JP2001202651A - 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置 - Google Patents
光学ピックアップ装置及び光ディスク装置Info
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- JP2001202651A JP2001202651A JP2000014244A JP2000014244A JP2001202651A JP 2001202651 A JP2001202651 A JP 2001202651A JP 2000014244 A JP2000014244 A JP 2000014244A JP 2000014244 A JP2000014244 A JP 2000014244A JP 2001202651 A JP2001202651 A JP 2001202651A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光源から発せられた光束が入射されて光源の
出射パワーを検出するパワーモニタ用光検出素子を備え
た光学ピックアップ装置において、光学記録媒体からの
反射光束を検出するための信号検出用光検出素子におけ
る反射による迷光の影響を回避して、パワーモニタ用光
検出素子において光源の出射パワーを正確に検出するこ
とができるようにする。 【解決手段】 光源と、この光源から発せられた光束を
２方向の光路の光束に分割する光束分割素子と、この光
束分割素子により分割された光束の一方が入射されこの
光束の光強度を検出するパワーモニタ用光検出素子と、
該光束分割素子により分割された光束の他方が入射され
この光束を光学記録媒体上に集光させる対物レンズと、
この対物レンズにより集光された光束の光学記録媒体に
よる反射光束を受光する信号検出用光検出素子とを備え
ている。そして、信号検出用光検出素子は、受光面に入
射する光束の光軸に対して該受光面の法線を傾けた状態
に配設されていることを特徴とする
出射パワーを検出するパワーモニタ用光検出素子を備え
た光学ピックアップ装置において、光学記録媒体からの
反射光束を検出するための信号検出用光検出素子におけ
る反射による迷光の影響を回避して、パワーモニタ用光
検出素子において光源の出射パワーを正確に検出するこ
とができるようにする。 【解決手段】 光源と、この光源から発せられた光束を
２方向の光路の光束に分割する光束分割素子と、この光
束分割素子により分割された光束の一方が入射されこの
光束の光強度を検出するパワーモニタ用光検出素子と、
該光束分割素子により分割された光束の他方が入射され
この光束を光学記録媒体上に集光させる対物レンズと、
この対物レンズにより集光された光束の光学記録媒体に
よる反射光束を受光する信号検出用光検出素子とを備え
ている。そして、信号検出用光検出素子は、受光面に入
射する光束の光軸に対して該受光面の法線を傾けた状態
に配設されていることを特徴とする
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学記録媒体に対
して情報信号の書き込みまたは読出しを行う光学ピック
アップ装置及び光学記録媒体である光ディスクに対して
情報信号の記録または再生を行う光ディスク装置に関す
る。
して情報信号の書き込みまたは読出しを行う光学ピック
アップ装置及び光学記録媒体である光ディスクに対して
情報信号の記録または再生を行う光ディスク装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、情報信号の記録媒体として光ディ
スクが提案され、この光ディスクに対して情報信号の書
き込み及び読出しを行うための光学ピックアップ装置が
提案されている。この光学ピックアップ装置は、図３に
示すように、光源となる半導体レーザ１０１を備えて構
成されている。この半導体レーザ１０１から発せられた
光束は、いわゆる３スポット法またはＤＰＰ法によっ
て、トラッキングサーボに用いるトラッキングエラー信
号を生成するため、グレーティング１０２を透過して少
なくとも３本の光束に分割される。これら光束は、往路
及び復路の光束を分離するビームスプリッタ１０３に入
射する。このビームスプリッタ１０３では、一部の光束
が透過し残りが反射される。
スクが提案され、この光ディスクに対して情報信号の書
き込み及び読出しを行うための光学ピックアップ装置が
提案されている。この光学ピックアップ装置は、図３に
示すように、光源となる半導体レーザ１０１を備えて構
成されている。この半導体レーザ１０１から発せられた
光束は、いわゆる３スポット法またはＤＰＰ法によっ
て、トラッキングサーボに用いるトラッキングエラー信
号を生成するため、グレーティング１０２を透過して少
なくとも３本の光束に分割される。これら光束は、往路
及び復路の光束を分離するビームスプリッタ１０３に入
射する。このビームスプリッタ１０３では、一部の光束
が透過し残りが反射される。
【０００３】ビームスプリッタ１０３を透過した光束
