JPS63291219A - 光ピックアップの光学系 - Google Patents

光ピックアップの光学系

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Publication number
JPS63291219A
JPS63291219A JP62125523A JP12552387A JPS63291219A JP S63291219 A JPS63291219 A JP S63291219A JP 62125523 A JP62125523 A JP 62125523A JP 12552387 A JP12552387 A JP 12552387A JP S63291219 A JPS63291219 A JP S63291219A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light beam
parallel flat
parallel plane
astigmatism
Prior art date
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Pending
Application number
JP62125523A
Other languages
English (en)
Inventor
Wataru Kubo
渉 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP62125523A priority Critical patent/JPS63291219A/ja
Publication of JPS63291219A publication Critical patent/JPS63291219A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 権皇よム■朋分互 この発明は、半導体レーザー等の非点隔差を有する光源
と、この光源から発する光ビームの非点収差を補正する
ための手段とを備えた光ピックアップの光学系の改良に
関するものである。
丈米勿弦童 コンパクトディスクプレーヤー等に搭載されている光ピ
ックアップには、装置の軽量小型化を図るため、光源と
して一般に半導体レーザーが利用されている。
ところが、半導体レーザーはそれ自体が非点隔差を有し
ているため、これから発する光ビームを簡単なレンズで
集束させると非点収差が生じ、スポット径を小さく絞る
ことができない。
この非点収差は、シリンドリカルレンズを利用するか、
あるいは、平行平面板を光軸に対して傾けて光路中に配
置することによって補正することができ、平行平面板に
よる非点収差補正を行った光ピックアップとしては従来
から第6図に示したようなものが使用されている。
この光ピックアップの光学系においては、半導体レーザ
ー1から発した光ビームが回折格子2、ビームスプリッ
タ−3、コリメートレンズ4、対物レンズ5を介して光
ディスク6上にスポットを結び、この光ディスク6で反
射された戻りビームがビームスプリッタ−3で偏向され
て集光レンズ7、シリンドリカルレンズ8を介して光電
変換素子9上に結像する。
光電変換素子9の出力は図示せぬ回路で処理され、フォ
ーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、再生信号
となる。
この光学系では、半導体レーザー1のカバーガラス1a
をレーザー接合面に垂直な軸の回りに回転させ、レーザ
一端面に対して適切な角度を持たせることにより、非点
隔差の補正を図っている。
日が  しようとする口 占 しかしながら、上記の例のように1枚の平行平面板によ
って非点収差を補正すると、この補正と同時にコマ収差
が発生することが知られている。
コマ収差があると光ディスク6上に高品位のスポットを
形成することができず、これに起因して上記の各信号に
外乱成分が含まれるという問題点があった。
血貝101立 この発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであ
り、光源の性質に起因する非点収差を補正すると共に、
この補正の際にコマ収差を生じることがなく、光ディス
ク上に高品位のスポットを形成することのできる光ピッ
クアップの光学系を提供することを目的とする。
Wを  するための この発明は、上記の目的を達成させるため、光源から発
する光ビームの光路中に、第1、第2平行平面板を光源
から光ディスクへ向って順に設け、これらの平行平面板
を、集束された光ビームの非点収差を補正し、かつ、相
互にコマ収差を補正するよう光ビームの光軸に対して傾
斜させたことを特徴とするものである。
ヌ」1匹 以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示したものである。
この光ピックアップの光学系は、半導体レーザー10か
ら光ディスク20へ向って順に設けられた第1、第2平
行平面板30.40を備えており、半導体レーザーIO
から発する光ビームの非点隔差を第1、第2平行平面板
30.40によって補正すると共に、第1平行平面板3
0を透過することによって生じたコマ収差を第2平行平
面板40によって相殺するよう構成されている。
まず、その原理を第2図に基づいて説明する。
第2図に示したように、1枚の平行平面板Xを、その法
@Nが集束光の光軸に対して角度UPをなすよう傾けて
配置した場合、集束点における非点隔差Δμは、平行平
面板の屈折率をn、平行平面板の厚さをtとすると、 で表すことができる。
また、同時に発生するコマ収差としての三次のサジタル
コマCo■a(3)は。
で表すことができる。但し、Uは光ビームの集束角度の
半角である。
次に、2枚の平行平面板を光軸に対して互いに逆方向に
傾けて設けた場合には、■式から明らかなように、この
2枚の平行平面板を透過した光ビームの集束点における
非点隔差はそれぞれの平行平面板によって発生する非点
隔差の和となり、平行平面板によって発生する三次のサ
ジタルコマは。
■式−から明らかなように互いに打ち消し合うこととな
る。
特に、2枚の平行平面板の屈折率、厚さを等しくした場
合には、これらを光軸に対して逆方向へ同一量傾斜させ
ることによってコマ収差をOとすることができる。
このことを逆に考えれば、非点収差を有する光ビームは
、上記のように配置された2枚の平行平面板を透過させ
ることにより、コマ収差を発生させずにその非点収差を
補正することができることとなる。
そこで、第1図に示した光ピックアップにおいては、第
1平行平面板30と第2平行平面板40とを同一の厚さ
、屈折率を有するものとし、光軸に対して互いに逆方向
に同−量傾けて配置すると共に。
半導体レーザーIOのpn接合と適切な角度をなすよう
設定し、非点収差及びコマ収差の補正を図っている。
上記の説明からも明らかなように、非点収差、コマ収差
を補正するための条件設定としては、上記の第1図に示
した構成に限定されるものではなく、互いに厚さ、屈折
率等が異なる平行平面板を用いることも当然に可能であ
る。
なお、第1図に示した第2平行平面板40の光ディスク
側の面41にはハーフミラ−コートが施、されており、
光ディスク20で反射された戻りビームは。
このハーフミラ−面41で偏向されて後述の集光レンズ
80に入射する。
次に、この光ピックアップの作用を上記以外の光学部品
と共に説明する。
半導体レーザー10から発した光ビームは、まず。
回折格子50に入射し、3ビーム法によるトラッキング
エラー検出を行うために3本の光ビームに分割されると
共に、第1.第2平行平面板30.40によって非点収
差を補正されてコリメートレンズ60に入射する。
そして、このコリメートレンズ60によって平行光束と
され、対物レンズ70によって光ディスク30上に集束
され、非点収差及びコマ収差を包含しない高品位のスポ
ットを形成する。
光ディスク30で反射された戻りビームは第2平行平面
板40のハーフミラ−コート面41で反射されて集光レ
ンズ80を透過し、非点収差法によるフォーカシングエ
ラー検出を行うためのシリンドリカルレンズ90を透過
して、光電変換素子100上に集束する。
光電変換素子100は、例えば第3図に示したような6
分割フォトダイオードであり1図示せぬ信号処理回路は
、このフォトダイオードの両側の受光部101,102
の出力を引算することによってトラッキングエラーを検
出し、中央の4つの受光部103.104,105,1
06の出力を引算、加算することによってフォーカシン
グエラー信号及び再生信号を検出する。
なお、対物レンズ70は、この対物レンズ70を光ディ
スク20と離反、接近する方向、及び光ディスク20の
トラックと垂直な方向へ駆動するアクチュエータ(図示
せず)に組み付けられており、このアクチュエータは上
記の各エラー信号に従ってこれらのエラーを相殺するよ
う対物レンズ70を駆動する。
次に、上記実施例より部品点数を削減した変形例を第4
図及び第5図に示す。但し、上記の実施例と同一の部材
には同一符号を付し、重複した説明は省略する。
第4図に示した光学系では、第1平行平面板30の半導
体レーザーIOに臨む面31に回折格子の特性を有する
コ二トが施されているため、別個に回折格子50を設け
ていない点と、戻りビームに非点収差を発生させるため
の手段として上記のシリンドリカルレンズ90に代えて
第3平行平面板110を設けている点とが前記の実施例
と異なる。
なお1回折格子の特性を有するコートを施す面は上記の
面31だけに限定されず、第1平行平面板30の光ディ
スク20側の面32、あるいは第2平行平面板40の半
導体レーザー10側の面42に施すこともできる。
また、第5図に示した例では、カバーガラス121が傾
けて設けられた半導体レーザー120を光源として利用
しており、更に、このカバーガラス121に回折格子の
特性を持たせている。
なお、この例で示した半導体レーザー1200カバーガ
ラス121は、第2平行平面板40と協働して非点収差
を補正する構成とされているため、カバーガラス単独で
非点収差を補正する従来の半導体レーザー1のカバーガ
ラスla(第6図参照)とは傾き、厚さ等の特性が異な
るものである。
象困 以上、説明してきたようにこの発明によれば、光ビーム
の非点収差を、コマ収差を発生させずに補正することが
でき、光ディスク上に高品位のスポットを形成すること
ができる。
また、従来使用できなかったようなかなり大きい非点隔
差を有する光源も使用できるようになるため、光源の使
用範囲が広がり、より安価なものをも使用できるように
なる。
更に、平行平面板にハーフミラ−コート、回折格子の特
性を有するコートを施すことによって部品点数を減少さ
せ、コストの低減を図ることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る光ピックアップの光学系の第1
実施例を示す構成図、第2図は記号関係を示す説明図、
第3図は光電変換素子の受光面を示す平面図、第4図及
び第5図はこの発明の第2゜第3実施例を示す構成図、
第6図は従来の光ピックアップの光学系を示す構成図で
ある。 、10・・・半導体レーザー(光源) 20・・・光ディスク 30・・・第1平行平面板 40・・・第2平行平面板 41・・・ハーフミラ−面 1rIA 第 2図 第 3 図 第4図 第5図 第6図 (2)同書第6頁第1行の 「     t    fn2・cos2UP\手  
続  補  正  書

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)非点隔差を有する光源からの光ビームを光ディス
    ク上に集束してスポットを形成する光ピックアップの光
    学系において、 前記光ビームの光路中に、第1、第2平行平面板を前記
    光源から前記光ディスクへ向って順に設け、これらの平
    行平面板を、集束された光ビームの非点収差を補正し、
    かつ、相互にコマ収差を補正するよう前記光ビームの光
    軸に対して傾斜させたことを特徴とする光ピックアップ
    の光学系。
  2. (2)前記第2平行平面板の前記光ディスクに近い側の
    面に、該光ディスクで反射された光ビームを受光光学系
    に導くハーフミラーコートを施したことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項に記載の光ピックアップの光学系。
  3. (3)前記第1、第2平行平面板のいずれかの平行面に
    、前記光源から発する光ビームを3本の光束に分割する
    回折格子の特性を有するコートを施したことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項に記載の光ピックアップの光学
    系。
JP62125523A 1987-05-22 1987-05-22 光ピックアップの光学系 Pending JPS63291219A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04349238A (ja) * 1990-12-20 1992-12-03 Omron Corp 光ピックアップ装置
JPH0713103A (ja) * 1992-12-17 1995-01-17 Philips Electron Nv 光学装置
WO2005066947A1 (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 光ヘッド装置

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