JPH02192041A - 光ヘッド装置 - Google Patents

光ヘッド装置

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JPH02192041A
JPH02192041A JP1277706A JP27770689A JPH02192041A JP H02192041 A JPH02192041 A JP H02192041A JP 1277706 A JP1277706 A JP 1277706A JP 27770689 A JP27770689 A JP 27770689A JP H02192041 A JPH02192041 A JP H02192041A
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JP
Japan
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light
reflected
beam splitter
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optical system
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JP1277706A
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English (en)
Inventor
Hideo Shimizu
秀雄 清水
Yasuhiro Takahashi
康弘 高橋
Junji Ogawa
淳二 小川
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は情報記録媒体に光を照射することにより情報
の書き込み、消去、および読み出しを行う光ヘッド装置
、ことに光源としての半導体レーザの放射光の安定機能
の改善に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体レーザを光源とする光デイスク装置の光ヘ
ッドにふいて、半導体レーザの出射光量の安定化は半導
体レーザに内蔵されたモニタ用フォトダイオードで出射
光量の一部を検出し、そのモニタ信号で半導体レーザを
パワーコントロールするよう構成されたものが知られて
いる。
第4図は従来装置で使用される半導体レーザの一例を示
す斜視断面図であり、端子107を有するステム106
と、窓103を有するキャップ104とで覆われた容器
内には、 ヒートシンク105に半導体レーザ素子10
1がその出射面を103に向けて取り付けられ、反出射
面側にはモニタ用フォトダイオード102がその受光面
を半導体レーザ素子101に向けてステム106に支持
された構造となっており、窓103を介して光量P。な
るレーザビーム110が出射されるとともに、モニタ用
フォトダイオード102に向けて光量P。がPoの3%
程度にあたるモニタビーム120が出射される。
第5図は従来の自動(レーザ)パワーコントロール回路
であり、モニタ用フォトダイオード10’2にモニタビ
ーム120が入射することによりモニタ信号が発生し、
 トランジスタ107を介して半導体レーザ101の駆
動回路としてのトランジスタ108にフィードバックさ
れることにより半導体レーザ101の出射ビーム110
の光量P。が安定化されるとともに、外部信号Vinに
よりオン・オフ制御されるトランジスタ109によりト
ランジスタ108が制御され半導体レーザの出射ビーム
101 がオン・オフ制御される。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来装置においては、情報記録媒体としての光ディスク
の反射光の一部や投射光学系の光学素子の端面反射光−
が戻り光として半導体レーザに入り、さらにその一部ま
たはかなりの部分がモニタ用フォトダイオード102で
受光され、正しいレーザパワーのモニタ出力が得られな
いという不都合を生ずる。第6図はこの状態を説明する
ための半導体レーザの模式図であり、投射光学系のビー
ムスプリッタ(ハーフミラ−)の透過率をα5.光ディ
スクの反射率をα、とすると、端面反射や光学系のけら
れ等を無視しても半導体レーザ素子101への戻り光1
11の光量PrはP、=αb” x Poとなる。戻り
光111が半導体レーザ素子101を透過してモニタ用
フォトダイオード102に入射する戻り光121の光量
P、、は半導体レーザ素子の透過率を3%としてpI、
=Q、 03 X P、となる。したがって、モニタ用
