JPH04125826A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH04125826A JPH04125826A JP2246591A JP24659190A JPH04125826A JP H04125826 A JPH04125826 A JP H04125826A JP 2246591 A JP2246591 A JP 2246591A JP 24659190 A JP24659190 A JP 24659190A JP H04125826 A JPH04125826 A JP H04125826A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- component
- recording medium
- reflected
- optical system
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- Granted
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 38
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光を理由して情報の記録再生を行う情報入出
力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。さら
に詳しくは、超解像の効果を用い、記録密度を向上させ
た光ヘッド装置の改良に関する。
力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。さら
に詳しくは、超解像の効果を用い、記録密度を向上させ
た光ヘッド装置の改良に関する。
（従来の技術）
光ディスクの記録密度を向上させるためには記録媒体上
における光スポツト径を減少させることが有効である。
における光スポツト径を減少させることが有効である。
ビーム径を減少する手段としては、集光レンズ入射光の
中心付近の強度を減少することにより超解像の効果によ
り第６図実線に示すような径の細いメインローブ６１を
得るものがある（特開平１−３１５０４０号公報、特開
平２−９１８２９号公報参照）。第６図破線は超解像の
効果を用いない場合の光スポットの光強度分布を示し、
実線は超解像の効果を用いた場合の光スポットの光強度
分布を示す。但し、中心付近の強度の減少が多いほど、
メインローブ６１径は細くなる代わりに、サイドローブ
６２が大きくなる。
中心付近の強度を減少することにより超解像の効果によ
り第６図実線に示すような径の細いメインローブ６１を
得るものがある（特開平１−３１５０４０号公報、特開
平２−９１８２９号公報参照）。第６図破線は超解像の
効果を用いない場合の光スポットの光強度分布を示し、
実線は超解像の効果を用いた場合の光スポットの光強度
分布を示す。但し、中心付近の強度の減少が多いほど、
メインローブ６１径は細くなる代わりに、サイドローブ
６２が大きくなる。
第５図は、超解像を利用した光ヘッド装置の例を示す。
半導体レーザ１からの出射光は、コリメートレンズ２で
平行光となり、遮光帯３により中心付近の光強度が減少
する。偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を介し
て集光レンズ６により記録媒体７上に超解像スポットと
して集光する。記録媒体からの反射光は偏光ビームスプ
リッタ４で反射されビームスプリッタ３０で２つに分か
れ、１方は収束レンズ９で再度集光し、集光点に置いた
スリット３１によりメインローブ成分のみを取り出して
光検出器１１で受光する。このような検出系を用いるこ
とで、サイドローブの影響の少ない再生信号を得ること
が出来る。分離されたもう１方の反射光は、収束レンズ
９、ナイフェツジ１２．２分割型光検出器１３でナイフ
ェツジ方式によるフォーカスエラー信号検出がなされる
。
平行光となり、遮光帯３により中心付近の光強度が減少
する。偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を介し
て集光レンズ６により記録媒体７上に超解像スポットと
して集光する。記録媒体からの反射光は偏光ビームスプ
リッタ４で反射されビームスプリッタ３０で２つに分か
れ、１方は収束レンズ９で再度集光し、集光点に置いた
スリット３１によりメインローブ成分のみを取り出して
光検出器１１で受光する。このような検出系を用いるこ
とで、サイドローブの影響の少ない再生信号を得ること
が出来る。分離されたもう１方の反射光は、収束レンズ
９、ナイフェツジ１２．２分割型光検出器１３でナイフ
ェツジ方式によるフォーカスエラー信号検出がなされる
。
（発明が解決しようとする課題）
このような従来の光ヘッド装置においても高密度の記録
を実現することが出来る。しかし、反射光を検出する光
学系においてはスリットで蹴られる光量があるため、光
利用率が十分とは言えない。特に、十分なＳ／Ｎが必要
となる記録媒体に置いては、媒体反射光の利用率の向上
が不可欠となる。
を実現することが出来る。しかし、反射光を検出する光
学系においてはスリットで蹴られる光量があるため、光
