JP2002025101A - 光ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 異なる光ディスクそれぞれに対応した、２種
類の波長の反射光を、光検出器上のほぼ同一の場所に集
光する。 【解決手段】 波長λ₁のレーザチップ１０１と、波長
λ₂のレーザチップ１０１の波長（λ₁＜λ₂）との２種
類の光源と、コリメータレンズ２と、ハーフミラー３
と、立上げミラー４と、対物レンズ５からなり光ディス
ク６に光を集光する出射光学系と、光ディスク６からの
反射光を、対物レンズ５と、立上げミラー４と、立上げ
ミラー４からの光を透過するハーフミラー３と、集光レ
ンズ８及びシリンドリカルレンズ９とを介して光検出器
１０にて受光する検出光学系とから構成された光ピック
アップにおいて、補正プリズム７を検出光学系に配置す
ることにより、光ディスク６に対応した２つの波長のそ
れぞれの反射光が、光検出器１０のほぼ同じ位置に集光
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、波長依存性を有す
る光ディスクに対し、波長の異なる２種類の光を用い
て、情報を記録または再生するように２波長の光を使用
する光ピックアップに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクは、記憶媒体としての
大容量化が進んでおり、それに伴い、光ピックアップに
用いる光源の短波長化が進められている。一般に、光デ
ィスクの光スポットサイズは、光源の波長に比例してお
り、光ディスクの容量は、波長の２乗に反比例して増大
する。しかし、従来の光ディスクには、光反射率、記録
パワーなどに強い波長依存性を持つものが有り、光の波
長が他の光ディスクに使用されている光の波長と異なる
と、その光ディスクに対して情報の再生あるいは記録が
行えないという問題がある。従って、１つの光ピックア
ップを、通常の光ディスクと、大容量化に適した光ディ
スクとに併用できるようにするためには、通常使用され
ている波長の光と、その光の波長よりも短い波長の光、
例えば、波長７８０ｎｍの光と６４５ｎｍの波長の光を
使用して、２種類の光ディスクの情報の再生あるいは記
録ができる光ディスク装置が必要である。

【０００３】図８は、異なる波長の光をそれぞれ出射す
る２つの光源を有する光ピックアップの一般的な光学的
構成を示す概略図である。この光ピックアップは、光源
として、２つのレーザチップ２１１及びレーザチップ２
１２を有している。一方の、レーザチップ２１１は波長
λ₁（例えば、６４５ｎｍ）の光を出射し、他方のレー
ザチップ２１２は波長λ₂（例えば、７８０ｎｍ）の光
を出射する。レーザチップ２１１から出射した光は、コ
リメータレンズ２２１によってほぼ平行光とされてハー
フミラー２３１にて９０度にわたって屈曲された後に、
立上げミラー２４０によって更に９０度にわたって屈曲
され、対物レンズ２５０により光ディスク２６０上に集
光される。また、他方のレーザチップ２１２から出射さ
れた波長λ₂の光も同様に、コリメータレンズ２２２に
よってほぼ平行光とされてハーフミラー２３２にて９０
度にわたって屈曲され、ハーフミラー２３１を透過し
て、立上げミラー２４０によって９０度にわたって屈曲
された後に、対物レンズ２５０により光ディスク２６０
上に集光される。この集光された光スポットにより、光
ディスク２６０に対する情報の再生及び記録が行われ
る。なお、使用される光の波長は光ディスク２６０の種
類によって適宜選択される。

【０００４】光ディスク２６０によって反射された光
は、波長λ₁の光及び波長λ₂の光のいずれもが、対物レ
ンズ２５０によって再びほぼ平行光とされて、立上げミ
ラー２４０によって９０度にわたって屈曲された後に、
ハーフミラー２３１及び２３２を透過した後、集光レン
ズ２８０によって収束光とされ、シリンドリカルレンズ
２９０によって非点収差が与えられて光検出器３００に
よって受光される。そして、この光検出器３００によっ
て受光される光量に基づいて、情報信号及びサーボ信号
が検出される。