は、半導体レーザ１０１の出射パワーをモニターする手
段であるパワーモニタ用光検出素子（ＦＰＤ）１０４に
入射する。このパワーモニタ用光検出素子１０４の出力
に基づいて、オートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路
１１１により、半導体レーザ１０１の出射パワーが一定
に制御される。
は、半導体レーザ１０１の出射パワーをモニターする手
段であるパワーモニタ用光検出素子（ＦＰＤ）１０４に
入射する。このパワーモニタ用光検出素子１０４の出力
に基づいて、オートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路
１１１により、半導体レーザ１０１の出射パワーが一定
に制御される。
【０００４】一方、ビームスプリッタ１０３で反射され
た光束は、発散光束を平行光束に変換する手段であるコ
リメータレンズ１０５を介し、ミラー１０６で反射され
た後、対物レンズ１０７により集光されて光ディスク１
０８の信号記録面上に微小スポットを形成する。このと
き、光ディスク１０８上には、３個の光スポットが形成
される。
た光束は、発散光束を平行光束に変換する手段であるコ
リメータレンズ１０５を介し、ミラー１０６で反射され
た後、対物レンズ１０７により集光されて光ディスク１
０８の信号記録面上に微小スポットを形成する。このと
き、光ディスク１０８上には、３個の光スポットが形成
される。
【０００５】このようにして光ディスク１０８に照射さ
れた光束の該光ディスク１０８の信号記録面からの反射
光束は、対物レンズ１０７を経て、ミラー１０６で反射
された後、コリメータレンズ１０５を経て収束光束とな
り、ビームスプリッタ１０３に入射する。このビームス
プリッタ１０３では、反射光束の一部が反射され、残り
が透過する。ビームスプリッタ１０３を透過した反射光
束は、このビームスプリッタ１０３を透過するときに、
フォーカスエラー信号を検出するための非点収差を発生
し、凹レンズ１０９を経て信号検出用光検出素子（Ｐ
Ｄ）１１０に入射する。
れた光束の該光ディスク１０８の信号記録面からの反射
光束は、対物レンズ１０７を経て、ミラー１０６で反射
された後、コリメータレンズ１０５を経て収束光束とな
り、ビームスプリッタ１０３に入射する。このビームス
プリッタ１０３では、反射光束の一部が反射され、残り
が透過する。ビームスプリッタ１０３を透過した反射光
束は、このビームスプリッタ１０３を透過するときに、
フォーカスエラー信号を検出するための非点収差を発生
し、凹レンズ１０９を経て信号検出用光検出素子（Ｐ
Ｄ）１１０に入射する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な光学ピックアップ装置においては、図４に示すよう
に、信号検出用光検出素子１１０に入射した反射光束の
大部分は電気信号に変換されるが、この反射光束の一部
は、信号検出用光検出素子１１０の受光面またはパッケ
ージで反射される。このように反射された反射光束は、
再び凹レンズ１０９を経てビームスプリッタ１０３に戻
る。このようにしてビームスプリッタ１０３に戻ってき
た反射光束は、一部が該ビームスプリッタ１０３を透過
し、残りは該ビームスプリッタ１０３で反射される。
な光学ピックアップ装置においては、図４に示すよう
に、信号検出用光検出素子１１０に入射した反射光束の
大部分は電気信号に変換されるが、この反射光束の一部
は、信号検出用光検出素子１１０の受光面またはパッケ
ージで反射される。このように反射された反射光束は、
再び凹レンズ１０９を経てビームスプリッタ１０３に戻
る。このようにしてビームスプリッタ１０３に戻ってき
た反射光束は、一部が該ビームスプリッタ１０３を透過
し、残りは該ビームスプリッタ１０３で反射される。
【０００７】ビームスプリッタ１０３を再び透過した反
射光束は、コリメータレンズ１０５、ミラー１０６及び
対物レンズ１０７を経て、再び光ディスク１０８に入射
する。このようにして光ディスク１０８に再入射した光
束は、この光ディスク１０８で再び反射され、各光学部
品を経て、再び信号検出用光検出素子１１０に入射す
る。このようにして、光ディスク１０８と信号検出用光
検出素子１１０との間で光束の反射が繰り返されること
により、光路長と波長との関係がある条件を満たす場合
には、光強度が強められたり、また、別の条件では、光
強度が弱められたりするという、いわゆる干渉が生じ
る。
射光束は、コリメータレンズ１０５、ミラー１０６及び
対物レンズ１０７を経て、再び光ディスク１０８に入射
する。このようにして光ディスク１０８に再入射した光
束は、この光ディスク１０８で再び反射され、各光学部
品を経て、再び信号検出用光検出素子１１０に入射す
る。このようにして、光ディスク１０８と信号検出用光
検出素子１１０との間で光束の反射が繰り返されること
により、光路長と波長との関係がある条件を満たす場合
には、光強度が強められたり、また、別の条件では、光
強度が弱められたりするという、いわゆる干渉が生じ
る。
【０００８】また、ビームスプリッタ１０３で反射され
た光束は、パワーモニタ用光検出素子１０４に入射す
る。このパワーモニタ用光検出素子１０４は、本来は、
半導体レーザ１０１からビームスプリッタ１０３を透過
して直接入射する光束のみを検出するべきであるので、
このように信号検出用光検出素子１１０及びビームスプ
リッタ１０３で反射されて入射する光束は不要な光、す
なわち、迷光である。
た光束は、パワーモニタ用光検出素子１０４に入射す
る。このパワーモニタ用光検出素子１０４は、本来は、
半導体レーザ１０１からビームスプリッタ１０３を透過
して直接入射する光束のみを検出するべきであるので、
このように信号検出用光検出素子１１０及びビームスプ
リッタ１０３で反射されて入射する光束は不要な光、す
なわち、迷光である。
【０００９】このように、上述の光学ピックアップ装置
において、パワーモニタ用光検出素子１０４では、半導
体レーザ１０１からの出射光のみでなく、信号検出用光
検出素子１１０での反射光束による迷光も合わせて検出
されてしまうので、該半導体レーザ１０１の出射パワー
を正確にモニタすることができない。
において、パワーモニタ用光検出素子１０４では、半導
体レーザ１０１からの出射光のみでなく、信号検出用光
検出素子１１０での反射光束による迷光も合わせて検出
されてしまうので、該半導体レーザ１０１の出射パワー
を正確にモニタすることができない。
【００１０】さらに、光ディスク１０８及び信号検出用
光検出素子１１０間の干渉条件は、光ディスク１０８の
面振れによる光路長の変化や、温度変化による半導体レ
ーザ１０１の発振波長の変化などにより変動する。干渉
条件が変動すると、パワーモニタ用光検出素子１０４に
入射する迷光の光量も変動する。
光検出素子１１０間の干渉条件は、光ディスク１０８の
面振れによる光路長の変化や、温度変化による半導体レ
ーザ１０１の発振波長の変化などにより変動する。干渉
条件が変動すると、パワーモニタ用光検出素子１０４に
入射する迷光の光量も変動する。
【００１１】このようにパワーモニタ用光検出素子１０
４で検出される光量自体が変動してしまうと、オートパ
ワーコントロール回路１１１の働きにより、半導体レー
ザ１０１の出射パワー自体が変動してしまう。この場
合、光ディスク１０８の再生時には、再生信号のレベル
が変動し、記録時には、記録パワーが変動してジッタ成
分が発生するという問題がある。
４で検出される光量自体が変動してしまうと、オートパ
ワーコントロール回路１１１の働きにより、半導体レー
ザ１０１の出射パワー自体が変動してしまう。この場
合、光ディスク１０８の再生時には、再生信号のレベル
が変動し、記録時には、記録パワーが変動してジッタ成
分が発生するという問題がある。
【００１２】さらに、光ディスク１０８と信号検出用光
検出素子１１０との間で干渉が起こることにより、ショ
ット雑音が発生し、再生信号のシグナル−ノイズ（Ｓ／
Ｎ）比が劣化してしまうという問題がある。
検出素子１１０との間で干渉が起こることにより、ショ
ット雑音が発生し、再生信号のシグナル−ノイズ（Ｓ／
Ｎ）比が劣化してしまうという問題がある。
【００１３】そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提
案されるものであって、光源から発せられた光束が入射
されて該光源の出射パワーを検出するパワーモニタ用光
検出素子を備えた光学ピックアップ装置であって、光学
記録媒体からの反射光束を検出するための信号検出用光
検出素子における反射による迷光の影響を回避して、パ
ワーモニタ用光検出素子において光源の出射パワーを正
確に検出することができるようになされた光学ピックア
ップ装置を提供しようとするものである。
案されるものであって、光源から発せられた光束が入射
されて該光源の出射パワーを検出するパワーモニタ用光
検出素子を備えた光学ピックアップ装置であって、光学
記録媒体からの反射光束を検出するための信号検出用光
検出素子における反射による迷光の影響を回避して、パ
ワーモニタ用光検出素子において光源の出射パワーを正
確に検出することができるようになされた光学ピックア
ップ装置を提供しようとするものである。
【００１４】また、本発明は、上述のようにパワーモニ
タ用光検出素子において光源の出射パワーを正確に検出
することができるようになされた光学ピックアップ装置
を備えた光ディスク装置を提供しようとするものであ
る。
タ用光検出素子において光源の出射パワーを正確に検出
することができるようになされた光学ピックアップ装置
を備えた光ディスク装置を提供しようとするものであ
る。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明に係る光学ピックアップ装置は、光源と、こ
の光源から発せられた光束を２方向の光路の光束に分割
する光束分割素子と、この光束分割素子により分割され
た光束の一方が入射されこの光束の光強度を検出するパ
ワーモニタ用光検出素子と、該光束分割素子により分割
された光束の他方が入射されこの光束を光学記録媒体上
に集光させる対物レンズと、この対物レンズにより集光
された光束の光学記録媒体による反射光束を受光する信
号検出用光検出素子とを備えている。そして、信号検出
用光検出素子は、受光面に入射する光束の光軸に対して
該受光面の法線を傾けた状態に配設されていることを特
徴とするものである。
め、本発明に係る光学ピックアップ装置は、光源と、こ
の光源から発せられた光束を２方向の光路の光束に分割
する光束分割素子と、この光束分割素子により分割され
た光束の一方が入射されこの光束の光強度を検出するパ
ワーモニタ用光検出素子と、該光束分割素子により分割
された光束の他方が入射されこの光束を光学記録媒体上
に集光させる対物レンズと、この対物レンズにより集光
された光束の光学記録媒体による反射光束を受光する信
号検出用光検出素子とを備えている。そして、信号検出
用光検出素子は、受光面に入射する光束の光軸に対して
該受光面の法線を傾けた状態に配設されていることを特
徴とするものである。
【００１６】そして、本発明に係る光ディスク装置は、
光学記録媒体である光ディスクを回転操作する回転操作
手段と、この回転操作手段によって回転操作される光デ
ィスクに対して情報信号の書き込みまたは読み出しを行
う光学ピックアップ装置とを備えている。そして、光学
ピックアップ装置は、光源と、この光源から発せられた
光束を２方向の光路の光束に分割する光束分割素子と、
この光束分割素子により分割された光束の一方が入射さ
れこの光束の光強度を検出するパワーモニタ用光検出素
子と、該光束分割素子により分割された光束の他方が入
射されこの光束を光ディスク上に集光させる対物レンズ
と、この対物レンズにより集光された光束の上記光ディ
スクによる反射光束を受光する信号検出用光検出素子と
を備えており、該信号検出用光検出素子が、受光面に入
射する光束の光軸に対して該受光面の法線を傾けた状態
に配設されていることを特徴とするものである。
光学記録媒体である光ディスクを回転操作する回転操作
手段と、この回転操作手段によって回転操作される光デ
ィスクに対して情報信号の書き込みまたは読み出しを行
う光学ピックアップ装置とを備えている。そして、光学
ピックアップ装置は、光源と、この光源から発せられた
光束を２方向の光路の光束に分割する光束分割素子と、
この光束分割素子により分割された光束の一方が入射さ
れこの光束の光強度を検出するパワーモニタ用光検出素
子と、該光束分割素子により分割された光束の他方が入
射されこの光束を光ディスク上に集光させる対物レンズ
と、この対物レンズにより集光された光束の上記光ディ
スクによる反射光束を受光する信号検出用光検出素子と
を備えており、該信号検出用光検出素子が、受光面に入
射する光束の光軸に対して該受光面の法線を傾けた状態
に配設されていることを特徴とするものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
【００１８】この実施の形態は、本発明に係る光学ピッ
クアップ装置を、光学記録媒体として光ディスクを用い
る装置として構成したものである。すなわち、この光学
ピックアップ装置は、光ディスクに対して情報信号の書
き込み及び読出しを行うための装置である。
クアップ装置を、光学記録媒体として光ディスクを用い
る装置として構成したものである。すなわち、この光学
ピックアップ装置は、光ディスクに対して情報信号の書
き込み及び読出しを行うための装置である。
【００１９】また、本発明に係る光ディスク装置は、光
ディスクの中央部分を保持して回転操作する回転操作手
段となる回転操作機構と、本発明に係る光学ピックアッ
プ装置を備えて構成されている。この光ディスク装置に
おいて、光学ピックアップ装置は、回転操作機構によっ
て保持され回転操作される光ディスクの信号記録面に対
向されて保持され、該光ディスクに対する情報信号の書
き込み及び読出しを行う。また、この光ディスク装置
は、光学ピックアップ装置及び回転操作機構を制御する
制御回路、光学ピックアップ装置が光ディスクに対して
書き込み及び読出しを行う情報信号を変調及び復調する
信号処理装置などを備えて構成され、所定の情報信号の
該光ディスクに対する記録及び再生が行えるように構成
されている。
ディスクの中央部分を保持して回転操作する回転操作手
段となる回転操作機構と、本発明に係る光学ピックアッ
プ装置を備えて構成されている。この光ディスク装置に
おいて、光学ピックアップ装置は、回転操作機構によっ
て保持され回転操作される光ディスクの信号記録面に対
向されて保持され、該光ディスクに対する情報信号の書
き込み及び読出しを行う。また、この光ディスク装置
は、光学ピックアップ装置及び回転操作機構を制御する
制御回路、光学ピックアップ装置が光ディスクに対して
書き込み及び読出しを行う情報信号を変調及び復調する
信号処理装置などを備えて構成され、所定の情報信号の
該光ディスクに対する記録及び再生が行えるように構成
されている。
【００２０】光学ピックアップ装置は、図１に示すよう
に、光源となる半導体レーザ１を備えて構成されてい
る。この半導体レーザ１から発せられた光束は、いわゆ
る３スポット法またはＤＰＰ法によって、トラッキング
サーボに用いるトラッキングエラー信号を生成するた
め、グレーティング２を透過して少なくとも３本の光束
に分割される。これら光束は、往路及び復路の光束を分
離する光束分割素子となるビームスプリッタ３に入射す
る。このビームスプリッタ３は、平行平板状に形成さ
れ、入射光束の光軸に対して４５°の傾斜を有して配設
されている。このビームスプリッタ３では、入射光束の
一部が透過し、残りが反射されることにより、光束が分
割される。
に、光源となる半導体レーザ１を備えて構成されてい
る。この半導体レーザ１から発せられた光束は、いわゆ
る３スポット法またはＤＰＰ法によって、トラッキング
サーボに用いるトラッキングエラー信号を生成するた
め、グレーティング２を透過して少なくとも３本の光束
に分割される。これら光束は、往路及び復路の光束を分
離する光束分割素子となるビームスプリッタ３に入射す
る。このビームスプリッタ３は、平行平板状に形成さ
れ、入射光束の光軸に対して４５°の傾斜を有して配設
されている。このビームスプリッタ３では、入射光束の
一部が透過し、残りが反射されることにより、光束が分
割される。
【００２１】ビームスプリッタ３を透過した光束は、半
導体レーザ１の出射パワーをモニターする手段であるパ
ワーモニタ用光検出素子（ＦＰＤ）４に入射する。この
パワーモニタ用光検出素子４の前面には、入射光束を制
限するためのパワーモニタ用光検出素子用アパーチャ１
２が設けられている。このパワーモニタ用光検出素子４
の出力に基づいて、オートパワーコントロール（ＡＰ
Ｃ）回路１３により、半導体レーザ１の出射パワーが一
定に制御される。
導体レーザ１の出射パワーをモニターする手段であるパ
ワーモニタ用光検出素子（ＦＰＤ）４に入射する。この
パワーモニタ用光検出素子４の前面には、入射光束を制
限するためのパワーモニタ用光検出素子用アパーチャ１
２が設けられている。このパワーモニタ用光検出素子４
の出力に基づいて、オートパワーコントロール（ＡＰ
Ｃ）回路１３により、半導体レーザ１の出射パワーが一
定に制御される。
【００２２】一方、ビームスプリッタ３で反射された光
束は、コリメータレンズ５を透過することにより平行光
束となされて、ミラー６で反射され、対物レンズ７に入
射される。対物レンズ７のミラー６側には、対物レンズ
用アパーチャ１１が配設されている。この対物レンズ７
は、入射光束を光ディスク１０８の信号記録面上に集光
させ、微小スポットを形成する。このとき、光ディスク
１０８上には、３個の光スポットが形成される。この光
ディスク１０８は、光ディスク装置において、回転操作
機構によって保持されて回転操作されるものである。
束は、コリメータレンズ５を透過することにより平行光
束となされて、ミラー６で反射され、対物レンズ７に入
射される。対物レンズ７のミラー６側には、対物レンズ
用アパーチャ１１が配設されている。この対物レンズ７
は、入射光束を光ディスク１０８の信号記録面上に集光
させ、微小スポットを形成する。このとき、光ディスク
１０８上には、３個の光スポットが形成される。この光
ディスク１０８は、光ディスク装置において、回転操作
機構によって保持されて回転操作されるものである。
【００２３】このようにして光ディスク１０８に照射さ
れた光束の該光ディスク１０８の信号記録面からの反射
光束は、対物レンズ７を経て、ミラー６で反射された
後、コリメータレンズ５を経て収束光束となり、ビーム
スプリッタ３に入射する。このビームスプリッタ３で
は、反射光束の一部が反射され、残りが透過する。ビー
ムスプリッタ３を透過した反射光束は、このビームスプ
リッタ３を透過するときに、フォーカスエラー信号を検
出するための非点収差を発生し、凹レンズ９を経て信号
検出用光検出素子（ＰＤ）１０に入射する。
れた光束の該光ディスク１０８の信号記録面からの反射
光束は、対物レンズ７を経て、ミラー６で反射された
後、コリメータレンズ５を経て収束光束となり、ビーム
スプリッタ３に入射する。このビームスプリッタ３で
は、反射光束の一部が反射され、残りが透過する。ビー
ムスプリッタ３を透過した反射光束は、このビームスプ
リッタ３を透過するときに、フォーカスエラー信号を検
出するための非点収差を発生し、凹レンズ９を経て信号
検出用光検出素子（ＰＤ）１０に入射する。
【００２４】信号検出用光検出素子１０は、受光面を反
射光束の光軸に対して垂直とする状態ではなく、傾けら
れて配設されている。この信号検出用光検出素子１０に
対して入射した光束の大部分は、この信号検出用光検出
素子１０にて電気信号に変換されるが、光束の一部は、
信号検出用光検出素子１０の受光面またはパッケージの
表面で反射されて迷光となる。ここで、信号検出用光検
出素子１０が受光面を光軸に対して垂直とする状態から
傾けられているため、この信号検出用光検出素子１０か
らの反射光は、光軸に対して斜めの角度をもつ。
射光束の光軸に対して垂直とする状態ではなく、傾けら
れて配設されている。この信号検出用光検出素子１０に
対して入射した光束の大部分は、この信号検出用光検出