フォトダイオード102の出力誤差ηはP、、/P、+
 P、。
αd・αb2/1+αd・αb2で表され、αd−0,
3゜α、=0.7とした場合、 ηは0.128に達す
ることになり、半導体レーザの実際の出射光量P。より
も12.8%も多い光量を出射しているものと錯覚した
モニタ制御が行われるという不都合が発生する。
戻り光111 は光ディスクの回転に伴う面振れや軸振
れ、その他ディスク表面の状態により時間的に変動する
ので、そのモニタ出力では安定した自動パワーコントロ
ール動作を期待することはできない。また、 レーザパ
ワーPoの不安定は信号読み出し時にノイズ増大となっ
て影響し、信号対雑音比(C/N)低下の原因となる。
コンパクトディスク(CD)や追記形光ディスク(DR
AW)など光ディスクの反射率変化を基に情報を読み出
す方式においては、偏光ビームスプリッタと1/4波長
板との組み合わせによるアイソレータ光学系を設けるこ
とで戻り光を低減することか可能であるが、光磁気ディ
スク(MO)の場合は、信号の検出をわずかな偏光面の
回転としてとらえるために、アイソレータ光学系を使用
することができない。従って、戻り光の低減は極めで難
しく、第4図のように半導体レーザに内蔵されたモニタ
用フォトダイオードを用いて出射レーザビーム110を
安定化できないのが実情である。
この発明の目的は、戻り光の影響を排除して出射レーザ
ビームの光量を安定化することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために、この発明は、自動パワーコ
ントロールされた半導体レーザから出射され円形ビーム
に整形されビームスプリッタを透過した直線偏光光を微
小スポットとして情報記録媒体に投射する投射光学系、
および前記ビームスプリッタで分離をされた前記情報記
録媒体からの反射光から情報信号を検出する検出光学系
を備え、情報信号の書き込み、消去、および読み出しを
行うものにおいて、前記ビームスプリッタで反射された
前記円形ビームの反射成分を受けて前記自動パワーコン
トロールの制御信号を発するフォトダイオードを備えて
なることを特徴とし、また、前記ビームスプリッタで反
射された前記円形ビームの反射成分を微小角度偏向させ
て前記検出光学系に向けて反射する反射板を備え、前記
検出光学系は、前記情報記録媒体からの反射光から情報
信号を検出する受光素子と、前記ビームスプリッタ及び
前記反射板で反射された前記円形ビームの反射成分を検
出して前記自動パワーコントロールの制御信号を発する
受光素子とを備えてなることを特徴とし、さらに、情報
信号を検出する受光素子と自動パワーコントロールの制
御信号を発する受光素子とが1つの多分割素子であるこ
とを特徴としている。
〔作用〕
上記手段において、半導体レーザから放射され円形ビー
ムに整形された直線偏光光の一部を主光路上に設けられ
たビームスプリッタで分岐させ、この分岐光路上に受光
素子を設け、そのモニタ出力を自動レーザパワーコント
ロール回路のフィードバック信号とするよう構成したこ
とにより、主光路上を半導体レーザに向けて進む戻り光
の影響が排除され、レーザビームのパワーを安定化する
ことができる。
また、ビームスプリッタの分岐光を偏向させて検出光学
系に導く場合には上記作用に加え、情報を検出する受光
素子と自動パワーコントロールの制御信号を発する素子
とを近接して配置することができ、これらを1つの多分
割素子とすることにより光学系との位置合わせは一方の
素子について行うのみでよくすることもできる。
〔実施例〕
以下この発明を実施例に基づいて説明する。
第1図はこの発明の第1実施例装置を下側から見た平面
図、第2図はその要部の側面図である。
図において、光ヘッドは投射光学系10と検出光学系2
0とで構成される。投射光学系10に布いては、半導体
レーザ1から出射されたレーザビーム110はコリメー
タレンズ2で平行光束となり、整形プリズム3で等方性
を有する円形ビームに整形され、透過率α、なる゛ビー
ムスプリッタ (ハーフミラ−)4を透過した光束が立
上げミラー5によって上方に進路を変え、対物レンズ6
で集束され、情報記録媒体としての例えば光磁気ディス
ク51の情報トラック52上に微小スポット61として
投射され、磁界との相乗作用によって情報の記録または
消去が行われる。
また、情報トラック52で反射された光は、再び対物レ
ンズ6、立上げミラー5を通ってビームスプリッタ4で
反射されて進路を90°変え、検出光学系20に導かれ
る。検出光学系に導かれた反射光は1/2波長板11を
通って偏光ビームスプリッタ−〇 12で2つの光路に分離され、集束レンズ14および光
検出器13がプッシュプル方式のトラッキングエラー検
出手段を形成して微小スポット61がトラックから逸脱
するのを防ぐ信号を発するとともに、集束レンズ151
円筒レンズ16.および光検出器17が非点収差方式の
フォーカスエラー検出手段を形成して微小スポット61
の焦点制御に必要な信号を出力する。また雨検出手段の
出力信号から再生情報信号が検出される。
この実施例装置においては、ビームスプリッタ40反検
出光学系側の面にモニタ用フォトダイオード21が外付
けされ、その出力側が自動レーザパワーコントロール回
路22に接続され、半導体レーザ1のパワーコントロー
ルが行われる。なお、自動レーザパワーコントロール回
路22は、第5図に示す従来の回路のモニタ用フォトダ
イオード102をモニタ用フォト、ダイオード21に置
き換え、かつ各部抵抗値を調整することにより、従来装
置を大幅に変えることなく使用することができる。
つぎに、上述のように構成された第1実施例装置0 置の自動パワーコントロール動作を第3図に示す要部の
拡大図に基づいて説明する。図において、半導体レーザ
1から放射され、コリメータレンズ2で平行光束となっ
たレーザビーム110が点E方向から進み、入射面BD
O点Fで整形プリズム3に入射し、ここで光路が屈折す
ることによって等方性を有する円形ビームに整形された
後、ビームスプリッタ4のハーフミラ−面BCと点0で
交差する。ハーフミラ−の透過率をα51反射率を(1
−α、)とすると、光量P。なる入射光110のうち、
P o xα、なる光量が透過率130としてG方向。
いわゆる立上げミラー5に向かって進み、微小スポット
61に集束されて光ディスク51に投射され、POX(
1−α、)なる光量の反射光140がモニタ用フォトダ
イオードに入射する。ここで、モニタ用フォトダイオー
ド21の結合効率をα。、 光電変換効率をβ(0,5
A/W程度)とすると、モニタ用フォトダイオード21
の電気出力■8は次式となる。
1、= Po(1−αb)α。・β     (1)一
方、透過光130は光ディスク51で反射率α、て反射
され、P o xα8×α5なる光量の戻り光131と
してハーフミラ−の0点に戻り、ハーフミラ−の透過率
α、によりその光量がP。×α、×α5′に減少し、半
導体レーザ1への戻り光111となる成分と、反射率α
、なるハーフミラ−で反射され検出光学系に向かう光量
PoxαdXαb×(1−αb)なる反射光150とに
分離される。 ここでプリズム面AB、AC,CD等の
反射率は通常1%以下と低いので、反射光131.11
1.150等が多重反射してモニタ用フォトダイオード
21方向に進む光ノイズがあったとしても、モニタ光1
400光量P。(1α5)に対して無視できる程度とな
り、戻り光の影響をほとんど排除することができる。
また、1式において、ハーフミラ−の透過率α5.フォ
トダイオード21の結合効率α。、および光電変換効率
βは使用する素子によって定まる定数であり、したがっ
てモニタ用フォトダイオード21の出力IXは レーザ
ビーム110の光量P。によって決まり、モニタ用フォ
トダイオード21を含む自動レーザパワーコントロール
回路22により、半導体レーザの出射ビームの光量P。
を一定値に安定化することができる。
第7図はこの発明の第2実施例装置を下側から見た平面
図、第2図はその要部の側面図である。
図において、光ヘッドは投射光学系10と検出光学系2
0とで構成される。投射光学系10においては、半導体
レーザ1から出射されたレーザビーム110はコリメー
タレンズ2で平行光束となり、整形プリズム3で等方性
を有する円形ビームに整形され、透過率αbなるビーム
スプリッタ (ハーフミラ−)4を透過した光束が立上
げミラー5によって上方に進路を変え、対物レンズ6で
集束され、情報記録媒体としての例えば光磁気ディスク
51の情報トラック52上に微小スポット61として投
射され、磁界との相乗作用によって情報の記録または消
去が行われる。
また、情報トラック52で反射された光は、再び対物レ
ンズ6、立上げミラー5を通ってビームスプリッタ4で
反射されて進路を90°変え、検出光学系20に導かれ
る。検出光学系に導かれた反射光は1/2波長板11を
通って偏光ビームスプリッタ12で2つの光路に分離さ
れ、集束レンズ14およびフォトダイオードよりなる光
検出器13がプッシュプル方式のトラッキングエラー検
出手段を形成して微小スポット61がトラックから逸脱
するのを防ぐ信号を発するとともに、集束レンズ159
円筒レンズ16.およびフォトダイオードよりなる光検
出器17が非点収差方式のフォーカスエラー検出手段を
形成して微小スポット61の焦点制御に必要な信号を出
力する。また雨検出手段の出力信号から再生情報信号が
検出される。
この実施例装置においては、ビームスプリッタ4の圧検
出光学系側に反射板31が微小角度傾けて外付けされ、
ビームスプリッタ4で分岐された円形ビームの分岐成分
は、反射板31により反射され、1/2波長板11.偏
光ビームスプリッタ12および集束レンズ14を介して
、モニタ用フォトダイオード32に導かれる。モニタ用
フォトダイオード32の出力側は、自動レーザパワ−コ
ン10−ル回路22に接続され、半導体レーザ1のパワ
ーコントロールが行われる。なお、自動レーザパワーコ
ントロール回路22は、第5図に示す従来の回路のモニ
タ用フォトダイオード102をモニタ用フォトダイオー
ド32に置き換え、かつ各部抵抗値を調整することによ
り、従来装置を大幅に変えることなく使用することがで
きる。
つぎに、上述のように構成された第2実施例装置の自動
パワーコントロール動作を第8図に示す要部の拡大図に
基づいて説明する。図において、半導体レーザ1から放
射され、コリメータレンズ2で平行光束となったレーザ
ビーム110カ点E方向から進み、入射面BDの点Fで
整形プリズム3に入射し、ここで光路が屈折することに
よって等方性を有する円形ビームに整形された後、ビー
ムスプリッタ4のハーフミラ−面BCと点0で交差する
。ハーフミラ−の透過率をα11反射率を(1−αb)
とすると、光量P。なる入射光110のうち、PoXα
bなる光量が透過率130としてG方向。
いわゆる立上げミラー5に向かって進み、微小スポット
61に集束されて光ディスク51に投射され、反射率α
、で反射され、PoXαdXαbなる光量の戻り光13
1 としてハーフミラ−の0点に戻り、ハーフミラ−の
透過率α、によりその光量がP。Xα、×α、′に減少
し、半導体レーザ1への戻り光111となる成分と、反
射率αbなるハーフミラ−で反射され検出光学系に向か
う光量P0 α4×α、×(l−αb)なる反射光15
0とに分離される。
一方、ハーフミラ−面BCで反射されたP。×(1−α
、)なる光量の反射光140は、反射板31により入射
角かられずかに偏向されて反射され、ハーフミラ−面B
Cを通過して、α、×(1−αb)xPoなる光量のモ
ニタ光160として検出光学系20に向かう。
反射光150とモニタ光160は、1/2波長板16゜
偏光ビームスプリッタ12.集束レンズ14を通過して
フォトダイオード13.モニタ用フォトダイオード32
に各々入射し、フォトダイオード13により前述のよう
に、トラッキングエラー信号と再生情報信号が検出さ詐
、モニタ用フォトダイオード32により、自動レーザパ
ワーコントロール回路の制御信号が発せられる。
モニタ用フォトダイオード32の電気比カニ8は、モニ
タ用フォトダイオードの結合効率をα。、光電変換効率
をβとすると、 1、=P、 α、・(1−α、)α。・β   (2)
となる。
プリズム面AB、AC,CD等の反射率は通常1%以下
と低いので、反射光131.111.150等が多重反
射してモニタ用フォトダイオード32方向に進む光ノイ
ズがあったとしても、モニタ光140の光量Po αb
(1−αb)に対して無視できる程度となり、戻り光の
影響をほとんど排除することができる。
また、2式において、ハーフミラ−の透過率α5.フォ
トダイオード32の結合効率α。、および光電変換効率
βは使用する素子によって定まる定数であり、したがっ
てモニタ用フォトダイオード32の出力I、lは レー
ザビーム110の光量P。によって決まり、モニタ用フ
ォトダイオード32を含む自動レーザパワーコントロー
ル回路22により、半導体レーザの出射ビームの光量P
。を一定値に安定化することができる。
尚、モニタ用フォトダイオード32は、フォトダイオー
ド17に近接して配置することも可能である。
そして、フォトダイオード13または17とモニタ用フ
ォトダイオード32とを1つの多分割素子に置き換える
ことも可能である。この場合には、1つの素子を位置合
わせすることにより、再生情報信号のフォトダイオード
13または17とモニタ用フォトダイオード32とを位
置合わせすることができる。
〔発明の効果〕
この発明は前述のように、投射光学系に配されたビーム
スプリッタで半導体レーザの出射光の一部を反射させ、
その分岐光路上にモニタ用受光素子を配設してモニタ信
号を発生させ、このモニタ信号により自動レーザパワー
コントロールInの制御を行うよう構成した。その結果
、従来装置で問題となった半導体レーザの出射ビームの
強さに及ぼす戻り光およびその変動の影響が排除され、
自動レーザパワーコントロール動作を安定して行なえる
モニタ機能を備えた光ヘッド装置をその構成を複雑化さ
せることなく提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1実施例装置を下側から見た平面
図、第2図は第1および第2実施例装置の要部の側面図
、第3図は第1実施例装置の要部拡大図、第4図は従来
装置における半導体レーザの斜視断面図、第5図は従来
装置における自動レーザパワーコントロール回路図、第
6図は従来装置における半導体レーザの模式図、第7図
はこの発明の第2実施例装置を下側から見た平面図、第
8図は第2実施例装置の要部拡大図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)自動パワーコントロールされた半導体レーザから出
    射され円形ビームに整形されビームスプリッタを透過し
    た直線偏光光を微小スポットとして情報記録媒体に投射
    する投射光学系、および前記ビームスプリッタで分離を
    された前記情報記録媒体からの反射光から情報信号を検
    出する検出光学系を備え、情報信号の書き込み、消去、
    および読み出しを行うものにおいて、前記ビームスプリ
    ッタで反射された前記円形ビームの反射成分を受けて前
    記自動パワーコントロールの制御信号を発する受光素子
    を備えてなることを特徴とする光ヘッド装置。 2)自動パワーコントロールされた半導体レーザから出
    射され円形ビームに整形されビームスプリッタを透過し
    た直線偏光光を微小スポットとして情報記録媒体に投射
    する投射光学系、および前記ビームスプリッタで分離を
    された前記情報記録媒体からの反射光から情報信号を検
    出する検出光学系を備え、情報信号の書き込み、消去、
    および読み出しを行うものにおいて、前記ビームスプリ
    ッタで分岐された前記円形ビームの分岐成分を微小角度
    偏向させて、前記検出光学系に向けて反射する反射板を
    備え、前記検出光学系は、前記情報記録媒体からの反射
    光から情報信号を検出する受光素子と前記反射板で反射
    された、前記円形ビームの分岐成分を検出して、前記自
    動パワーコントロールの制御信号を発する受光素子とを
    備えてなることを特徴とする光ヘッド装置。 3)前記情報記録媒体からの反射光から情報信号を検出
    する受光素子と、前記反射板で反射された前記円形ビー
    ムの分岐成分を検出して前記自動パワーコントロールの
    制御信号を発する受光素子とが1つの多分割素子である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の光ヘッド
    装置。
JP1277706A 1988-10-28 1989-10-25 光ヘッド装置 Pending JPH02192041A (ja)

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JP1277706A JPH02192041A (ja) 1988-10-28 1989-10-25 光ヘッド装置

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JP63-272318 1988-10-28
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5475210A (en) * 1991-09-09 1995-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Noise reduction system for optical record and reproduction apparatus using auto-power controlled semiconductor laser device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5475210A (en) * 1991-09-09 1995-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Noise reduction system for optical record and reproduction apparatus using auto-power controlled semiconductor laser device

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