利用率が十分とは言えない。特に、十分なＳ／Ｎが必要
となる記録媒体に置いては、媒体反射光の利用率の向上
が不可欠となる。
本発明の目的は、上記のような課題を解決し、媒体から
の反射光を高効率で利用した超解像を利用した光５ツド
装置を提供することである。
の反射光を高効率で利用した超解像を利用した光５ツド
装置を提供することである。
（課題を解決するための手段）
本発明の光ヘッド装置は、光源からの出射光ビーム断面
内で中心付近の光の強度を減少させる手段を前記光源と
記録媒体表面に光を集光するレンズどの間に有し、前記
光源からの出射光を微小スポットとして記録媒体上に集
光し、この集光点からの反射光を光検出器に導く光学系
を有する光ヘッド装置において、記録面からの反射光を
再度集光する光学系と、前記再集光点においてメインロ
ープ成分とサイドローブ成分とを分離する光学系と、前
記サイドローブ成分からフォーカスエラー信号を得る光
学系を有することを特徴とする。
内で中心付近の光の強度を減少させる手段を前記光源と
記録媒体表面に光を集光するレンズどの間に有し、前記
光源からの出射光を微小スポットとして記録媒体上に集
光し、この集光点からの反射光を光検出器に導く光学系
を有する光ヘッド装置において、記録面からの反射光を
再度集光する光学系と、前記再集光点においてメインロ
ープ成分とサイドローブ成分とを分離する光学系と、前
記サイドローブ成分からフォーカスエラー信号を得る光
学系を有することを特徴とする。
また、上記光ヘッド装置において、分離されたサイドロ
ーブ成分の半面のみ遮光し残りのサイドローブ成分を２
分割型の光検出器に導く光学系を有することを特徴とす
る。
ーブ成分の半面のみ遮光し残りのサイドローブ成分を２
分割型の光検出器に導く光学系を有することを特徴とす
る。
（作用）
本発明は、記録媒体反射光を再度集光したときのメイン
ロープ成分から情報信号を、サイドローブ成分からフォ
ーカスエラー信号を検出することを特徴とする。このよ
うな検出を行うことにより、従来はスリットで遮光して
いた成分を有効に利用することができ、記録媒体反射光
を無駄なく使用することが可能となる。
ロープ成分から情報信号を、サイドローブ成分からフォ
ーカスエラー信号を検出することを特徴とする。このよ
うな検出を行うことにより、従来はスリットで遮光して
いた成分を有効に利用することができ、記録媒体反射光
を無駄なく使用することが可能となる。
さらに第２の発明においては、例えば情報信号検出に必
要となるスリットに工夫をして片側のサイドローブ成分
のみを反射することでエラー検出の光学系を新たに構成
しなくても、フォーカスエラー検出を可能とするもので
ある。これは、焦点面にあるスリットが、ナイフェツジ
の役目を果たすことによる。この発明により、光学系は
さらに簡素となる。
要となるスリットに工夫をして片側のサイドローブ成分
のみを反射することでエラー検出の光学系を新たに構成
しなくても、フォーカスエラー検出を可能とするもので
ある。これは、焦点面にあるスリットが、ナイフェツジ
の役目を果たすことによる。この発明により、光学系は
さらに簡素となる。
（実施例）
第１図に、本発明の第１の実施例を示す。
半導体レーザ１からの出射光は、コリメートレンズ２で
平行光となり、遮光帯３により中心付近の光強度が減少
する。偏光ビームスプリッタＡ４と１／４波長板５を介
して集光レンズ６により記録媒体７上に超解像スポット
として集光する。記録媒体がらの反射光は偏光ビームス
プリッタＡ４で分離され偏光ビームスプリッタＢ８と１
／４波長板を介して収束レンズ９で再度集光される。偏
光ビームスプリッタＡとＢとでは、透過、反射する偏光
方向が逆になっており、Ａで反射した光はＢでは透過す
る。集光点に置いたスリット付ミラー１０によりメイン
ローブ成分のみを取り出して光検出器１１で受光する。
平行光となり、遮光帯３により中心付近の光強度が減少
する。偏光ビームスプリッタＡ４と１／４波長板５を介
して集光レンズ６により記録媒体７上に超解像スポット
として集光する。記録媒体がらの反射光は偏光ビームス
プリッタＡ４で分離され偏光ビームスプリッタＢ８と１
／４波長板を介して収束レンズ９で再度集光される。偏
光ビームスプリッタＡとＢとでは、透過、反射する偏光
方向が逆になっており、Ａで反射した光はＢでは透過す
る。集光点に置いたスリット付ミラー１０によりメイン
ローブ成分のみを取り出して光検出器１１で受光する。
サイドローブ成分はスリット付ミラー１０のミラ一部分
で反射され１７４波長板５を再度透過するので偏光方向
が９０度変化して偏光ビームスプリッタＢ８で反射され
る。更に、収束レンズ９、ナイフェツジ１２．２分割光
検出器１３によりフォーカスエラー検出がなされる。
で反射され１７４波長板５を再度透過するので偏光方向
が９０度変化して偏光ビームスプリッタＢ８で反射され
る。更に、収束レンズ９、ナイフェツジ１２．２分割光
検出器１３によりフォーカスエラー検出がなされる。
本光学系によれば、十分な利用効率を得ることができる
。トラックエラー信号は、光検出器１１を２分割型にす
れば、プッシュプル法の原理により検出することが可能
である。また、フォーカスエラー検出はシリンドリカル
