-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |