JP2000021001A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JP2000021001A JP2000021001A JP10185332A JP18533298A JP2000021001A JP 2000021001 A JP2000021001 A JP 2000021001A JP 10185332 A JP10185332 A JP 10185332A JP 18533298 A JP18533298 A JP 18533298A JP 2000021001 A JP2000021001 A JP 2000021001A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- pickup device
- optical
- reflection
- optical pickup
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造ばらつきや環境変動の影響を受けにくく
信頼性の高いフロントモニタ方式のＡＰＣを用いて、光
ビームの出力パワーを制御可能な光ピックアップ装置を
提供する。 【解決手段】 半導体レーザ２０から出射された光ビー
ムは、コリメータレンズ２１とグレーティング２２を介
して整形プリズム２４に入射される。このとき、一部の
光ビームは、ＡＲコートを施していない反射面２４ａで
反射され、フロントモニタ検出器２３に導かれ、ＡＰＣ
回路３１により半導体レーザ２０の出力パワーが一定に
保たれるよう制御される。一方、反射面２４ａを通過し
た光ビームは、反射膜２４ｂを抜け、１／４波長板２
５、反射プリズム２６、対物レンズ２７を介して光ディ
スクに安定な光量で照射され、その反射光は最終的にデ
ィテクタ３０にて受光される。
信頼性の高いフロントモニタ方式のＡＰＣを用いて、光
ビームの出力パワーを制御可能な光ピックアップ装置を
提供する。 【解決手段】 半導体レーザ２０から出射された光ビー
ムは、コリメータレンズ２１とグレーティング２２を介
して整形プリズム２４に入射される。このとき、一部の
光ビームは、ＡＲコートを施していない反射面２４ａで
反射され、フロントモニタ検出器２３に導かれ、ＡＰＣ
回路３１により半導体レーザ２０の出力パワーが一定に
保たれるよう制御される。一方、反射面２４ａを通過し
た光ビームは、反射膜２４ｂを抜け、１／４波長板２
５、反射プリズム２６、対物レンズ２７を介して光ディ
スクに安定な光量で照射され、その反射光は最終的にデ
ィテクタ３０にて受光される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源から出射され
る光ビームを情報記録媒体に照射して記録情報を記録又
は再生するために用いる光ピックアップ装置の技術分野
に属し、特に、フロントモニタ方式によって光源から出
射される光ビームの光量を検出して、該光ビームのパワ
ー制御を行う光ピックアップ装置の技術分野に属する。
る光ビームを情報記録媒体に照射して記録情報を記録又
は再生するために用いる光ピックアップ装置の技術分野
に属し、特に、フロントモニタ方式によって光源から出
射される光ビームの光量を検出して、該光ビームのパワ
ー制御を行う光ピックアップ装置の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、光ピックアップにおける光源
としての半導体レーザは、温度変動や経年変化によって
出射パワーが変動するため、ＡＰＣ（Auto Power Con
trol）によりパワー制御を行って、光ディスク等の情報
記録媒体に対して照射される光ビームのパワーレベルの
安定化を図ることが行われている。このＡＰＣの代表的
な方式として、リアモニタ方式とフロントモニタ方式が
知られている。
としての半導体レーザは、温度変動や経年変化によって
出射パワーが変動するため、ＡＰＣ（Auto Power Con
trol）によりパワー制御を行って、光ディスク等の情報
記録媒体に対して照射される光ビームのパワーレベルの
安定化を図ることが行われている。このＡＰＣの代表的
な方式として、リアモニタ方式とフロントモニタ方式が
知られている。
【０００３】リアモニタ方式は、半導体レーザの放射面
とは反対側の端面から出射される光ビームをモニタする
ため、検出精度等の問題があることから、一般的にフロ
ントモニタ方式が採用されている。このフロントモニタ
方式は、半導体レーザから出射される光ビームの一部を
モニタして半導体レーザの駆動回路にフィードバック
し、光ビームのパワーを一定に保つように制御する方式
である。
とは反対側の端面から出射される光ビームをモニタする
ため、検出精度等の問題があることから、一般的にフロ
ントモニタ方式が採用されている。このフロントモニタ
方式は、半導体レーザから出射される光ビームの一部を
モニタして半導体レーザの駆動回路にフィードバック
し、光ビームのパワーを一定に保つように制御する方式
である。
【０００４】図３は従来のフロントモニタ方式を採用し
た光ピックアップ装置の概略構成を示す図である。図３
において、半導体レーザ１から出射された光ビームは、
コリメータレンズ２により平行光にされ、グレーティン
グ３を介してビームスプリッタ４に入射される。グレー
ティング３は光ビームを光ディスク８から記録情報を読
み取るための主ビームと、トラッキングサーボに使用す
るための２つの副ビームの合計３ビームに分離する。
た光ピックアップ装置の概略構成を示す図である。図３
において、半導体レーザ１から出射された光ビームは、
コリメータレンズ２により平行光にされ、グレーティン
グ３を介してビームスプリッタ４に入射される。グレー
ティング３は光ビームを光ディスク８から記録情報を読
み取るための主ビームと、トラッキングサーボに使用す
るための２つの副ビームの合計３ビームに分離する。
【０００５】ビームスプリッタ４は、半導体レーザ1か
ら出射された光ビームのうち約９０％を透過すると共
に、残りの約１０％を反射する反射膜５を有しており、
この反射膜５の作用によって、ビームスプリッタ４に入
射した光ビームは、その約９０％が透過して１／４波長
板６に導かれると共に、約１０％は反射して集光レンズ
１２に導かれる。１／４波長板６に導かれた光ビーム
は、対物レンズ７によって光ディスク８の情報記録面上
に集光されて、規定の大きさのビームスポットを形成す
る。
ら出射された光ビームのうち約９０％を透過すると共
に、残りの約１０％を反射する反射膜５を有しており、
この反射膜５の作用によって、ビームスプリッタ４に入
射した光ビームは、その約９０％が透過して１／４波長
板６に導かれると共に、約１０％は反射して集光レンズ
１２に導かれる。１／４波長板６に導かれた光ビーム
は、対物レンズ７によって光ディスク８の情報記録面上
に集光されて、規定の大きさのビームスポットを形成す
る。
【０００６】光ディスク８の情報記録面上に集光された
光ビームは反射され、対物レンズ７、１／４波長板６を
介してビームスプリッタ４の反射膜５に入射される。こ
の反射膜５は、光ディスク８の方向からの光ビームに対
しては、ほぼ１００％反射する特性を有するので、反射
膜５に入射された光ビームは、集光レンズ９及び光ビー
ムに非点収差を与えるシリンドリカルレンズ１０を経
て、ディテクタ１１に導かれる。
光ビームは反射され、対物レンズ７、１／４波長板６を
介してビームスプリッタ４の反射膜５に入射される。こ
の反射膜５は、光ディスク８の方向からの光ビームに対
しては、ほぼ１００％反射する特性を有するので、反射
膜５に入射された光ビームは、集光レンズ９及び光ビー
ムに非点収差を与えるシリンドリカルレンズ１０を経
て、ディテクタ１１に導かれる。
【０００７】一方、半導体レーザ１から出射された光ビ
ームのうち、ビームスプリッタ４の反射膜５で反射され
た約１０％の光ビームは、集光レンズ１２で集光されフ
ロントモニタ検出器１３に照射される。
ームのうち、ビームスプリッタ４の反射膜５で反射され
た約１０％の光ビームは、集光レンズ１２で集光されフ
ロントモニタ検出器１３に照射される。
【０００８】フロントモニタ検出器１３は、照射された
光ビームの光量に応じた電気信号を出力する。この電気
信号は半導体レーザ１のパワー制御を行うレーザ制御回
路を含む自動出力制御（ＡＰＣ）回路１４に供給され
る。ＡＰＣ回路１４は、フロントモニタ検出器１３から
の電気信号に応じて半導体レーザ１を駆動するための最
適な駆動信号を求め、半導体レーザ１のこの駆動信号を
供給する。このように、半導体レーザ１の出力パワー
は、フロントモニタ検出器１３から出力される電気信号
に基づいて、ＡＰＣ回路１４により生成される駆動信号
によって制御される。
光ビームの光量に応じた電気信号を出力する。この電気
信号は半導体レーザ１のパワー制御を行うレーザ制御回
路を含む自動出力制御（ＡＰＣ）回路１４に供給され
る。ＡＰＣ回路１４は、フロントモニタ検出器１３から
の電気信号に応じて半導体レーザ１を駆動するための最
適な駆動信号を求め、半導体レーザ１のこの駆動信号を
供給する。このように、半導体レーザ１の出力パワー
は、フロントモニタ検出器１３から出力される電気信号
に基づいて、ＡＰＣ回路１４により生成される駆動信号
によって制御される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
フロントモニタ方式を採用した光ピックアップ装置で
は、上述のように光ビームの約１０％が反射膜５により
反射されてフロントモニタ検出器１３に導かれるため、
その分光ディスク８に照射される光ビームのパワーが減
少し、光ビームの利用効率を低下させることが問題とな
る。
フロントモニタ方式を採用した光ピックアップ装置で
は、上述のように光ビームの約１０％が反射膜５により
反射されてフロントモニタ検出器１３に導かれるため、
その分光ディスク８に照射される光ビームのパワーが減
少し、光ビームの利用効率を低下させることが問題とな
る。
【００１０】また、反射膜５の反射率、透過率などの特
性は、±５％程度のばらつきがあるので、５％〜１５％
の広い範囲で光ビームの反射が変動することを想定する
必要があり、設計や調整が困難となる。更に、反射膜５
の反射率等の特性は、温度や湿度等に応じて変動するた
め、ＡＰＣによるパワー制御の信頼性を低下させること
が問題となる。
性は、±５％程度のばらつきがあるので、５％〜１５％
の広い範囲で光ビームの反射が変動することを想定する
必要があり、設計や調整が困難となる。更に、反射膜５
の反射率等の特性は、温度や湿度等に応じて変動するた
め、ＡＰＣによるパワー制御の信頼性を低下させること
が問題となる。
【００１１】そこで、本発明は上述した問題に鑑みなさ
れたものであり、光ビームの利用効率を確保しつつ、製
造ばらつきや環境変動の影響を受けにくく信頼性の高い
ＡＰＣを行うことができる光ピックアップ装置を提供す
ることを目的とする。
れたものであり、光ビームの利用効率を確保しつつ、製
造ばらつきや環境変動の影響を受けにくく信頼性の高い
ＡＰＣを行うことができる光ピックアップ装置を提供す
ることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の光ピックアップ装置は、光源から
出射される光ビームを情報記録媒体に照射して、当該情
報記録媒体から反射された光ビームを受光するよう光学
系が構成された光ピックアップ装置であって、前記光学
系は、無反射コーティングが施されない入射面を有する
光学部品を備え、当該入射面に対し前記光源から出射さ
れる光ビームを所定の入射角で斜め方向から入射させる
と共に、当該入射面から反射される前記光ビームの一部
を受光する検出手段を設けて前記光学系を構成し、当該
検出手段から出力される検出信号に基づいて前記光源か
ら出射される光ビームの出力パワーを制御することを特
徴とする。
に、請求項１に記載の光ピックアップ装置は、光源から
出射される光ビームを情報記録媒体に照射して、当該情
報記録媒体から反射された光ビームを受光するよう光学
系が構成された光ピックアップ装置であって、前記光学
系は、無反射コーティングが施されない入射面を有する
光学部品を備え、当該入射面に対し前記光源から出射さ
れる光ビームを所定の入射角で斜め方向から入射させる
と共に、当該入射面から反射される前記光ビームの一部
を受光する検出手段を設けて前記光学系を構成し、当該
検出手段から出力される検出信号に基づいて前記光源か
ら出射される光ビームの出力パワーを制御することを特
徴とする。
【００１３】この発明によれば、半導体レーザ等の光源
から出射された光ビームが光学部品の入射面に斜め方向
から所定の入射角で入射される。このとき、この入射面
には無反射コーティングが施されていないので、所定の
反射率で一部の光ビームが反射され、検出手段により受
光される。そして、検出手段から検出信号が出力されて
光源にフィードバックされ、光ビームの出力パワーが制
御される。よって、検出手段に対して、光学部品の反射
面の反射率は、主に入射角に依存して一律に定まるの
で、常に安定した光量が検出手段に導かれることにな
り、温度や湿度による変動を受けることなく信頼性の高
いフロントモニタ方式のＡＰＣを行うことができる。
から出射された光ビームが光学部品の入射面に斜め方向
から所定の入射角で入射される。このとき、この入射面
には無反射コーティングが施されていないので、所定の
反射率で一部の光ビームが反射され、検出手段により受
