JPH0212623A - 光ヘッド装置 - Google Patents

光ヘッド装置

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JPH0212623A
JPH0212623A JP63164025A JP16402588A JPH0212623A JP H0212623 A JPH0212623 A JP H0212623A JP 63164025 A JP63164025 A JP 63164025A JP 16402588 A JP16402588 A JP 16402588A JP H0212623 A JPH0212623 A JP H0212623A
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裕 廣瀬
Yutaka Yamanaka
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    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光を利用して情報の記録再生を行う情報入出
力装置に用いる光ヘッド装置に関するものである。
(従来の技術) 記録密度を向上させるために光ビーム断面内の中心付近
の光位相をnだけ変化させることが本発明者らによって
提案されている。これを第2図を用いて説明する。第2
図(a)は光ビーム22と光位相変調器21との関係を
示す図ででこの図に示すようにレーザ光源からの出射光
を光ビーム22断面内で中心付近の光の位相nだけ変化
させ、同図(b)に示した光位相分布とする。これによ
り、超解像効果が発生し、光位相変調器を用いない場合
のビームスポット(同図(c)の破線23)に比して、
記録媒体面上に小さい集光スポット(同図(C)の曲線
24)を生じさせることができる。したがってこのビー
ムを用いて情報の記録再生を行うことで、記録密度を高
めることができる。第3図にこの発明の効果を示す実証
例の一つを示す。測定条件は光源の波長が約0.831
1m、コノメートビーム径が約5mm、集光レンズの焦
点距離が3.9mmである。同図(a)は位相変調器幅
を一定としたときの位相変調量とメインローブ径の関係
、同図(b)は位相変調量が■で一定の時の光位相変調
器幅メインローブ径との関係を示す。これかられかるよ
うに、位相変調量はnとするのが最もビーム径を細くで
き、位相変調器幅を大きくする程ビーム径を小さくでき
る。しかし、位相変調器幅を大きくするとサイドローブ
も大きくなるという課題がある。実用に十分な記録再生
特性を得るうえで、許容されるサイドローブ強度は、メ
インローブの約1/3程度であり、設計上は位相変調量
と位相変調器幅を調節することで、より細いメインビー
ムを得ることができるという特徴を犠牲にしなければな
らない。ところで、従来例では情報の再生信号は集光レ
ンズを通過した後の言己録媒体面からの反射光をコリメ
ート状態で光検出器に導くことで得ていた。第10図に
この信号再生法による光ヘッドの光学系の典型的な構成
を示す。記録媒体面からの反射光は集光レンズ6を通過
後、コリメート状態となり、ビームスプリッタ5.9を
通過後トラックエラー検出及び再生信号検出兼用の光検
出器12に導かれ、信号再生回路によって再生信号を得
るというものである。
(発明が解決しようとする課題) 以上述べた構成においては、光位相変調器を有するため
に記録媒体面上の集光スポットの光強度分布において、
サイドローブ強度が高くなるという副作用が生じ、情報
の再生時にこのサイドローブからの反射光が光信号検出
器に雑音として侵入するために、超解像効果を最大限に
利用することができないという設計上の制約があった。
すなわち、第10図に示すような従来の再生光学系では
、記録媒体面からの反射光を集光レンズを通過後に、コ
リメート状態で光検出器に導くため、光検出器には同図
(C)に25.25′で示したサイドローブの反射回折
光も同図(d)に28の斜線で示したようにコノメート
状態で侵入する。
本発明の目的は、このような従来の制約を除去せしめて
、情報の再生時に前記サイドローブからの反射光が光信
号検出器に雑音として侵入することを防ぎ、より良好な
再生信号を得ることにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、光源からの出射光ビーム断面内で中心付近の
光の位相をnだけ変化させる手段を、前記光源と記録媒
体表面に光を集光するレンズとの間に有し、前記光源か
らの出射光を微小スポットとして記録媒体面上に集光し
、この集光点からの反射光を光検出器に導く光学系を有
する光ヘッド装置において、記録媒体面からの反射光を
前記光検出器上に集光するレンズと前記反射光のうちメ
インビームのみを検出する検出手段とを有することを特
徴とする。
(作用) 本発明では第1図に示すように記録媒体面からの反射光
の一部をビームスプリッタ13などで取り出し、これを
レンズ14(以下再集光レンズと称する)によって再集
光することで第4図(a)に示すような記録媒体面上に
おけるビームパターンに近い光スポットを形成する。こ
の再集光レンズの焦点面において、スリットあるいは開
口などを用いて43のようにサイドローブ42を遮断す
るか、第8図(b)のような光検出器を用い、メインロ
ーブ41のみ検出器に導くことによって、サイドローブ
の影響の少ないより良好な再生信号を得ることが可能と
なる。第5図に本発明を用いた場合に再生信号特性が改
善される実証例を示す。第1図において光源として波長
0.83pmの半導体レーザを用い、光位相変調器幅が
1.0mm、位相変調量がHのときの実験例である。再
集光レンズと媒体面に記録再生光を集光するレンズの焦
点距離比は約18、スリット幅を10pmとしたときの
記録再生特性を曲線51に示す。比較のために、遮光帯
を用いない第10図に示した光学系の構成による記録再
生特性を曲線52に示す。媒体に記録する周波数を横軸
にとり、これに対する再生信号振幅値を記録周波数0.