【０００５】しかしながら、このように、異なる波長の
光をそれぞれ出射するレーザチップ２１１及びレーザチ
ップ２１２を光源として設けて、それぞれの波長の光に
対して２組のコリメータレンズ２２１及び２１２と、ハ
ーフミラー２３１及び２３２とをそれぞれ設ける構成で
は、収納スペース増加による装置の大型化と、装置の部
品数増加によるコスト高を招くという問題がある。

【０００６】図９は、従来の他の光ピックアップの光学
的構成を示す概略図である。光源部４１０は、互いに波
長の異なる２種類の光を出射する一対のレーザチップを
１つのパッケージに収めて構成されている。一方のレー
ザチップ４１１が出射する光の波長λ₁は６４５ｎｍで
あり、他方のレーザチップ４１２が出射する光の波長λ
₂は７８０ｎｍである。これらの２つの光源は使用する
２種類の光ディスク４６０に対応して選択的に用いられ
る。一方の、レーザチップ４１１から出射された波長λ
₁の光の光線は、コリメータレンズ４２０の光軸に一致
しており、コリメータレンズ４２０によってほぼ平行光
とされてハーフミラー４３０にて９０度にわたって屈曲
された後に、立上げミラー４４０によって更に９０度に
わたって屈曲され、対物レンズ４５０により光ディスク
４６０上に集光される。これに対して、他方のレーザチ
ップ４１２から出射された波長λ₂の光の光線は、コリ
メータレンズ４２０の光軸に対してずれて出射されてお
り、ハーフミラー４３０にて屈曲された後に、立上げミ
ラー４４０によって更に屈曲され、対物レンズ４５０の
光軸に対して傾斜した状態で透過して、光ディスク４６
０上に集光される。従って、情報の記録と再生とが行わ
れる異なる種類の光ディスク４６０上の光スポットの位
置は、波長λ₁の光と波長λ₂の光とでは、それぞれ異な
る。

【０００７】光ディスク４６０で反射された波長λ₁の
光は、対物レンズ４５０によって再びほぼ平行光とさ
れ、立上げミラー４４０によって更に９０度にわたって
屈曲され、ハーフミラー４３０を透過した後、集光レン
ズ４８０により収束光とされ、シリンドリカルレンズ４
９０によって非点収差が与えられる。この光は光検出器
５００により受光されて、情報信号及びサーボ信号が検
出される。他方、光ディスク４６０にて反射された波長
λ₂の光は、対物レンズ４５０を再び透過して、立上げ
ミラー４４０によって屈曲された後、ハーフミラー４３
０を透過する。ハーフミラー４３０を透過した光は、集
光レンズ４８０及びシリンドリカルレンズ４９０を透過
した後に光検出器５００に受光される。この場合、集光
レンズ４８０に入射される光は、集光レンズ４８０の光
軸に対して傾斜しており、従って、集光レンズ４８０か
ら出射されて、シリンドリカルレンズ４９０を透過した
後に光検出器５００に受光される光スポットの位置は、
波長λ₁の光のスポット位置とは一致しない。このた
め、光検出器５００の受光焦点を、一方の波長λ₁の光
に基づいて調整すると、他方の波長λ₂の光に対しては
適切な信号が得られなくなるおそれがある。