素子１０にて電気信号に変換されるが、光束の一部は、
信号検出用光検出素子１０の受光面またはパッケージの
表面で反射されて迷光となる。ここで、信号検出用光検
出素子１０が受光面を光軸に対して垂直とする状態から
傾けられているため、この信号検出用光検出素子１０か
らの反射光は、光軸に対して斜めの角度をもつ。
【００２５】例えば、信号検出用光検出素子１０の受光
面が光軸に対して３°乃至５°傾いていれば、この受光
面による反射光は、入射光軸に対して信号検出用光検出
素子１０の受光面の傾きの２倍の６°乃至１０°の傾き
をもつことになる。この信号検出用光検出素子１０によ
る反射光は、再び、凹レンズ９及びビームスプリッタ３
に達し、このビームスプリッタ３において、一部は透過
し、残りは反射される。
面が光軸に対して３°乃至５°傾いていれば、この受光
面による反射光は、入射光軸に対して信号検出用光検出
素子１０の受光面の傾きの２倍の６°乃至１０°の傾き
をもつことになる。この信号検出用光検出素子１０によ
る反射光は、再び、凹レンズ９及びビームスプリッタ３
に達し、このビームスプリッタ３において、一部は透過
し、残りは反射される。
【００２６】信号検出用光検出素子１０において反射さ
れ、さらに、ビームスプリッタ３を透過した光束は、光
学系の光軸に対して傾いているために、大部分がコリメ
ータレンズ５の外縁でけられ、残りの光も対物レンズ７
のミラー６側に置かれている対物レンズ用アパーチャ１
１でけられるため、対物レンズ７に入射しない。したが
って、この光学ピックアップ装置においては、信号検出
用光検出素子１０において反射された光束が光ディスク
１０８に到達することがない。
れ、さらに、ビームスプリッタ３を透過した光束は、光
学系の光軸に対して傾いているために、大部分がコリメ
ータレンズ５の外縁でけられ、残りの光も対物レンズ７
のミラー６側に置かれている対物レンズ用アパーチャ１
１でけられるため、対物レンズ７に入射しない。したが
って、この光学ピックアップ装置においては、信号検出
用光検出素子１０において反射された光束が光ディスク
１０８に到達することがない。
【００２７】すなわち、この光学ピックアップ装置にお
いては、光ディスク１０８と信号検出用光検出素子１０
との間の反射の繰返しは起こらず、干渉も起こらない。
したがって、光ディスク１０８の面振れによる光路長変
化や、温度変化による半導体レーザ１の発振波長の変化
などがあっても、パワーモニタ用光検出素子４により検
出される光束の光強度の変動は起こらない。
いては、光ディスク１０８と信号検出用光検出素子１０
との間の反射の繰返しは起こらず、干渉も起こらない。
したがって、光ディスク１０８の面振れによる光路長変
化や、温度変化による半導体レーザ１の発振波長の変化
などがあっても、パワーモニタ用光検出素子４により検
出される光束の光強度の変動は起こらない。
【００２８】さらに、信号検出用光検出素子１０におい
て反射され、さらに、ビームスプリッタ３により反射さ
れた光束は、図２に示すように、光学系の光軸に対して
傾いているために、パワーモニタ用光検出素子用アパー
チャ１２によって遮られ、パワーモニタ用光検出素子４
に入射しない。信号検出用光検出素子１０の傾き角度
は、信号検出用光検出素子１０において反射され、ビー
ムスプリッタ３により反射された光束がアパーチャ１２
内に入射しないように設定されている。
て反射され、さらに、ビームスプリッタ３により反射さ
れた光束は、図２に示すように、光学系の光軸に対して
傾いているために、パワーモニタ用光検出素子用アパー
チャ１２によって遮られ、パワーモニタ用光検出素子４
に入射しない。信号検出用光検出素子１０の傾き角度
は、信号検出用光検出素子１０において反射され、ビー
ムスプリッタ３により反射された光束がアパーチャ１２
内に入射しないように設定されている。
【００２９】したがって、パワーモニタ用光検出素子４
は、半導体レーザ１からビームスプリッタ３を透過して
直接入射する光束のみを検出することができるため、半
導体レーザ１の出射パワーのモニタ手段として正確であ
る。そのため、オートパワーコントロール回路１３は、
パワーモニタ用光検出素子４の出力に基づいて、半導体
レーザ１の出射パワーを正確に制御することができる。
この場合、半導体レーザ１の出射パワーの変動も生じな
いため、光ディスク再生時の信号レベルの変動や、記録
時のジッタ成分発生も起こらず、再生特性、記録特性は
良好である。
は、半導体レーザ１からビームスプリッタ３を透過して
直接入射する光束のみを検出することができるため、半
導体レーザ１の出射パワーのモニタ手段として正確であ
る。そのため、オートパワーコントロール回路１３は、
パワーモニタ用光検出素子４の出力に基づいて、半導体
レーザ１の出射パワーを正確に制御することができる。
この場合、半導体レーザ１の出射パワーの変動も生じな
いため、光ディスク再生時の信号レベルの変動や、記録
時のジッタ成分発生も起こらず、再生特性、記録特性は
良好である。
【００３０】
【発明の効果】上述のように、本発明に係る光学ピック