5MHzの値を基準にしてプロットしたものである。本
発明を用いた再生特性を示す曲線51の方が、本発明を
用いない場合の曲線52よりも低周波、高周波の双方の
領域にわたって、信号振幅値が大きく、より良好な再生
信号を得ることが可能となるとともに、高周波域の特性
の改善により、媒体面上に記録ビットをより高密度の記
録を実現することが可能となる。超解像を利用しない通
常の記録再生方式では、再生信号振幅値が0.5以下に
なる記録周波数は約3.0MHzである。これに対し、
曲線51が0.5以下になる記録周波数は3.5MHz
であり、本発明を用いることにより記録密度に換算して
約20%高くすることができる。
(実施例) 次に図面を参照して、本発明の実施例について説明する
第1図は一実施例の光学系を示す図である。信号再生時
において、レーザ光源1から出射した光はコリメートレ
ンズ2によってコリメートされ、ビーム整形プリズム3
で整形された後光位相変調器4によって中心付近の位相
をnだけ変化され、ビームスプリッタ5.13を透過後
、集光レンズ6によって記録媒体7に照射される。記録
媒体面からの反射光のうちビームスプリッタ13を透過
した成分はビームスプリッタ5で反射され、平凸レンズ
8で集光されその一部は、ビームスプリッタ9で反射さ
れ、ナイフェツジ10、レンズ8の焦点面に配置された
検出器11よりなるフォーカスエラー信号検出系に導か
れ、ビームスプリッタ9を透過した成分はトラックエラ
ー信号を検出する検出器12に導かれる。
方、記録信号の再生にはビームスプリッタ13からの反
射成分をレンズ14を用いて集光し、このレンズの焦点
面にスリットあるいは開口15を第4図(a)に示した
ように配置することにより、サイドローブ42を遮断し
、メインローブ41のみを検出器16に導く。このとき
の光強度分布は同図(b)のようになる。なお、フォー
カスエラー及びトラックエラー検出方式は他の方式を用
いても良い。
第6図はフォーカスエラー検出方式にナイフェツジ法を
用いた場合に、フォーカスエラー検出系と再生信号検出
系とで集光レンズ8を兼用して、部品点数を減らした例
である。フォーカスエラー検出用検出器11とスリット
(または開口)15はともにレンズ8の焦点面に配置す
ることで所望の信号再生を可能とする。さらに、ビーム
スプリッタ13によって、トラックエラー信号を検出器
12から再生することが可能となる。
スリット幅(第9図において1、で示した幅)を大きい
ものですませるためには、集光レンズ14の焦点距離を
長くする必要がある。このために設計の制約上第6図の
ように再生信号検出及びフォーカスエラー検出用にレン
ズ8を共用できない場合には、第7図に示すように再生
信号検出用集光レンズ14をビームスプリッタ13の手
前に配置する構成とすれば良い。
第8図は、検出器自体にスリットまたは開口の機能をも
たせた場合の実施例の一つである。すなわち、同図(b
)に示すように検出部分の幅を第9図に示したスリット
幅1、に等しく取り、これを再集光レンズ14に焦点面
に配置すれば、第1図に示した構成で得ることができる
性能と同等のものを得ることができる。
第9図は第1図におけるスリットまたは開口15の形状
を示すものである。第2図(a)に示したような位相変
調帯21を用いた場合に、媒体面上からの反射光を再集
光したときに超解像の効果が生じる方向をXoとする。
第1図に示した集光レンズ6、および再集光レンズ14
(第5図における8)の焦点距離を各々f1、f2とす
れば、スリット幅1□は約d(f2/f1)XXmとな
る。ここでdは記録媒体面上におけるメンビームスポッ
ト径を表す、 d’;lpm 、 f1=3.9mm、
f2’;40mmとすれば1.は約10pmとする必要
がある。
12は11以上の値であれば良く、通常2〜3mmであ
る。また、遮光領域を第2図(e)のように中心部のみ
遮光すれば、超解像の効果は光軸を含む断面内において
、同図(C)のX方向をビームの半径方向とした光強度
分布を得ることができる。このとき、第9図において、
前記と同じレンズを用いた条件のもとでは、11.12
ともに約10トmとするか、または、直径が11に等し
いピンホールを用いる必要がある。このような構成とす
れば、同図X′、y′の方向についてサイドローブの影
響を除去することが可能となり、X′方向については隣
接ピットからの回り込み信号を除去し、y′力方向つい
ては隣接トラックからのクロストークを抑える効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の光学系を示す図、第2図(
a)〜(e)、第3図(a)、(b)は超解像の効果を
示す図、第4図(aXb)は再集光レンズの焦点面にお
けるサイドローブの遮断方法を示す図、第5図は本発明
を用いた場合の再生信号の周波数特性を示す図、第6図
、第7図は本発明の他の実施例の光学系を示す図、第8
図(aXb)は検出器自体にスリットまたは開口の機能
をもたせた場合の実施例の光学系を示す図、第9図はサ
イドローブ遮断用スリットの寸法を示す図、第10図は
従来の方式の光ヘッドの光学系を示す図である。 図において 1・・・光源、2・・・コリメートレンズ、3・・・ビ
ーム整形プリズム、4・・・光位相変調器、5・・・ビ
ームスプリッタ、6・・・集光レンズ、7・・・・記録
媒体、8・・・集光レンズ、9・・・ビームスプリッタ
、10・・・ナイフェツジ、11・・・フォーカスエラ
ー検出用光検出器、12・、・トラックエラー検出用光
検出器、13′・・・ビームスプリッタ、14・・・再
生信号検出用集光レンズ、15・、・サイドローブ遮断
用スリットまたは開口、16、・・信号検出用光検出器
、 21、・・光位相変調器、21′・・・位相変調領域、
22・・・光ビーム、23・・・光位相変調器4を用い
ない時の記録媒体面上集光スポット光強度分布、24・
・・光位相変調器4を用いた時の記録媒体面上集光スポ
ットメインローブ、25.25’・・・光変調器4を用
いた時の記録媒体面上集光スポットサイドローブ、26
09.メインローブ24からの反射回折光、27.27
