JP2002329336A - 光ヘッド及び光ディスク装置 - Google Patents
光ヘッド及び光ディスク装置Info
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- G11B7/13925—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means
- G11B7/13927—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means during transducing, e.g. to correct for variation of the spherical aberration due to disc tilt or irregularities in the cover layer thickness
Abstract
(57)【要約】
【課題】この発明は、記録再生面からの反射光と透明基
板表面からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み
誤差の検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独
立に設定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行な
うことを可能とした光ヘッド及び光ディスク装置を提供
することを目的としている。 【解決手段】半導体レーザ光源２から出射された光ビー
ムを、回折作用を持たない外周部５２と回折作用を持つ
中心部５１とを有する偏光ホログラム５を介して対物レ
ンズ８に導き、光ディスク９で反射され対物レンズ８を
介して入射された光ビームを、ホログラム１２により、
偏光ホログラム５の外周部５２を通過した光ビームと中
心部５１を通過した光ビームとに分離し、この分離され
た光ビームをそれぞれ光検出器１３に受光させる。
板表面からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み
誤差の検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独
立に設定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行な
うことを可能とした光ヘッド及び光ディスク装置を提供
することを目的としている。 【解決手段】半導体レーザ光源２から出射された光ビー
ムを、回折作用を持たない外周部５２と回折作用を持つ
中心部５１とを有する偏光ホログラム５を介して対物レ
ンズ８に導き、光ディスク９で反射され対物レンズ８を
介して入射された光ビームを、ホログラム１２により、
偏光ホログラム５の外周部５２を通過した光ビームと中
心部５１を通過した光ビームとに分離し、この分離され
た光ビームをそれぞれ光検出器１３に受光させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスクに対
して情報の記録または再生を行なう光ヘッド及び光ディ
スク装置に係り、特にその光ディスクの透明基板の厚み
を検出するものに関する。
して情報の記録または再生を行なう光ヘッド及び光ディ
スク装置に係り、特にその光ディスクの透明基板の厚み
を検出するものに関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、光ディスクは、透明基板
と硬質保護層との間に記録再生面が挟まれた構造を有し
ている。そして、光ヘッドから出射された集光ビーム
は、透明基板を通過して記録再生面に照射される。これ
により、記録再生面への情報の記録、または、記録再生
面からの情報の再生が行なわれる。
と硬質保護層との間に記録再生面が挟まれた構造を有し
ている。そして、光ヘッドから出射された集光ビーム
は、透明基板を通過して記録再生面に照射される。これ
により、記録再生面への情報の記録、または、記録再生
面からの情報の再生が行なわれる。
【０００３】ところで、一般に、集光ビームが透過する
透明基板の厚みは、製造ばらつき等に起因して不均一で
あり、数十μｍ程度の厚み誤差が生じている。そして、
集光ビームが、厚み誤差のある透明基板を透過して記録
再生面に照射される場合、球面収差により記録再生面上
における光スポットの形状が変化する。
透明基板の厚みは、製造ばらつき等に起因して不均一で
あり、数十μｍ程度の厚み誤差が生じている。そして、
集光ビームが、厚み誤差のある透明基板を透過して記録
再生面に照射される場合、球面収差により記録再生面上
における光スポットの形状が変化する。
【０００４】これにより、記録再生面への情報の記録精
度、または、記録再生面からの情報の再生精度が劣化
し、光ディスクに対する情報の記録または再生を正確で
安定に行なうことが困難になる。
度、または、記録再生面からの情報の再生精度が劣化
し、光ディスクに対する情報の記録または再生を正確で
安定に行なうことが困難になる。
【０００５】このため、光ディスクに対する情報の記録
または再生を正確で安定に行なうためには、光ヘッド内
部に透明基板の厚み誤差により発生する球面収差を補正
する機能を付加し、球面収差を許容値内に収めるように
する必要が生じる。そして、このような球面収差の補正
を行なう場合には、発生した球面収差量、または、原因
となる透明基板の厚みを正確に検出することが必要にな
る。
または再生を正確で安定に行なうためには、光ヘッド内
部に透明基板の厚み誤差により発生する球面収差を補正
する機能を付加し、球面収差を許容値内に収めるように
する必要が生じる。そして、このような球面収差の補正
を行なう場合には、発生した球面収差量、または、原因
となる透明基板の厚みを正確に検出することが必要にな
る。
【０００６】透明基板の厚みを検出する手段としては、
例えば、特開２０００−７６６６５号公報に示されるよ
うな方式がある。これは、光ヘッドに、透明基板の厚み
を検出するための光ビームを発生させる手段と、その光
ビームの検出手段とを付加することにより、透明基板の
厚みを検出するようにしたものである。
例えば、特開２０００−７６６６５号公報に示されるよ
うな方式がある。これは、光ヘッドに、透明基板の厚み
を検出するための光ビームを発生させる手段と、その光
ビームの検出手段とを付加することにより、透明基板の
厚みを検出するようにしたものである。
【０００７】具体的に言えば、対物レンズの中心領域の
曲率を変化させ、対物レンズを通過する光ビームの中心
付近を用いて透明基板の厚みを検出している。または、
光路中に配置したホログラム素子による１次回折光を利
用して、透明基板の厚みを検出している。
曲率を変化させ、対物レンズを通過する光ビームの中心
付近を用いて透明基板の厚みを検出している。または、
光路中に配置したホログラム素子による１次回折光を利
用して、透明基板の厚みを検出している。
【０００８】そして、記録再生面からの反射光と透明基
板表面からの反射光とを検出用ホログラムに導き、再生
信号やフォーカス誤差信号等に処理される光ビームと、
透明基板の厚みを検出するための光ビームとに分割し、
それぞれの光ビームを光検出器で検出して演算処理を実
行する。
板表面からの反射光とを検出用ホログラムに導き、再生
信号やフォーカス誤差信号等に処理される光ビームと、
透明基板の厚みを検出するための光ビームとに分割し、
それぞれの光ビームを光検出器で検出して演算処理を実
行する。
【０００９】この演算処理は、記録再生面からの反射光
によるフォーカス誤差信号と、透明基板の表面による反
射光から得られる信号に所定の比例係数を乗算した信号
との差分をとるようにしたもので、この差分信号を透明
基板の厚みを検出した信号としている。
によるフォーカス誤差信号と、透明基板の表面による反
射光から得られる信号に所定の比例係数を乗算した信号
との差分をとるようにしたもので、この差分信号を透明
基板の厚みを検出した信号としている。
【００１０】しかしながら、対物レンズの中心領域の曲
率を変化させる方式では、記録再生面に照射されるまで
の光ビームの光路と、記録再生面から反射された後の光
ビームの光路とが異なるため、信号の分離が難しくな
り、正確な透明基板の厚み検出信号を得ることが困難に
なるという問題が生じている。
率を変化させる方式では、記録再生面に照射されるまで
の光ビームの光路と、記録再生面から反射された後の光
ビームの光路とが異なるため、信号の分離が難しくな
り、正確な透明基板の厚み検出信号を得ることが困難に
なるという問題が生じている。
【００１１】また、記録再生面からの反射光と透明基板
の表面からの反射光とを、屈折効果を有するホログラム
素子により分割しているため、透明基板の厚み誤差の検
出範囲が、フォーカス誤差信号と同じ検出範囲に限られ
るという不都合も生じることになる。
の表面からの反射光とを、屈折効果を有するホログラム
素子により分割しているため、透明基板の厚み誤差の検
出範囲が、フォーカス誤差信号と同じ検出範囲に限られ
るという不都合も生じることになる。
【００１２】一方、光路中に配置したホログラム素子に
よる１次回折光を、透明基板の厚みを検出するための光
ビームとする方式では、光ディスクへの光ビームの照射
時及び光ディスクからの光ビームの反射時に、それぞれ
０次回折光と高次回折光とが発生するため、やはり信号
の分離が難しくなるという問題がある。
よる１次回折光を、透明基板の厚みを検出するための光
ビームとする方式では、光ディスクへの光ビームの照射
時及び光ディスクからの光ビームの反射時に、それぞれ
０次回折光と高次回折光とが発生するため、やはり信号
の分離が難しくなるという問題がある。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
透明基板の厚みを検出する手段では、記録再生面からの
反射光と透明基板表面からの反射光との分離が困難であ
り、また、透明基板の厚み誤差の検出範囲がフォーカス
誤差信号と同じ検出範囲に限られるという問題を有して
いる。
透明基板の厚みを検出する手段では、記録再生面からの
反射光と透明基板表面からの反射光との分離が困難であ
り、また、透明基板の厚み誤差の検出範囲がフォーカス
誤差信号と同じ検出範囲に限られるという問題を有して
いる。
【００１４】そこで、この発明は上記事情を考慮してな
されたもので、記録再生面からの反射光と透明基板表面
からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み誤差の
検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独立に設
定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行なうこと
を可能とした極めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置
を提供することを目的とする。
されたもので、記録再生面からの反射光と透明基板表面
からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み誤差の
検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独立に設
定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行なうこと
を可能とした極めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置
を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光ヘッド
は、光源から出射された光ビームを対物レンズを介して
光ディスク上に集光させるとともに、光ディスクで反射
され対物レンズを介して入射された光ビームを電気的信
号に変換するものを対象としている。
は、光源から出射された光ビームを対物レンズを介して
光ディスク上に集光させるとともに、光ディスクで反射
され対物レンズを介して入射された光ビームを電気的信
号に変換するものを対象としている。
【００１６】そして、光源から出射された光ビームを回
折作用を持たない第１の領域と回折作用を持つ第２の領
域とを有する第１のホログラムを介して前記対物レンズ
に導く第１の光学系と、光ディスクで反射され対物レン
ズを介して入射された光ビームを第１のホログラムの第
１の領域を通過した第１の光ビームと第１のホログラム
の第２の領域を通過した第２の光ビームとに分離する第
２のホログラムに導く第２の光学系と、第２のホログラ
ムによって分離された第１及び第２の光ビームをそれぞ
れ電気的信号に変換する光検出器とを備えるようにした
ものである。
折作用を持たない第１の領域と回折作用を持つ第２の領
域とを有する第１のホログラムを介して前記対物レンズ
に導く第１の光学系と、光ディスクで反射され対物レン
ズを介して入射された光ビームを第１のホログラムの第
１の領域を通過した第１の光ビームと第１のホログラム
の第２の領域を通過した第２の光ビームとに分離する第
２のホログラムに導く第２の光学系と、第２のホログラ
ムによって分離された第１及び第２の光ビームをそれぞ
れ電気的信号に変換する光検出器とを備えるようにした
ものである。
【００１７】また、この発明に係る光ディスク装置は、
光源から出射された光ビームを回折作用を持たない第１
の領域と回折作用を持つ第２の領域とを有する第１のホ
ログラムを介して対物レンズに導く第１の光学系と、光
ディスクで反射され対物レンズを介して入射された光ビ
ームを第１のホログラムの第１の領域を通過した第１の
光ビームと第１のホログラムの第２の領域を通過した第
２の光ビームとに分離する第２のホログラムに導く第２
の光学系と、第２のホログラムによって分離された第１
及び第２の光ビームをそれぞれ受光する第１及び第２の
受光領域を有し第１及び第２の受光領域はそれぞれが各
出力信号を演算することによって対物レンズのフォーカ
ス誤差に対応する信号を生成可能に分割されている光検
出器とを備えた光ヘッドと、光検出器の第１の受光領域
の出力信号から第１のフォーカス誤差信号を生成し、光
検出器の第２の受光領域の出力信号から第２のフォーカ
ス誤差信号を生成し、これら第１及び第２のフォーカス
誤差信号に基づいて、光ディスクの透明基板の厚み誤差
を検出する検出手段とを備えるようにしたものである。
光源から出射された光ビームを回折作用を持たない第１
の領域と回折作用を持つ第２の領域とを有する第１のホ
ログラムを介して対物レンズに導く第１の光学系と、光
ディスクで反射され対物レンズを介して入射された光ビ
ームを第１のホログラムの第１の領域を通過した第１の
光ビームと第１のホログラムの第２の領域を通過した第
２の光ビームとに分離する第２のホログラムに導く第２
の光学系と、第２のホログラムによって分離された第１
及び第２の光ビームをそれぞれ受光する第１及び第２の
受光領域を有し第１及び第２の受光領域はそれぞれが各
出力信号を演算することによって対物レンズのフォーカ
ス誤差に対応する信号を生成可能に分割されている光検
出器とを備えた光ヘッドと、光検出器の第１の受光領域
の出力信号から第１のフォーカス誤差信号を生成し、光
検出器の第２の受光領域の出力信号から第２のフォーカ
ス誤差信号を生成し、これら第１及び第２のフォーカス
誤差信号に基づいて、光ディスクの透明基板の厚み誤差
を検出する検出手段とを備えるようにしたものである。
【００１８】上記のような構成によれば、光ビームを第
１及び第２の領域を有する第１のホログラム及び対物レ
ンズを介して光ディスクに照射し、光ディスクで反射さ
れ対物レンズを介して入射された光ビームを、第２のホ
ログラムにより第１のホログラムの第１及び第２の領域
を通過した第１及び第２の光ビームに分離するようにし
たので、光ディスクの記録再生面からの反射光と透明基
板表面からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み
誤差の検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独
立に設定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行な
うことを可能とすることができる。
１及び第２の領域を有する第１のホログラム及び対物レ
ンズを介して光ディスクに照射し、光ディスクで反射さ
れ対物レンズを介して入射された光ビームを、第２のホ
ログラムにより第１のホログラムの第１及び第２の領域
を通過した第１及び第２の光ビームに分離するようにし
たので、光ディスクの記録再生面からの反射光と透明基
板表面からの反射光とを正確に分離し、透明基板の厚み
誤差の検出範囲をフォーカス誤差信号の検出範囲とは独
立に設定して、透明基板の厚み誤差の正確な検出を行な
うことを可能とすることができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して詳細に説明する。図１は、この実
施の形態で説明する光ヘッドの光学系を示している。す
なわち、半導体レーザ光源２からの出射光１００は、コ
リメートレンズ３により平行光となり、偏向ビームスプ
リッタ４を透過した後、偏光ホログラム５に入射され
る。
いて、図面を参照して詳細に説明する。図１は、この実
施の形態で説明する光ヘッドの光学系を示している。す
なわち、半導体レーザ光源２からの出射光１００は、コ
リメートレンズ３により平行光となり、偏向ビームスプ
リッタ４を透過した後、偏光ホログラム５に入射され
る。
【００２０】この偏光ホログラム５は、図２に示すよう
に、その中心部５１がレンズ作用を持つ回折領域とな
り、それ以外の外周部５２が回折作用を持たない透明平
行平板となっている。
に、その中心部５１がレンズ作用を持つ回折領域とな
り、それ以外の外周部５２が回折作用を持たない透明平
行平板となっている。
【００２１】また、この偏光ホログラム５の中心部５１
は、入射光が図２に矢印ｙで示す方向の直線偏光の場合
にのみ回折し、入射光が図２に矢印ｘで示す方向の直線
偏光の場合には回折しないようになっている。
は、入射光が図２に矢印ｙで示す方向の直線偏光の場合
にのみ回折し、入射光が図２に矢印ｘで示す方向の直線
偏光の場合には回折しないようになっている。
【００２２】このため、この偏光ホログラム５に入射す
る光１００は、ｙ方向直線偏光となっており、外周部５
２を透過した０次光１０１と、中心部５１を透過した１
次回折光１０２とに分離される。
る光１００は、ｙ方向直線偏光となっており、外周部５
２を透過した０次光１０１と、中心部５１を透過した１
次回折光１０２とに分離される。
【００２３】この０次光１０１及び１次回折光１０２
は、λ／４板６を透過してｙ方向直線偏光から円偏光に
変換され、球面収差補正機構７を透過した後、対物レン
ズ８により光ディスク９上に集光される。
は、λ／４板６を透過してｙ方向直線偏光から円偏光に
変換され、球面収差補正機構７を透過した後、対物レン
ズ８により光ディスク９上に集光される。
【００２４】ここで、０次光１０１の光ディスク９の記
録再生面による反射光１０３と、１次回折光１０２の光
ディスク９の透明基板表面による反射光１０４とは、再
び対物レンズ８と球面収差補正機構７とを透過し、λ／
４板６により円偏光からｘ方向直線偏光となり、偏光ホ
ログラム５に入射される。
録再生面による反射光１０３と、１次回折光１０２の光
ディスク９の透明基板表面による反射光１０４とは、再
び対物レンズ８と球面収差補正機構７とを透過し、λ／
４板６により円偏光からｘ方向直線偏光となり、偏光ホ
ログラム５に入射される。
【００２５】この場合、両反射光１０３，１０４は、そ
れぞれｘ方向直線偏光であるから、偏光ホログラム５の
中心部５１に入射される成分も、回折されずにそのまま
透過される。
れぞれｘ方向直線偏光であるから、偏光ホログラム５の
中心部５１に入射される成分も、回折されずにそのまま
透過される。
【００２６】この偏光ホログラム５を透過した反射光１
０３，１０４は、偏光ビームスプリッタ４で略直角に反
射された後、非点収差検出系を構成する集光レンズ１０
及び円筒レンズ１１を透過する。
０３，１０４は、偏光ビームスプリッタ４で略直角に反
射された後、非点収差検出系を構成する集光レンズ１０
及び円筒レンズ１１を透過する。
【００２７】そして、ホログラム１２により、反射光１
０３は、０次光２０１−０と１次回折光２０１−１とに
それぞれ分離され、反射光１０４は、０次光２０２−０
と１次回折光２０２−１とにそれぞれ分離された後、光
検出器１３に受光され光電変換される。
０３は、０次光２０１−０と１次回折光２０１−１とに
それぞれ分離され、反射光１０４は、０次光２０２−０
と１次回折光２０２−１とにそれぞれ分離された後、光
検出器１３に受光され光電変換される。
【００２８】この光検出器１３は、図３（ａ）に示すよ
うに、それぞれが４分割された２つの受光領域６１，６
２を有している。そして、上記ホログラム１２により生
成された反射光１０３の０次光２０１−０は、受光領域
６１に受光されて、本来の再生信号、フォーカス誤差信
号及びトラッキング誤差信号等の生成に供される。
うに、それぞれが４分割された２つの受光領域６１，６
２を有している。そして、上記ホログラム１２により生
成された反射光１０３の０次光２０１−０は、受光領域
６１に受光されて、本来の再生信号、フォーカス誤差信
号及びトラッキング誤差信号等の生成に供される。
【００２９】この場合、上記ホログラム１２により生成
された反射光１０４の０次光２０２−０は、ビーム径が
大きくなるため、反射光１０３の０次光２０１−０によ
る各種信号の生成には何らの影響も及ぼされることはな
い。また、フォーカス誤差信号の検出感度は、非点収差
検出系を構成する集光レンズ１０及び円筒レンズ１１の
焦点距離によって決定される。
された反射光１０４の０次光２０２−０は、ビーム径が
大きくなるため、反射光１０３の０次光２０１−０によ
る各種信号の生成には何らの影響も及ぼされることはな
い。また、フォーカス誤差信号の検出感度は、非点収差
検出系を構成する集光レンズ１０及び円筒レンズ１１の
焦点距離によって決定される。
【００３０】一方、上記ホログラム１２により生成され
た反射光１０４の１次回折光２０２−１は、受光領域６
２に受光されてフォーカス誤差信号の生成に供される。
この場合、上記ホログラム１２により生成された反射光
１０３の１次回折光２０１−１は、ビーム径が大きくな
るため、反射光１０４の１次回折光２０２−１によるフ
ォーカス誤差信号の生成には何らの影響も及ぼされるこ
とはない。
た反射光１０４の１次回折光２０２−１は、受光領域６
２に受光されてフォーカス誤差信号の生成に供される。
この場合、上記ホログラム１２により生成された反射光
１０３の１次回折光２０１−１は、ビーム径が大きくな
るため、反射光１０４の１次回折光２０２−１によるフ
ォーカス誤差信号の生成には何らの影響も及ぼされるこ
とはない。
【００３１】ここで、このフォーカス誤差信号の検出感
度は、非点収差検出系を構成する集光レンズ１０及び円
筒レンズ１１の焦点距離と、上記偏光ホログラム５の中
心部５１に付加された非点収差量とによって決定され
る。
度は、非点収差検出系を構成する集光レンズ１０及び円
筒レンズ１１の焦点距離と、上記偏光ホログラム５の中
心部５１に付加された非点収差量とによって決定され
る。
【００３２】実際に球面収差の検出を行なう場合には、
基準となる厚みを有する透明基板を持つ光ディスク９に
対して、０次光２０１−０に基づくフォーカス制御を行
なった場合に、１次回折光２０２−１に基づいて生成さ
れるフォーカス誤差信号が０になるように、偏光ホログ
ラム５の中心部５１に対して球面収差、非点収差成分を
与える。
基準となる厚みを有する透明基板を持つ光ディスク９に
対して、０次光２０１−０に基づくフォーカス制御を行
なった場合に、１次回折光２０２−１に基づいて生成さ
れるフォーカス誤差信号が０になるように、偏光ホログ
ラム５の中心部５１に対して球面収差、非点収差成分を
与える。
【００３３】このとき、光検出器１３の受光領域６１に
受光される反射光１０３の０次光２０１−０と、受光領
域６２に受光される反射光１０４の１次回折光２０２−
１とは、図３（ｂ）に示すように、いずれも、フォーカ
ス誤差のない状態に対応するスポット形状を有してい
る。
受光される反射光１０３の０次光２０１−０と、受光領
域６２に受光される反射光１０４の１次回折光２０２−
１とは、図３（ｂ）に示すように、いずれも、フォーカ
ス誤差のない状態に対応するスポット形状を有してい
る。
【００３４】これに対し、上記した基準となる厚みに対
して誤差を有する透明基板を持つ光ディスク９に対し
て、０次光２０１−０に基づくフォーカス制御を行なっ
た場合には、図３（ｃ）に示すように、受光領域６２に
受光される反射光１０４の１次回折光２０２−１が、フ
ォーカス誤差のある状態に対応する楕円形のスポット形
状を有する。
して誤差を有する透明基板を持つ光ディスク９に対し
て、０次光２０１−０に基づくフォーカス制御を行なっ
た場合には、図３（ｃ）に示すように、受光領域６２に
受光される反射光１０４の１次回折光２０２−１が、フ
ォーカス誤差のある状態に対応する楕円形のスポット形
状を有する。
【００３５】すなわち、このときには、受光領域６２の
出力信号から生成されるフォーカス誤差信号は、０にな
らずに、透明基板の基準となる厚みからの誤差に比例し
た値を有することになる。このため、受光領域６２の出
力信号から生成されるフォーカス誤差信号は、図４に示
すように、透明基板の基準となる厚みからの誤差に比例
することになる。
出力信号から生成されるフォーカス誤差信号は、０にな
らずに、透明基板の基準となる厚みからの誤差に比例し
た値を有することになる。このため、受光領域６２の出
力信号から生成されるフォーカス誤差信号は、図４に示
すように、透明基板の基準となる厚みからの誤差に比例
することになる。
【００３６】このため、この比例関係から比例係数を求
め、１次回折光２０２−１による受光領域６２の出力信
号に比例係数を乗算することにより、基準となる透明基
板の厚みに対しての、光ディスク９の透明基板の厚み誤
差に対応する信号を得ることができる。
め、１次回折光２０２−１による受光領域６２の出力信
号に比例係数を乗算することにより、基準となる透明基
板の厚みに対しての、光ディスク９の透明基板の厚み誤
差に対応する信号を得ることができる。
【００３７】また、上記した第１の実施の形態におい
て、偏光ホログラム５は、半導体レーザ光源２と偏光ビ
ームスプリッタ４との間に配置しても、同様の効果を得
ることができる。この場合、偏光ホログラム５が通常の
無偏光ホログラムで、偏光ビームスプリッタ４が通常の
無偏光ビームスプリッタでも、同様の効果を得ることが
できる。
て、偏光ホログラム５は、半導体レーザ光源２と偏光ビ
ームスプリッタ４との間に配置しても、同様の効果を得
ることができる。この場合、偏光ホログラム５が通常の
無偏光ホログラムで、偏光ビームスプリッタ４が通常の
無偏光ビームスプリッタでも、同様の効果を得ることが
できる。
【００３８】そして、上記のようにして生成された光デ
ィスク９の透明基板の厚み誤差に対応する信号から、そ
の透明基板の厚み誤差による球面収差の補正量を決定し
補正を行なうことができる。
ィスク９の透明基板の厚み誤差に対応する信号から、そ
の透明基板の厚み誤差による球面収差の補正量を決定し
補正を行なうことができる。
【００３９】そこで、上記した光ヘッドを備えた光ディ
スク装置としては、例えば、図５に示すように、１次回
折光２０２−１が受光される受光領域６２の出力信号を
演算回路４００に供給して、上記したように、光ディス
ク９の透明基板の厚み誤差を補正する信号を生成する。
そして、この生成した信号に基づいて、駆動回路４０１
によりアクチュエータ２１１を駆動させ、球面収差補正
機構７を制御することにより補正を行なうことができ
る。
スク装置としては、例えば、図５に示すように、１次回
折光２０２−１が受光される受光領域６２の出力信号を
演算回路４００に供給して、上記したように、光ディス
ク９の透明基板の厚み誤差を補正する信号を生成する。
そして、この生成した信号に基づいて、駆動回路４０１
によりアクチュエータ２１１を駆動させ、球面収差補正
機構７を制御することにより補正を行なうことができ
る。
【００４０】なお、この球面収差補正機構７は、例え
ば、平凸レンズと平凹レンズとを組み合わせてなるもの
で、平凸レンズをアクチュエータ２１１により光軸方向
に移動することで実現される。
ば、平凸レンズと平凹レンズとを組み合わせてなるもの
で、平凸レンズをアクチュエータ２１１により光軸方向
に移動することで実現される。
【００４１】具体的には、光ディスク９に透明基板の厚
み誤差がない場合には、入射波面と出射波面とが変化し
ないように平凸レンズと平凹レンズとの間隔を設定す
る。また、光ディスク９に透明基板の厚み誤差がある場
合には、平凸レンズと平凹レンズとの間隔を変化させる
ことにより、球面収差補正機構７の出射波面に球面収差
を発生させることができる。
み誤差がない場合には、入射波面と出射波面とが変化し
ないように平凸レンズと平凹レンズとの間隔を設定す
る。また、光ディスク９に透明基板の厚み誤差がある場
合には、平凸レンズと平凹レンズとの間隔を変化させる
ことにより、球面収差補正機構７の出射波面に球面収差
を発生させることができる。
【００４２】このような構成の場合、平凸レンズと平凹
レンズとの間隔と透明基板の厚み補正量とは比例関係に
あるため、演算された光ディスク９の透明基板厚み誤差
信号を、直接、平凸レンズと平凹レンズとの間隔を変化
させる信号として用いることにより、透明基板厚み誤差
による球面収差の補正を容易化することができる。
レンズとの間隔と透明基板の厚み補正量とは比例関係に
あるため、演算された光ディスク９の透明基板厚み誤差
信号を、直接、平凸レンズと平凹レンズとの間隔を変化
させる信号として用いることにより、透明基板厚み誤差
による球面収差の補正を容易化することができる。
【００４３】次に、図６は、上記した実施の形態の変形
例を示している。図６において、図１と同一部分には同
一符号を付して説明すると、前記偏光ホログラム５及び
λ／４板６を削除し、コリメートレンズ３と偏向ビーム
スプリッタ４との間に、上記偏光ホログラム５と同様な
機能を有するホログラム１４を介在させている。
例を示している。図６において、図１と同一部分には同
一符号を付して説明すると、前記偏光ホログラム５及び
λ／４板６を削除し、コリメートレンズ３と偏向ビーム
スプリッタ４との間に、上記偏光ホログラム５と同様な
機能を有するホログラム１４を介在させている。
【００４４】そして、このような構成によっても、上記
した実施の形態と略同様な動作を実現することができ、
略同等な効果を得ることが可能である。
した実施の形態と略同様な動作を実現することができ、
略同等な効果を得ることが可能である。
【００４５】なお、この発明は上記した実施の形態に限
定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施することができる。
定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施することができる。
【００４６】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
記録再生面からの反射光と透明基板表面からの反射光と
を正確に分離し、透明基板の厚み誤差の検出範囲をフォ
ーカス誤差信号の検出範囲とは独立に設定して、透明基
板の厚み誤差の正確な検出を行なうことを可能とした極
めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置を提供すること
ができる。
記録再生面からの反射光と透明基板表面からの反射光と