【０００８】図９の光ピックアップにおいて、波長λ₁
の光を出射するレーザチップ４１１と波長λ₂の光を出
射するレーザチップ４１２の発光点の間隔を１８．６μ
ｍ、コリメータレンズ４２０の焦点距離を２０．７ｍ
ｍ、集光レンズ４８０の焦点距離を２６．０ｍｍとした
場合に、光検出器５００にて得られるＦＥＳ（フォーカ
ス誤差信号）の波形を図１０に示す。図１０において、
Ｘ軸に対物レンズ４５０の移動量（ｍｍ）が示されてお
り、Ｙ軸にＦＥＳの出力レベルが示されている。波長７
８０ｎｍの光の場合は、光スポット中心が光検出器５０
０の中心より離れるために出カレベルの低下が見られ
る。ここで、波長λ₁の光を出射するレーザチップ４１
１と波長λ₂の光を出射するレーザチップ４１２の発光
点の間隔が１０９μｍになると、光検出器５００の受光
エリアの外形が８８μｍ×１２０μｍの条件下では、波
長７８０ｎｍの光スポットは受光エリアから外れること
になり、情報信号及びサーボ信号を得ることができな
い。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、２種類
の光源を有する光ピックアップでは、波長λ₁の光の光
源の光軸をコリメータレンズ４２０の光軸に一致させた
場合、波長λ₂の光はコリメータレンズ４２０の光軸に
対して傾斜状態で出射され、対物レンズ４５０にもその
光軸に対して傾斜状態で入射することになる。更に、光
ディスク４６０によって反射された波長λ₂の光は集光
レンズ４８０に傾斜状態で入射するため、光検出器５０
０上に集光する波長λ₂の光スポットは、波長λ₁の光ス
ポットの位置とは一致しない。その結果、一方の波長λ
₁の光で光検出器５００を調整すると、他方の波長λ₂の
光に対しては精度のよい信号が得られないおそれがあ
る。

【００１０】本発明はこのような問題を解決するもので
あり、その目的とするところは、光ディスクに対応した
２種類の波長の光の反射光を光検出器上のほぼ同一の場
所に集光できる、２波長対応の光ピックアップを提供す
ることにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、波長の異なる２種類の光を出射する光源と、この光
源から出射されるそれぞれの光を光ディスク上に集光す
る出射光学系と、該光ディスクからの各光の反射光を光
検出器に集光する検出光学系と、該光ディスクからの各
光の反射光を該光検出器のほぼ同じ位置に集光するよう
に該検出光学系に配置された補正プリズムとを具備す
る。

【００１２】前記補正プリズムは短い波長の光が、長い
波長の光の方向に屈折するように前記検出光学系に配置
されている。

【００１３】前記補正プリズムは、該プリズムによる光
の偏角がほぼ最小となるように前記検出光学系に配置さ
れている。

【００１４】前記出射光学系にはコリメータレンズが設
けられており、該コリメータレンズの光軸が前記光源か
ら出射される短い波長の光線に一致している。

【００１５】前記補正プリズムによる偏向方向が前記光
検出器の受光部分割線の方向に沿っている。

【００１６】前記波長の異なる２種類の光は２つのレー
ザチップからそれぞれ出射される。

【００１７】前記波長の異なる２種類の光は１つのレー
ザチップから出射される。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。

【００１９】図１は、本発明の光ピックアップの光学的
構成を示す概略図である。この光ピックアップは、光に
対応した２種類の光ディスク６のいずれにも適用できる
ように、異なる波長の２種類の光を出射する光源１を有
している。図２は光源１の概略構成図である。光源１
は、波長λ₁の光を出射するレーザチップ１０１と、波
長λ₂の光を出射するレーザチップ１０２とを有してい
る。波長λ₁及び波長λ₂は、互いに異なる波長であっ
て、例えば、波長λ₁は６４５ｎｍ、波長λ₂は７８０ｎ
ｍである。光ディスク６が波長依存性を有する場合に
は、短い波長λ₁の光を出射するレーザチップ１０１が
動作され、波長λ₂の光を出射するレーザチップ １０２
は動作されない。また、他の通常の光ディスク６に対し
ては、λ₂の光を出射するレーザチップ １０２が動作さ
れ、波長λ₁の光を出射するレーザチップ１０１は動作
されない。

【００２０】波長λ₁のレーザチップ１０１はコリメー
タレンズ２の光軸上に配置されており、レーザチップ１
０１から出射される光線とコリメータレンズ２の光軸と
が一致している。レーザチップ１０１から出射された波
長λ₁の光は、コリメータレンズ２によってほぼ平行光
とされ、ハーフミラー３にて９０度にわたって屈曲され
た後に、立上げミラー４によって更に９０度にわたって
屈曲され、対物レンズ５によって光ディスク６上に集光
される。この集光された光スポットによって光ディスク
６に対して情報の再生及び記録が行われる。

【００２１】光ディスク６にて反射された光は、対物レ
ンズ５により再びほぼ平行光とされ、立上げミラー４に
よって９０度にわたって屈曲され、ハーフミラー３を透
過した後、補正プリズム７によって屈曲される。補正プ
リズム７によって屈曲された光は、集光レンズ８によっ
て集光されて、シリンドリカルレンズ９によって非点収
差が与えられて、光検出器１０にて受光される。

【００２２】波長λ₂の光を出射するレーザチップ１０
２は、出射される光の光線がコリメータレンズ２の光軸
に対してずれた位置に配置される。そのため、波長λ₂
の光線は、コリメータレンズ２の光軸とは一致せず、ハ
ーフミラー３で屈曲されて、立上げミラー４によって更
に屈曲されると、対物レンズ５をその光軸に対して傾斜
した状態で光ディスク６上に集光される。従って、波長
λ₁の光と波長λ₂の光とによって、光ディスク６におけ
る異なる位置に、それぞれの情報の記録及び再生が行わ
れることになる。光ディスク６にて反射された波長λ₂
の光は、対物レンズ５を再び透過した後、立上げミラー
４によって屈曲されて、ハーフミラー３を透過した後に
補正プリズム７に出射される。補正プリズム７に出射さ
れた光は、補正プリズム７によって屈曲されて、集光レ
ンズ８によって集光されて、シリンドリカルレンズ９に
よって非点収差が与えられて、光検出器１０にて受光さ
れる。光検出器１０にて受光された光スポットの位置
が、波長λ₁の光と波長λ₂の光とでほぼ一致するように
補正プリズム７が配置される。

【００２３】このような構成の光ピックアップにおい
て、光源１を光源とし、光源１から出射された光により
光ディスク６に対して情報の再生及び記録が行われる一
連の光学系を出射光学系とし、光ディスク６によって反
射された光が光検出器１０にて受光されるまでの一連の
光学系を検出光学系とすると、補正プリズム７は検出光
学系に配置されている。

【００２４】このように、本実施の形態の光ピックアッ
プでは、波長の異なる２つの光を、光検出器１０上のほ
ぼ同じ位置に集光するために、検出光学系のハーフミラ
ー３と集光レンズ４との間に補正プリズム７が配置され
ている。従って、出射光学系において、各波長λ₁及び
波長λ₂の光は補正プリズム７によって影響されず、各
光ディスク６上の所定位置に光スポットをそれぞれ確実
に形成することができる。これに対して、補正プリズム
７を、光源１から出射された光を光ディスク６に集光さ
せる出射光学系に配置した場合、収差の発生等により光
ディスク６上に集光される光スポットが乱れ、情報信
号、サーボ信号などを正確に検出できないおそれが有
る。

【００２５】補正プリズム７を構成する光学ガラスの屈
折率は、光の波長に対して変化し、光の波長が小さくな
るほど光学ガラスの屈折率は大きくなる。このために、
補正プリズム７は、短波長であるλ₁の光が長波長のλ₂
の光に接近するように配置される。例えば、レーザチッ
プ１０１及び１０２の発光点の間隔が、１８．６μｍの
場合、コリメータレンズ２の焦点距離を２０．７ｍｍ、
補正プリズム７の硝材をＳＦ１１、レーザチップ１０１
から出射される光の波長λ₁を６４５ｎｍ、レーザチッ
プ１０２から出射される光の波長λ₂を７８０ｎｍとす
れば、波長λ₁の光に対する補正プリズム７の屈折率は
１．７７７２１であり、波長λ₂の光に対する補正プリ
ズム７の屈折率は１．７６５９５であることから、補正
プリズム７の頂角を４．５６°とすることにより、光検
出器１０上にて各波長の光スポットをほぼ一致させるこ
とができる。このときの６４５ｎｍの波長λ₁と７８０
ｎｍの波長λ₂の光によるＦＥＳ波形を図３に示す。図
３のＦＥＳ波形では、Ｘ軸に対物レンズ５の移動量（ｍ
ｍ）、Ｙ軸にＦＥＳ出力レベルがそれぞれ示されてい
る。図３では、波長６４５ｎｍと波長７８０ｎｍの両光
において、ＦＥＳ波形の出力レベルは十分高くなってお
り、しかも、両波長の光において対物レンズ５の移動量
に対する出力レベルはほぼ一致している。

【００２６】２波長の発光点の間隔が広がり、例えば、
発光点の間隔が１０９μｍの場合でも、コリメータレン
ズ２の焦点距離を２０．７ｍｍ、補正プリズム７の硝材
をＳＦ１１、波長λ１を６４５ｎｍ、波長λ₂を７８０
ｎｍとすれば、波長λ₁の光の屈折率は１．７７７２１
であり、波長λ₂の屈折率は１．７６５９５なので、補
正プリズム７の頂角を２５．０５度とすれば、光検出器
１０上での２波長の光スポットをほぼ一致させることが
できる。

【００２７】図４は、補正プリズム７における入射角度
と偏角（入射光線と出射光線との間の角）の関係を示す
グラフである。図４においてＸ軸には波長λ₁（６４５
ｎｍ）の光の入射角度を示し、Ｙ軸に補正プリズム７の
偏角を示している。補正プリズム７は、入射角度が２２
度のときに偏角がほぼ最小の２０度（最小偏角）となっ
ている。従って、波長λ₁（６４５ｎｍ）の光の場合、
補正プリズム７ヘの光の入射角度を２２度前後にすれ
ば、偏角は、ほぼ２０度になり、光の入射角度に対する
依存性が低くなるので、装置の光学部品の配置に許容幅
ができ、特に、短波長の光を扱うために配置公差を小さ
くする必要がある光学部品でも、設計が比較的容易にな
るという利点がある。

【００２８】図５は、光源１の他の例を示す概略構成図
である。光源１は波長λ₁及び波長λ₂の異なる光を出射
する１つのレーザチップ１７を有している。このレーザ
チップ１７における２波長の光の発光点の間隔が狭いた
めに、補正プリズム７による光の偏角を小さくすること
ができる。補正プリズム７の頂角は例えば、４．５６度
とされる。すなわち、２波長の光の発光点の間隔が短く
なっていることにより、補正プリズム７による補正量が
小さくなり、補正プリズム７の光の偏角の変動などの影
響も少なく、従って、光検出器１０上での各光スポット
の位置合わせが容易になる。

【００２９】図６（ａ）は、光検出器１０の構成を示し
ている。光検出器１０の受光部１５は、全体が正方形に
構成されており、しかも、相互に対向する各辺の中点同
士を結んだ一対の受光部分割線１４によって、４つの正
方形の分割領域１５ａ〜１５ｄが形成されている。そし
て、一方の受光部分割線１４が、補正プリズム７による
波長λ₁及び波長λ₂の光の偏向方向に沿って形成されて
いる。受光部１５の各分割領域１５ａ〜１５ｄは、光ス
ポット１６を受光した際のそれぞれの光量に応じた信号
を出力する。分割領域１５ａ〜１５ｄの出力信号をそれ
ぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄすると、フォーカス誤差信号は
｛（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）｝によって表される。

【００３０】例えば、半導体レーザによって構成された
レーザチップ１０１及び１０２は、稼働時の温度によ
り、その波長が０．２ｎｍ／℃で変動することが知られ
ているが、この波長変動により補正プリズム７における
光の偏角が変化し、最終的に、光検出器１０上での光ス
ポット位置が変化する。その結果、非点収差法などによ
り得られるフォーカス誤差信号にオフセットが生じる場
合がある。

【００３１】しかしながら、図６（ａ）に示すように、
光検出器１０の受光部１５の一方の受光部分割線１４を
補正プリズム７による光の偏向方向に沿うように配置す
ることにより、光源１から出射される光の波長変動等に
よって補正プリズム７での光の偏角が変化しても、光ス
ポット１６は、受光部分割線１４に沿ってずれるため
に、フォーカス誤差信号がオフセット状態になるおそれ
がなく、正確なフォーカス誤差信号が得られる。すなわ
ち、補正プリズム７での光の偏角が変化した場合にも、
光スポット１６は受光部分割線１４に沿ってずれるため
に、一方の対角位置の一対の分割領域１５ａ及び１５ｄ
出力信号の和（Ａ＋Ｄ）と、他方の対角位置の一対の分
割領域１５ｂ及び１５ｃ出力信号の和（Ｂ＋Ｃ）との割
合が変化しない。

【００３２】図６（ｂ）は、オフセット状態にないフォ
ーカス誤差信号と光ディスク６に対する対物レンズ５の
移動量との関係を示すグラフである。

【００３３】図７（ａ）は、光検出器の受光部１５にお
ける受光部分割線１４が補正プリズム７の光の偏向方向
に対して４５度傾斜した場合を示す。光源１から出射さ
れる光の波長変動等によって補正プリズム７での光の偏
角が変化すると、光スポット１６は、受光部分割線１４
に対して傾斜してずれるために、分割領域１５ａ及び１
５ｄ出力信号の和（Ａ＋Ｄ）と、分割領域１５ｂ及び１
５ｃ出力信号の和（Ｂ＋Ｃ）との割合に変化が生じ、フ
ォーカス誤差信号がオフセット状態になり、正確なフォ
ーカス誤差信号が得られない。

【００３４】図７（ｂ）は、オフセット状態にあるフォ
ーカス誤差信号と光ディスク６に対する対物レンズ５の
移動量との関係を示すグラフである。

【００３５】従って、図６（ａ）のように、光検出器１
０の受光部分割線１４を、補正プリズム７による光の偏
向方向、すなわち、光検出器１０上での光スポット移動
方向１３とほぼ同じ方向にした場合、フォーカス誤差信
号にオフセットが入らず、光検出器１０にて正確にフォ
ーカス誤差信号を検出することができる。従って、本発
明の光ピックアップの光検出器１０の受光部分割線１４
の方向は、補正プリズム７による偏向方向とほぼ同じ方
向にすることが好ましい。

【００３６】また、図１において、光源１内にある、よ
り短い波長λ₁のレーザチップ１０１をコリメータレン
ズ２の光軸上に配置することにより、短い波長λ₁の光
の光線がコリメータレンズ２の光軸に一致し、対物レン
ズ５に対して短い波長λ₁の光を理想的な状態で入射さ
せることができるから、光ディスク６上に良好な光スポ
ットを形成することができる。すなわち、光ディスク容
量の拡大に適したより短い波長λ₁の光を、コリメータ
レンズ２及び対物レンズ５に理想的な状態で入射させる
ことにより、径が小さく精度の厳しい光スポットを、光
ディスク６上に高精度で得ることができるので、高容量
の光ディスクの機能を十分発揮させることができる。

【００３７】従って、本発明の光ピックアップは、出射
光学系にあるコリメータレンズ２の光軸が、より短い波
長の光線に一致していることが好ましい。

【００３８】

【発明の効果】以上のように、本発明の光ピックアップ
は、波長の異なる２種類の光源を有する光ディスクの装
置において、光ディスクに対応した２種類の波長の反射
光を光検出器上のほぼ同一の場所に集光することができ
る。本発明の光ピックアップは、１種類の光源を有する
光ピックアップの検出光学系に、新たに補正プリズムを
配置すればよく、従って、製造コストを低減することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ピックアップの実施の形態の光学的
構成を示す概略図である。

【図２】その光ピックアップに使用される２チップレー
ザからなる２波長レーザを示す概略図である。

【図３】図１に示す本発明の光ピックアップのＦＥＳ波
形を示すグラフである。

【図４】硝材ＳＦ１１、波長６４５ｎｍ、プリズム角度
２５．０５°の場合のプリズムの偏角の入射角度依存性
を示すグラフである。

【図５】本発明の光ピックアップに使用される１チップ
レーザからなる２波長レーザを示す概略図である。

【図６】（ａ）は本発明の光ピックアップにおける光検
出器の構成を示す概略図、（ｂ）はその光検出器のフォ
ーカス誤差信号を示すグラフである。

【図７】（ａ）は光検出器の構成の他の例を示す概略
図、（ｂ）はその光検出器のフォーカス誤差信号を示す
グラフである。

【図８】従来の光ピックアップの一般的な光学的構成を
示す概略図である。

【図９】従来の他の光ピックアップの光学的構成を示す
概略図である。

【図１０】図９に示す光ピックアップのＦＥＳ波形を示
すグラフである。

【符号の説明】

１ 光源 ２ コリメータレンズ ３ ハーフミラー ４ 立上げミラー ５ 対物レンズ ６ 光ディスク ７ 補正プリズム ８ 集光レンズ ９ シリンドリカルレンズ １０ 光検出器 １０１ レーザチップ １０２ レーザチップ １３ 光スポット移動方向 １４ 受光部分割線、 １５ 受光部 １５ａ 分割領域 １５ｂ 分割領域 １５ｃ 分割領域 １５ｄ 分割領域 １６ 光スポット １７ レーザチップ ２１１ レーザチップ ２１２ レーザチップ ２２１ コリメータレンズ ２２２ コリメータレンズ ２３１ ハーフミラー ２３２ ハーフミラー ２４０ 立上げミラー ２５０ 対物レンズ ２６０ 光ディスク ２８０ 集光レンズ ２９０ シリンドリカルレンズ ３００ 光検出器 ４１０ 光源部 ４１１ レーザチップ ４１２ レーザチップ ４２０ コリメータレンズ ４３０ ハーフミラー ４４０ 立上げミラー ４５０ 対物レンズ ４６０ 光ディスク ４８０ 集光レンズ ４９０ シリンドリカルレンズ ５００ 光検出器

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 波長の異なる２種類の光を出射する光源
   と、この光源から出射されるそれぞれの光を光ディスク
   上に集光する出射光学系と、該光ディスクからの各光の
   反射光を光検出器に集光する検出光学系と、該光ディス
   クからの各光の反射光を該光検出器のほぼ同じ位置に集
   光するように該検出光学系に配置された補正プリズムと
   を具備する光ピックアップ。
2. 【請求項２】 前記補正プリズムは短い波長の光が、長
   い波長の光の方向に屈折するように前記検出光学系に配
   置されている請求項１記載の光ピックアップ。
3. 【請求項３】 前記補正プリズムは、該プリズムによる
   光の偏角がほぼ最小となるように前記検出光学系に配置
   されている請求項１記載の光ピックアップ。
4. 【請求項４】 前記出射光学系にはコリメータレンズが
   設けられており、該コリメータレンズの光軸が前記光源
   から出射される短い波長の光線に一致している請求項１
   記載の光ピックアップ。
5. 【請求項５】 前記補正プリズムによる偏向方向が前記
   光検出器の受光部分割線の方向に沿っている請求項１記
   載の光ピックアップ。
6. 【請求項６】 前記波長の異なる２種類の光が２つのレ
   ーザチップからそれぞれ出射される請求項１〜５のいず
   れかに記載の光ピックアップ。
7. 【請求項７】 前記波長の異なる２種類の光が１つのレ
   ーザチップから出射される請求項１〜５のいずれかに記
   載の光ピックアップ。