’・・・サイドローブ25.25’からの反射回折光、
28・・・再生検出系に雑音として進入するサイドロー
ブ成分、 31、33・・・光強度が最大値の1/e2となる位置
でのビーム径、32.34・・・光強度が最大値の1/
2となる位置でのビーム径、 41・・・再集光レンズ焦点面におけるメインローブ、
42、・・再集光レンズ焦点面におけるサイドローブ、
43、・・サイドローブ遮断領域、44・・・再集光レ
ンズ焦点面におけるメインローブ光強度分布、51・・
・本発明を用いた場合の再生信号周波数特性、52、・
・本発明を用いない場合の再生信号周波数特性である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  光源からの出射光ビーム断面内で中心付近の光の位相
    をnだけ変化させる手段を前記光源と記録媒体表面に光
    を集光するレンズとの間に有し、前記光源からの出射光
    を微小スポットとして記録媒体面上に集光し、この集光
    点からの反射光を光検出器に導く光学系を有する光ヘッ
    ド装置において、記録媒体面からの反射光を前記光検出
    器上に集光するレンズと前記反射光のうちのメインビー
    ムのみを検出する検出手段とを有することを特徴とする
    光ヘッド装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05225602A (ja) * 1992-02-14 1993-09-03 Alps Electric Co Ltd 光ヘッド装置
JPH05234122A (ja) * 1992-02-20 1993-09-10 Mitsubishi Electric Corp 光ヘッド装置
US5311495A (en) * 1990-11-30 1994-05-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical system for converging light beams to form a single beam spot on an optical disc
JPH0765408A (ja) * 1993-08-30 1995-03-10 Nec Corp 光ヘッド装置
JPH0793800A (ja) * 1993-09-27 1995-04-07 Nec Corp 光ヘッド装置
JPH07225965A (ja) * 1994-02-14 1995-08-22 Nec Corp 光ヘッド装置
JPH08138260A (ja) * 1994-11-08 1996-05-31 Nec Corp 光ヘッド装置
US5590110A (en) * 1993-12-28 1996-12-31 Nec Corporation Super-resolution optical head using optical separator
US5600620A (en) * 1994-11-08 1997-02-04 Nec Corporation Optical head apparatus having means to eliminate noise caused by side-lobes
US5612942A (en) * 1993-11-19 1997-03-18 Nec Corporation Optical head
JP2009068954A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Kobe Steel Ltd 石炭サイロ用測温ケーブルおよびその製造方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5311495A (en) * 1990-11-30 1994-05-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical system for converging light beams to form a single beam spot on an optical disc
JPH05225602A (ja) * 1992-02-14 1993-09-03 Alps Electric Co Ltd 光ヘッド装置
JPH05234122A (ja) * 1992-02-20 1993-09-10 Mitsubishi Electric Corp 光ヘッド装置
JPH0765408A (ja) * 1993-08-30 1995-03-10 Nec Corp 光ヘッド装置
JPH0793800A (ja) * 1993-09-27 1995-04-07 Nec Corp 光ヘッド装置
US5612942A (en) * 1993-11-19 1997-03-18 Nec Corporation Optical head
US5590110A (en) * 1993-12-28 1996-12-31 Nec Corporation Super-resolution optical head using optical separator
JPH07225965A (ja) * 1994-02-14 1995-08-22 Nec Corp 光ヘッド装置
JPH08138260A (ja) * 1994-11-08 1996-05-31 Nec Corp 光ヘッド装置
US5600620A (en) * 1994-11-08 1997-02-04 Nec Corporation Optical head apparatus having means to eliminate noise caused by side-lobes
JP2009068954A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Kobe Steel Ltd 石炭サイロ用測温ケーブルおよびその製造方法

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