JPH04281227A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光デイスク等の光情
報記録媒体上に微小なスポットを形成して、情報の記録
，再生，消去を行う機能を有する光情報記録再生装置に
おける光ピックアップ装置に係り、特に、周囲温度や発
光パワー等の変化によって半導体レーザーの波長が変動
しても、デフォーカスやトラッキングエラーが生じない
ように補正することによって、常に良好なリード、ライ
トを可能にした光ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、光情報記録再生装置の光ピッ
クアップ装置においては、一般に、フォーカス制御のた
めのフォーカス（焦点）検出法として、フーコー法（ダ
ブルナイフエッジ法）が、また、トラック検出法には、
プッシュプル法が採用されている。

【０００３】図１０は、従来の光情報記録再生装置につ
いて、フーコー法による光学系の要部構成の一例を示す
図である。図において、１は半導体レーザー、２はコリ
メートレンズ、３はビームスプリッタ、４は対物レンズ
、５はディスク、６は検出レンズ、７はナイフエッジプ
リズム、８はフォーカス検出用受光素子、９は第２の集
光レンズ、１０はトラッキング検出用受光素子を示す。

【０００４】この図１０で、実線は、半導体レーザー１
がある波長（λ１）で発光しているときの光路、破線は
、他の波長（λ２）で発光しているときの光路を示す。 半導体レーザー１からの出射光は、コリメートレンズ２
により平行光にされ、ビームスプリッタ３を透過し、対
物レンズ４へ入射される。そして、対物レンズ４によっ
て集光された光は、ディスク５の記録面上に約１μｍの
微小な光スポットを形成されて、情報の記録，消去，再
生が行われる。

【０００５】ディスク５からの反射光は、往路と逆に、
対物レンズ４によって再び平行光とされ、ビームスプリ
ッタ３を反射する。ビームスプリッタ３を反射した光は
、検出レンズ６により収束光とされ、その一部はナイフ
エッジプリズム７によって遮光されるが、遮光されなか
った光は、フォーカス検出用受光素子８へ入射し、また
、ナイフエッジプリズム７を反射した光は、トラッキン
グ検出用受光素子１０へ入射する。なお、この受光素子
８や１０としては、少なくとも２分割された受光素子あ
るいは半導体位置検出素子が使用される。

【０００６】そして、フォーカス検出用受光素子８へ入
射された光量によって、フォーカスが検出され、フォー
カス制御が行われる。同様に、トラッキング検出用受光
素子１０へ入射された光量によって、トラックエラーが
検出され、トラッキング制御が行われる。

【０００７】また、従来から、フォーカス制御やトラッ
キング制御のために、回析格子を使用し、回析角度の変
化によってフォーカスやトラッキングを制御する方法も
知られている。しかし、従来の光ピックアップ装置では
、半導体レーザーの波長の変化に対して、特に考慮され
ていない。

【０００８】この発明の光ピックアップ装置では、半導
体レーザーの波長の変動を問題にしているので、フォー
カス制御を中心に説明するが、後述するように、トラッ
キング制御においても影響が生じる。この図１０に示し
た光ピックアップ装置において、光源である半導体レー
ザー１の波長は、周囲温度や発光パワーによって変化す
る。

【０００９】次の図１１は、周囲温度に対する半導体レ
ーザーの波長変化の一例を示す図である。図において、
横軸は周囲温度、縦軸は波長を示す。その変化量は、一
般に、温度変化に対して、０．２〜０．３（ｎｍ／℃）
、発光パワーに対しては、０．１〜０．２（ｎｍ／ｍＷ
）である。

【００１０】図１２は、半導体レーザーの波長に対する
発光パワーの一例を示す図である。図において、横軸は
波長、縦軸は相対出力を示す。この図１２から明らかな
ように、波長が変化すると、半導体レーザーの発光パワ
ーが変化する。そして、半導体レーザー１の波長が変動
すると、レンズの焦点距離（レンズの色収差）が変化し
、対物レンズ４で集光した光が、ディスク５上の記録面
に収束しなくなる。

【００１１】図１３は、従来の光情報記録再生装置にお
いて、半導体レーザーの波長が変化した場合の光路の変
化状態を説明する図である。図における符号は、図１０
と同様である。この図１３で、破線は、半導体レーザー
１からの光の中心位置を示している。

【００１２】図１３に示すように、半導体レーザーの波
長が変化すると、対物レンズ４で集光された光が、ディ
スク５上の記録面に正確に収束しなくなるので、ディス
ク５からの反射光も、フォーカス検出用受光素子８上に
収束しなくなる。その結果、フォーカスサーボ機能が作
動し、フォーカス検出用の２分割受光素子の分割線上に
反射光が集光するように、対物レンズ４が移動する（こ
の場合には、フォーカス制御信号＝Ａ−Ｂ）。

【００１３】図１４は、同じく従来の光情報記録再生装
置において、半導体レーザーの波長が変化した場合の光
路の変化状態を説明する図である。図における符号は図
１０と同様である。本来、フォーカス制御信号が“０”
のとき、対物レンズ４の収束光が、ディスク５上の記録
面に集光するように設定されているはずである。

【００１４】しかしながら、周囲温度等の影響によって
、半導体レーザー１の波長が変化すると、フォーカス検
出用受光素子８が調整時と異なる状態となり、検出レン
ズ６の色収差のため、フォーカス検出用の２分割受光素
子への集光状態が変化する。そのため、フォーカス制御
信号が“０”であっても、対物レンズ４は合焦位置と一
致しなくなり、ジッタの増加、トラック信号の低下等の
不都合が生じる。

【００１５】この図１４においても、実線は、半導体レ
ーザー１がある波長（λ１）で発光しているときの光路
、破線は、他の波長（λ２）で発光しているときの光路
を示す。この図１４の場合にも、半導体レーザー１の波
長が変動すると、レンズの焦点距離（レンズの色収差）
が変化し、対物レンズ４で集光した光が、ディスク５上
の記録面に収束しなくなる。

【００１６】そのため、破線で示すように、ディスク５
からの反射光も、フォーカス検出用受光素子８やトラッ
キング検出用受光素子１０上に収束しなくなる。フォー
カス制御信号については、すでに詳しく述べたので、こ
こでは、トラッキングエラー信号について説明する。

【００１７】図１５は、従来の光情報記録再生装置につ
いて、ピックアップ光学系の要部構成の他の一例を示す
図である。図における符号は図１０と同様であり、また
、１１はビーム整形プリズム、１２は第２のビームスプ
リッタ、１３はシリンドリカルレンズを示す。

【００１８】先の図１０では、フォーカス制御のために
フォーカス検出用受光素子８へ入射させる光束の光路と
、トラッキング制御のためにトラッキング検出用受光素
子１０へ入射させる光束の光路とを、ビームスプリッタ
３によって分離させている構成である。これに対して、
この図１５では、第２のビームスプリッタ１２によって
両光路を分離するようにして構成している。

【００１９】まず、ディスク５からの反射光は、図１０
と同様に、対物レンズ４によって再び平行光とされ、ビ
ームスプリッタ３を反射して、検出レンズ６により収束
光とされる。その後、このディスク５からの反射光は、
収束光として第２のビームスプリッタ１２へ導かれ、そ
の一部が、この第２のビームスプリッタ１２を透過し、
シリンドリカルレンズ１３によって非点収差を与えられ
て、フォーカス検出用受光素子８へ入射される。

【００２０】また、第２のビームスプリッタ１２を反射
した光は、トラッキング検出用受光素子１０へ入射する
。そして、すでに述べたように、半導体レーザーの波長
が変化すると、光学部品の屈折率が変化するので、光路
も変化する。

【００２１】例えば、ビーム整形プリズム１１の屈折率
が変化すると、これを透過する光束の出射角度が変化す
る。

【００２２】図１６は、半導体レーザーが波長λ１で発
光しているときのトラックエラー信号の一例を示す図で
ある。

【００２３】トラックエラー信号も、フォーカス制御信
号と同様に、２分割されたトラッキング検出用受光素子
１０の差信号（Ａ−Ｂ）から得られる。そのため、半導
体レーザーの波長が設定された波長λ１であれば、この
図１６のようなトラック信号が得られるが、波長がλ１
からλ２に変化すると、トラック信号にオフセットが生
じる。

【００２４】図１７は、半導体レーザーの波長が変化し
た場合のトラックエラー信号の一例を示す図である。半
導体レーザー１の波長がλ１からλ２に変化すると、こ
の図１７に示すように、トラック信号にオフセットが生
じるので、トラックずれを招く。

【００２５】すなわち、トラック検出法には、一般に、
プッシュプル法が採用されているので、半導体レーザー
の波長が変化して、このようなオフセットが生じると、
正確なトラック制御が不可能になる。

【００２６】以上に詳細に述べたように、従来の光ピッ
クアップ装置では、光源である半導体レーザーの波長の
変化に対して格別考慮されていないので、波長が周囲温
度や発光パワーによって変化すると、波長の状態が調整
時と異なることによってデフォーカスやオフセット等が
発生し、フォーカス制御やトラッキング制御を正確に行
うことができない、という不都合があった。

【００２７】

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光ピックアップ装置において生じる不都合、すなわち、
光源である半導体レーザーの波長が、周囲温度や発光パ
ワーによって変化することによりデフォーカスやオフセ
ット等が発生して、フォーカス制御やトラッキング制御
を正確に行うことができない、という不都合を解決し、
半導体レーザーの波長が変化したとき、その波長変動を
検出することによって、デフォーカスやトラッキングエ
ラーを補正し、常に、良好なライト、リード特性が得ら
れるようにした光ピックアップ装置を提供することを目
的とする。

【００２８】

【課題を解決するための手段】この発明では、第１に、
半導体レーザーからの光束を対物レンズによつて集光さ
せ、光情報記録媒体上に微小なスポットを形成して、情
報の記録，再生，消去を行う機能を有する光情報記録再
生装置の光ピックアップ装置であり、前記光情報記録媒
体に向かう光束の一部を分離する光学素子と、前記光束
を集光させるレンズと、フォーカス制御用あるいはトラ
ック制御用の受光素子とを具備する光ピックアップ装置
において、前記レンズと受光素子との間に設けられた回
折格子と、該回折格子を透過あるいは反射した光を検出
する波長変動検出用素子、とを備え、前記波長変動検出
用素子によって受光し、該検出用素子の出力信号により
レーザー光の波長変動を検出し、該波長検出信号に基い
てフォーカス制御信号を補正するように構成している。

【００２９】第２に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、前記光情報記録媒体からの反射光束を集光させるレ
ンズと、フォーカス制御用あるいはトラック制御用の受
光素子とを具備した光ピックアップ装置において、前記
レンズと素子との間に設けられた回折格子と、該回折格
子を透過あるいは反射した光を検出する波長変動検出用
素子、とを備え、前記波長変動検出用素子によって受光
し、該検出用素子の出力信号によりレーザー光の波長変
動を検出し、該波長検出信号に基いてフォーカス制御信
号を補正するように構成している。

【００３０】第３に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、前記光情報記録媒体に向かう光束の一部を分離する
光学素子と、前記光束を集光させるレンズと、フォーカ
ス制御用あるいはトラック制御用の受光素子とを具備す
る光ピックアップ装置において、前記レンズと素子との
間に設けられた回折格子と、該回折格子を透過あるいは
反射した光を検出する波長変動検出用素子、とを備え、
前記波長変動検出用素子によって受光し、該検出用素子
の出力信号によりレーザー光の波長変動を検出し、該波
長検出信号に基いてトラック制御信号を補正するように
構成している。

【００３１】第４に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、前記光情報記録媒体からの反射光束を集光させるレ
ンズと、フォーカス制御用あるいはトラック制御用の受
光素子とを具備する光ピックアップ装置において、前記
レンズと素子との間に設けられた回折格子と、該回折格
子を透過あるいは反射した光を検出する波長変動検出用
素子、とを備え、前記波長変動検出用素子によって受光
し、該検出用素子の出力信号によりレーザー光の波長変
動を検出し、該波長検出信号に基いてトラック制御信号
を補正するように構成している。

【００３２】

【作用】この発明では、周囲温度や発光パワーによって
半導体レーザーの波長が変化したとき、回折格子と波長
検出用受光素子とを使用してその波長変動を検出し、波
長変動に対応して発生されるデフォーカスやトラッキン
グエラーを補正することによって、正確なフォーカス制
御やトラッキング制御を可能にしている。

【００３３】図２は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示すブロック図であ
る。図における符号は図１０と同様であり、また、２１
は回折格子、２２は波長検出用受光素子を示す。この発
明の光ピックアップ装置では、回折格子２１と、波長検
出用受光素子２２とが付加されており、この図２の構成
では、トラッキング検出用受光素子１０へ入射する反射
光の一部を取出すようにしている。なお、波長検出用受
光素子２２は、少なくとも２分割された受光素子、ある
いは半導体位置検出素子（無分割型）によって構成され
る。

【００３４】ディスク５への照射光および反射光の径路
は、従来と同様である。すなわち、半導体レーザー１か
らの出射光は、コリメートレンズ２により平行光にされ
、ビームスプリッタ３でその一部の光が反射されて、第
２の集光レンズ９で集光形にされる。その後、この光は
、回折格子２１を透過し、０次光と±ｎ次光（ｎ＝１，
２，３，…ｎ）に分割される。

【００３５】図３は、回折格子２１を透過した光の回折
状態を説明する図である。図で、ｄは回折格子２１の周
期、θは１次光の回折角度を示す。この図３に示すよう
に、回折格子２１の周期をｄ、１次光の回折角度をθと
すれば、波長λとの関係は、 　　　　　　ｓｉｎθ　　∝　　λ／ｄ　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　……　（１） となる。

【００３６】この式（１）　から明らかなように、波長
λが変動すると、その波長λによって回折角度θが決定
され、図２の波長検出用受光素子２２（２分割された受
光素子あるいは無分割の半導体位置検出素子）上で、ス
ポットが移動することになる。

【００３７】図４は、波長検出用受光素子２２上におけ
るスポット位置の変動の一例を説明する図である。図で
、Ｘ，Ｙは２分割された受光素子の各受光面、２３は差
検出アンプを示す。この図４に実線で示すように、ディ
スク５の記録面上のパワー設定時に、スポットの位置が
、この波長検出用受光素子２２（例えば２分割された受
光素子）の分割線上となるように調整しておけば、差検
出アンプ２３から出力される波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ
）は「０」となる。

【００３８】これに対して、周囲温度の変化やレーザー
パワーの変動等によって波長が変化すると、図４に破線
で示すように、２分割された受光素子の受光面（Ｘ，Ｙ
）上でスポットの位置が移動する。その結果、差検出ア
ンプ２３から出力される波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ）は
、調整時のように「０」とならないので、この差信号（
Ｘ−Ｙ）を検出することによって、波長の変動量を検知
することができる。

【００３９】次の図５は、波長変動と波長検出用受光素
子２２による差信号出力との関係の一例を示す図である
。図で、横軸は波長、縦軸は波長変動検出信号を示す。 この図５に示すように、波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ）が
「０」となるように焦点位置を設定しておけば、波長の
変動に伴って、波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ）が±で検出
される。

【００４０】ところが、検出レンズ６の色収差によって
、フォーカス制御信号が「０」であっても、対物レンズ
４の位置が合焦位置とならない場合が生じる。

【００４１】図６は、検出レンズ６の色収差の一例を示
す図である。図で、横軸は波長、縦軸は検出レンズ６の
焦点ずれ量を示す。この図６で、縦軸の＋方向のずれ量
は、集光点がレンズから遠ざかる場合、−方向のずれ量
は、集光点がレンズへ近づく場合である。

【００４２】この図６に示すように、波長が変化すると
、検出レンズ６の焦点にずれが生じるので、集光点は調
整時と異なる位置になる。ここで、波長とデフォーカス
との関係について述べる。

【００４３】図７は、波長とデフォーカスとの関係の一
例を示す図である。横軸は波長、縦軸は光ピックアップ
のフォーカスずれ量を示す。この図７では、縦軸の＋方
向のずれ量は、集光点が図２のディスク５から対物レン
ズ４側へシフトする方向となる。

【００４４】この発明の光ピックアップ装置では、この
図３から図７の関係に着目し、図４の波長変動検出信号
（Ｘ−Ｙ）に基いて、フォーカス検出信号にオフセット
を加えることにより、波長が変動しても、光ピックアッ
プのフォーカスずれ量が補正できるようにしている。

【００４５】この場合に、補正後のフォーカス制御信号
は、ｋを定数とすれば、 　　　　　　フォーカス制御信号＝（Ａ−Ｂ）−ｋ（Ｘ
−Ｙ）　　　　　　　　……　（２） となる。

【００４６】

【実施例１】次に、この発明の光ピックアップ装置につ
いて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、請求項１の発明に対応している。

【００４７】図１は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示す図である。図に
おける符号は図２と同様であり、また、２４は対物レン
ズ駆動制御手段、２５はフォーカス制御信号検出部、２
６は補正フォーカス制御信号検出部、２７は波長変動検
出信号取出部を示す。この図１に示すこの発明の光ピッ
クアップ装置では、先の図２に関連して説明したように
、トラッキング検出用受光素子１０側に、回折格子２１
と波長検出用受光素子２２とが付加されている。

【００４８】そして、周囲温度や発光パワーによって半
導体レーザー１の波長が変化したとき、波長変動検出信
号取出部２７により波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ）を取出
し、その波長変動に応じて、フォーカス制御信号検出部
２５からのフォーカス制御信号（Ａ−Ｂ）を補正する。

【００４９】図１では、これらの信号が、補正フォーカ
ス制御信号検出部２６へ入力され、先の式（２）　によ
って補正されたフォーカス制御信号を生成する。したが
って、光源である半導体レーザー１の波長が変化しても
、常に、正確なフォーカス制御が可能となり、デフォー
カスが発生することはない。

【００５０】また、波長変動の検出に際しては、ディス
ク５に向かう光束を利用しているので、波長変動を検出
することによって、トラック、フォーカス、情報信号の
光量低下も発生しない。なお、すでに述べたように、一
般に、光ピックアップ装置では、フォーカス検出法とし
ては、いわゆるナイフエッジ法（フーコー法）が採用さ
れているが、その他のフォーカス検出方式についても、
同様に実施することができることは明らかである。

【００５１】

【実施例２】この実施例は、請求項２の発明に対応して
いる。

【００５２】図８は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成の他の一実施例を示す図である。 図における符号は図１と同様である。先に説明した図１
の実施例では、トラッキング検出用受光素子１０側に、
回折格子２１と波長検出用受光素子２２とを設け、かつ
、ディスク５の透過光を受光するように構成している。

【００５３】これに対して、この第２の実施例では、フ
ォーカス検出用受光素子８側に、回折格子２１と波長検
出用受光素子２２とを設け、かつ、ディスク反射光を受
光するように構成している。しかし、フォーカスの制御
動作は、先の実施例と同様である。