レンズによる非点収差法でもよい。更に、本実施例では
、ストライプ上の遮光帯を用いているが、円形の遮光板
により、コリメートビーム中心付近のみを遮光し、スリ
ットの代わりに円形の穴付ミラーによりメインローブ成
分を検出する構成でもよい。
。トラックエラー信号は、光検出器１１を２分割型にす
れば、プッシュプル法の原理により検出することが可能
である。また、フォーカスエラー検出はシリンドリカル
レンズによる非点収差法でもよい。更に、本実施例では
、ストライプ上の遮光帯を用いているが、円形の遮光板
により、コリメートビーム中心付近のみを遮光し、スリ
ットの代わりに円形の穴付ミラーによりメインローブ成
分を検出する構成でもよい。
第２図に、第２の実施例を示す。
半導体レーザ１、コリメートレンズ２、遮光帯３、偏光
ビームスプリッタＡ４．１７４波長板５、集光レンズ６
、記録媒体７、偏光ビームスプリッタＢ８．１／４波長
板、収束レンズ９、スリット付ミラー１０光検出器１１
については第１の実施例と同様である。収束レンズ９の
集光点では、片側のサイドローブ成分はナイフェツジ１
２で遮光され、他方の側のサイドローブ成分のみがスリ
ット付ミラーのミラ一部分で反射され偏光ビームスプリ
ッタＢ８で反射されて２分割型光検出器１３で検出され
る。このような構成では、フォーカスエラー信号が次の
ようにして検出される。第３図に２分割光検出器１３上
でのビーム形状１５の変化を示す。合焦点状態では、ス
リット付ミラー１０が焦点位置にあるため、ファーフィ
ールド面の光検出器上ではほぼ対称なビーム形状となる
。焦点位置からずれるとミラー位置がファーフィールド
面となるため、光検出器上のビーム形状が非対称に変化
する。従ってナイフェツジ方式と同様にフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。トラックエラー信号は、第
１の実施例と同様に、光検出器１１を２分割型にするこ
とでプッシュプル法により得ることができる。ミラーと
ナイフェツジは一体化することも可能である。
ビームスプリッタＡ４．１７４波長板５、集光レンズ６
、記録媒体７、偏光ビームスプリッタＢ８．１／４波長
板、収束レンズ９、スリット付ミラー１０光検出器１１
については第１の実施例と同様である。収束レンズ９の
集光点では、片側のサイドローブ成分はナイフェツジ１
２で遮光され、他方の側のサイドローブ成分のみがスリ
ット付ミラーのミラ一部分で反射され偏光ビームスプリ
ッタＢ８で反射されて２分割型光検出器１３で検出され
る。このような構成では、フォーカスエラー信号が次の
ようにして検出される。第３図に２分割光検出器１３上
でのビーム形状１５の変化を示す。合焦点状態では、ス
リット付ミラー１０が焦点位置にあるため、ファーフィ
ールド面の光検出器上ではほぼ対称なビーム形状となる
。焦点位置からずれるとミラー位置がファーフィールド
面となるため、光検出器上のビーム形状が非対称に変化
する。従ってナイフェツジ方式と同様にフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。トラックエラー信号は、第
１の実施例と同様に、光検出器１１を２分割型にするこ
とでプッシュプル法により得ることができる。ミラーと
ナイフェツジは一体化することも可能である。
スリット付ミラー１０とナイフェツジ１２に代わり第４
図に示すように、くさびプリズム２０を用いてもよい。
図に示すように、くさびプリズム２０を用いてもよい。
このときは、プリズムで蹴られたサイドローブの光路中
に２分割光検出器１３を設置しておけばよい。
に２分割光検出器１３を設置しておけばよい。
（発明の効果）
本発明により、光ディスクからの反射光の利用率の高い
高密度記録用の光ヘッド装置を得ることができる。
高密度記録用の光ヘッド装置を得ることができる。
第１図、第２図、第４図は本発明の実施例を示す図、第
３図は本発明の作用を示す図、第５図、第６図は従来技
術を示す図である。 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、３
・・・遮光帯、４・・・偏光ビームスプリッタＡ、 ５
・・・１７４波長板、６・・・集光レンズ、７・・・記
録媒体、８・・・偏光ビームスプリッタＢ、９・・・収
束レンズ、１０・・・スリット付ミラー、１ｌ−ｆｆｉ
検出器、１２・・・ナイフェツジ、１３・・・２分割光
検出器、１５・・・ビーム形状、２０・・べさびプリズ
ム、３０・・・ビームスプリッタ、３１・・・スリット
である。
３図は本発明の作用を示す図、第５図、第６図は従来技
術を示す図である。 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、３
・・・遮光帯、４・・・偏光ビームスプリッタＡ、 ５
・・・１７４波長板、６・・・集光レンズ、７・・・記
録媒体、８・・・偏光ビームスプリッタＢ、９・・・収
束レンズ、１０・・・スリット付ミラー、１ｌ−ｆｆｉ
検出器、１２・・・ナイフェツジ、１３・・・２分割光
検出器、１５・・・ビーム形状、２０・・べさびプリズ
ム、３０・・・ビームスプリッタ、３１・・・スリット
である。
Claims (2)
