JP3954775B2 - 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 - Google Patents
光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3954775B2 JP3954775B2 JP2000184710A JP2000184710A JP3954775B2 JP 3954775 B2 JP3954775 B2 JP 3954775B2 JP 2000184710 A JP2000184710 A JP 2000184710A JP 2000184710 A JP2000184710 A JP 2000184710A JP 3954775 B2 JP3954775 B2 JP 3954775B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- pickup device
- optical
- optical pickup
- diffraction element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ピックアップ装置は、光ディスク等の光情報記録媒体に対して情報の記録や再生を行うための装置として知られている。
光ピックアップ装置では、光源からの光ビームが対物レンズにより、光情報記録媒体の記録面に光スポットとして集光され、記録面により反射された戻り光ビームが検出部へ導光され、検出部からの検出信号に基づき、フォーカスエラー信号及びトラックエラー信号や再生信号が形成される。
上記フォーカスエラー信号に基づき「光スポットを記録面に結像させるフォーカシング制御」が行われ、上記トラックエラー信号に基づき「光スポットがトラックを外れないようにするトラッキング制御」が行われる。
トラッキング制御として良く知られた「プッシュプル法」は、対物レンズがトラッキング制御により大きく移動した場合や、光情報記録媒体と対物レンズの間に相対的な傾きが生じた場合、トラックエラー信号にオフセットが発生してトラッキング制御の障害を来すことが知られ、このようなオフセットを除去できるトラッキング制御方法として「差動プッシュプル法」が知られている(特開平4−34212号)。
この方法では、光源からの光ビームを回折素子の回折作用により、0次光ビームと±1次光ビームの3本の光ビームに分離し、これら3本の光ビームによる3つの光スポットが、光情報記録媒体の記録面上でトラック直交方向に、トラックピッチの1/2ずつ「ずれる」ようにする。
光ピックアップ装置の光源として一般に用いられる半導体レーザから放射される光ビームはファーフィールドパターンが楕円状であるので、この光ビームを記録面上に集光させると、形成される光スポットの形状も楕円状になる。光スポットの形状としては円形に近いものが望ましく、円形に近い光スポットを得るために「ビーム整形」が行われる。
【0003】
ビーム整形の1方法として知られた「ビーム整形プリズムを用いる方法」は、プリズムの屈折を利用し、上記楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向のビーム径のみを拡大して、長軸方向のビーム径に略等しくする方法である。このビーム整形方法は、光源からの光ビームの有する光エネルギを無駄にすることなくビーム整形できる点で優れている。
上記差動プッシュプル法でトラッキング制御を行う光ピックアップ装置で、上記ビーム整形プリズムを用いてビーム整形を行うと以下の如き問題が生じる。 即ち、回折素子により分離された3つの光ビームのうち0次光ビームが「ビーム整形プリズムの射出面から実質的に射出角:0で射出する」ようにすると、±1次光ビームの各射出角の絶対値が異なるものとなり、記録面上に形成される3つの光スポットのトラック直交方向の間隔が、前記「トラックピッチの1/2」からずれて、差動プッシュプル法の精度を低下させる原因となる。
また、光源としての半導体レーザの発光波長は、情報再生時の出力(3mW)と情報記録時の出力(30mW)の差で2〜3nmの波長変動を生じ、使用温度が変動すると温度差:5度で略1nmの波長変動を生ずる。また、高周波重畳におけるマルチモード化に伴い、スペクトル幅がピーク間にして5nm程度増大する。このような波長変動により、回折素子とビーム整形プリズムで色収差が発生し、光情報記録媒体面上で光スポットの間隔が変動し、トラッキング制御の精度を低下させる原因となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、光ピックアップ装置において、ビーム整形プリズムによるビーム整形を行いつつ、差動プッシュプル方法により精度の良いトラッキング制御を実現することを課題とする。
この発明はまた、上記課題に加えて、光源として用いられる半導体レーザにおける波長変動のトラッキング制御への影響を有効に軽減することを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この発明の光ピックアップ装置は「光源としての半導体レーザからの光ビームを、回折素子の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズにより光情報記録媒体の記録面に集光照射し、記録面により反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置」であって、ビーム整形プリズムを有する。