アップ装置及び光ディスク装置においては、パワーモニ
タ用光検出素子に迷光が入射することを防ぐことができ
るため、半導体レーザの出射パワーの制御を正確に行う
ことができる。そして、光学記録媒体の再生時のパワー
変動を抑えることができるため、再生信号レベル変動を
抑えることができる。さらに、光学記録媒体に対する記
録時のパワー変動を抑えることができるため、記録ジッ
タ成分発生を抑えることができる。
アップ装置及び光ディスク装置においては、パワーモニ
タ用光検出素子に迷光が入射することを防ぐことができ
るため、半導体レーザの出射パワーの制御を正確に行う
ことができる。そして、光学記録媒体の再生時のパワー
変動を抑えることができるため、再生信号レベル変動を
抑えることができる。さらに、光学記録媒体に対する記
録時のパワー変動を抑えることができるため、記録ジッ
タ成分発生を抑えることができる。
【００３１】また、この光学ピックアップ装置及び光デ
ィスク装置においては、信号検出用光検出素子と光学記
録媒体との間の干渉を抑えることができるため、信号検
出用光検出素子で発生するショット雑音を抑えることが
でき、高いレベルの再生信号のシグナル−ノイズ（Ｓ／
Ｎ）比を確保することができる。
ィスク装置においては、信号検出用光検出素子と光学記
録媒体との間の干渉を抑えることができるため、信号検
出用光検出素子で発生するショット雑音を抑えることが
でき、高いレベルの再生信号のシグナル−ノイズ（Ｓ／
Ｎ）比を確保することができる。
【００３２】すなわち、本発明は、光源から発せられた
光束が入射されて該光源の出射パワーを検出するパワー
モニタ用光検出素子を備えた光学ピックアップ装置であ
って、光学記録媒体からの反射光束を検出するための信
号検出用光検出素子における反射による迷光の影響を回
避して、パワーモニタ用光検出素子において光源の出射
パワーを正確に検出することができるようになされた光
学ピックアップ装置を提供することができるものであ
る。
光束が入射されて該光源の出射パワーを検出するパワー
モニタ用光検出素子を備えた光学ピックアップ装置であ
って、光学記録媒体からの反射光束を検出するための信
号検出用光検出素子における反射による迷光の影響を回
避して、パワーモニタ用光検出素子において光源の出射
パワーを正確に検出することができるようになされた光
学ピックアップ装置を提供することができるものであ
る。
【００３３】また、本発明は、上述のようにパワーモニ
タ用光検出素子において光源の出射パワーを正確に検出
することができるようになされた光学ピックアップ装置
を備えた光ディスク装置を提供することができるもので
ある。
タ用光検出素子において光源の出射パワーを正確に検出
することができるようになされた光学ピックアップ装置
を備えた光ディスク装置を提供することができるもので
ある。
【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の要部の構
成を示す側面図である。
成を示す側面図である。
【図２】上記光学ピックアップ装置における光路を説明
する側面図である。
する側面図である。
【図３】従来の光学ピックアップ装置の要部の構成を示
す側面図である。
す側面図である。
【図４】上記従来の光学ピックアップ装置における光路
を説明する側面図である。
を説明する側面図である。
１ 半導体レーザ、３ ビームスプリッタ、４ パワー
モニタ用光検出素子、７ 対物レンズ、１０ 信号検出
用光検出素子、１１ 対物レンズ用アパーチャ、１２
パワーモニタ用光検出素子用アパーチャ、１０８ 光デ
ィスク
モニタ用光検出素子、７ 対物レンズ、１０ 信号検出
用光検出素子、１１ 対物レンズ用アパーチャ、１２
パワーモニタ用光検出素子用アパーチャ、１０８ 光デ
ィスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 榊原 啓行 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 Ｆターム(参考） 5D119 AA20 BA01 FA05 HA13 HA38 JA22 LB07 LB09
Claims (4)
- 【請求項１】 光源と、 上記光源から発せられた光束を２方向の光路の光束に分
割する光束分割素子と、 上記光束分割素子により分割された光束の一方が入射さ
れ、この光束の光強度を検出するパワーモニタ用光検出
素子と、 上記光束分割素子により分割された光束の他方が入射さ
れ、この光束を光学記録媒体上に集光させる対物レンズ
と、 上記対物レンズにより集光された光束の上記光学記録媒
体による反射光束を受光する信号検出用光検出素子とを
備え、 上記信号検出用光検出素子は、受光面に入射する光束の
光軸に対して該受光面の法線を傾けた状態に配設されて
いることを特徴とする光学ピックアップ装置。 - 【請求項２】 パワーモニタ用光検出素子に対して所定
角度以上の傾斜で入射する光束を遮断する絞りを備えた
ことを特徴とする請求項１記載の光学ピックアップ装
置。 - 【請求項３】 光学記録媒体である光ディスクを回転操
