JP3526309B2 - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体に半導体レー
ザからの光束を照射して情報の記録再生を行う光学的情
報記録再生装置に関し、より詳しくは半導体レーザから
出射した光束の一部を主光束と分離して検出し、その検
出出力に基づいて半導体レーザの光出力を制御する光出
力制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、この種の光学的情報記録再生装
置では、記録媒体からの反射光が半導体レーザに戻るこ
とによって半導体レーザの出射光量が変動する。この変
動を情報の記録および再生動作に影響を与えない程度ま
でに小さくするために、半導体レーザの出射光の一部を
主光束から分離し検出して、半導体レーザの駆動電流を
制御し、それにより半導体レーザの出射光量の安定化を
図ることが従来から行われている。

【０００３】特開平２−１９２０４１「光ヘッド装置」
に、このような光出力制御系を含む光ヘッドの構成とそ
の動作が開示されている。この公知例では、半導体レー
ザから記録媒体（例えば光ディスク）に導かれる光束の
一部を分離して光検出器で検出し、検出した光束の光量
と基準信号を比較して、その差分出力に応じて半導体レ
ーザの駆動電流を制御することで半導体レーザからの出
射光量の制御を行っていた。

【０００４】そして、半導体レーザから記録媒体に導か
れる光束から一部を分離する光分離素子としては、光デ
ィスクからの反射光の光束を往路の光学系より分離して
情報信号やフォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号
などの信号検出系へ導くためのビームスプリッタを兼用
した構成になっている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光学的
情報記録再生装置では、光ディスクの反射光を信号検出
系へ分離するための手段と光出力制御のための検出系へ
導くための光束の分離手段が共通のビームスプリッタで
あるため、次のような問題がある。

【０００６】ビームスプリッタは一般に、入射光ビーム
の偏光状態によって反射および透過特性に違いがある。
一方、半導体レーザの出射光の偏光度や偏光方向は、時
間的に変化する場合が多い。従って、この半導体レーザ
の出射光の偏光状態の変動に伴い、ビームスプリッタを
透過（もしくは反射）して光ディスクに至る主光束と、
ビームスプリッタを反射（もしくは透過）して光出力制
御のための検出系に至る光束との光量の分割比が変動す
る。このため、ビームスプリッタを反射（もしくは透
過）して検出系に至る第２の光束を検出して半導体レー
ザの出力制御を行った場合、制御が正しく行われないと
いう問題点がある。

【０００７】また、従来のように光ディスクの反射光を
信号検出系と光出力制御のための検出系へ分離して導く
ために共通のビームスプリッタを用いる構成では、光ヘ
ッドの光学系を組み立てた状態にならないと光出力制御
機能が得られない。さらに、半導体レーザの出射光が光
出力制御用の光検出器に到達するまでに幾つかの光学素
子を経ることから、ここでの光路長が長くなるので、光
伝搬時間が制御系での時間遅延となり、また光学素子の
特性のばらつきの影響を受けて、検出される受光量に個
体差が生じ、光出力制御系の制御精度のばらつき要因に
なっていた。

【０００８】本発明は、このような従来の問題点を解決
し、半導体レーザの出力制御を安定かつ精度よく行うこ
とができる光学的情報記録再生装置を提供することを目
的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明は記録媒体(7)にレーザ光を照射して情報の
記録および再生を行う光学的情報記録再生装置におい
て、ｓ偏光成分とｐ偏光成分を持つ光束を出射する半導
体レーザ(1)と、前記半導体レーザ(1)から出射された光
束を前記記録媒体(7)上に集光するための対物レンズ(6)
と、前記記録媒体(7)からの反射光を前記半導体レーザ
(1)から前記対物レンズ(6)により前記記録媒体に向かう
光束と分離して取り出す第１の光分離素子(4)と、前記
第１の光分離素子(4)により取り出された前記記録媒体
からの反射光を検出する第１の光検出器(10)と、前記第
１の光分離素子(4)と前記対物レンズ(6)との間に配置さ
れた波長板(5)と、前記第１の光分離素子(4)と前記波長
板(5)との間に配置され、前記半導体レーザ(1)から出射
されかつ前記第１の光分離素子(4)を透過した光束の一
部を前記記録媒体(7)に向かう光束と分離して取り出す
第２の光分離素子(11)と、前記第２の光分離素子(11)に
より取り出された光束を検出する第２の光検出器(13)
と、前記第２の光検出器(13)からの出力により前記半導
体レーザから出射される光束の強さを制御する制御手段
(101〜103)とを備え、前記第１の光分離素子(4)は、ｓ偏
光成分の透過率がほぼ零で、前記半導体レーザ(1)から
出射された光束のうちｐ偏光成分のみからなる直線偏光
の光束を透過させて前記第２の光分離素子(11)に導くよ
うに構成されることを特徴とする。

【００１０】また、本発明は記録媒体(7)にレーザ光を
照射して情報の記録および再生を行う光学的情報記録再
生装置において、ｓ偏光成分とｐ偏光成分を持つ光束を
出射する半導体レーザ(1)と、前記半導体レーザ(1)から
出射された光束を前記記録媒体(7)上に集光するための
対物レンズ(6)と、前記記録媒体(7)からの反射光を前記
半導体レーザ(1)から前記対物レンズ(6)により前記記録
媒体に向かう光束と分離して取り出す第１の光分離素子
(4)と、前記第１の光分離素子(4)により取り出された前
記記録媒体からの反射光を検出する第１の光検出器(10)
と、前記第１の光分離素子(4)と前記対物レンズ(6)との
間に配置された波長板(5)と、前記第１の光分離素子(4)
と前記波長板(5)との間に配置され、前記半導体レーザ
(1)から出射されかつ前記第１の光分離素子(4)を反射し
た光束の一部を前記記録媒体(7)に向かう光束と分離し
て取り出す第２の光分離素子(11)と、前記第２の光分離
素子(11)により取り出された光束を検出する第２の光検
出器(13)と、前記第２の光検出器(13)からの出力により
前記半導体レーザから出射される光束の強さを制御する
制御手段(101〜103)とを備え、前記第１の光分離素子
(4)は、ｐ偏光成分の透過率がほぼ零で、前記半導体レ
ーザ(1)から出射された光束のうちｓ偏光成分のみから
なる直線偏光の光束を反射させて前記第２の光分離素子
(11)に導くように構成されることを特徴とする。

【００１１】第２の光分離素子としては、ビームスプリ
ッタや透過型回折素子または反射型回折素子が用いられ
る。透過型回折素子または反射型回折素子の場合、回折
光が集束光となるようなものを用いると、一層の制御性
能の向上が図れる。

【００１２】

【００１３】

【００１４】

【００１５】

【作用】このように本発明では、記録媒体からの反射光
を半導体レーザから該光学系により記録媒体に向かう光
束と分離して第１の光検出器に導くための第１の光分離
素子と記録媒体との間に、半導体レーザから出射された
光束の一部を記録媒体に向かう光束と分離して取り出す
第２の光分離素子を設け、この第２の光分離素子により
取り出された光束を第２の光検出器で検出して、半導体
レーザから出射される光束の強さを制御する。

【００１６】従って、例えば第１の光分離素子のｓ偏光
成分の透過率をほぼ零として、第１の光分離素子を透過
した光束を前記記録媒体に導くように構成するか、もし
くは第１の光分離素子のｐ偏光成分の反射率をほぼ零と
して、第１の光分離素子を反射した光束を記録媒体に導
くように構成し、第１の光分離素子を経た光束の偏光成
分はいずれかの方向成分しか持たない偏光光束とした
後、第２の光分離素子で分離して光束を検出すれば、記
録媒体に向かう光束と光出力の安定化のための検出され
る光束とが相似的な光量変化を示すので、高精度な光出
力の安定化制御を実現できる。すなわち、記録媒体から
の反射光が半導体レーザに戻ることによって生じる半導
体レーザの出射光量の変動が、情報の記録および再生に
影響を与えない程度にまで抑圧される。

【００１７】

【００１８】

【００１９】

【００２０】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。 （第１の実施例）図１は本発明の第１の実施例に係る光
学的情報記録再生装置の主要部の構成を示したものであ
り、半導体レーザ１、コリメーティングレンズ２、ビー
ム整形プリズム３、ビームスプリッタ４、１１，１／４
波長板５、対物レンズ６、光ディスク７、集光レンズ
８，１２、ホログラフィック光学素子（以下、ＨＯＥと
いう）９、光検出器１０，１３、フォーカス駆動コイル
１４およびトラッキング駆動コイル１５を備えている。

【００２１】半導体レーザ１から出射した光束は、コリ
メーティングレンズ２で平行光束になり、さらにビーム
整形プリズム３で非等方なビーム形状が等方形状に整形
された後、対物レンズ６で収束して光ディスク７の記録
面上に微小ビームスポットを形成する。光ディスク７の
記録面で反射した光束は対物レンズ６を通り、第１の光
分離素子であるビームスプリッタ４で反射して、集光レ
ンズ８、ＨＯＥ９、光検出器１０からなる信号検出系に
入射する。光検出器１０からの信号は、アンプ１１１、
信号演算部１１２を経て、情報再生信号１１４とフォー
カス誤差信号およびトラッキング誤差信号を生成し、そ
れぞれの誤差信号はアクチュエータドライバ１１３を介
してフォーカス駆動コイル１４およびトラッキング駆動
コイル１５に供給され、対物レンズ６を光軸方向および
半径方向に移動制御して光ディスクに記録された情報に
対して収束した微小ビームスポットの相対位置を制御し
て、安定に情報の記録および再生を行う。これらの制御
系の構成および動作に関しては、特開平３−２５７「光
学ヘッド装置」に詳細に述べられているので、詳細な説
明は省略する。

【００２２】一方、ビームスプリッタ４を透過した光束
は、第２の光分離素子であるビームスプリッタ１１で光
ディスク７に向かう光束の一部が分離され、集光レンズ
１２で光検出器１３上に集光されて光量変化が検出され
る。光検出器１３の出力はアンプ１０１を介してレーザ
制御部１０２に供給され、光出力制御信号１０４と比較
演算される。レーザ制御部１０２の比較演算結果はレー
ザドライバ１０３に入力され、これにより半導体レーザ
１に供給する電流値、つまり半導体レーザ１の出射光量
が制御される。光出力制御信号１０４が一定レベルに指
定されているとき（再生動作のときなど）は、半導体レ
ーザ１の出射光量は一定になるように制御され、また光
出力制御信号１０４が記録情報に基づいて変化するよう
に指定されているときは半導体レーザ１の出射光量は光
出力制御信号１０４と同じ変化をするように制御され
る。

【００２３】以上のように構成された光学的情報記録再
生装置において、本発明の主願とするところの、半導体
レーザ１から出射される光束が半導体レーザ１の活性層
に対して平行な偏光成分以外を持つときの動作および効
果について、図２を使って説明する。

【００２４】図２は、ビームスプリッタ４における入射
および出射する光束の偏光状態を示したものである。図
２（ａ）はビームスプリッタ４に入射する光束の偏光状
態を示しており、ほぼ半導体レーザ１から出射される光
束の偏光状態と同じである。図２（ｂ）はビームスプリ
ッタ４の透過光、図２（ｃ）はビームスプリッタ４の反
射光のそれぞれの偏光成分を示している。

【００２５】この図２は、ビームスプリッタ４の光束分
割特性を表しており、透過光にはｓ偏光成分を持たない
ような分割特性を持たせていることが分かる。一方、ｐ
偏光成分はほとんど透過するものの、一部は反射してｓ
偏光成分と共にビームスプリッタ４の反射光として出射
されるが、この光束は特別な目的には供されない。な
お、従来はこの光束を検出して半導体レーザの光出力を
制御していたので、光ディスクに向かう光束と光出力を
制御するための検出に使われる光束とに偏光成分の変化
の影響が現れて、光量制御動作によって光量変動が助長
されることがあった。

【００２６】このビームスプリッタ４の透過光束は、ｐ
偏光成分しか持たない直線偏光の光束であり、この光束
を第２のビームスプリッタ１１で２つに分割すると、光
ディスク７に向かう光束と光検出器１３に向かう光束の
光量変動は、相似的な振る舞いを示す。これにより、光
検出器１３の出力に基づいて半導体レーザ１の出射光量
を制御すれば、光ディスク７に向かう光束に対して同様
な形に制御できる。例えば、光ディスク７から情報を再
生するときは、光出力制御信号１０４として一定値が入
力され、光検出器１３の出力も一定になるような制御が
成され、これに伴って光ディスク７に向かう光束も一定
光量になる。

【００２７】（第２の実施例）図３は、本発明の第２の
実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を
示したものである。第１の実施例との相違点は、半導体
レーザ１の出射光に対してビームスプリッタ４で反射し
た光束を光ディスク７に導くことにあり、その他の構成
およびその動作は、第１の実施例と同様である。

【００２８】この実施例におけるビームスプリッタ４の
光束分割特性は、反射光にはｐ偏光成分を持たないよう
な分割特性を持たせている。一方、ｓ偏光成分はほとん
ど反射するものの、一部は透過してｐ偏光成分と共にビ
ームスプリッタ４の透過光として出射される。このビー
ムスプリッタ４の反射光束は、第１の実施例と同様な光
出力制御系を介して半導体レーザ１の出射光量制御に用
いられる。

【００２９】（第３の実施例）図４は、本発明の第３の
実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を
示したものである。この実施例は、光ディスク７からの
反射光を検出する信号検出系の構成に特徴がある。信号
検出系で検出される３つの信号を(1) 情報再生信号の検
出系と、(2) フォーカス誤差信号とトラッキング誤差信
号の検出系とに別々に設ける。２つの誤差信号の検出に
は受光面が複数に分割されたいわゆる分割光検出器が使
われ、このような光検出器から信号周波数が高い情報再
生信号を得ようとすると、複数の広帯域増幅器が必要と
なり、システムの大型化、高価格化の要因となる。本実
施例によると、このような問題を解決できる。

【００３０】（第４の実施例）図５は、本発明の第４の
実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を
示したものである。第１の実施例との相違点は、１／４
波長板５を光軸に対して傾けて配設し、その反射光を集
光レンズ１２を介して光検出器１３で検出することにあ
る。これによって、第２のビームスプリッタ１１を省略
することができる。

【００３１】通常の使用状況では、１／４波長板の表裏
には反射防止膜が施されるが、本実施例における１／４
波長板５は、半導体レーザ１からの光束が入射する面に
は反射防止膜が無く、必要に応じて１／４波長板５の表
面に反射膜を設けて反射率を適宜設定している。これに
より、半導体レーザ１の出射光量を制御するための光出
力制御系を最適条件で動作可能にならしめることができ
るように、反射光量を設定する。なお、本実施例の構成
は第２の実施例に対しても適用できる。

【００３２】以上説明した第１〜第４の実施例は、偏光
特性が時間変動するような半導体レーザの出射光量を安
定化するに際して、記録媒体からの反射光を記録媒体に
向かう光束と分離して取り出す第１の光分離素子に一方
向に偏光した成分のみを透過（もしくは反射）するよう
な特性を持たせ、この第１の光分離素子を経た後の光束
を分割して検出し、この検出出力に基づいて半導体レー
ザの駆動電流を制御して光出力を制御するように構成し
た点に特徴がある。従って、第１の実施例においては、
第１の光分離素子であるビームスプリッタ４に、透過光
にはｓ偏光成分を持たない分割特性の素子を用いが、透
過光にはｐ偏光成分を持たない分割特性の素子を用い
て、その透過光を記録媒体に導いてもよい。同様に、第
２の実施例において、反射光にｓ偏光成分を持たない分
割特性の素子を使い、その反射光を記録媒体に導いても
よい。

【００３３】（第５の実施例）図６は本発明の第５の実
施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を示
したものであり、半導体レーザ２１、コリメータレンズ
２２、ビーム整形プリズム２３、ビームスプリッタ２
４、回折型素子２５、ミラー２６、１／４波長板２７、
対物レンズ２８、光記録媒体２９、集光レンズ１０、ホ
ログラフィック光学素子（ＨＯＥ）３１、光検出器３
２、増幅器３３、誤差信号演算器３４、フォーカスとト
ラッキングのドライブ回路３５，３６、フォーカス駆動
コイル３７およびトラッキング駆動コイル３８を備えて
いる。

【００３４】１／４波長板２７は、基本的にビームスプ
リッタ２４と対物レンズ２８の間にあれば良く、図６に
示す位置でなくても良い。また、回折型素子２５につい
ても同様に、基本的にビームスプリッタ２４と対物レン
ズ２８の間にあれば良い。

【００３５】半導体レーザ２１から出射した光束は、コ
リメータレンズ２２で平行光束になり、さらにビーム整
形プリズム２３で非等方なビーム形状を等方形状に整形
された後、対物レンズ２８で集束されて光記録媒体２９
の記録面上に微小ビームスポットを形成する。光記録媒
体２９の記録面で反射した光束は対物レンズ２８を通
り、ビームスプリッタ２４を反射して、集光レンズ１
０、ＨＯＥ３１、光検出器３２からなる信号検出系に入
射される。光検出器３２からの信号より増幅器３３と誤
差信号演算器３４で、フォーカス誤差信号およびトラッ
キング誤差信号が生成される。それぞれの誤差信号に基
づき、フォーカスとトラッキングのドライブ回路３５，
３６でフォーカス駆動コイル３７およびトラッキング駆
動コイル３８を駆動して、対物レンズ２８を光軸方向お
よび半径方向に移動制御することにより、光ディスクに
記録された情報に対して集束した微小ビームスポットの
相対位置を制御し、安定に情報の記録および再生を行
う。また、再生信号は増幅器３３より得られる。

【００３６】次に、半導体レーザ２１の光出力制御につ
いて説明する。ビームスプリッタ２４を透過した後、回
折型素子２５の回折光を利用して光記録媒体２９に向か
う光束の一部を分離する。回折型素子２５の回折光を光
検出器３９で検出する。この光検出器３９出力は、アン
プ２０を介してレーザ制御部４１に供給され、光出力制
御信号４２と比較演算した結果を用いて、レーザドライ
バ４３で半導体レーザ２１に供給する電流値を変化さ
せ、半導体レーザ２１の出射光量を制御する。光出力制
御信号４２が一定レベルに指定されているとき（再生動
作のときなど）は半導体レーザ２１の出射光量は一定に
なるように制御され、光出力制御信号４２が記録情報に
基づいて変化するように指定されているときは半導体レ
ーザ２１の出射光量を光出力制御信号４２と同じ変化を
するように制御する。

【００３７】次に、以上のように構成された光学的情報
記録再生装置において、本発明の主願とするところの、
半導体レーザ２１から出射される光束が半導体レーザの
活性層に対して平行な偏光成分以外を持つときの動作お
よび効果について、図７を使って説明する。

【００３８】図７は、ビームスプリッタ２４における入
射および出射する光束の偏光状態を示したものである。
図７（ａ）は、ビームスプリッタ２４に入射する光束の
偏光状態を示しており、ほぼ半導体レーザ２１から出射
される光束の偏光状態と同じである。図７（ｂ）はビー
ムスプリッタ２４の透過光、図７（ｃ）はビームスプリ
ッタ２４の反射光の偏光状態を示している。これらは、
ビームスプリッタ２４の光束分割特性を示しており、透
過光にはｓ偏光成分を持たないような分割特性を持たせ
ている。従って、ビームスプリッタ２４の入射光の偏光
状態が変化しても、ビームスプリッタ２４の透過光の偏
光状態は変化しない。一方、ｐ偏光成分はほとんど透過
するものの一部は反射して、ｓ偏光成分と共にビームス
プリッタ２４の反射光として出射する。図７（ｃ）に示
すようにｓ偏光成分が存在する。このため、ビームスプ
リッタ２４の入射光の偏光状態が変化した場合、ビーム
スプリッタ２４の反射光の偏光状態も変わり、透過光の
偏光状態と同一にはならない。従って、この光束を特別
な目的に使用できない。なお、従来はこの光束を検出し
て半導体レーザの光出力を制御していたので、光ディス
クに向かう光束と光出力を制御するための検出に使われ
る光束とに偏光成分の変化の影響が現れて、光量制御動
作によって光量変動が助長されることがあった。

【００３９】ビームスプリッタ２４の透過光束は、ｐ偏
光成分しか持たない直線偏光の光束である。この光束の
一部を回折型素子２５の回折光で検出する。光記録媒体
２９に向かう光束と光検出器３９に向かう光束の偏光状
態は等しいので、半導体レーザ２１への戻り光等で生じ
る光量変動は、相似的な振る舞いを示す。これにより、
光検出器３９の出力に基づいて半導体レーザ２１の出射
光量を制御すれば、光記録媒体２９に向かう光束を任意
の値に制御できる。例えば、光記録媒体２９から情報を
再生するときは、光出力制御信号４２として一定値が入
力され、光検出器３９の出力も一定になるような制御が
成され、これに伴って光記録媒体２９に向かう光束も一
定光量になる。

【００４０】また、この回折型素子２５は回折光が集束
光になる回折型素子である。図８を使って、回折型素子
２５をもう少し詳しく説明する。透明基板８１と点光源
８２と平行光源８３とを図８の配置とし、点光源８２と
平行光源８３で透明基板８１を照射すると、干渉パター
ンができる。レジスト等を使って、この干渉パターンを
透明基板８１に形成したものが、回折型素子２５であ
る。図８の透明基板８１に干渉パターンを生成し、透明
基板８１の左側から平行光を入射すると、回折光は集束
光となるが、零次光は平行光となる。また、回折型素子
２５の製作は、数値計算により干渉パターンを求め、マ
スクプロセス等を用いて作製しても良い。回折型素子２
５は、透過効率が高い位相型の素子が望ましい。

【００４１】（第６の実施例）図９は、本発明の第６の
実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を
示したものである。第５の実施例との相違点は、半導体
レーザ２１の出射光に対してビームスプリッタ４４で反
射した光束を光記録媒体２９に導くことにある。但し、
ビームスプリッタ４４は、ｐ偏光成分すべてを透過する
特性である。従って、光記録媒体２９に照射される光束
はｓ偏光のみとなる。その他の構成および動作は、第５
の実施例と同様である。

【００４２】この回折型素子２５の回折光を第５の実施
例と同様な方法で検出し、出力制御系を介して、半導体
レーザ２１の出射光量を制御する。ここで、ビームスプ
リッタ４４に対して半導体レーザ２１の活性層を垂直に
するため、ビーム整形プリズム２３とコリメータレンズ
２２と半導体レーザ２１で構成される光学系は、紙面に
垂直方向に傾く。

【００４３】（第７の実施例）図１０は、本発明の第７
の実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成
を示したものである。第５の実施例との相違点は、回折
型素子２５の位置である。回折型素子２５が、ビームス
プリッタ２４より前に位置し、回折型素子２５の回折光
が、ビームスプリッタ２４を透過する構成である。ビー
ムスプリッタ２４を透過した後、回折型素子２５の回折
光を光検出器３９で検出し、半導体レーザ２１の出射光
量を制御する。従って、半導体レーザ２１の偏光状態が
変化し、回折型素子２５に入射光の偏光状態が変わって
も、光記録媒体２９に照射する光束と回折型素子２５の
回折光は、両方ともビームスプリッタ２４を透過するの
で、それぞれの偏光状態が等しくなる。

【００４４】光検出器３９の出力に基づいて半導体レー
ザ２１の出射光量を制御すれば、光記録媒体２９に向か
う光束を任意の値に制御できる。また、回折型素子２５
の位置は、基本的に、その回折光が、ビームスプリッタ
２４を透過すれば、半導体レーザ２１とビームスプリッ
タ２４の間のどの位置にあっても良い。その他の構成お
よび動作は、第５の実施例と同様である。

【００４５】（第８の実施例）図１１は、本発明の第８
の実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成
を示したものである。第６の実施例との相違点は、回折
型素子２５の位置である。回折型素子２５がビームスプ
リッタ４４より前に位置し、回折型素子２５の回折光が
ビームスプリッタ４４を反射する構成である。ビームス
プリッタ４４を反射した後、回折型素子２５の回折光を
光検出器３９で検出し、半導体レーザ２１の出射光量を
制御する。

【００４６】従って、半導体レーザ２１の偏光状態が変
化し、回折型素子２５に入射光の偏光状態が変わって
も、光記録媒体２９に照射する光束と回折型素子２５の
回折光は、両方ともｓ偏光成分のみがビームスプリッタ
４４を反射するので、それぞれの偏光状態が等しくな
る。光検出器３９の出力に基づいて半導体レーザ２１の
出射光量を制御すれば、光記録媒体２９に向かう光束を
任意の値に制御できる。また、回折型素子２５の位置
は、基本的に、その回折光が、ビームスプリッタ２４を
透過すれば、半導体レーザとビームスプリッタ２４の間
のどの位置にあっても良い。その他の構成および動作
は、第６の実施例と同様である。

【００４７】なお、第５〜第８の実施例においてはλ／
４板を使用したが、本発明の所期の目的を達成する上で
は使用しなくとも良い。

【００４８】（第９の実施例）図１２は本発明の第９の
実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の構成を
示したものであり、半導体レーザ５１、コリメータレン
ズ５２、ビーム整形プリズム５３、ビームスプリッタ５
４、反射型回折素子５５、ミラー５７、１／４波長板５
６、対物レンズ５８、光記録媒体５９、集光レンズ６
０、ホログラフィック光学素子（ＨＯＥ）６１、光検出
器６２、増幅器６３、誤差信号演算器６４、フォーカス
とトラッキングのドライブ回路６５，６６、フォーカス
駆動コイル６７およびトラッキング駆動コイル６８を備
えている。

【００４９】ここで１／４波長板５６は、基本的にビー
ムスプリッタ５４と対物レンズ５８の間にあれば良く、
図１２に示す位置でなくて良い。また、反射型回折素子
５５についても同様に、基本的にビームスプリッタ５４
と対物レンズ５８の間にあれば良い。但し、反射型回折
素子５５と１／４波長板５６の順序が入れ代わることは
ない。ミラー５７の機能は、光束の進行方向を変えるた
めのものであり、ミラー５７がなくても、実際の光ヘッ
ドの機能には何も影響を与えない。

【００５０】半導体レーザ５１から出射した光束は、コ
リメータレンズ５２で平行光束になり、さらにビーム整
形プリズム５３で非等方なビーム形状を等方形状に整形
した後、対物レンズ５８で収束して光記録媒体５９の記
録面上に微小ビームスポットを形成する。光記録媒体５
９の記録面で反射した光束は対物レンズ５８を通り、ビ
ームスプリッタ５４で反射して、集光レンズ６０、ＨＯ
Ｅ６１、光検出器６２からなる信号検出系に入射する。

【００５１】光検出器６２からの信号より、増幅器６３
と誤差信号演算器６４で、フォーカス誤差信号およびト
ラッキング誤差信号を生成する。それぞれの誤差信号を
使い、フォーカスとトラッキングのドライブ回路６５，
６６で、フォーカス駆動コイル６７およびトラッキング
駆動コイル６８を動かし、対物レンズ５８を光軸方向お
よび半径方向に移動制御して光ディスクに記録された情
報に対して収束した微小ビームスポットの相対位置を制
御して、安定に情報の記録および再生を行う。また、再
生信号は、増幅器６３より得られる。

【００５２】次に、半導体レーザ５１の光出力制御につ
いて説明する。ビームスプリッタ５４を透過した後、反
射型回折素子５５の回折光を利用して光記録媒体５９に
向かう光束の一部を分離する。反射型回折素子５５の回
折光は、再びビームスプリッタ５４を透過し、光検出器
６９で検出する。この光検出器６９の出力は、アンプ７
０を介してレーザ制御部７１に供給され、光出力制御信
号７２と比較演算した結果を用いて、レーザドライバ７
３で半導体レーザ５１に供給する電流値を変化させ、半
導体レーザ５１の出射光量を制御する。光出力制御信号
７２が一定レベルに指定されているとき（再生動作のと
きなど）は半導体レーザ５１の出射光量は一定になるよ
うに制御され、光出力制御信号７２が記録情報に基づい
て変化するように指定されているときは半導体レーザ５
１の出射光量を光出力制御信号７２と同じ変化をするよ
うに制御する。

【００５３】以上のように構成された光学的情報記録再
生装置において、半導体レーザ５１から出射される光束
が半導体レーザの活性層に対して平行な偏光成分以外を
持つときの動作および効果について、図１３を使って説
明する。

【００５４】図１３は、ビームスプリッタ５４における
入射および出射する光束の偏光状態を示したものであ
る。図１３（ａ）は、ビームスプリッタ５４に入射する
光束の偏光状態を示しており、ほぼ半導体レーザ５１か
ら出射される光束の偏光状態と同じである。図１３
（ｂ）はビームスプリッタ５４の透過光、図１３（ｃ）
はビームスプリッタ５４の反射光の偏光状態を示してい
る。これらは、ビームスプリッタ５４の光束分割特性を
示しており、透過光にはｓ偏光成分を持たないような分
割特性を持たせている。従って、ビームスプリッタ５４
の入射光の偏光状態が変化しても、ビームスプリッタ５
４の透過光の偏光状態は変化しない。一方、ｐ偏光成分
はほとんど透過するものの一部は反射して、ｓ偏光成分
と共にビームスプリッタ５４の反射光として出射する。
図１３（ｃ）に示すようにｓ偏光成分が存在する。この
ため、ビームスプリッタ５４の入射光の偏光状態が変化
した場合、ビームスプリッタ５４の反射光の偏光状態も
変わり、透過光の偏光状態と同一にならない。従って、
この光束を特別な目的に使用できない。従来は、この光
束を検出して半導体レーザの光出力を制御していたの
で、光ディスクに向かう光束と光出力を制御するための
検出に使われる光束とに偏光成分の変化の影響が現れ
て、光量制御動作によって光量変動が助長されることが
あった。

【００５５】ビームスプリッタ５４の透過光束は、ｐ偏
光成分しか持たない直線偏光の光束である。この光束の
一部を、反射型回折素子５５の回折光で検出する。反射
型回折素子５５の回折光は、再びビームスプリッタ５４
を通過するが、この場合もｐ偏光成分のみが透過するの
で、光検出器６９に向かう回折光と光記録媒体５９に向
かう光束の偏光状態は等しいので、半導体レーザ５１へ
の戻り光等で生じる光量変動は、相似的な振る舞いを示
す。

【００５６】これにより、光検出器６９の出力に基づい
て半導体レーザ５１の出射光量を制御すれば、光記録媒
体５９に向かう光束を任意の値に制御できる。例えば、
光記録媒体５９から情報を再生するときは、光出力制御
信号７２として一定値が入力され、光検出器６９の出力
も一定になるような制御が成され、これに伴って光記録
媒体５９に向かう光束も一定光量になる。

【００５７】なお、図１２に示すように半導体レーザ５
１と光検出器６９を一つのパッケージ２４に収めること
により、光ヘッドの小型化が実現できる。しかし、基本
的に前記した効果を得るためには、半導体レーザ５１と
光検出器６９は別々に配置しても構わない。

【００５８】図１４を使って、反射型回折素子５５をも
う少し詳しく説明する。透明基板１４１と平行光源１４
２と平行光源１４３とを図１４の配置とし、平行光源１
４２と平行光源１４３で透明基板１４１を照射すると、
干渉パターンができる。レジスト等を使って、この反射
型の干渉パターンを透明基板１４１に生成したものが、
反射型回折素子５５である。図１４の透明基板１４１に
反射型の干渉パターンを生成し、透明基板１４１の右側
から平行光を入射すると、回折光が生じる。

【００５９】（第１０の実施例）図１５は、本発明の第
１０の実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の
構成を示したものである。第９の実施例との相違点は、
半導体レーザ５１の出射光に対して、ビームスプリッタ
７４で反射した光束を光記録媒体５９に導くことにあ
る。但し、ビームスプリッタ７４はｐ偏光成分全てを透
過する特性である。また、ビームスプリッタ７４に対し
て半導体レーザ５１の活性層を垂直にする。なお、図１
５では半導体レーザ５１からビーム整形プリズム５３の
光学系とその後の光学系を同位置平面に描いているが、
実際はいずれかの光学系が光軸を中心に９０度回転して
いる。その他の構成および動作は第９の実施例と同様で
あり、反射型回折素子５５の回折光を第９の実施例と同
様な方法で検出し、出力制御系を介して、半導体レーザ
５１の出射光量を制御する。

【００６０】（第１１の実施例）図１６は、本発明の第
１１の実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の
構成を示したものである。第９の実施例との相違点は、
反射型回折素子７５の回折光が集束光であることと、光
検出器６９の位置である。反射型回折素子７５の回折光
が、ビームスプリッタ５４を再び透過して、光検出器６
９に出射される。図１６では、反射型回折素子７５の回
折光がビーム整形プリズム５３を通過しているが、本発
明の目的達成のためには、ビーム整形プリズム５３をビ
ームスリッタ５４と離して、反射型回折素子７５の回折
光がビーム整形プリズム５３を通過化しなくても良い。
反射型回折素子７５の回折光を光検出器６９が検出し、
半導体レーザ５１の出射光量を制御する。

【００６１】（第１２の実施例）図１７は、本発明の第
１２の実施例に係る光学的情報記録再生装置の主要部の
構成を示したものである。第１１の実施例との相違点
は、半導体レーザ５１の出射光に対してビームスプリッ
タ７４で反射した光束を光記録媒体５９に導くことにあ
る。但し、ビームスプリッタ７４はｐ偏光成分全てを透
過する特性である。また、ビームスプリッタ７４に対し
て半導体レーザ５１の活性層を垂直にする。図１７で
は、半導体レーザ５１からビーム整形プリズム５３の光
学系とその後の光学系を同位置平面に描いているが、実
際は、どちらかの光学系が光軸を中心に９０度回転して
いる。その他の構成動作は第９の実施例と同様であり、
反射型回折素子７５の回折光を第１１の実施例と同様な
方法で検出し、出力制御系を介して、半導体レーザ５１
の出射光量を制御する。

【００６２】第９〜第１２の実施例においてはλ／４板
を使用しているが、本発明の所期の目的達成のために
は、基本的にはλ／４板は必要ない。

【００６３】（第１３の実施例）図１８は本発明の第１
３の実施例に係る光学的情報記録再生装置における光出
力制御装置の構成を示したものであり、半導体レーザ９
１、反射型回折素子９２、光検出器９３、半導体レーザ
ケース９４、増幅器１０１、レーザ制御部１０２および
レーザドライバ１０３を備えている。

【００６４】半導体レーザ９１から出射した光束は、反
射型回折素子９２を透過して半導体レーザケース９４の
外に取り出される主光束と、反射・回折した光束とに分
離される。半導体レーザケース９４の外に取り出された
主光束は、従来と同様に目的に応じた光学系、例えば半
導体レーザからの出射光を光ディスク上へ集光するため
の光学系に導かれる。

【００６５】一方、反射型回折素子９２で反射・回折し
た光束は、光検出器３の受光面に集光されて検出され
る。光検出器９３の出力は、増幅器１０１で適当なレベ
ルまで増幅された後、レーザ制御部１０２に光出力信号
１０５として入力される。レーザ制御部１０２では、光
出力制御信号１０４と光出力信号１０５を比較し、その
相違量に応じた信号を生成してレーザドライバ１０３に
入力する。レーザドライバ１０３は、この信号に基づい
て半導体レーザ９１の駆動電流を制御するように構成さ
れ、レーザ駆動信号１０６を半導体レーザ１に供給す
る。

【００６６】このように構成することによって、従来と
同様な半導体レーザケース９４の外形でありながら、半
導体レーザケース９４の外に取り出されて実際の用途に
供される主光束と同じ光量変動を伴う光束を半導体レー
ザケース９３内で検出して、半導体レーザ１の出射光の
光量を制御することができる。このため、制御系の最適
調整は半導体レーザ９１が単体の状態でできる。また、
半導体レーザ９１から光検出器９３に至る光路は短く、
しかもその光路には反射型回折素子９２があるのみであ
る。従って、光伝搬による時間遅延が少なく、素子特性
のばらつきが少ない（素子数が少ない効果）ことから、
制御性能の個体差を小さく押さえることができる。

【００６７】図１９は、反射型回折素子９２を製作する
ための一実施例を示す。ここでは、光源に使用するレー
ザの波長は、組み込む半導体レーザの波長と同レベルの
ものとする。Ａは、図１８に示した半導体レーザ９１の
出射端面に相当する位置で、反射型回折素子９２との距
離は実装時の距離に同じである。また、Ｂは反射型回折
素子９２からの反射回折光が集光する位置で、図１８に
おける光検出器９３の受光面に相当する位置である。Ａ
から出射すると光束とＢ′に集光する光束とを基板１２
２上の記録膜１２１に照射し、干渉縞を記録する。露光
後、記録膜１２１を処理して、記録膜１２１の表面形状
を露光量に応じた凹凸量に置換して、回折素子とする。
ここで、光検出器９３へ導く光束の光量は、前記の凹凸
量もしくは、記録膜１２１の反射率などで設定する。好
ましくは、回折効率が高くなるように凹凸量が１／４波
長になるようにし、反射率そのものはでき得る限り低く
押さえた方が、反射型回折素子を透過する光束を大きく
することができる。

【００６８】ここでは、２光束を干渉させて回折素子を
製作する方法を述べたが、計算手段でこの干渉縞に相当
するパターンを生成して電子線描画などの一連のフォト
リソグラフィー技術でも同様な反射型回折素子２を作る
ことができる。

【００６９】図２０は、電気回路の光出力制御部と光検
出器を同一の半導体基板上に作り付けた、オプトエレク
トロ・ＩＣの構成を示すブロック図である。このよう
に、光出力制御装置の主たる部分をオプトエレクトロ・
ＩＣ化することができる。

【００７０】図２１に、図２０に示したオプトエレクト
ロ・ＩＣを用いた光出力制御装置の実施例を示す。光出
力検出・制御部１００をオプトエレクトロ・ＩＣ化した
ものを用い、半導体レーザケース内に実装すると一層扱
いやすく高性能な光出力制御装置とすることができる。
この場合は、必要に応じて光出力制御系の最適化を図る
ための利得調整や位相補償などの出力端子を半導体レー
ザケース４に設けることが重要である。

【００７１】図２２は、反射型回折素子２の表面状態の
一例を示すものである。半導体レーザケース４内に設け
た光検出器３に外部からの光束が入射することを低減す
るために、半導体レーザ９１の出射光が通過する以外の
領域に遮光部１３１を設けたものである。この遮光部１
３１は、回折格子部１３２と同一の面に形成されるが、
半導体レーザケース９４の外部と接する面に設けても同
様の効果が得られることはもとより、半導体レーザ９１
の利用状態に応じて使用時に制限する開口を設けること
ができる。

【００７２】図２３は、本発明の光出力制御装置を使っ
て、光学的情報記録再生装置を構成したときの模式図で
ある。図１８に示した光出力制御装置を含む半導体レー
ザ１から出射した光束は、コリメーティングレンズ２で
平行光束になり、さらにビーム整形プリズム３で非等方
なビーム形状を等方形状に整形した後、対物レンズ６で
集束して光ディスク７の記録面上に微小ビームスポット
を形成する。光ディスク７の記録面で反射した光束は対
物レンズ６を通り、ビームスプリッタ４で反射して、集
光レンズ８、ＨＯＥ７、光検出器１０からなる信号検出
系に入射する。光検出器１０からの信号は、アンプ１１
１、信号演算部１１２を経て、情報再生信号１１４とフ
ォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号を生成
し、それぞれの誤差信号はアクチュエータドライバ１１
３を介してトラッキング駆動コイル１４およびフォーカ
ス駆動コイル１５に供給され、対物レンズ６を光軸方向
および半径方向に移動制御して、光ディスク７に記録さ
れた情報に対して集束した微小ビームスポットの相対位
置を制御し、安定に情報の記録および再生を行う。これ
らの制御系の構成および動作に関しては、特開平３−２
５７「光学ヘッド装置」に詳細に述べられているので、
詳細な説明を省略する。

【００７３】一方、光ディスク７からの反射光は往路と
同様な経路を経て、再び半導体レーザ１に戻る。この戻
り光束で半導体レーザ１の出射光量は変動を受けるが、
図１８のように構成された光出力制御装置の動作によっ
て実際の出射光束に光量変動は生じない。このように、
本発明の光出力制御装置を用いて光学機器を作ると、外
部からの戻り光による光量変動を著しく低減することが
でき、高精度に制御された光出力が得られるので、これ
に伴って光学機器の精度の向上を図れる。

【００７４】（第１４の実施例）図２４は本発明の第１
４の実施例に係る光出力制御装置の構成を示したもので
あり、図１８と対応する部分に同一符号を付して第１３
の実施例との相違点を説明する。この実施例では図２４
に示されるように、半導体レーザケース９４の外部に取
り出された主光束が導かれる光学系の光軸に対して反射
型回折格子９２が傾けて配置されている。反射型回折格
子９２の傾ける方向は、半導体レーザ９１の活性層に平
行な方向である。このように反射型回折格子９２を傾け
て配置することで、該回折格子９２の表裏からの正反射
光が光検出器９３で受光される量を低減できる。

【００７５】さらに、反射型回折格子９２の傾き角と基
板（図１９の１２２）の厚さを次の条件を満たすように
設定する。

【００７６】ΔＺ＝（ｄ／ｎ*cosｉ′）＊（１− cos²
ｉ／ cos² ｉ′） 但し、ΔＺ：半導体レーザの発光波長における基板の屈
折率 ｄ：基板の厚さ sinｉ＝ｎ*sinｉ′ この実施例にすると、半導体レーザ９１の出射光が持っ
ている非点隔差を補正して外部に設けた光学系へと導く
ことができるという効果が新たに得られる。

【００７７】上述した第１３および第１４の実施例によ
る光出力制御装置は、光学的情報記録再生装置以外の用
途にも使用できることはいうまでもない。

【００７８】

【発明の効果】このように本発明では、記録媒体からの
反射光を半導体レーザから光学系により記録媒体に向か
う光束と分離して第１の光検出器に導くための第１の光
分離素子と記録媒体との間に、半導体レーザから出射さ
れかつ第１の光分離素子を透過あるいは第１の光分離素
子で反射された光束の一部を記録媒体に向かう光束と分
離して取り出す第２の光分離素子を設け、この第２の光
分離素子により取り出された光束を第２の光検出器で検
出して、半導体レーザから出射される光束の強さを制御
する。さらに、第１の光分離素子をｓ偏光成分の透過率
がほぼ零で、半導体レーザから出射された光束のうちｐ
偏光成分のみからなる直線偏光の光束を透過させて第２
の光分離素子に導くか、あるいは第１の光分離素子をｐ
偏光成分の反射率がほぼ零で、半導体レーザから出射さ
れた光束のうちｓ偏光成分のみからなる直線偏光の光束
を反射させて第２の光分離素子に導くように構成する。
このような構成によって、記録媒体に向かう光束と光出
力の安定化のための検出される光束とが相似的な光量変
化を示すようになり、高精度な光出力の安定化制御を実
現できる。すなわち、記録媒体からの反射光が半導体レ
ーザに戻ることによって生じる半導体レーザの出射光量
の変動を情報の記録および再生に影響を与えない程度に
まで抑圧することができる。

【００７９】

【００８０】

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図２】 図１の第１の光分離素子における入射光・出
射光の偏光状態を示す図

【図３】 本発明の第２の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図４】 本発明の第３の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図５】 本発明の第４の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図６】 本発明の第５の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図７】 図６の第１の光分離素子における入射光・出
射光の偏光状態を示す図

【図８】 回折型素子を説明する図

【図９】 本発明の第６の実施例に係る光学的情報記録
再生装置の要部を模式的に示す図

【図１０】 本発明の第７の実施例に係る光学的情報記
録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１１】 本発明の第８の実施例に係る光学的情報記
録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１２】 本発明の第９の実施例に係る光学的情報記
録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１３】 図６の第１の光分離素子における入射光・
出射光の偏光状態を示す図

【図１４】 反射型回折素子を説明する図

【図１５】 本発明の第１０の実施例に係る光学的情報
記録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１６】 本発明の第１１の実施例に係る光学的情報
記録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１７】 本発明の第１２の実施例に係る光学的情報
記録再生装置の要部を模式的に示す図

【図１８】 本発明の第１３の実施例に係る光出力制御
装置の要部を模式的に示す図

【図１９】 図１８の反射型回折素子を製作する方法を
模式的に示す図

【図２０】 オプトエレクトロ・ＩＣの構成を示すブロ
ック図

【図２１】 図２０に示すオプトエレクトロ・ＩＣを使
った光出力制御装置の構成を模式的に示す図

【図２２】 図１８の反射型回折素子の表面状態の一実
施例を示す図

【図２３】 光出力制御装置を光ディスク装置に適用し
たときの構成を模式的に示す図

【図２４】 本発明の第１４の実施例に係る光出力制御
装置の要部を模式的に示す図

【符号の説明】

１…半導体レーザ、２…コリメーティングレンズ、３…
ビーム整形プリズム、４，１１…ビームスプリッタ、５
…１／４波長板、６…対物レンズ、７…光ディスク、
８，１２…集光レンズ、９…ＨＯＥ、１０，１３…光検
出器、１４…フォーカス駆動コイル、１５…トラッキン
グ駆動コイル、１１１…アンプ、１１２…信号演算部、
１１３…アクチュエータドライバ、１１４…情報再生信
号。 ２１…半導体レーザ、２２…コリメータレンズ、２３…
ビーム整形プリズム、２４…ビームスプリッタ、２５…
回折型素子、２６…ミラー、２７…１／４波長板、２８
…対物レンズ、２９…光記録媒体、１０…レンズ、３１
…ＨＯＥ、３２…光検出器、３３…増幅器、３４…誤差
信号演算器、３５…フォーカスドライブ回路、３６…ト
ラッキングドライブ回路、３７…フォーカス駆動コイ
ル、３８…トラッキング駆動コイル、３９…光検出器、
２０…アンプ、４１…レーザ制御部、４２…光出力制御
信号、４３…レーザドライバ、４４…ビームスプリッ
タ、８１…透明基板、８２…点光源、８３…平行光源。 ５１…半導体レーザ、５２…コリメータレンズ、５３…
ビーム整形プリズム、５４…ビームスプリッタ、５５…
反射型回折素子、５６…１／４波長板、５７…ミラー、
５８…対物レンズ、５９…光記録媒体、６０…レンズ、
６１…ＨＯＥ、６２…光検出器、６３…増幅器、６４…
誤差信号演算器、６５…フォーカスドライブ回路、６６
…トラッキングのドライブ回路、６７…フォーカス駆動
コイル、６８…トラッキング駆動コイル、６９…光検出
器、７０…アンプ、７１…レーザ制御部、７２…光出力
制御信号、７３…レーザドライバ、１４１…透明基板、
１４２，１４３…平行光源、７４…ビームスプリッタ、
７５…反射型回折素子。 ９１…半導体レーザ、９２…反射型回折素子、９３…光
検出器、９４…半導体レーザケース、９８…光出力制御
部、１００…光出力検出・制御部、１０１…増幅器、１
０２…レーザ制御部、１０３…レーザドライバ、１０４
…光出力制御信号、１０５…光出力信号、１０６…レー
ザ駆動信号、１１０…増幅器、１１１…信号演算部、１
１３…アクチュエータドライバ、１１４…情報再生信
号、１２１…記録膜、１２２…基板、１３１…遮光部、
１３２…回折格子部。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−215402（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−125738（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−54029（ＪＰ，Ｕ) 実開 平３−71417（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/12 - 7/22

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体にレーザ光を照射して情報の記
   録および再生を行う光学的情報記録再生装置において、 ｓ偏光成分とｐ偏光成分を持つ光束を出射する半導体レ
   ーザと、 前記半導体レーザから出射された光束を前記記録媒体上
   に集光するための対物レンズと、 前記記録媒体からの反射光を前記半導体レーザから前記
   対物レンズにより前記記録媒体に向かう光束と分離して
   取り出す第１の光分離素子と、 前記第１の光分離素子により取り出された前記記録媒体
   からの反射光を検出する第１の光検出器と、 前記第１の光分離素子と前記対物レンズとの間に配置さ
   れた波長板と、 前記第１の光分離素子と前記波長板との間に配置され、
   前記半導体レーザから出射されかつ前記第１の光分離素
   子を透過した光束の一部を前記記録媒体に向かう光束と
   分離して取り出す第２の光分離素子と、 前記第２の光分離素子により取り出された光束を検出す
   る第２の光検出器と、 前記第２の光検出器からの出力により前記半導体レーザ
   から出射される光束の強さを制御する制御手段とを備
   え、 前記第１の光分離素子は、ｓ偏光成分の透過率がほぼ零
   で、前記半導体レーザから出射された光束のうちｐ偏光
   成分のみからなる直線偏光の光束を透過させて前記第２
   の光分離素子に導くように構成されることを特徴とする
   光学的情報記録再生装置。
2. 【請求項２】 記録媒体にレーザ光を照射して情報の記
   録および再生を行う光学的情報記録再生装置において、 ｓ偏光成分とｐ偏光成分を持つ光束を出射する半導体レ
   ーザと、 前記半導体レーザから出射された光束を前記記録媒体上
   に集光するための対物レンズと、 前記記録媒体からの反射光を前記半導体レーザから前記
   対物レンズにより前記記録媒体に向かう光束と分離して
   取り出す第１の光分離素子と、 前記第１の光分離素子により取り出された前記記録媒体
   からの反射光を検出する第１の光検出器と、 前記第１の光分離素子と前記対物レンズとの間に配置さ
   れた波長板と、 前記第１の光分離素子と前記波長板との間に配置され、
   前記半導体レーザから出射されかつ前記第１の光分離素
   子を反射した光束の一部を前記記録媒体に向かう光束と
   分離して取り出す第２の光分離素子と、 前記第２の光分離素子により取り出された光束を検出す
   る第２の光検出器と、 前記第２の光検出器からの出力により前記半導体レーザ
   から出射される光束の強さを制御する制御手段とを備
   え、 前記第１の光分離素子は、ｐ偏光成分の透過率がほぼ零
   で、前記半導体レーザから出射された光束のうちｓ偏光
   成分のみからなる直線偏光の光束を反射させて前記第２
   の光分離素子に導くように構成されることを特徴とする
   光学的情報記録再生装置。