【００５４】また、波長変動の検出に際しては、ディス
ク５の反射光側で行っているので、波長変動を検出する
ことによって、ディスク５への光量低下が発生せず、光
の利用効率も良好である。

【００５５】

【実施例３】この実施例は、請求項３の発明に対応して
いる。

【００５６】図９は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成のさらに別の一実施例を示す図で
ある。図における符号は、図１および図１５と同様であ
り、また、２８はトラッキング信号検出部、２９は補正
トラッキング信号検出部を示す。

【００５７】この図９に示すこの発明の光ピックアップ
装置では、図２や図８に関連して説明した波長変動検出
手段として、回折格子２１と波長検出用受光素子２２と
が付加されており、また、図１のフォーカス制御信号検
出部２５や補正フォーカス制御信号検出部２６の代りに
、トラッキング信号検出部２８と補正トラッキング信号
検出部２９とが設けられている。

【００５８】この第３の実施例では、図４の波長変動検
出信号（Ｘ−Ｙ）に基いて、トラッキング信号にオフセ
ットを加えることにより、波長が変動しても、光ピック
アップのトラックずれ量を補正することが可能である。 この場合にも、補正後のトラックエラー信号は、ｋを定
数とすれば、 　　　　　　トラックエラー信号＝（Ａ−Ｂ）−ｋ（Ｘ
−Ｙ）　　　　　　　　……　（３） となる。

【００５９】すなわち、トラッキング検出用受光素子１
０で受光された従来のトラックエラー信号（Ａ−Ｂ）に
ついて、波長検出用受光素子２２で受光された波長変動
検出信号（Ｘ−Ｙ）と定数ｋとによって式（３）　のよ
うに補正することにより、波長の変化によって生じるト
ラックエラー信号のオフセットを除去することができ、
良好な記録、再生、消去特性を得ることができる。

【００６０】なお、この図９の実施例では、フォーカス
検出用受光素子８側に、回折格子２１と波長検出用受光
素子２２とを配置する場合について説明した。しかし、
先の図１や図２と同様に、トラッキング検出用受光素子
１０側に配置することも可能である。

【００６１】また、ディスク５の透過光を受光しても、
反射光を受光しても、同様に、トラックエラー信号のオ
フセットを除去することが可能である（請求項４の発明
）。さらに、トラック検出法として一般的なプッシュプ
ル法に限らず、その他のトラック検出方式についても、
同様に実施することができることは明らかである。

【００６２】

【発明の効果】この発明では、周囲温度や発光パワー等
の変化によって生じる半導体レーザーの波長の変動を、
回折格子と波長検出用受光素子とを使用して検出し、そ
の出力信号によりフォーカス制御信号やトラックエラー
信号を補正している。したがって、光源である半導体レ
ーザーの波長が変化しても、デフォーカスが生じること
がなく、常に良好なリード、ライトが可能になる（請求
項１と請求項２の発明に対応する効果）。同様に、半導
体レーザーの波長が変化しても、トラックエラー信号の
オフセットを除去することが可能であり、常に良好な記
録、再生、消去特性を得ることができる（請求項３と請
求項４の発明に対応する効果）、等の多くの優れた効果
が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の一実施例を示す図である。

【図２】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の一実施例を示すブロック図である。

【図３】回折格子２１を透過した光の回折状態を説明す
る図である。

【図４】波長検出用受光素子２２上におけるスポット位
置の変動の一例を説明する図である。

【図５】波長変動と波長検出用受光素子２２による差信
号出力との関係の一例を示す図である。

【図６】検出レンズ６の色収差の一例を示す図である。

【図７】波長とデフォーカスとの関係の一例を示す図で
ある。

【図８】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の他の一実施例を示す図である。

【図９】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成のさらに別の一実施例を示す図である。

【図１０】従来の光情報記録再生装置について、フーコ
ー法による光学系の要部構成の一例を示す図である。

【図１１】周囲温度に対する半導体レーザーの波長変化
の一例を示す図である。

【図１２】半導体レーザーの波長に対する発光パワーの
一例を示す図である。

【図１３】従来の光情報記録再生装置において、半導体
レーザーの波長が変化した場合の光路の変化状態を説明
する図である。

【図１４】同じく従来の光情報記録再生装置において、
半導体レーザーの波長が変化した場合の光路の変化状態
を説明する図である。

【図１５】従来の光情報記録再生装置について、ピック
アップ光学系の要部構成の他の一例を示す図である。

【図１６】半導体レーザーが波長λ１で発光していると
きのトラックエラー信号の一例を示す図である。

【図１７】半導体レーザーの波長が変化した場合のトラ
ックエラー信号の一例を示す図である。

【符号の説明】

１　　半導体レーザー ２　　コリメートレンズ ３　　ビームスプリッタ ４　　対物レンズ ５　　ディスク ６　　検出レンズ ７　　ナイフエッジプリズム ８　　フォーカス検出用受光素子 ９　　第２の集光レンズ １０　　トラッキング検出用受光素子 １１　　ビーム整形プリズム １２　　第２のビームスプリッタ １３　　シリンドリカルレンズ ２１　　回折格子 ２２　　波長検出用受光素子 ２３　　差検出アンプ ２４　　対物レンズ駆動制御手段 ２５　　フォーカス制御信号検出部 ２６　　補正フォーカス制御信号検出部２７　　波長変
動検出信号取出部 ２８　　トラッキング信号検出部 ２９　　補正トラッキング信号検出部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   前記光情報記録媒体に向かう光束の一部を分離する光学
   素子と、前記光束を集光させるレンズと、フォーカス制
   御用あるいはトラック制御用の受光素子とを具備する光
   ピックアップ装置において、前記レンズと受光素子との
   間に設けられた回折格子と、該回折格子を透過あるいは
   反射した光を検出する波長変動検出用素子、とを備え、
   前記波長変動検出用素子によって受光し、該検出用素子
   の出力信号によりレーザー光の波長変動を検出し、該波
   長検出信号に基いてフォーカス制御信号を補正すること
   を特徴とする光ピックアップ装置。
2. 【請求項２】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   前記光情報記録媒体からの反射光束を集光させるレンズ
   と、フォーカス制御用あるいはトラック制御用の受光素
   子とを具備した光ピックアップ装置において、前記レン
   ズと素子との間に設けられた回折格子と、該回折格子を
   透過あるいは反射した光を検出する波長変動検出用素子
   、とを備え、前記波長変動検出用素子によって受光し、
   該検出用素子の出力信号によりレーザー光の波長変動を
   検出し、該波長検出信号に基いてフォーカス制御信号を
   補正することを特徴とする光ピックアップ装置。
3. 【請求項３】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   前記光情報記録媒体に向かう光束の一部を分離する光学
   素子と、前記光束を集光させるレンズと、フォーカス制
   御用あるいはトラック制御用の受光素子とを具備する光
   ピックアップ装置において、前記レンズと素子との間に
   設けられた回折格子と、該回折格子を透過あるいは反射
   した光を検出する波長変動検出用素子、とを備え、前記
   波長変動検出用素子によって受光し、該検出用素子の出
   力信号によりレーザー光の波長変動を検出し、該波長検
   出信号に基いてトラック制御信号を補正することを特徴
   とする光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   前記光情報記録媒体からの反射光束を集光させるレンズ
   と、フォーカス制御用あるいはトラック制御用の受光素
   子とを具備する光ピックアップ装置において、前記レン
   ズと素子との間に設けられた回折格子と、該回折格子を
   透過あるいは反射した光を検出する波長変動検出用素子
   、とを備え、前記波長変動検出用素子によって受光し、
   該検出用素子の出力信号によりレーザー光の波長変動を
   検出し、該波長検出信号に基いてトラック制御信号を補
   正することを特徴とする光ピックアップ装置。