作する回転操作手段と、 上記回転操作手段によって回転操作される光ディスクに
対して情報信号の書き込みまたは読み出しを行う光学ピ
ックアップ装置とを備え、 上記光学ピックアップ装置は、光源と、この光源から発
せられた光束を２方向の光路の光束に分割する光束分割
素子と、この光束分割素子により分割された光束の一方
が入射されこの光束の光強度を検出するパワーモニタ用
光検出素子と、該光束分割素子により分割された光束の
他方が入射されこの光束を光ディスク上に集光させる対
物レンズと、この対物レンズにより集光された光束の上
記光ディスクによる反射光束を受光する信号検出用光検
出素子とを備えており、該信号検出用光検出素子が、受
光面に入射する光束の光軸に対して該受光面の法線を傾
けた状態に配設されていることを特徴とする光ディスク
装置。 - 【請求項４】 光学ピックアップ装置は、パワーモニタ
用光検出素子に対して所定角度以上の傾斜で入射する光
束を遮断する絞りを備えていることを特徴とする請求項
３記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000014244A JP2001202651A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000014244A JP2001202651A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001202651A true JP2001202651A (ja) | 2001-07-27 |
Family
ID=18541728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000014244A Withdrawn JP2001202651A (ja) | 2000-01-20 | 2000-01-20 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001202651A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003019545A1 (en) * | 2001-08-27 | 2003-03-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical scanning device |
| EP1531460A3 (en) * | 2003-11-12 | 2007-10-17 | Hitachi-LG Data Storage Korea Inc. | Recording method of an optical disc device and method for determining an abnormality of the optical disc device |
| JP7427487B2 (ja) | 2020-03-24 | 2024-02-05 | キヤノン株式会社 | 光学装置、車載システム、および移動装置 |
-
2000
- 2000-01-20 JP JP2000014244A patent/JP2001202651A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003019545A1 (en) * | 2001-08-27 | 2003-03-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical scanning device |
| CN1314026C (zh) * | 2001-08-27 | 2007-05-02 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 光学扫描装置 |
| EP1531460A3 (en) * | 2003-11-12 | 2007-10-17 | Hitachi-LG Data Storage Korea Inc. | Recording method of an optical disc device and method for determining an abnormality of the optical disc device |
| US7672206B2 (en) | 2003-11-12 | 2010-03-02 | Hitachi-Lg Data Storage Korea, Inc. | Recording method of optical disc device and method for determining whether there is abnormality in the same |
| JP7427487B2 (ja) | 2020-03-24 | 2024-02-05 | キヤノン株式会社 | 光学装置、車載システム、および移動装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070403 |