「ビーム整形プリズム」は、回折素子により分離した3本の光ビームの各々に対し、楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向のビーム径のみを拡大し、円形に近いファーフィールドパターンを得るためのものである。
請求項1記載の光ピックアップ装置は、以下の如き特徴を有する。
即ち、回折素子へ光源側から入射する光ビームの主光線と、この光ビームにおける楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向とを含む平面内において、回折素子を主光線に直交する方向に対して傾ける。
回折素子の傾き角は「ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなる」ように設定される。
「光源の基準波長」は、出力差や温度差による波長変動の生じていない状態における発光波長である。
「回折素子」としては、透過型の回折素子を用いることも(請求項2)、反射型の回折素子を用いることも(請求項3)できる。
上記請求項1または2または3記載の光ピックアップ装置において「光情報記録媒体からの戻り光ビームを、半導体レーザから光情報記録媒体へ向かう光ビームの光路から検出部へ分離する光路分離手段」を、回折素子と対物レンズとの間に配置することができる。
この場合、光路分離手段を「ビーム整形プリズムと対物レンズとの間」に配置することができる(請求項5)。
【0006】
この請求項5記載の光ピックアップ装置において、ビーム整形プリズムと対物レンズとの間に配置される光路分離手段を「ビーム整形プリズム側に配置される偏光ビームスプリッタと、対物レンズ側に配置される1/4波長板」で構成することができる(請求項6)。
また、上記請求項1〜6の任意の1に記載の光ピックアップ装置において、光源としての半導体レーザからの光ビームを、コリメートレンズにより平行光ビームに変換して回折素子へ入射させることができる(請求項7)。
上記請求項1〜6の任意の1に記載の光ピックアップ装置において、上記回折素子の傾き角を「ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなり、且つ、光源の波長変化により大きく影響されなくなる」ように設定することができる(請求項8)。
この発明の光情報処理方法は「光源としての半導体レーザからの光ビームを、回折素子の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズにより光情報記録媒体の記録面に集光照射し、記録面により反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置を用いる光情報処理方法」である。
請求項9記載の光情報処理方法は、光ピックアップ装置として前記請求項1〜7の任意の1に記載のものを用い「ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなる状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行う」ことを特徴とする。
【0007】
請求項10記載の光情報処理方法は、ピックアップ装置として前記請求項8記載のものを用い「ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなり、且つ光源の波長変化により大きく影響されない状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行う」ことを特徴とする。
この発明の光情報処理装置は「光情報記録媒体である光ディスクに対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光情報処理装置であって、保持部と、駆動手段と、光ピックアップ装置と、変位駆動手段とを有する(請求項11)。
「保持部」は、光ディスクをセットされて保持する。
「駆動手段」は、保持部にセットされた光ディスクを回転駆動する。
「光ピックアップ装置」は、セットされた光ディスクに対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置であり、前記請求項1〜8の任意の1に記載のものを用いることができる。
「変位駆動手段」は、光ピックアップ装置の少なくとも一部を光ディスクの半径方向へ変位駆動する。
上記の「情報の記録・再生・消去の1以上を行う」とは、光情報記録媒体に対して、情報を記録すること、記録されている情報を再生すること、記録されている情報を消去すること、情報の記録と再生とを行うこと、情報の記録と消去とを行うこと、情報の再生と消去とを行うこと、情報の記録と再生と消去とを行うことを総称する。
また、上記請求項5記載の光ピックアップ装置は、光源である半導体レーザから1/4波長板までの部分を固定部として不動部材に固定し、1/4波長板と対物レンズの間に偏向プリズムを配置し、この偏向プリズムと対物レンズとを固定部に対してトラック直交方向へ独立に変位可能な可動部とする所謂「分離型光ピックアップ装置」として構成することもできる。上記請求項11記載の「光ピックアップ装置の少なくとも一部を光ディスクの半径方向へ変位駆動する」とは、このような場合を言う。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1に、光ピックアップ装置の実施の1形態を要部のみ示す。