光される。そして、検出手段から検出信号が出力されて
光源にフィードバックされ、光ビームの出力パワーが制
御される。よって、検出手段に対して、光学部品の反射
面の反射率は、主に入射角に依存して一律に定まるの
で、常に安定した光量が検出手段に導かれることにな
り、温度や湿度による変動を受けることなく信頼性の高
いフロントモニタ方式のＡＰＣを行うことができる。
【００１４】請求項２に記載の光ピックアップ装置は、
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する整形プリズムであることを特徴とする。
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する整形プリズムであることを特徴とする。
【００１５】この発明によれば、整形プリズムを用いて
光学系を構成する場合に、その入射面に無反射コーティ
ングを施さないようにすればよいので、既存の光学系を
利用して簡易な構成でフロントモニタ方式のＡＰＣを行
うことができると共に、温度や湿度による変動がなく信
頼性の高いＡＰＣが実現できる。
光学系を構成する場合に、その入射面に無反射コーティ
ングを施さないようにすればよいので、既存の光学系を
利用して簡易な構成でフロントモニタ方式のＡＰＣを行
うことができると共に、温度や湿度による変動がなく信
頼性の高いＡＰＣが実現できる。
【００１６】請求項３に記載の光ピックアップ装置は、
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する偏光ビームスプリッタであることを特徴とす
る。
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する偏光ビームスプリッタであることを特徴とす
る。
【００１７】この発明によれば、偏光ビームスプリッタ
を用いて光学系を構成する場合に、その入射面に無反射
コーティングを施さないようにすればよいので、既存の
光学系を利用して簡易な構成でフロントモニタ方式のＡ
ＰＣを行うことができると共に、温度や湿度による変動
がなく光量損失の少ないＡＰＣが実現できる。
を用いて光学系を構成する場合に、その入射面に無反射
コーティングを施さないようにすればよいので、既存の
光学系を利用して簡易な構成でフロントモニタ方式のＡ
ＰＣを行うことができると共に、温度や湿度による変動
がなく光量損失の少ないＡＰＣが実現できる。
【００１８】請求項４に記載の光ピックアップ装置は、
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する偏光ビームスプリッタを含む整形プリズムであ
ることを特徴とする。
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光
学部品は、前記無反射コーティングが施されない入射面
を有する偏光ビームスプリッタを含む整形プリズムであ
ることを特徴とする。
【００１９】この発明によれば、偏光ビームスプリッタ
と整形プリズムが一体化された光学系を構成する場合
に、その入射面に無反射コーティングを施さないように
すればよいので、簡易かつ小型化された構成で容易にフ
ロントモニタ方式のＡＰＣを行うことができると共に、
温度や湿度による変動がなく光量損失の少ないＡＰＣが
実現できる。
と整形プリズムが一体化された光学系を構成する場合
に、その入射面に無反射コーティングを施さないように
すればよいので、簡易かつ小型化された構成で容易にフ
ロントモニタ方式のＡＰＣを行うことができると共に、
温度や湿度による変動がなく光量損失の少ないＡＰＣが
実現できる。
【００２０】請求項５に記載の光ピックアップ装置は、
請求項１から請求項４の何れかに記載の光ピックアップ
装置において、前記無反射コーティングが施されない入
射面以外の前記光ビームに対する入射面又は反射面に
は、何れも無反射コーティングが施されていることを特
徴とする。
請求項１から請求項４の何れかに記載の光ピックアップ
装置において、前記無反射コーティングが施されない入
射面以外の前記光ビームに対する入射面又は反射面に
は、何れも無反射コーティングが施されていることを特
徴とする。
【００２１】この発明によれば、光源から出射された光
ビームに対する入射面にのみ無反射コーティングを施さ
ないようにして、それ以外の入射面、出射面には全て無
反射コーティングを施すようにしたので、光量損失を最
小限に抑えることが可能で、迷光による性能劣化も生じ
ることがなく、信頼性の高いＡＰＣが実現できる。
ビームに対する入射面にのみ無反射コーティングを施さ
ないようにして、それ以外の入射面、出射面には全て無
反射コーティングを施すようにしたので、光量損失を最
小限に抑えることが可能で、迷光による性能劣化も生じ
ることがなく、信頼性の高いＡＰＣが実現できる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を図面に基づいて説明する。
を図面に基づいて説明する。
【００２３】図１は、本発明の実施形態に係る光ピック
アップ装置の概略構成を示す図である。図１（ａ）に示
す光ピックアップ装置は、光源としての半導体レーザ２
０、コリメータレンズ２１、グレーティング２２、検出
手段としてのフロントモニタ検出器２３、整形プリズム
２４、１／４波長板２５、反射プリズム２６、対物レン
ズ２７、集光レンズ２８、マルチレンズ２９、ディテク
タ３０、ＡＰＣ回路３１等を備えて構成されている。
アップ装置の概略構成を示す図である。図１（ａ）に示
す光ピックアップ装置は、光源としての半導体レーザ２
０、コリメータレンズ２１、グレーティング２２、検出
手段としてのフロントモニタ検出器２３、整形プリズム
２４、１／４波長板２５、反射プリズム２６、対物レン
ズ２７、集光レンズ２８、マルチレンズ２９、ディテク
タ３０、ＡＰＣ回路３１等を備えて構成されている。
【００２４】図１（ａ）において、半導体レーザ２０か
ら出射された光ビームは、コリメータレンズ２１を通過
して平行光にされ、グレーティング２２により回折され
てトラッキングサーボ用に主ビームと２つの副ビームに
分離される。
ら出射された光ビームは、コリメータレンズ２１を通過
して平行光にされ、グレーティング２２により回折され
てトラッキングサーボ用に主ビームと２つの副ビームに
分離される。
【００２５】グレーティング２２を通過した光ビーム
は、整形プリズム２４の入射面２４ａに入射される。こ
のとき、光ビームの光軸に対して入射面２４ａの法線が
所定の角度θ１をなすように配置する。また、整形プリ
ズム２４は通常、後述するようにＡＲ（アンチリフレク
ション）コートを施して用いるが、入射面２４ａにはＡ
Ｒコートを施さないようにしている。そのため、入射さ
れた光ビームの一部は入射面２４ａにより反射されて、
その反射光を利用してフロントモニタ方式のＡＰＣを行
うことが可能となるが、この詳細については後述する。
は、整形プリズム２４の入射面２４ａに入射される。こ
のとき、光ビームの光軸に対して入射面２４ａの法線が
所定の角度θ１をなすように配置する。また、整形プリ
ズム２４は通常、後述するようにＡＲ（アンチリフレク
ション）コートを施して用いるが、入射面２４ａにはＡ
Ｒコートを施さないようにしている。そのため、入射さ
れた光ビームの一部は入射面２４ａにより反射されて、
その反射光を利用してフロントモニタ方式のＡＰＣを行
うことが可能となるが、この詳細については後述する。
【００２６】入射面２４ａを透過した光ビームは、反射
膜２４ｂを通過して、１／４波長板２５に導かれる。こ
の反射膜２４ｂは、光ビームのうち、例えばＰ偏光の光
ビームを１００％透過させ、Ｓ偏光の光ビームを１００
％反射させる特性を有する。従って、半導体レーザ２０
から出射された光ビームをＰ偏光となるようにすれば出
射側と受光側の光路が適切に分離可能となる。
膜２４ｂを通過して、１／４波長板２５に導かれる。こ
の反射膜２４ｂは、光ビームのうち、例えばＰ偏光の光
ビームを１００％透過させ、Ｓ偏光の光ビームを１００
％反射させる特性を有する。従って、半導体レーザ２０
から出射された光ビームをＰ偏光となるようにすれば出
射側と受光側の光路が適切に分離可能となる。
【００２７】反射膜２４ｂを通過した光ビームは、１／
４波長板２５を介して反射プリズム２６により、図１
（ａ）の紙面垂直方向に反射される。ここで、図１
（ｂ）に、図１（ａ）の側面図を示す。図１（ｂ）に示
すように、反射プリズム２６でほぼ直角に光ビームが反
射している様子がわかる。その後、光ビームは対物レン
ズ２７に導かれ、光ディスク３２の情報記録面上に集光
されて、ビームスポットを形成する。
４波長板２５を介して反射プリズム２６により、図１
（ａ）の紙面垂直方向に反射される。ここで、図１
（ｂ）に、図１（ａ）の側面図を示す。図１（ｂ）に示
すように、反射プリズム２６でほぼ直角に光ビームが反
射している様子がわかる。その後、光ビームは対物レン
ズ２７に導かれ、光ディスク３２の情報記録面上に集光
されて、ビームスポットを形成する。
【００２８】光ディスク３２の情報記録面から反射され
た光ビームは、再び対物レンズ２７を通過して、反射プ
リズム２６にて反射された後、１／４波長板２５により
偏光面が回転されてＳ偏光となり、整形プリズム２４に
導かれる。そして、整形プリズム２４の反射膜２４ｂで
反射され、集光レンズ２８、マルチレンズ２９を介して
ディテクタ３０に導かれる。なお、マルチレンズ２９
は、シリンドリカルレンズと凹レンズの機能を併せ持
ち、光ビームに非点収差を与えることができるレンズで
ある。
た光ビームは、再び対物レンズ２７を通過して、反射プ
リズム２６にて反射された後、１／４波長板２５により
偏光面が回転されてＳ偏光となり、整形プリズム２４に
導かれる。そして、整形プリズム２４の反射膜２４ｂで
反射され、集光レンズ２８、マルチレンズ２９を介して
ディテクタ３０に導かれる。なお、マルチレンズ２９
は、シリンドリカルレンズと凹レンズの機能を併せ持
ち、光ビームに非点収差を与えることができるレンズで
ある。
【００２９】ディテクタ３０は、照射された光ビームの
光量に比例した電気信号を出力する。この電気信号に基
づき記録情報が復調される。また、マルチレンズ２９に
より光ビームに非点収差が与えられるので、非点収差法
を用いたフォーカスエラー検出を行うことができる。更
に、グレーティング２２により発生させた２つの副ビー
ムを用いて３ビーム法によるトラッキングエラー検出を
行うことができる。
光量に比例した電気信号を出力する。この電気信号に基
づき記録情報が復調される。また、マルチレンズ２９に
より光ビームに非点収差が与えられるので、非点収差法
を用いたフォーカスエラー検出を行うことができる。更
に、グレーティング２２により発生させた２つの副ビー
ムを用いて３ビーム法によるトラッキングエラー検出を
行うことができる。
【００３０】一方、整形プリズム２４の反射面２４ａで
反射された一部の光ビームは、フロントモニタ検出器２
３に照射されて、光ビームのパワーに比例する検出信号
が出力される。この検出信号は、ＡＰＣ回路３１におい
て所定の基準値と比較され、検出信号と基準値の差分に
応じた駆動信号が生成されて、半導体レーザ２１に供給
される。これにより、半導体レーザ２０から出射される
光ビームのパワーが制御され、フロントモニタ検出器２
３の検出信号と前記基準値との差分をゼロに近づけるよ
うフィードバックが行われるので、光ビームのパワーを
常に一定に保つよう制御が行われることとなる。
反射された一部の光ビームは、フロントモニタ検出器２
３に照射されて、光ビームのパワーに比例する検出信号
が出力される。この検出信号は、ＡＰＣ回路３１におい
て所定の基準値と比較され、検出信号と基準値の差分に
応じた駆動信号が生成されて、半導体レーザ２１に供給
される。これにより、半導体レーザ２０から出射される
光ビームのパワーが制御され、フロントモニタ検出器２
３の検出信号と前記基準値との差分をゼロに近づけるよ
うフィードバックが行われるので、光ビームのパワーを
常に一定に保つよう制御が行われることとなる。
【００３１】次に、整形プリズム２４の反射面２４ａに
おける光ビームの透過、反射についてより詳しく説明す
る。一般的には、整形プリズム２４の各入射面と反射面
にはＡＲコートを施して用いることが多い。すなわち、
ＡＲコートは、シリコン等の材料を光学素子の表面にコ
ーティングすることにより無反射コーティングを行うも
のであり、光ビームの透過量をコーティングを行わない
場合に比べ増加させることができる。ＡＲコートが施さ
れた面では光ビームの反射が抑えられるので、例えば光
学系において光ビームの不要な反射による迷光が生じて
検出信号にノイズを混入させることなどの防止が図られ
る。また、ＡＲコートが全くされない場合は、光ビーム
に５％程度の損失を与え、入射面と反射面とで併せて１
０％程度になるので、ＡＲコートにはこのような損失を
抑える効果もある。
おける光ビームの透過、反射についてより詳しく説明す
る。一般的には、整形プリズム２４の各入射面と反射面
にはＡＲコートを施して用いることが多い。すなわち、
ＡＲコートは、シリコン等の材料を光学素子の表面にコ
ーティングすることにより無反射コーティングを行うも
のであり、光ビームの透過量をコーティングを行わない
場合に比べ増加させることができる。ＡＲコートが施さ
れた面では光ビームの反射が抑えられるので、例えば光
学系において光ビームの不要な反射による迷光が生じて
検出信号にノイズを混入させることなどの防止が図られ
る。また、ＡＲコートが全くされない場合は、光ビーム
に５％程度の損失を与え、入射面と反射面とで併せて１
０％程度になるので、ＡＲコートにはこのような損失を
抑える効果もある。
【００３２】本実施形態では、フロントモニタ方式のＡ
ＰＣを行うために、反射面２４ａにＡＲコートを施さな
いようにしている。すなわち、従来のようにビームスプ
リッタの反射膜の作用を用いたフロントモニタ方式で
は、光ビームの利用効率が低く、温度、湿度等の環境変
動の影響を受けやすい。これに対し、本実施形態ではこ
のような問題が生じない。すなわち、後述するように、
光ビームの損失は反射面２４ａに入射される際の５％程
度のみにとどまると共に、反射面２４ａにおける光ビー
ムの反射量が温度や湿度の変動に対して安定しているた
めである。
ＰＣを行うために、反射面２４ａにＡＲコートを施さな
いようにしている。すなわち、従来のようにビームスプ
リッタの反射膜の作用を用いたフロントモニタ方式で
は、光ビームの利用効率が低く、温度、湿度等の環境変
動の影響を受けやすい。これに対し、本実施形態ではこ
のような問題が生じない。すなわち、後述するように、
光ビームの損失は反射面２４ａに入射される際の５％程
度のみにとどまると共に、反射面２４ａにおける光ビー
ムの反射量が温度や湿度の変動に対して安定しているた
めである。
【００３３】ここで、図２は、図１に示す整形プリズム
２４の反射面２４ａの付近の光路を拡大して示した図で
ある。図２に示すように、グレーティング２２を通過し
た光ビームが反射面２４ａに対し入射角θ１で入射する
とき、スネルの法則により次の関係が成り立つ。
２４の反射面２４ａの付近の光路を拡大して示した図で
ある。図２に示すように、グレーティング２２を通過し
た光ビームが反射面２４ａに対し入射角θ１で入射する
とき、スネルの法則により次の関係が成り立つ。
【００３４】
【数１】ｎ１・sinθ１ ＝ ｎ２・sinθ２ ここで、ｎ１、ｎ２は双方の媒質の屈折率であり、ｎ１
＝１と考えてよい。また、本実施形態では、整形プリズ
ム２４の材質の屈折率ｎ２を１．５１５としている。一
方、反射面２４ａにおける反射率Ｒは次のように求めら
れる。
＝１と考えてよい。また、本実施形態では、整形プリズ
ム２４の材質の屈折率ｎ２を１．５１５としている。一
方、反射面２４ａにおける反射率Ｒは次のように求めら
れる。
【００３５】
【数２】 Ｒ ＝ tan2（θ１−θ２）／tan2（θ１＋θ２） ここで、本実施形態では、θ１を７０．７°に設定して
いる。また、θ２は数１から算出すると３８．５°とな
る。よって、これらを数２に代入して反射率Ｒを計算す
ると、約４．８％という結果が得られる。
いる。また、θ２は数１から算出すると３８．５°とな
る。よって、これらを数２に代入して反射率Ｒを計算す
ると、約４．８％という結果が得られる。
【００３６】すなわち、反射面２４ａに入射された光ビ
ームのうち、約４．８％が反射されて、入射角θ１から
対称となる方向に設置されたフロントモニタ検出器２３
に導かれる。また、残りの約９５．２％の光ビームは、
反射面２４ａを透過して角θ２の方向に進み、光ディス
ク３２に照射されることになる。このように、反射率Ｒ
は数２に示すように関係で定まり、θ１、θ２、ｎ２な
どの各パラメータは温度、湿度などの環境による変動を
受けにくいため、安定した光量を保つことが可能とな
る。
ームのうち、約４．８％が反射されて、入射角θ１から
対称となる方向に設置されたフロントモニタ検出器２３
に導かれる。また、残りの約９５．２％の光ビームは、
反射面２４ａを透過して角θ２の方向に進み、光ディス
ク３２に照射されることになる。このように、反射率Ｒ
は数２に示すように関係で定まり、θ１、θ２、ｎ２な
どの各パラメータは温度、湿度などの環境による変動を
受けにくいため、安定した光量を保つことが可能とな
る。
【００３７】なお、上述の入射角θ１、反射率Ｒ等は一
例にすぎず、光ディスク３２に十分な光量の光ビームを
照射し、かつ安定にＡＰＣを行うことができる範囲内で
自由に設定することができる。
例にすぎず、光ディスク３２に十分な光量の光ビームを
照射し、かつ安定にＡＰＣを行うことができる範囲内で
自由に設定することができる。
【００３８】また、半導体レーザ２０から出射される光
ビームを全体的に、反射面２４ａか反射率Ｒで反射させ
る場合に限られず、一部の領域に対して反射された光ビ
ームをフロントモニタ検出器２３に照射させてもよい。
例えば、光ビームの中心部の主領域、又は周辺部の副領
域の何れかの反射光をフロントモニタ検出器２３で受光
してＡＰＣを行わせることができる。
ビームを全体的に、反射面２４ａか反射率Ｒで反射させ
る場合に限られず、一部の領域に対して反射された光ビ
ームをフロントモニタ検出器２３に照射させてもよい。
例えば、光ビームの中心部の主領域、又は周辺部の副領
域の何れかの反射光をフロントモニタ検出器２３で受光
してＡＰＣを行わせることができる。
【００３９】かくして、本実施形態に係る光ピックアッ
プ装置によれば、フロントモニタ検出器２３に導かれる
光量は常に安定しているので、温度、湿度変動があって
も半導体レーザ２０の出力パワーを安定に一定に保つこ
とが可能なフロントモニタ方式のＡＰＣが実現でき、ピ
ックアップ装置の信頼性を高めることが可能となる。こ
のとき、フロントモニタ検出器２３に導くための入射面
２４ａ以外のそれぞれの入射面、反射面に対してＡＲコ
ートを施すようにすれば、光量損失を最小限に抑えるこ
とができると共に、迷光等に起因する性能劣化を防止す
ることができる。また、本実施形態に係る光学系は、整
形プリズム２４の反射面２４ａにＡＲコートを施さない
分、コスト面でも有利になる。
プ装置によれば、フロントモニタ検出器２３に導かれる
光量は常に安定しているので、温度、湿度変動があって
も半導体レーザ２０の出力パワーを安定に一定に保つこ
とが可能なフロントモニタ方式のＡＰＣが実現でき、ピ
ックアップ装置の信頼性を高めることが可能となる。こ
のとき、フロントモニタ検出器２３に導くための入射面
２４ａ以外のそれぞれの入射面、反射面に対してＡＲコ
ートを施すようにすれば、光量損失を最小限に抑えるこ
とができると共に、迷光等に起因する性能劣化を防止す
ることができる。また、本実施形態に係る光学系は、整
形プリズム２４の反射面２４ａにＡＲコートを施さない
分、コスト面でも有利になる。
【００４０】なお、以上説明した実施形態では、ＡＲコ
ートが施されない入射面２４ａを有する整形プリズム２
４を用いて光学系を構成する場合について説明したが、
整形プリズム２４を用いない光学系に対しても本発明の
適用が可能である。例えば、光学系中に設けた偏光ビー
ムスプリッタの入射面にＡＲコートを施さないようにし
て、その反射光を受光するフロントモニタ検出器２３を
設けるように構成してもよい。
ートが施されない入射面２４ａを有する整形プリズム２
４を用いて光学系を構成する場合について説明したが、
整形プリズム２４を用いない光学系に対しても本発明の
適用が可能である。例えば、光学系中に設けた偏光ビー
ムスプリッタの入射面にＡＲコートを施さないようにし
て、その反射光を受光するフロントモニタ検出器２３を
設けるように構成してもよい。
【００４１】また、以上説明した実施形態では、整形プ
リズム２４に偏光ビームスプリッタとして機能する反射
膜２４ｂが含まれる場合について説明したが、これ以外
にも、整形プリズム２４とは別に偏光ビームスプリッタ
を設ける光学系に対しても本発明の適用が可能である。
この場合でも、本実施形態同様、整形プリズム２４の入
射面２４ａにＡＲコートを施さないようにして、その反
射光を受光するフロントモニタ検出器２３を設けるよう
に構成すればよい。
リズム２４に偏光ビームスプリッタとして機能する反射
膜２４ｂが含まれる場合について説明したが、これ以外
にも、整形プリズム２４とは別に偏光ビームスプリッタ
を設ける光学系に対しても本発明の適用が可能である。
この場合でも、本実施形態同様、整形プリズム２４の入
射面２４ａにＡＲコートを施さないようにして、その反
射光を受光するフロントモニタ検出器２３を設けるよう
に構成すればよい。
【００４２】
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、無反射
コーティングが施されていない入射面に光ビームを所定
の入射角で入射させ、その反射光により光ビームの出力
パワーを制御するようにしたので、常に安定した光量が
保持でき、温度や湿度等の環境変動の影響を受けにく
く、信頼性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提
供できる。
コーティングが施されていない入射面に光ビームを所定
の入射角で入射させ、その反射光により光ビームの出力
パワーを制御するようにしたので、常に安定した光量が
保持でき、温度や湿度等の環境変動の影響を受けにく
く、信頼性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提
供できる。
【００４３】請求項２に記載の発明によれば、整形プリ
ズムを用いて、その入射面に無反射コーティングを施さ
ないようにして前述のようにＡＰＣを行うようにしたの
で、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うことができ、
環境変動の影響を受けにくく、信頼性の高いＡＰＣを行
う光ピックアップ装置を提供できる。
ズムを用いて、その入射面に無反射コーティングを施さ
ないようにして前述のようにＡＰＣを行うようにしたの
で、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うことができ、
環境変動の影響を受けにくく、信頼性の高いＡＰＣを行
う光ピックアップ装置を提供できる。
【００４４】請求項２に記載の発明によれば、整形プリ
ズムを用いて、その入射面に無反射コーティングを施さ
ないようにして、前述のようにＡＰＣを行うようにした
ので、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うことがで
き、環境変動の影響を受けにくく、信頼性の高いＡＰＣ
を行う光ピックアップ装置を提供できる。
ズムを用いて、その入射面に無反射コーティングを施さ
ないようにして、前述のようにＡＰＣを行うようにした
ので、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うことがで
き、環境変動の影響を受けにくく、信頼性の高いＡＰＣ
を行う光ピックアップ装置を提供できる。
【００４５】請求項３に記載の発明によれば、偏光ビー
ムスプリッタを用いて、その入射面に無反射コーティン
グを施さないようにして前述のようにＡＰＣを行うよう
にしたので、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うこと
ができ、光量損失が少なく、環境変動の影響も受けにく
く、信頼性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提
供できる。
ムスプリッタを用いて、その入射面に無反射コーティン
グを施さないようにして前述のようにＡＰＣを行うよう
にしたので、簡易な構成で低コストにＡＰＣを行うこと
ができ、光量損失が少なく、環境変動の影響も受けにく
く、信頼性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提
供できる。
【００４６】請求項４に発明によれば、偏光ビームスプ
リッタと整形プリズムが一体化された光学系に対し、そ
の入射面に無反射コーティングを施さないようにして前
述のようにＡＰＣを行うようにしたので、簡易かつ小型
化された光学系の構成を用いて容易にＡＰＣを行うこと
ができ、環境変動の影響を受けにくく、光量損失の少な
いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提供できる。
リッタと整形プリズムが一体化された光学系に対し、そ
の入射面に無反射コーティングを施さないようにして前
述のようにＡＰＣを行うようにしたので、簡易かつ小型
化された光学系の構成を用いて容易にＡＰＣを行うこと
ができ、環境変動の影響を受けにくく、光量損失の少な
いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提供できる。
【００４７】請求項５に記載の発明によれば、光学系の
特定の光学部品中、一の入射面にのみ無反射コーティン
グを施さず、それ以外の入射面、出射面には無反射コー
ティングを施すようにしたので、光量損失を最小限に抑
えることができ、迷光による性能劣化を生じにくい信頼
性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提供でき
る。
特定の光学部品中、一の入射面にのみ無反射コーティン
グを施さず、それ以外の入射面、出射面には無反射コー
ティングを施すようにしたので、光量損失を最小限に抑
えることができ、迷光による性能劣化を生じにくい信頼
性の高いＡＰＣを行う光ピックアップ装置を提供でき
る。
【図１】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置の
概略構成図であり、（ａ）は光学系全体の構成を示す
図、（ｂ）は（ａ）の光ディスク近辺の側面図である。
概略構成図であり、（ａ）は光学系全体の構成を示す
図、（ｂ）は（ａ）の光ディスク近辺の側面図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光ピックアップ装置に
おいて、整形プリズムの反射面付近の光路の拡大図であ
る。
おいて、整形プリズムの反射面付近の光路の拡大図であ
る。
【図３】従来のフロントモニタ方式を採用した光ピック
アップ装置の概略構成図である。
アップ装置の概略構成図である。
２０…半導体レーザ ２１…コリメータレンズ ２２…グレーティング ２３…フロントモニタ検出器 ２４…整形プリズム ２４ａ…入射面 ２４ｂ…反射膜 ２５…１／４波長板 ２６…反射プリズム ２７…対物レンズ ２８…集光レンズ ２９…マルチレンズ ３０…ディテクタ ３１…ＡＰＣ回路 ３２…光ディスク
Claims (5)
- 【請求項１】 光源から出射される光ビームを情報記録
媒体に照射して、当該情報記録媒体から反射された光ビ
ームを受光するよう光学系が構成された光ピックアップ
装置であって、 前記光学系は、無反射コーティングが施されない入射面
を有する光学部品を備え、当該入射面に対し前記光源か
ら出射される光ビームを所定の入射角で斜め方向から入
射させると共に、当該入射面から反射される前記光ビー
ムの一部を受光する検出手段を設けて前記光学系を構成
し、当該検出手段から出力される検出信号に基づいて前
記光源から出射される光ビームの出力パワーを制御する
ことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 前記光学部品は、前記無反射コーティン
グが施されない入射面を有する整形プリズムであること
を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項３】 前記光学部品は、前記無反射コーティン
グが施されない入射面を有する偏光ビームスプリッタで
あることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ
装置。 - 【請求項４】 前記光学部品は、前記無反射コーティン
グが施されない入射面を有する偏光ビームスプリッタを
含む整形プリズムであることを特徴とする請求項１に記
載の光ピックアップ装置。 - 【請求項５】 前記無反射コーティングが施されない入
射面以外の前記光ビームに対する入射面又は反射面に
は、何れも無反射コーティングが施されていることを特
徴とする請求項１から請求項４の何れかに記載の光ピッ
クアップ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10185332A JP2000021001A (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 光ピックアップ装置 |
| EP99111992A EP0969456A1 (en) | 1998-06-30 | 1999-06-29 | Optical pickup apparatus |
| US09/343,285 US6317400B1 (en) | 1998-06-30 | 1999-06-30 | Optical pickup apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10185332A JP2000021001A (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000021001A true JP2000021001A (ja) | 2000-01-21 |
Family
ID=16168968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10185332A Pending JP2000021001A (ja) | 1998-06-30 | 1998-06-30 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6317400B1 (ja) |
| EP (1) | EP0969456A1 (ja) |
| JP (1) | JP2000021001A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6822210B2 (en) | 2001-10-01 | 2004-11-23 | Pioneer Corporation | Data recording apparatus including light intensity control device |
| US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
| US7315504B2 (en) | 2002-03-20 | 2008-01-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus and manufacturing method thereof |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001201615A (ja) * | 2000-01-21 | 2001-07-27 | Sony Corp | 光学素子および光ピックアップ |
| JP2002100068A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-04-05 | Pioneer Electronic Corp | 光ピックアップ装置 |
| TW550555B (en) * | 2001-11-23 | 2003-09-01 | Aopen Inc | Automatic control method for generating stable laser power (ACSP) of a compact disk drive |
| US7321533B2 (en) * | 2002-03-20 | 2008-01-22 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup device having a wavelength selecting film and an optical reflector |
| JP3866691B2 (ja) * | 2003-07-01 | 2007-01-10 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置およびそれを備えてなる光ディスク装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61162838A (ja) * | 1985-01-12 | 1986-07-23 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光デイスク記録再生装置の光源駆動装置 |
| JPH0614570B2 (ja) * | 1987-04-28 | 1994-02-23 | シャープ株式会社 | 光出力安定化方法および該方法に使用する光検出器 |
| JPH02105341A (ja) * | 1988-10-13 | 1990-04-17 | Canon Inc | 複数の発光点を有する光源を用いた光ヘッド |
| JP2902415B2 (ja) * | 1989-09-14 | 1999-06-07 | シャープ株式会社 | 光学ヘッド |
| JP3167066B2 (ja) * | 1993-10-06 | 2001-05-14 | キヤノン株式会社 | 光記録再生装置 |
| US5563870A (en) * | 1995-02-14 | 1996-10-08 | Eastman Kodak Company | Optical write/read head with laser power control |
| JPH08287505A (ja) * | 1995-04-20 | 1996-11-01 | Parusutetsuku Kogyo Kk | 光ピックアップ |
| KR100269710B1 (ko) * | 1996-01-23 | 2000-10-16 | 윤종용 | 광출력장치 및 이를 채용한 광픽업장치 |
-
1998
- 1998-06-30 JP JP10185332A patent/JP2000021001A/ja active Pending
-
1999
- 1999-06-29 EP EP99111992A patent/EP0969456A1/en not_active Withdrawn
- 1999-06-30 US US09/343,285 patent/US6317400B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6822210B2 (en) | 2001-10-01 | 2004-11-23 | Pioneer Corporation | Data recording apparatus including light intensity control device |
| US7315504B2 (en) | 2002-03-20 | 2008-01-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus and manufacturing method thereof |
| US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6317400B1 (en) | 2001-11-13 |
| EP0969456A1 (en) | 2000-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6195315B1 (en) | Optical disk apparatus compatible with different types of mediums | |
| US20080037399A1 (en) | Optical disk apparatus compatible with different types of mediums adapted for different wavelengths | |
| JPH11273119A (ja) | 光学式ピックアップ装置 | |
| US20080031121A1 (en) | Optical pickup device having a wavelength selecting film and an optical reflector | |
| JP4155166B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| WO2004003901A1 (ja) | 光ピックアップ | |
| JP2000021001A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| US6266313B1 (en) | Optical pickup for recording or reproducing system | |
| JP2005129186A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| KR20060088050A (ko) | 정보기록재생장치 | |
| US20010040854A1 (en) | Optical recording/pickup head compatible with compact disk-recordable (cd-r) and digital versatile disk (dvd) using polarization beam splitter | |
| JPH08102080A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JPH07249233A (ja) | 光ピックアップ | |
| JP3908002B2 (ja) | 光ピックアップおよび光ディスク装置 | |
| JP2002319699A (ja) | 光学装置 | |
| JP2001344804A (ja) | 光ピックアップ | |
| JP2000099978A (ja) | 光ピックアップ | |
| US20040095871A1 (en) | Optical pickup device | |
| JP2000353337A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP4000388B2 (ja) | 光学装置および光ピックアップ装置 | |
| KR100486291B1 (ko) | 호환형 광픽업장치 | |
| US20070025207A1 (en) | Optical pickup and optical disk apparatus | |
| JP2008176823A (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| JP2001093183A (ja) | 光ピックアップ | |
| JPH06267100A (ja) | 光学的情報記録再生装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040608 |