JPH04291027A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光デイスク等の光情
報記録媒体上に微小なスポットを形成して、情報の記録
，再生，消去を行う機能を有する光情報記録再生装置に
おける光ピックアップ装置に係り、特に、周囲温度や発
光パワー等の変化によって半導体レーザーの波長が変動
しても、デフォーカスやトラッキングエラーが生じない
ように補正することによって、常に良好なリード、ライ
トを可能にした光ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、光情報記録再生装置の光ピッ
クアップ装置においては、一般に、フォーカス制御のた
めのフォーカス（焦点）検出法として、フーコー法（ダ
ブルナイフエッジ法）が、また、トラック検出法には、
プッシュプル法が採用されている。

【０００３】図１２は、従来の光情報記録再生装置につ
いて、フーコー法による光学系の要部構成の一例を示す
図である。図において、１は半導体レーザー、２はコリ
メートレンズ、３はビーム整形プリズム、４はビームス
プリッタ、５は対物レンズ、６はディスク、７は検出レ
ンズ、８はナイフエッジプリズム、９はフォーカス検出
用受光素子、１０はトラッキング検出用受光素子を示す
。

【０００４】半導体レーザー１からの出射光は、コリメ
ートレンズ２により平行光にされ、ビーム整形プリズム
３により楕円光束が円形光束に整形されて、ビームスプ
リッタ４を透過し、対物レンズ５へ入射される。

【０００５】そして、対物レンズ５によって集光された
光は、ディスク６の記録面上に約１μｍの微小な光スポ
ットを形成されて、情報の記録，消去，再生が行われる
。ディスク６からの反射光は、往路と逆に、対物レンズ
５によって再び平行光とされ、ビームスプリッタ４を反
射する。

【０００６】ビームスプリッタ４を反射した光は、検出
レンズ７により収束光とされ、その一部はナイフエッジ
プリズム８によって遮光されるが、遮光されなかった光
は、フォーカス検出用受光素子９へ入射し、また、ナイ
フエッジプリズム８を反射した光は、トラッキング検出
用受光素子１０へ入射する。なお、この受光素子９や１
０としては、少なくとも２分割された受光素子あるいは
無分割の半導体位置検出素子が使用される。

【０００７】そして、フォーカス検出用受光素子９へ入
射された光量によって、フォーカスが検出され、フォー
カス制御が行われる。

【０００８】同様に、トラッキング検出用受光素子１０
へ入射された光量によって、トラックエラーが検出され
、トラッキング制御が行われる。

【０００９】しかし、従来の光ピックアップ装置では、
半導体レーザーの波長の変化に対して、特に考慮されて
いない。

【００１０】この発明の光ピックアップ装置では、半導
体レーザーの波長の変動を問題にしているので、フォー
カス制御を中心に説明するが、後述するように、トラッ
キング制御においても影響が生じる。

【００１１】この図１２に示した光ピックアップ装置に
おいて、光源である半導体レーザー１の波長は、周囲温
度や発光パワーによって変化する。

【００１２】次の図１３は、周囲温度に対する半導体レ
ーザーの波長変化の一例を示す図である。図において、
横軸は周囲温度、縦軸は波長を示す。

【００１３】その変化量は、一般に、温度変化に対して
、０．２〜０．３（ｎｍ／℃）、発光パワーに対しては
、０．１〜０．２（ｎｍ／ｍＷ）である。

【００１４】図１４は、半導体レーザーの波長に対する
発光パワーの一例を示す図である。図において、横軸は
波長、縦軸は相対出力を示す。

【００１５】この図１４から明らかなように、波長が変
化すると、半導体レーザーの発光パワーが変化する。

【００１６】そして、半導体レーザー１の波長が変動す
ると、レンズの焦点距離が変化（レンズの色収差）し、
対物レンズ５で集光した光が、ディスク６上の記録面に
収束しなくなる。

【００１７】図１５は、従来の光情報記録再生装置にお
いて、半導体レーザーの波長が変化した場合の光路の変
化状態を説明する図である。図における符号は、図１２
と同様である。

【００１８】この図１５で、破線は、半導体レーザー１
からの光の中心位置を示している。この図１５に示すよ
うに、半導体レーザーの波長が変化すると、対物レンズ
５で集光された光が、ディスク６上の記録面に正確に収
束しなくなるので、ディスク６からの反射光も、フォー
カス検出用受光素子９上に収束しなくなる。

【００１９】その結果、フォーカスサーボ機能が作動し
、フォーカス検出用の２分割受光素子の分割線上に反射
光が集光するように、対物レンズ５が移動する（この場
合には、フォーカス制御信号＝Ａ−Ｂ）。

【００２０】図１６は、同じく従来の光情報記録再生装
置において、半導体レーザーの波長が変化した場合の光
路の変化状態を説明する図である。図における符号は図
１２と同様である。

【００２１】この図１６においても、破線は、半導体レ
ーザー１からの光の中心位置を示しており、この場合に
も、半導体レーザー１の波長が変動すると、レンズの焦
点距離（レンズの色収差）が変化し、対物レンズ５で集
光した光が、ディスク６上の記録面に収束しなくなる。

【００２２】そのため、ディスク６からの反射光も、フ
ォーカス検出用受光素子９やトラッキング検出用受光素
子１０上に収束しなくなる。

【００２３】このように、周囲温度等の影響によって、
半導体レーザー１の波長が変化すると、フォーカス検出
用受光素子９が調整時と異なる状態となり、検出レンズ
７の色収差のため、フォーカス検出用の２分割受光素子
への集光状態が変化する。

【００２４】その結果、フォーカス制御信号が“０”で
あっても、対物レンズ５は合焦位置と一致しなくなり、
ジッタの増加、トラック信号の低下等の不都合が生じる
。

【００２５】フォーカス制御信号については、すでに詳
しく述べたので、ここでは、トラッキングエラー信号に
ついて説明する。

【００２６】図１７は、従来の光情報記録再生装置につ
いて、ピックアップ光学系の要部構成の他の一例を示す
図である。図における符号は図１２と同様であり、また
、１１は第２のビームスプリッタ、１２はシリンドリカ
ルレンズを示す。

【００２７】先の図１２では、フォーカス制御のために
フォーカス検出用受光素子９へ入射させる光束の光路と
、トラッキング制御のためにトラッキング検出用受光素
子１０へ入射させる光束の光路とを、ビームスプリッタ
４によって分離させている構成である。

【００２８】これに対して、この図１７では、第２のビ
ームスプリッタ１１によって両光路を分離するようにし
て構成している。

【００２９】まず、ディスク６からの反射光は、図１２
と同様に、対物レンズ５によって再び平行光とされ、ビ
ームスプリッタ４を反射して、検出レンズ７により収束
光とされる。

【００３０】その後、このディスク６からの反射光は、
収束光として第２のビームスプリッタ１１へ導かれ、そ
の一部が、この第２のビームスプリッタ１１を透過し、
シリンドリカルレンズ１２によって非点収差を与えられ
て、フォーカス検出用受光素子９へ入射される。

【００３１】また、第２のビームスプリッタ１１を反射
した光は、トラッキング検出用受光素子１０へ入射する
。

【００３２】そして、すでに述べたように、半導体レー
ザーの波長が変化すると、光学部品の屈折率が変化する
ので、光路も変化する。例えば、ビーム整形プリズム３
の屈折率が変化すると、これを透過する光束の出射角度
が変化する。

【００３３】図１８は、半導体レーザーが波長λ１で発
光しているときのトラックエラー信号の一例を示す図で
ある。

【００３４】トラックエラー信号も、フォーカス制御信
号と同様に、２分割されたトラッキング検出用受光素子
１０の差信号（Ａ−Ｂ）から得られる。

【００３５】そのため、半導体レーザーの波長が設定さ
れた波長λ１であれば、この図１８のようなトラック信
号が得られるが、波長がλ１からλ２に変化すると、ト
ラック信号にオフセットが生じる。

【００３６】図１９は、半導体レーザーの波長が変化し
た場合のトラックエラー信号の一例を示す図である。

【００３７】半導体レーザー１の波長がλ１からλ２に
変化すると、この図１９に示すように、トラック信号に
オフセットが生じるので、トラックずれを招く。すなわ
ち、トラック検出法には、一般に、プッシュプル法が採
用されているので、半導体レーザーの波長が変化して、
このようなオフセットが生じると、正確なトラック制御
が不可能になる。

【００３８】以上に詳細に述べたように、従来の光ピッ
クアップ装置では、光源である半導体レーザーの波長の
変化に対して格別考慮されていないので、波長が周囲温
度や発光パワーによって変化すると、波長の状態が調整
時と異なることによってデフォーカスやオフセット等が
発生し、フォーカス制御やトラッキング制御を正確に行
うことができない、という不都合があった。

【００３９】

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光ピックアップ装置において生じる不都合、すなわち、
光源である半導体レーザーの波長が、周囲温度や発光パ
ワーによって変化することによりデフォーカスやオフセ
ット等が発生して、フォーカス制御やトラッキング制御
を正確に行うことができない、という不都合を解決し、
半導体レーザーの波長が変化したとき、その波長変動を
検出することによって、デフォーカスやトラッキングエ
ラーを補正し、常に、良好なライト、リード特性が得ら
れるようにした光ピックアップ装置を提供することを目
的とする。

【００４０】

【課題を解決するための手段】この発明では、第１に、
半導体レーザーからの光束を対物レンズによつて集光さ
せ、光情報記録媒体上に微小なスポットを形成して、情
報の記録，再生，消去を行う機能を有する光情報記録再
生装置の光ピックアップ装置であり、ビーム整形プリズ
ムと、ビームスプリッタと、該ビームスプリッタを透過
あるいは反射した光束を集光するレンズと、該レンズに
よって集光された光を受光するフォーカス制御用の受光
素子とを具備した光ピックアップ装置において、前記ビ
ームスプリッタを透過あるいは反射した光を検出する波
長変動検出用素子を備え、該波長変動検出用素子からの
出力信号によって半導体レーザーの光の波長変動を検出
し、該検出信号に基いてフォーカス制御信号を補正する
ように構成している。

【００４１】第２に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、ビームスプリッタと、該ビームスプリッタを透過あ
るいは反射した光束を屈折させるプリズムと、該プリズ
ムを屈折した光束を集光するレンズと、該レンズによっ
て集光された光を受光するフォーカス制御用の受光素子
とを具備した光ピックアップ装置において、前記ビーム
スプリッタを透過あるいは反射した光が入射されるプリ
ズムと、該プリズムからの光束を検出する波長変動検出
用素子、とを備え、該波長変動検出用素子からの出力信
号によって半導体レーザーの光の波長変動を検出し、該
検出信号に基いてフォーカス制御信号を補正するように
構成している。

【００４２】第３に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビ
ームスプリッタを透過あるいは反射した光束を屈折させ
るプリズムと、該プリズムを屈折した光束を集光するレ
ンズと、該レンズによって集光された光を受光するフォ
ーカス制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装
置において、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射
した光が入射されるプリズムと、該プリズムからの光束
を検出する波長変動検出用素子、とを備え、該波長変動
検出用素子からの出力信号によって半導体レーザーの光
の波長変動を検出し、該検出信号に基いてフォーカス制
御信号を補正するように構成している。

【００４３】第４に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビ
ームスプリッタを透過あるいは反射した光束を集光する
レンズと、該レンズによって集光された光を受光するト
ラック制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装
置において、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射
した光を検出する波長変動検出用素子を備え、該波長変
動検出用素子からの出力信号により半導体レーザーの光
の波長変動を検出し、該検出信号に基いてトラック制御
信号を補正するように構成している。

【００４４】第５に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、ビームスプリッタと、該ビームスプリッタを透過あ
るいは反射した光束を屈折させるプリズムと、該プリズ
ムを屈折した光束を集光するレンズと、該レンズによっ
て集光された光を受光するトラック制御用の受光素子と
を具備した光ピックアップ装置において、前記ビームス
プリッタを透過あるいは反射した光が入射されるプリズ
ムと、該プリズムからの光束を検出する波長変動検出用
素子、とを備え、該波長変動検出用素子からの出力信号
により半導体レーザーの光の波長変動を検出し、該検出
信号に基いてトラック制御信号を補正するように構成し
ている。

【００４５】第６に、半導体レーザーからの光束を対物
レンズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なス
ポットを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能
を有する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であ
り、ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビ
ームスプリッタを透過あるいは反射した光束を屈折させ
るプリズムと、該プリズムを屈折した光束を集光するレ
ンズと、該レンズによって集光された光を受光するトラ
ック制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装置
において、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射し
た光が入射されるプリズムと、該プリズムからの光束を
検出する波長変動検出用素子、とを備え、該波長変動検
出用素子からの出力信号により半導体レーザーの光の波
長変動を検出し、該検出信号に基いてトラック制御信号
を補正するように構成している。

【００４６】

【作用】この発明では、周囲温度や発光パワーによって
半導体レーザーの波長が変化したとき、フォーカス検出
用受光素子やトラッキング検出用受光素子の出力信号か
ら波長変動を検出し、波長変動に対応した補正を行うこ
とによって、デフォーカスやトラッキングエラーを防止
し、正確なフォーカス制御やトラッキング制御を可能に
している。

【００４７】

【実施例１】次に、この発明の光ピックアップ装置につ
いて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、請求項１の発明に対応している。

【００４８】図１は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示すブロック図であ
る。図における符号は図１２と同様であり、また、２１
は集光レンズ、２２は波長検出用受光素子、２３は波長
変動検出信号取出部、２４はフォーカス制御信号検出部
、２５は補正フォーカス制御信号検出部、２６は対物レ
ンズ駆動制御手段を示す。

【００４９】この図１に示すこの発明の光ピックアップ
装置では、ビームスプリッタ４から反射される光を取出
すために、フォーカス検出用受光素子９やトラッキング
検出用受光素子１０の反対側に、集光レンズ２１と波長
検出用受光素子２２とが配置されている。なお、波長検
出用受光素子２２は、少なくとも２分割された受光素子
、あるいは無分割の半導体位置検出素子によって構成さ
れる。

【００５０】ディスク６への出射光および反射光の径路
は、従来と同様である。すなわち、半導体レーザー１か
らの出射光は、コリメートレンズ２により平行光にされ
、ビーム整形プリズム３により楕円光束が円形光束に整
形されて、ビームスプリッタ４を透過し、対物レンズ５
へ入射され、従来と同様に、リード、ライト動作が行わ
れる。

【００５１】他方、ビームスプリッタ４で反射された光
は、集光レンズ２１によって収束光とされ、波長検出用
受光素子２２上に集光される。この発明では、この波長
検出用受光素子２２からの出力信号によって半導体レー
ザー１の光の波長変動を検出する。

【００５２】図２は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、波長の変化の状態を説明する図である。図にお
ける符号は図１と同様であり、また、θはビーム整形プ
リズム３による屈折光の角度を示す。この図２で、実線
は、波長λ１のときの光路、破線は、波長λ２のときの
光路を示している。

【００５３】半導体レーザー１は、調整時の波長が、例
えばλ１であり、実線で示すような光路で、ビーム整形
プリズム３へ入射されているとする。この状態では、同
じく実線の光路で、ビームスプリッタ４を反射して、出
射する。

【００５４】ここで、周囲温度の変化やレーザーパワー
の変動等によって、半導体レーザー１の波長がλ１から
λ２に変化すると、光学部品の屈折率が変化し、図２に
破線で示すように、ビーム整形プリズム３で屈折する光
の角度θが変化する。その結果、ビームスプリッタ４か
ら出射する光の角度も変化し、図１の波長検出用受光素
子２２上の集光する光の位置が変動することになる。

【００５５】図３は、波長検出用受光素子２２上におけ
るスポット位置の変動の一例を説明する図である。図で
、Ｘ，Ｙは２分割された受光素子の各受光面、２１は図
１と同じ集光レンズ２１を示す。

【００５６】この図３に実線で示すように、ディスク６
の記録面上のパワー設定時に、スポットの位置が、この
波長検出用受光素子２２の受光面（Ｘ，Ｙ）の分割線上
となるように調整しておけば、波長変動検出信号（Ｘ−
Ｙ）は“０”となる。

【００５７】ところが、周囲温度の変化やレーザーパワ
ーの変動等によって波長が変化すると、図３に破線で示
すように、２分割された受光素子の受光面（Ｘ，Ｙ）上
でスポットの位置が移動する。そのため、波長変動検出
信号（Ｘ−Ｙ）は、調整時のように“０”とならないの
で、この差信号（Ｘ−Ｙ）を検出することによって、波
長の変動量を検知することができる。

【００５８】次の図４は、波長変動と波長検出用受光素
子２２による差信号出力との関係の一例を示す図である
。図で、横軸は波長、縦軸は波長変動検出信号を示す。

【００５９】この図４に示すように、波長変動検出信号
（Ｘ−Ｙ）が“０”となるように焦点位置を設定してお
けば、波長の変動に伴って、波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ
）が±で検出される。

【００６０】ところが、検出レンズ７の色収差によって
、フォーカス制御信号が“０”であっても、対物レンズ
５の位置が合焦位置とならない場合が生じる。

【００６１】図５は、検出レンズ７の色収差の一例を示
す図である。図で、横軸は波長、縦軸は検出レンズ７の
焦点ずれ量を示す。

【００６２】この図５で、縦軸の＋方向のずれ量は、集
光点がレンズから遠ざかる場合、−方向のずれ量は、集
光点がレンズへ近づく場合である。この図５に示すよう
に、波長が変化すると、検出レンズ７の焦点にずれが生
じるので、集光点は調整時と異なる位置になる。

【００６３】ここで、波長とデフォーカスとの関係につ
いて述べる。図６は、波長とデフォーカスとの関係の一
例を示す図である。横軸は波長、縦軸は光ピックアップ
のフォーカスずれ量を示す。

【００６４】この図６では、縦軸の＋方向のずれ量は、
集光点が図２のディスク６から対物レンズ５側へシフト
する方向となる。

【００６５】この発明の光ピックアップ装置では、この
図２から図６の関係に着目し、図４の波長変動検出信号
（Ｘ−Ｙ）に基いて、フォーカス検出信号にオフセット
を加えることにより、波長が変動しても、光ピックアッ
プのフォーカスずれ量が補正できるようにしている。

【００６６】この場合に、補正後のフォーカス制御信号
は、ｋを定数とすれば、 　　　　　　フォーカス制御信号＝（Ａ−Ｂ）−ｋ（Ｘ
−Ｙ）　　　　　　　　……　（１） となる。

【００６７】そして、周囲温度や発光パワーによって半
導体レーザー１の波長が変化したとき、波長変動検出信
号取出部２３により波長変動検出信号（Ｘ−Ｙ）を取出
し、その波長変動に応じて、フォーカス制御信号検出部
２４からのフォーカス制御信号（Ａ−Ｂ）を補正する。

【００６８】図１の実施例では、これらの信号が、補正
フォーカス制御信号検出部２５へ入力され、先の式（１
）　によって補正されたフォーカス制御信号を生成し、
対物レンズ駆動制御手段２６へ出力する。

【００６９】したがって、ビーム整形を行う光ピックア
ップ装置において、光源である半導体レーザー１の波長
が変化しても、常に、正確なフォーカス制御が可能とな
り、デフォーカスが発生することがないので、良好な記
録，再生，消去特性を得ることができる。また、波長変
動の検出に際しては、ビームスプリッタ４の反射光を利
用しているので、波長変動を検出することによって、ト
ラック、フォーカス、情報信号の光量低下も発生しない
。

【００７０】なお、すでに述べたように、一般に、光ピ
ックアップ装置では、フォーカス検出法としては、いわ
ゆるナイフエッジ法（フーコー法）が採用されているが
、その他のフォーカス検出方式についても、同様に実施
することができることは明らかである。

【００７１】

【実施例２】次に、この発明の光ピックアップ装置につ
いて、他の実施例を説明する。この実施例は、請求項２
の発明に対応している。先に説明した図１の実施例では
、コリメートレンズ２とビームスプリッタ４の間に、ビ
ーム整形プリズム３を配置し、ビームスプリッタ４の入
射側でコリメートレンズ２からの平行光を、ビーム整形
プリズム３により楕円光束を円形光束に整形する形式の
光ピックアップ装置の場合について説明した。

【００７２】図７は、この発明の光ピックアップ装置に
ついて、その要部構成の他の一実施例を示す図である。 図における符号は図１と同様であり、また、２７はプリ
ズムを示す。

【００７３】この実施例では、ビーム整形プリズム３を
使用する代りに、ビームスプリッタ４の出射側にプリズ
ム２７を配置した形式の光ピックアップ装置について示
しており、プリズム２７からの出射光を波長検出用受光
素子２２で受光するように構成している。しかし、その
他の構成は、基本的に同様であり、フォーカスの制御動
作も、先の実施例と同様である。

【００７４】したがって、ビーム整形を行わない形式の
光ピックアップ装置において、光源である半導体レーザ
ー１の波長が変化しても、常に、正確なフォーカス制御
が可能となり、デフォーカスが発生することがないので
、良好な記録，再生，消去特性を得ることができる。

【００７５】また、波長変動の検出に際しては、ビーム
スプリッタ４の反射光を利用しているので、波長変動を
検出することによって、トラック、フォーカス、情報信
号の光量低下も発生しない。

【００７６】

【実施例３】この実施例は、請求項３の発明に対応して
いる。図８は、この発明の光ピックアップ装置について
、その要部構成の第３の実施例を示す図である。図にお
ける符号は、図１および図７と同様である。

【００７７】この第３の実施例は、先の第１と第２の実
施例を組合せた形式であり、コリメートレンズ２とビー
ムスプリッタ４の間に、ビーム整形プリズム３を配置す
ると共に、ビームスプリッタ４の出射側にプリズム２７
を配置した形式の光ピックアップ装置の場合を示してい
る。

【００７８】この図８に示したように、半導体レーザー
１からの光を屈折させるプリズムとして、ビーム整形プ
リズム３とプリズム２７の２個を使用すれば、波長変動
に対する波長検出用受光素子２２上のスポット位置の変
化を大きくすることができるので、波長変動検出信号の
感度を上げることが可能になり、一層高精度のフォーカ
ス制御が実現される。

【００７９】

【実施例４】この実施例は、請求項４の発明に対応して
いる。図９は、この発明の光ピックアップ装置について
、その要部構成の第４の実施例を示す図である。図にお
ける符号は、図１および図１７と同様であり、また、２
８はトラッキング信号検出部、２９は補正トラッキング
信号検出部を示す。

【００８０】この図９に示す第４の実施例は、トラッキ
ング制御を行う場合を示している点が、先に説明した第
１から第３の実施例と異なっている。そのために、図１
のフォーカス制御信号検出部２４や補正フォーカス制御
信号検出部２５の代りに、トラッキング信号検出部２８
と補正トラッキング信号検出部２９とが設けられている
。

【００８１】この第４の実施例では、図４の波長変動検
出信号（Ｘ−Ｙ）に基いて、トラックエラー信号にオフ
セットを加えることにより、波長が変動しても、光ピッ
クアップのトラックずれ量を補正することが可能である
。

【００８２】この場合にも、補正後のトラックエラー信
号は、ｋを定数とすれば、 　　　　　　トラックエラー信号＝（Ａ−Ｂ）−ｋ（Ｘ
−Ｙ）　　　　　　　　……　（２） となる。

【００８３】図９に示した光ピックアップ装置について
、トラッキング制御動作を詳しく説明する。すでに図１
７に関連して説明したように、ディスク６からの反射光
は、往路と逆に、対物レンズ５によって再び平行光とさ
れ、ビームスプリッタ４を反射し、検出レンズ７により
収束光とされる。

【００８４】その後、この収束光は、第２のビームスプ
リッタ１１へ導かれ、その一部が、この第２のビームス
プリッタ１１を透過し、シリンドリカルレンズ１２によ
って非点収差を与えられて、フォーカス検出用受光素子
９へ入射される。また、第２のビームスプリッタ１１を
反射した光は、トラッキング検出用受光素子１０へ入射
する。

【００８５】そして、すでに図１や図７に関連して述べ
たように、ビームスプリッタ４を反射した光の一部が、
集光レンズ２１を介して、波長検出用受光素子２２で受
光される。そのため、トラックエラー信号も、フォーカ
ス制御信号と同様に、２分割されたトラッキング検出用
受光素子１０の差信号（Ａ−Ｂ）から得られる。

【００８６】この場合にも、半導体レーザーの波長が変
化すると、光学部品の屈折率が変化するので、光路も変
化する。例えば、ビーム整形プリズム３の屈折率が変化
すると、これを透過する光束の出射角度が変化する。

【００８７】図１０は、この発明の光ピックアップ装置
について、波長の変化の状態を説明する図である。図に
おける符号は図９と同様であり、また、θはビーム整形
プリズム３による屈折光の角度を示す。この図１０で、
実線は、波長λ１のときの光路、破線は、波長λ２のと
きの光路を示している。

【００８８】半導体レーザー１は、調整時の波長が、例
えばλ１であり、実線で示すような光路で、ビーム整形
プリズム３へ入射されているとする。この状態では、同
じく実線の光路で、ビームスプリッタ４を反射して、集
光レンズ２１側へ出射する。

【００８９】ところが、周囲温度の変化や発光パワーの
変化によって半導体レーザー１の波長が変化すると、ビ
ーム整形プリズム３によって屈折される光の角度θが変
化する。そのため、ビームスプリッタ４から出射する光
の角度が変化して、破線で示すような光路になる。この
ように、波長検出用受光素子２２上に形成されるスポッ
トの位置も変化するので、その検出出力信号が変動する
。

【００９０】図１１は、トラックエラー信号の検出時に
おいて、半導体レーザーの波長に対する波長変動検出信
号の一例を示す図である。図において、横軸は波長、縦
軸は波長変動検出信号を示す。

【００９１】この図１１から明らかなように、波長が変
化すると、波長検出用受光素子２２によって検出される
波長変動検出信号、具体的にいえば、その差信号（Ｘ−
Ｙ）が変化する。したがって、先のフォーカス制御の場
合と同様に、検出されたトラックエラー信号に対して、
この波長変動検出信号によって補正すれば、正確なトラ
ック制御が可能である。

【００９２】すなわち、トラッキング検出用受光素子１
０で受光された従来のトラックエラー信号（Ａ−Ｂ）に
ついて、波長検出用受光素子２２で検出された波長変動
検出信号（Ｘ−Ｙ）と定数ｋとによって式（２）　のよ
うに補正することにより、波長の変化によって生じるト
ラックエラー信号のオフセットを除去することができ、
良好な記録，再生，消去特性を得ることができる。さら
に、トラック検出法として一般的なプッシュプル法に限
らず、その他のトラック検出方式についても、同様に実
施することができることは明らかである。

【００９３】

【実施例５】次に、この発明の光ピックアップ装置につ
いて、第５の実施例を説明する。この実施例は、請求項
５の発明に対応している。先に説明した図９の実施例で
は、コリメートレンズ２とビームスプリッタ４の間に、
ビーム整形プリズム３を配置し、ビームスプリッタ４の
入射側でコリメートレンズ２からの平行光を、ビーム整
形プリズム３により楕円光束を円形光束に整形する形式
の光ピックアップ装置の場合について説明した（フォー
カス制御の第１の実施例に対応）。

【００９４】この第５の実施例は、フォーカス制御の第
２の実施例に対応しており、図７で説明したように、ビ
ーム整形プリズム３を使用する代りに、ビームスプリッ
タ４の出射側にプリズム２７を配置した形式の光ピック
アップ装置の場合である。

【００９５】したがって、その構成については特に図示
しないが、プリズム２７からの出射光を波長検出用受光
素子２２で受光し、図９と同様に、その検出出力を、波
長変動検出信号取出部２３から取出して、トラッキング
信号検出部２８と補正トラッキング信号検出部２９へ出
力する。以上のように、その他の構成は、基本的に図９
と同様であり、トラッキング制御動作も、先の第４の実
施例と同様である。

【００９６】

【実施例６】次に、この発明の光ピックアップ装置につ
いて、第６の実施例を説明する。この実施例は、請求項
６の発明に対応している。先に説明した第５の実施例で
は、ビーム整形プリズム３を使用する代りに、ビームス
プリッタ４の出射側にプリズム２７を配置した形式の光
ピックアップ装置の場合について説明した（フォーカス
制御の第２の実施例に対応）。

【００９７】この第６の実施例は、フォーカス制御の第
３の実施例に対応しており、図８で説明したように、第
１と第２の実施例を組合せた形式、すなわち、コリメー
トレンズ２とビームスプリッタ４の間に、ビーム整形プ
リズム３を配置すると共に、ビームスプリッタ４の出射
側にプリズム２７を配置した形式の光ピックアップ装置
の場合におけるトラッキング制御である。

【００９８】その構成については特に図示しないが、プ
リズム２７からの出射光を波長検出用受光素子２２で受
光し、図９と同様に、その検出出力を、波長変動検出信
号取出部２３から取出して、トラッキング信号検出部２
８と補正トラッキング信号検出部２９へ出力する。以上
のように、その他の構成は、基本的に図９と同様であり
、トラッキング制御動作も、先の第４や第５の実施例と
同様である。

【００９９】

【発明の効果】この発明では、周囲温度や発光パワー等
の変化によって生じる半導体レーザーの波長の変動を、
波長検出用受光素子を使用して検出し、その出力信号に
よりフォーカス制御信号やトラックエラー信号を補正し
ている。

【０１００】したがって、光源である半導体レーザーの
波長が変化しても、デフォーカスが生じることがでく、
常に良好なリード、ライトが可能になる（請求項１から
請求項３の発明に対応する効果）。

【０１０１】同様に、半導体レーザーの波長が変化して
も、トラックエラー信号のオフセットを除去することが
可能であり、常に良好な記録，再生，消去特性を得るこ
とができる（請求項４から請求項６の発明に対応する効
果）、等の多くの優れた効果が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の一実施例を示すブロック図である。

【図２】この発明の光ピックアップ装置について、波長
の変化の状態を説明する図である。

【図３】波長検出用受光素子２２上におけるスポット位
置の変動の一例を説明する図である。

【図４】波長変動と波長検出用受光素子２２による差信
号出力との関係の一例を示す図である。

【図５】検出レンズ７の色収差の一例を示す図である。

【図６】波長とデフォーカスとの関係の一例を示す図で
ある。

【図７】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の他の一実施例を示す図である。

【図８】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の第３の実施例を示す図である。

【図９】この発明の光ピックアップ装置について、その
要部構成の第４の実施例を示す図である。

【図１０】この発明の光ピックアップ装置について、波
長の変化の状態を説明する図である。

【図１１】トラックエラー信号の検出時において、半導
体レーザーの波長に対する波長変動検出信号の一例を示
す図である。

【図１２】従来の光情報記録再生装置について、フーコ
ー法による光学系の要部構成の一例を示す図である。

【図１３】周囲温度に対する半導体レーザーの波長変化
の一例を示す図である。

【図１４】半導体レーザーの波長に対する発光パワーの
一例を示す図である。

【図１５】従来の光情報記録再生装置において、半導体
レーザーの波長が変化した場合の光路の変化状態を説明
する図である。

【図１６】同じく従来の光情報記録再生装置において、
半導体レーザーの波長が変化した場合の光路の変化状態
を説明する図である。

【図１７】従来の光情報記録再生装置について、ピック
アップ光学系の要部構成の他の一例を示す図である。

【図１８】半導体レーザーが波長λ１で発光していると
きのトラックエラー信号の一例を示す図である。

【図１９】半導体レーザーの波長が変化した場合のトラ
ックエラー信号の一例を示す図である。

【符号の説明】

１　　半導体レーザー ２　　コリメートレンズ ３　　ビーム整形プリズム ４　　ビームスプリッタ ５　　対物レンズ ６　　ディスク ７　　検出レンズ ８　　ナイフエッジプリズム ９　　フォーカス検出用受光素子 １０　　トラッキング検出用受光素子 １１　　第２のビームスプリッタ １２　　シリンドリカルレンズ ２１　　集光レンズ ２２　　波長検出用受光素子 ２３　　波長変動検出信号取出部 ２４　　フォーカス制御信号検出部 ２５　　補正フォーカス制御信号検出部２６　　対物レ
ンズ駆動制御手段 ２７　　プリズム ２８　　トラッキング信号検出部 ２９　　補正トラッキング信号検出部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビーム
   スプリッタを透過あるいは反射した光束を集光するレン
   ズと、該レンズによって集光された光を受光するフォー
   カス制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装置
   において、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射し
   た光を検出する波長変動検出用素子を備え、該波長変動
   検出用素子からの出力信号によって半導体レーザーの光
   の波長変動を検出し、該検出信号に基いてフォーカス制
   御信号を補正することを特徴とする光ピックアップ装置
   。
2. 【請求項２】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビームスプリッタと、該ビームスプリッタを透過あるい
   は反射した光束を屈折させるプリズムと、該プリズムを
   屈折した光束を集光するレンズと、該レンズによって集
   光された光を受光するフォーカス制御用の受光素子とを
   具備した光ピックアップ装置において、前記ビームスプ
   リッタを透過あるいは反射した光が入射されるプリズム
   と、該プリズムからの光束を検出する波長変動検出用素
   子、とを備え、該波長変動検出用素子からの出力信号に
   よって半導体レーザーの光の波長変動を検出し、該検出
   信号に基いてフォーカス制御信号を補正することを特徴
   とする光ピックアップ装置。
3. 【請求項３】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビーム
   スプリッタを透過あるいは反射した光束を屈折させるプ
   リズムと、該プリズムを屈折した光束を集光するレンズ
   と、該レンズによって集光された光を受光するフォーカ
   ス制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装置に
   おいて、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射した
   光が入射されるプリズムと、該プリズムからの光束を検
   出する波長変動検出用素子、とを備え、該波長変動検出
   用素子からの出力信号によって半導体レーザーの光の波
   長変動を検出し、該検出信号に基いてフォーカス制御信
   号を補正することを特徴とする光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビーム
   スプリッタを透過あるいは反射した光束を集光するレン
   ズと、該レンズによって集光された光を受光するトラッ
   ク制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装置に
   おいて、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射した
   光を検出する波長変動検出用素子を備え、該波長変動検
   出用素子からの出力信号により半導体レーザーの光の波
   長変動を検出し、該検出信号に基いてトラック制御信号
   を補正することを特徴とする光ピックアップ装置。
5. 【請求項５】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビームスプリッタと、該ビームスプリッタを透過あるい
   は反射した光束を屈折させるプリズムと、該プリズムを
   屈折した光束を集光するレンズと、該レンズによって集
   光された光を受光するトラック制御用の受光素子とを具
   備した光ピックアップ装置において、前記ビームスプリ
   ッタを透過あるいは反射した光が入射されるプリズムと
   、該プリズムからの光束を検出する波長変動検出用素子
   、とを備え、該波長変動検出用素子からの出力信号によ
   り半導体レーザーの光の波長変動を検出し、該検出信号
   に基いてトラック制御信号を補正することを特徴とする
   光ピックアップ装置。
6. 【請求項６】　　半導体レーザーからの光束を対物レン
   ズによつて集光させ、光情報記録媒体上に微小なスポッ
   トを形成して、情報の記録，再生，消去を行う機能を有
   する光情報記録再生装置の光ピックアップ装置であり、
   ビーム整形プリズムと、ビームスプリッタと、該ビーム
   スプリッタを透過あるいは反射した光束を屈折させるプ
   リズムと、該プリズムを屈折した光束を集光するレンズ
   と、該レンズによって集光された光を受光するトラック
   制御用の受光素子とを具備した光ピックアップ装置にお
   いて、前記ビームスプリッタを透過あるいは反射した光
   が入射されるプリズムと、該プリズムからの光束を検出
   する波長変動検出用素子、とを備え、該波長変動検出用
   素子からの出力信号により半導体レーザーの光の波長変
   動を検出し、該検出信号に基いてトラック制御信号を補
   正することを特徴とする光ピックアップ装置。