図1(a)において、光源としての半導体レーザ1からの出射された光ビームは、コリメートレンズ2により「平行光ビーム」に変換される。半導体レーザ1から放射される光ビームの「ファーフィールドパターン」は、図1(a)の図面に直交する方向を長手方向とする楕円形状である。従って上記ファーフィールドパターンの短軸方向は図面に平行な面内にある。
コリメートレンズ2から射出した平行光ビームは、透過型の回折素子3を透過し、回折作用により(図面に平行な面内で)3本の光ビーム、即ち、0次光ビーム、+1次光ビーム、―1次光ビームに分離する。なお、繁雑を避けるため、図には「0次光ビーム(回折素子3を直進的に透過する)」のみを示す。上記3本の光ビームは何れも平行光ビームである。
回折素子3は透明な平行平板状であって「回折格子」を形成されており、光源側から入射してくる平行光ビームの主光線と、この平行光ビームにおける楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向とを含む平面内(図1(a)で図面に平行な面内)において「上記主光線に直交する方向」に対して傾けて配置されている。この「傾き」の傾き角を図の如く「β(図において、時計回りの回転角を正とする)」とする。
回折素子3により分離した3本の光ビームは、続いてビーム整形プリズム4に入射し、各光ビームともビーム整形プリズム4を透過する際の屈折作用により、ファーフィールドパターンの短軸方向のビーム径のみが拡大され、略円形状のファーフィールドパターンを持った光ビームとなる。
このとき、ビーム整形プリズム4から射出する光ビームの射出角は、0次光ビームが実質的に射出角:0で、+1次光ビームと−1次光ビームとは、0次光ビームを挟んで互いに逆の向きに微小角傾く。
【0009】
ビーム整形された3本の光ビームは、続いて偏光ビームスプリッタ5と1/4波長板6とを順次に透過する。半導体レーザ1から放射される光ビームは「偏光ビームスプリッタ5に対してP偏光状態にある直線偏光」であり、対物レンズ7側へ向かって1/4波長板6を透過することにより各光ビームは「円偏光状態」となる。
3本の光ビームは次いで対物レンズ6を透過し、対物レンズ6の作用により、それぞれ集光され、光情報記録媒体としての光ディスク8の記録面8A上に光スポットを形成する。
図1(b)の左側の部分は、上記3本の光ビームが記録面8A上に形成する光スポットの状態を示している。符号「Bm」で示すのは「0次光ビームが形成する光スポット」であり、符号「Bs」で示すのは「±1次光ビームにより形成される光スポットである。
図1(b)に示すように、記録面にはグルーブ(溝)とランドが形成されており、0次光ビームによる光スポットBmはグルーブ部に照射され、±1次光ビームによる各光スポットBsは、光スポットBmを挟んで、トラック直交方向(図の左右方向)へ、光スポットBmに対して距離:Q(トラックピッチTpの1/2)だけずれてランド部に照射される。
図1(a)に戻ると、記録面8Aにより反射された3本の光ビームは、各々戻り光ビームとして対物レンズ7と1/4波長板6を透過し、当初とは偏光方向が90度旋回した直線偏光状態になる。この直線偏光状態は偏光ビームスプリッタ5に対してS偏光である。従って、偏光ビームスプリッタ5は入射してくる各戻り光ビームを集光レンズ9に向けて反射する。
集光レンズ9は3本の戻り光ビームを、それぞれ集光光束に変換する。これら集光光束はシリンドリカルレンズ10を透過して非点収差を与えられ、受光素子11に入射する。
【0010】
受光素子11は図1(b)に示すように、3つの受光部11m、11s1、11s2を有する。受光部11mには0次光ビームの戻り光ビームが集光し、受光部11s1,11s2にはそれぞれ、+1次光ビーム及び−1次光ビームの戻り光ビームが集光する。なお、フォーカシング制御は周知の「非点収差法」で実行されるので、各受光部11m、11s1、11s2は受光面を4分割されたものであるが、図面の繁雑をさけるため、2分割受光面として描いてある。
受光部11mからはトラックエラー信号用の信号:F1とE1が出力され、受光部11s1からはトラックエラー信号用の信号:F2とE2が、受光部11s2からはトラックエラー信号用の信号:F3とE3がそれぞれ出力する。これら信号はそれぞれ減算器12m、12s1,12s2で減算される。減算器12m、12s1,12s2の各出力:TE1、TE2、TE3は図の如く、減算器15で減算され、出力:TEDPPとなって出力する。
即ち、TE1=E1―F1、TE2=E2−F2、TE3=E3−F3であり
TEDPP=TE1−(1/2)・(TE2+TE3)
である。出力信号:TEDPPをトラックエラー信号とするプッシュプル法によるトラッキング制御が「差動プッシュプル法」である。
差動プッシュプル法では、0次光ビームによるプッシュプル信号:TE1と、±1次光ビームによるプッシュプル信号TE2、TE3は共に「対物レンズ7の光軸に対する入射光ビームの軸ずれや、対物レンズ7と光ディスク8との相対的なチルトによるオフセット量」に対して変化が等量であるため、上記のフォーカスエラー信号:TEDPPを用いることにより、上記オフセット発生をキャンセルすることができる。
なお、図1(b)において、符号13、14は共に、信号のゲインを調整するゲイン調整回路である。これらゲイン調整回路による調整により、フォーカスエラー信号:TEDPPが0のときに、0次光ビームの光スポットBmが正しくグルーブ上に位置するように調整を行う。
【0011】
図2は、回折素子3からの光ビーム(0次光ビームのみを代表させて描いてある)がビーム整形プリズム4によりビーム整形される状態を説明図的に示している。
回折素子3の回折角を「θ」、回折素子3の有する回折格子のピッチを「d」、回折の次数を「m」とすると、m次の回折光ビームの回折角:θは、前記傾き角:β、回折次数:m、ピッチ:dと共に次の関係を満足する。
mλ=d・(sinθ±sinβ) (1)
ここで、符号「±」は光源側からの回折素子3への入射光ビームと回折光ビームが回折格子の面の法線に対して同じ側にあれば正の符号、異なる側にあれば負の符号をとる。
また、ビーム整形プリズム4の屈折率を「n」、頂角を「α」、ビーム整形プリズム4の入射面での入射角、屈折角をφ1、φ2とし、射出面の入射角、屈折角をそれぞれφ3、φ4とすると、これらの間には以下の関係が成り立つ。
sinφ1=n・sinφ2 (2)
φ3=φ2−α (3)
n・sinφ3=sinφ4 (4)
ビーム整形プリズム4の材質が例えば「硝材のBK7」の場合、基準波長:660nmのときビーム整形プリズム4の屈折率:nは1.514207となる。ビーム整形プリズム4の頂角:αを38.4度、0次光ビームのビーム整形プリズム4への入射角:φ1m=70.2度とすると、ビーム整形されてビーム整形プリズム4から射出する0次光ビームの射出角:φm4は実質的に0となる。回折素子3は「傾き角:β=0において、―1次光ビームの回折角が−0.8度、+1次光ビームの回折角が+0.8度となる」ように形成されているものとする。
【0012】
このとき±1次光ビームのビーム整形プリズム4からの射出角:φ4s1、φ4s2はそれぞれ、φ4s1=―0.31度、φ4s2=+0.35度となる。±1次光ビームのビーム整形プリズム4からの射出角:φ4s1、φ4s2は、互いに符号が逆で絶対値が等しいのが理想であるが、このように、φ4s1とφ4s2の絶対値に「かなり大きな差」があると、0次光ビームの光スポットと+1次光ビームの光スポットとのトラック直交方向の間隔と、0次光ビームの光スポットと−1次光ビームの光スポットとのトラック直交方向の間隔とに、無視できない差が生じるため、差動プッシュプル法によるトラッキング制御の精度を低下させる原因になる。
発明者は、上記の条件において、回折素子3の傾き角:βを変化させることにより、±1次光ビームのビーム整形プリズム4からの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、図3の如くに変化することを見出した。
即ち、射出角:φ4s1、φ4s2は、回折素子の傾き角:βを正・負何れの向きに変化させても、符号は逆のままであるが、これらの絶対値の差は、特に傾き角:βを正の側に増大させるに従い、次第に減少し、β=50〜60度の範囲では射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値の差が0もしくは0に極めて近い値になる。
従って、回折素子3の傾き角:βを50〜60度の範囲内の適当な値に設定すれば、ビーム整形プリズム4からビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源の基準波長(660nm)において略等しくなるようにすることができる。
そして、このようにすることにより、0次光ビームの光スポットと+1次光ビームの光スポットとのトラック直交方向の間隔と、0次光ビームの光スポットと−1次光ビームの光スポットとのトラック直交方向の間隔とを、有効に近しいものとし、差動プッシュプル法によるトラッキング制御を精度良く行うことが可能になる。
【0013】
【実施例】
ここで具体的な実施例を挙げる。
上記の条件において、回折素子3の傾き角:βを56度に設定したところ、回折素子3による―1次光ビームの回折角:−57.4度、+1次光ビームの回折角:+54.7度であり、±1次光ビームのビーム整形プリズム4からの射出角:φ4s1、φ4s2はそれぞれ、φ4s1=―0.59度、φ4s2=+0.58度となる。
従って、射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源の基準波長において略等しく、差動プッシュプル法によるトラッキング制御を精度良く行うことが可能である。
発明者はまた、上記の条件下において、光源である半導体レーザ1の発光波長が、基準波長660nmから670nmに変化した状態において、回折素子3の傾き角:βの変化により、前記射出角:φ4s1、φ4s2がどのように変化するかを調べた。その結果は図4に示す如くである。
この結果から明らかなように、傾き角:βが0であるとき、波長が670nmに変化したことに起因して、射出角:φ4s1、φ4s2はそれぞれ、φ4s1=―0.30度、φ4s2=0.36度となり、各絶対値の差は0.06度であり、基準波長:660nmにおける絶対値差:0.04度に比して、さらに0.02度大きくなっている。
これに対し、傾き角:βが50〜60度の領域では、射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値の差は依然として小さい。特にβ=60度では、上記絶対値差は0である。