- （１）光源からの出射光ビーム断面内で中心付近の光の
強度を減少させる手段を前記光源と記録媒体表面に光を
集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射光を
微小スポットとして記録媒体上に集光し、この集光点か
らの反射光を光検出器に導く光学系を有する光ヘッド装
置において、記録面からの反射光を再度集光する光学系
と、前記再集光点においてメインローブ成分とサイドロ
ーブ成分とを分離する光学系と、前記サイドローブ成分
からフォーカスエラー信号を得る光学系を有することを
特徴とする光ヘッド装置。 - （２）光源からの出射光ビーム断面内で中心付近の光の
強度を減少させる手段を前記光源と記録媒体表面に光を
集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射光を
微小スポットとして記録媒体上に集光し、この集光点か
らの反射光を光検出器に導く光学系を有する光ヘッド装
置において、記録面からの反射光を再度集光する光学系
と、前記再集光点においてメインローブ成分とサイドロ
ーブ成分とを分離する光学系と、前記集光点においてサ
イドローブ成分の半面のみ遮光し残りのサイドローブ成
分を２分割型の光検出器に導く光学系を有することを特
徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2246591A JP2605469B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2246591A JP2605469B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04125826A true JPH04125826A (ja) | 1992-04-27 |
| JP2605469B2 JP2605469B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=17150697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2246591A Expired - Lifetime JP2605469B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605469B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06119653A (ja) * | 1992-10-07 | 1994-04-28 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
| JPH07192297A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-07-28 | Nec Corp | 超解像光ヘッド装置 |
| US5586095A (en) * | 1993-05-31 | 1996-12-17 | Sanyo Electric Co., Inc. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| JP2013024951A (ja) * | 2011-07-19 | 2013-02-04 | Hitachi Ltd | 光学装置 |
-
1990
- 1990-09-17 JP JP2246591A patent/JP2605469B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06119653A (ja) * | 1992-10-07 | 1994-04-28 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
| US5586095A (en) * | 1993-05-31 | 1996-12-17 | Sanyo Electric Co., Inc. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| US5708635A (en) * | 1993-05-31 | 1998-01-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| JPH07192297A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-07-28 | Nec Corp | 超解像光ヘッド装置 |
| JP2013024951A (ja) * | 2011-07-19 | 2013-02-04 | Hitachi Ltd | 光学装置 |
| US9354434B2 (en) | 2011-07-19 | 2016-05-31 | Hitachi, Ltd. | Optical apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2605469B2 (ja) | 1997-04-30 |
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