を正確に分離し、透明基板の厚み誤差の検出範囲をフォ
ーカス誤差信号の検出範囲とは独立に設定して、透明基
板の厚み誤差の正確な検出を行なうことを可能とした極
めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置を提供すること
ができる。
【図１】この発明の実施の形態を示すもので、光ヘッド
の光学系を説明するために示す分割斜視図。
の光学系を説明するために示す分割斜視図。
【図２】同実施の形態における偏光ホログラムの詳細を
説明するために示す図。
説明するために示す図。
【図３】同実施の形態における光検出器の受光領域を説
明するために示す図。
明するために示す図。
【図４】同実施の形態におけるフォーカス誤差信号と透
明基板の厚み誤差との関係を説明するために示す特性
図。
明基板の厚み誤差との関係を説明するために示す特性
図。
【図５】同実施の形態における透明基板の厚み誤差を補
正する手段の一例を説明するために示す図。
正する手段の一例を説明するために示す図。
【図６】同実施の形態における変形例を説明するために
示す図。
示す図。
２…半導体レーザ光源、 ３…コリメートレンズ、 ４…偏向ビームスプリッタ、 ５…偏光ホログラム、 ６…λ／４板、 ７…球面収差補正機構、 ８…対物レンズ、 ９…光ディスク、 １０…集光レンズ、 １１…円筒レンズ、 １２…ホログラム、 １３…光検出器、 １４…ホログラム、 ２１１…アクチュエータ、 ４００…演算回路、 ４０１…駆動回路。
Claims (8)
- 【請求項１】 光源から出射された光ビームを対物レン
ズを介して光ディスク上に集光させるとともに、前記光
ディスクで反射され前記対物レンズを介して入射された
光ビームを電気的信号に変換する光ヘッドにおいて、 前記光源から出射された光ビームを、回折作用を持たな
い第１の領域と、回折作用を持つ第２の領域とを有する
第１のホログラムを介して前記対物レンズに導く第１の
光学系と、 前記光ディスクで反射され前記対物レンズを介して入射
された光ビームを、前記第１のホログラムの前記第１の
領域を通過した第１の光ビームと、前記第１のホログラ
ムの前記第２の領域を通過した第２の光ビームとに分離
する第２のホログラムに導く第２の光学系と、 前記第２のホログラムによって分離された第１及び第２
の光ビームをそれぞれ電気的信号に変換する光検出器と
を具備してなることを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】 前記第１のホログラムは、その中央部に
前記第２の領域を有し、他の部分が前記第１の領域とな
されていることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。 - 【請求項３】 前記第１の光学系は、前記第１のホログ
ラムの第１の領域を通過した光ビームが前記対物レンズ
により前記光ディスクの記録再生面に集光され、前記第
１のホログラムの第２の領域を通過した光ビームが前記
対物レンズにより前記光ディスクの透明基板の表面に集
光されるように設定されることを特徴とする請求項１記
載の光ヘッド。 - 【請求項４】 前記光検出器は、前記第２のホログラム
によって分離された第１の光ビームを受光する第１の受
光領域と、前記第２のホログラムによって分離された第
２の光ビームを受光する第２の受光領域とを備え、前記
第１及び第２の受光領域は、それぞれが、各出力信号を
演算することによって、前記対物レンズのフォーカス誤
差に対応する信号を生成可能に分割されていることを特
徴とする請求項１または３記載の光ヘッド。 - 【請求項５】 前記第１の光学系は、前記第１のホログ
ラムを介して前記対物レンズに入射される光ビームに対
して、補正のための球面収差を与える球面収差補正機構
を備えることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。 - 【請求項６】 光源から出射された光ビームを、回折作
用を持たない第１の領域と、回折作用を持つ第２の領域
とを有する第１のホログラムを介して前記対物レンズに
導く第１の光学系と、前記光ディスクで反射され前記対
物レンズを介して入射された光ビームを、前記第１のホ
ログラムの前記第１の領域を通過した第１の光ビーム
と、前記第１のホログラムの前記第２の領域を通過した
第２の光ビームとに分離する第２のホログラムに導く第
２の光学系と、前記第２のホログラムによって分離され
た第１及び第２の光ビームをそれぞれ受光する第１及び
第２の受光領域を有し、前記第１及び第２の受光領域
は、それぞれが、各出力信号を演算することによって、
前記対物レンズのフォーカス誤差に対応する信号を生成
可能に分割されている光検出器とを備えた光ヘッドと、 前記光検出器の第１の受光領域の出力信号から第１のフ
ォーカス誤差信号を生成し、前記光検出器の第２の受光
領域の出力信号から第２のフォーカス誤差信号を生成
し、これら第１及び第２のフォーカス誤差信号に基づい
て、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差を検出する検
出手段とを具備してなることを特徴とする光ディスク装
置。 - 【請求項７】 前記検出手段は、前記第１のフォーカス
誤差信号をフォーカス誤差のない状態に設定した状態
で、前記第２のフォーカス誤差信号から前記光ディスク
の透明基板の厚み誤差に対応した信号を得ることを特徴
とする請求項６記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 前記検出手段の検出結果に基づいて、前
記光ディスクの透明基板の厚み誤差による球面収差を補
正する補正手段を備えていることを特徴とする請求項６
記載の光ディスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001133304A JP2002329336A (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 光ヘッド及び光ディスク装置 |
| US10/128,514 US6950376B2 (en) | 2001-04-27 | 2002-04-24 | Optical head and optical disk apparatus |
| CNB021183759A CN1190669C (zh) | 2001-04-27 | 2002-04-26 | 光头和光盘装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001133304A JP2002329336A (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 光ヘッド及び光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002329336A true JP2002329336A (ja) | 2002-11-15 |
Family
ID=18981183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001133304A Pending JP2002329336A (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 光ヘッド及び光ディスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6950376B2 (ja) |
| JP (1) | JP2002329336A (ja) |
| CN (1) | CN1190669C (ja) |
Families Citing this family (1)
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|---|---|---|---|---|
| JP2004127482A (ja) * | 2002-08-07 | 2004-04-22 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5521815A (en) * | 1992-01-31 | 1996-05-28 | K.L.E. Irrevocable Trust | Uniform system for verifying and tracking articles of value |
| US5815293A (en) * | 1993-02-01 | 1998-09-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Compound objective lens having two focal points |
| JP3677342B2 (ja) | 1996-02-23 | 2005-07-27 | 松下電器産業株式会社 | 光ヘッド装置および光ディスク装置 |
| JPH11195229A (ja) | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Sony Corp | 光ディスク装置及び球面収差補正方法 |
| JP2000011402A (ja) | 1998-06-19 | 2000-01-14 | Sony Corp | 光学ヘッド、記録及び／又は再生装置並びに厚み検出方法 |
| JP2000076665A (ja) | 1998-08-27 | 2000-03-14 | Pioneer Electronic Corp | 光ピックアップ装置 |
-
2001
- 2001-04-27 JP JP2001133304A patent/JP2002329336A/ja active Pending
-
2002
- 2002-04-24 US US10/128,514 patent/US6950376B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-04-26 CN CNB021183759A patent/CN1190669C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1190669C (zh) | 2005-02-23 |
| US20030081514A1 (en) | 2003-05-01 |
| US6950376B2 (en) | 2005-09-27 |
| CN1384493A (zh) | 2002-12-11 |
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