従って、上記実施例の場合のように、傾き角:βを60度に近い56度に設定した場合は、基準波長:660nmの場合においても、また、発光波長が670nmに変化したときにも、良好な精度で「差動プッシュプル法によるトラッキング制御」を実行することができる。
【0014】
図5に、光ピックアップ装置の実施の別形態を示す。繁雑を避けるため、混同の虞がないと思われるものについては、図1(a)におけると同一の符号を付した。
図1の実施の形態との差異は、回折素子として反射型の回折素子3Aが用いられていることである。
この実施の形態の場合にも「回折素子3Aの傾き角:βを適当に設定する」ことにより、ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源の基準波長:660nmにおいて略等しくなるように、また、波長変動が生じても上記射出角の絶対値の差が小さく、「差動プッシュプル法によるトラッキング制御」を精度良く実行することができるようにすることが可能である。
図1に示した実施の形態のように、透過型の回折素子3を用いる場合、これを入射光ビームに対して傾けて用いるので、回折素子3による±1次光ビームに非点収差が発生し、ビーム整形プリズム透過後に、収差が発生する。図5に示す実施の形態のように、反射型の回折素子3Aを用いれば、このような収差の発生はない。
なお、上記非点収差の発生に対しては以下のように対処できる。
即ち、回折素子3の回折格子を「単純回折格子」即ち、回折分離方向をy軸とする直交座標(x、y)系に対し、適当な定数αによる位相伝達関数:α・yのみに従うパターンとするのでなく、高次の補正項:σ(x、y)を用い、
φ(x、y)=α・y+σ(x、y)
に従うパターンに従う回折格子を形成し、補正項:σ(x、y)を最適化することにより、上記収差を抑制できる。
【0015】
図1、図5に示す各実施の形態では、いずれも対物レンズ6と回折素子3との間の光路中に「光路分離手段」である偏光ビームスプリッタ5と1/4波長板6とを配置している。このようにすると、光ディスクからの各戻り光ビームが回折素子3を再透過しないので、不要な回折光の発生を防止できる。仮に、上記光路分離手段を光源と回折素子との間に配備したとすると、各戻り光ビームが回折素子3を再透過してしまい、各々0次・±1次光ビームを発生してしまうので「受光信号のクロストーク」などを発生させてしまう。
図6は、この発明の光情報処理装置の実施の1形態を説明図的に示している。この実施の形態の光情報処理装置は「光ディスクドライブ」であり、光情報記録媒体であるディスク107に対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行うものであり、光ディスク107をセットされる保持部200と、この保持部200にセットされた光ディスク107を回転駆動する「駆動手段」としてのモータMTと、セットされた光ディスク107に対し、記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置204と、この光ピックアップ装置の少なくとも一部(分離型のときの可動部)を光ディスク107の半径方向へ変位駆動する「変位駆動手段」としての駆動部202とを有する。そして、光ピックアップ装置204は、上に実施の形態を説明したものを用いることができる。
【0016】
即ち、上に図1〜5に即して実施の形態を説明した光ピックアップ装置は、光源としての半導体レーザ1からの光ビームを、回折素子3の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズ7により光情報記録媒体8の記録面8Aに集光照射し、記録面8Aにより反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置であって、回折素子3(3A)により分離した3本の光ビームの各々に対し、楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向のビーム径のみを拡大し、円形に近いファーフィールドパターンを得るビーム整形プリズム4を有し、回折素子3(3A)へ光源側から入射する光ビームの主光線と、この光ビームにおける楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向とを含む平面内において、回折素子3(3A)を上記主光線に直交する方向に対して傾け、ビーム整形プリズム4からビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源の基準波長(660nm)において略等しくなるように、回折素子3(3A)の傾き角:βを設定したものである(請求項1)。
また、図1の実施の形態の光ピックアップ装置では、回折素子3が「透過型の回折素子」であり(請求項2)、図5の実施の形態の光ピックアップ装置では、回折素子3Aは「反射型の回折素子」である(請求項3)。
また、図1、図5の実施の形態の光ピックアップ装置とも、光情報記録媒体8からの戻り光ビームを、半導体レーザ1から光情報記録媒体8へ向かう光ビームの光路から検出部11へ分離する光路分離手段5,6を、回折素子3(3A)と対物レンズ7との間に配置したものであり(請求項4)、光路分離手段5,6は「ビーム整形プリズム4と対物レンズ7との間」に配置され(請求項5)、光路分離手段は「ビーム整形プリズム4側に配置される偏光ビームスプリッタ5と、対物レンズ側7に配置される1/4波長板6」とで構成される(請求項6)。
【0017】
さらに、図1、図5の実施の形態の光ピックアップ装置とも、光源としての半導体レーザ1からの光ビームは、コリメートレンズ2により平行光ビームに変換して回折素子3へ入射させられており(請求項7)、上記具体的な実施例で、ビーム整形プリズム4からビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源の基準波長(660nm)において略等しくなり、且つ光源の波長変化により大きく影響されなくなるように、回折素子の傾き角を設定したものである(請求項8)。
従って、上記実施の形態の光ピックアップ装置によれば、光源としての半導体レーザ1からの光ビームを、回折素子3(3A)の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズ7により光情報記録媒体8の記録面8Aに集光照射し、記録面8Aにより反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置を用いる光情報処理方法であって、ビーム整形プリズム4からビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源1の基準波長において略等しくなる状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光情報処理方法を実施することが出来(請求項9)、さらに、ビーム整形プリズム4からビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角:φ4s1、φ4s2の絶対値が、光源1の基準波長において略等しくなり、且つ光源の波長変化により大きく影響されない状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光情報処理方法を実施することができる(請求項10)。
【0018】
また、図6の実施の形態の光情報処理装置は、光情報記録媒体である光ディスク107に対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光情報処理装置であって、光ディスク107をセットされて保持する保持部200と、この保持部にセットされた光ディスクを回転駆動する駆動手段MTと、セットされた光ディスク107に対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置204と、この光ピックアップ装置の少なくとも一部を光ディスクの半径方向へ変位駆動する変位駆動手段202とを有し、光ピックアップ装置として、前記実施の形態や実施例に示したものを用いるものである(請求項11)。
【0019】
【発明の効果】
以上に説明したように、この発明によれば新規な光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置を実現できる。この発明の光ピックアップ装置・光情報処理方法によれば、ビーム整形プリズムによるビーム整形を行いつつ、差動プッシュプル法によるトラッキング制御を精度良く行うことが可能であり、また光源における波長変動に影響されにくい。従って、このような光ピックアップ装置を用いることにより、光ディスクへの情報の記録・再生・消去の1以上を良好に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光ピックアップ装置の実施の1形態を説明するための図である。
【図2】図1の実施の形態における特徴部分を説明するための図である。
【図3】光源の基準波長:660nmにおいて、回折素子の傾き角の変化に伴なう、±1次光ビームのビーム整形プリズムからの射出角の変化を説明するための図である。
【図4】光源の発光波長が670nmとなったときの、回折素子の傾き角の変化に伴なう、±1次光ビームのビーム整形プリズムからの射出角の変化を説明するための図である。
【図5】光ピックアップ装置の実施の別形態を要部のみ示す図である。
【図6】光情報処理装置の実施の1形態を要部のみ示す図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ(光源)
2 コリメートレンズ
3 回折素子
4 ビーム整形プリズム
5 偏光ビームスプリッタ
6 1/4波長板
7 対物レンズ
8 光ディスク(光情報記録媒体)
8A 記録面
9 集光レンズ
10 シリンドリカルレンズ
11 受光素子
β 回折素子の傾き角
Claims (11)
- 光源としての半導体レーザからの光ビームを、回折素子の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズにより光情報記録媒体の記録面に集光照射し、上記記録面により反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置であって、
回折素子により分離した3本の光ビームの各々に対し、楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向のビーム径のみを拡大し、円形に近いファーフィールドパターンを得るビーム整形プリズムを有し、
上記回折素子へ光源側から入射する光ビームの主光線と、この光ビームにおける楕円状のファーフィールドパターンの短軸方向とを含む平面内において、上記回折素子を上記主光線に直交する方向に対して傾け、
上記ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなるように、上記回折素子の傾き角を設定したことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項1記載の光ピックアップ装置において、
回折素子が、透過型の回折素子であることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項1記載の光ピックアップ装置において、
回折素子が、反射型の回折素子であることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項1または2または3記載の光ピックアップ装置において、
光情報記録媒体からの戻り光ビームを、半導体レーザから光情報記録媒体へ向かう光ビームの光路から検出部へ分離する光路分離手段を、回折素子と対物レンズとの間に配置したことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項4記載の光ピックアップ装置において、
光路分離手段が、ビーム整形プリズムと対物レンズとの間に配置されることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項5記載の光ピックアップ装置において、
光路分離手段が、ビーム整形プリズム側に配置される偏光ビームスプリッタと、対物レンズ側に配置される1/4波長板であることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項1〜6の任意の1に記載の光ピックアップ装置において、
光源としての半導体レーザからの光ビームを、コリメートレンズにより平行光ビームに変換して回折素子へ入射させることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 請求項1〜6の任意の1に記載の光ピックアップ装置において、
ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなり、且つ上記光源の波長変化により大きく影響されなくなるように、回折素子の傾き角を設定したことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 光源としての半導体レーザからの光ビームを、回折素子の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズにより光情報記録媒体の記録面に集光照射し、上記記録面により反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置を用いる光情報処理方法であって、
光ピックアップ装置として請求項1〜7の任意の1に記載のものを用い、ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなる状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行うことを特徴とする光情報処理方法。 - 光源としての半導体レーザからの光ビームを、回折素子の回折作用により0次光ビーム及び±1次光ビームに分離し、各光ビームを対物レンズにより光情報記録媒体の記録面に集光照射し、上記記録面により反射された各戻り光ビームに基づく差動プッシュプル法によりトラッキング制御を行いつつ、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置を用いる光情報処理方法であって、
光ピックアップ装置として、請求項8記載のものを用い、ビーム整形プリズムからビーム整形されて射出する±1次光ビームの射出角の絶対値が、光源の基準波長において略等しくなり、且つ上記光源の波長変化により大きく影響されない状態で、情報の記録・再生・消去の1以上を行うことを特徴とする光情報処理方法。 - 光情報記録媒体である光ディスクに対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光情報処理装置であって、
上記光ディスクをセットされて保持する保持部と、
この保持部にセットされた光ディスクを回転駆動する駆動手段と、
上記セットされた光ディスクに対し、情報の記録・再生・消去の1以上を行う光ピックアップ装置と、
この光ピックアップ装置の少なくとも一部を光ディスクの半径方向へ変位駆動する変位駆動手段とを有し、
光ピックアップ装置として、請求項1〜8の任意の1に記載のものを用いることを特徴とする光情報処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000184710A JP3954775B2 (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000184710A JP3954775B2 (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002008261A JP2002008261A (ja) | 2002-01-11 |
JP3954775B2 true JP3954775B2 (ja) | 2007-08-08 |
Family
ID=18685122
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000184710A Expired - Fee Related JP3954775B2 (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3954775B2 (ja) |
-
2000
- 2000-06-20 JP JP2000184710A patent/JP3954775B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002008261A (ja) | 2002-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6947213B2 (en) | Diffractive optical element that polarizes light and an optical pickup using the same | |
US7542382B2 (en) | Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method | |
US7746736B2 (en) | Optical head and optical disk device capable of detecting spherical aberration | |
US7782735B2 (en) | Optical pickup device capable of handling a plurality of laser light beams having different wavelengths | |
KR20010033409A (ko) | 광학 헤드 및 기록 재생 장치 | |
JPH05342618A (ja) | 光ディスクプレーヤ | |
JP2002245639A (ja) | 光ディスク装置 | |
US7710849B2 (en) | Optical head device and optical information recording or reproducing device | |
JP2002092932A (ja) | 光ヘッド、受発光素子、及び光記録媒体記録再生装置 | |
US20070183279A1 (en) | Apparatus for optically recording and reproducing information | |
US7280444B2 (en) | Objective optical element, optical pickup device, and optical information recording and reproducing device | |
US8345528B2 (en) | Optical pickup device | |
JP2901728B2 (ja) | 光ヘッド及びそれを用いた情報記録再生装置 | |
JP2006309861A (ja) | 光集積ユニット及び光ピックアップ装置 | |
JP3954775B2 (ja) | 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置 | |
JP4312214B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP3471960B2 (ja) | ピックアップ装置 | |
JP3787099B2 (ja) | 焦点誤差検出装置 | |
JP4332693B2 (ja) | 光ヘッド、受発光素子、及び光記録媒体記録再生装置 | |
JP3348873B2 (ja) | 焦点ずれ検出装置およびそれを用いた光ヘッド | |
JPH04281227A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP2012079393A (ja) | 半導体レーザ装置、光ピックアップ装置および半導体レーザ装置の製造方法 | |
JP2002329336A (ja) | 光ヘッド及び光ディスク装置 | |
JPH10208277A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPS61273749A (ja) | 光学式ピツクアツプ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050113 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070223 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070417 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070427 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140511 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |