JPS59202080A - 論理回路試験装置 - Google Patents
論理回路試験装置Info
- Publication number
- JPS59202080A JPS59202080A JP58076583A JP7658383A JPS59202080A JP S59202080 A JPS59202080 A JP S59202080A JP 58076583 A JP58076583 A JP 58076583A JP 7658383 A JP7658383 A JP 7658383A JP S59202080 A JPS59202080 A JP S59202080A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- turned
- test
- power supply
- bridge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
と（Ｄ 発明は、論理回路のファンクションテストとＤ
Ｃパラメータテストを切り換えて測定する論理回路試験
装置についてのものである。
Ｃパラメータテストを切り換えて測定する論理回路試験
装置についてのものである。
論理回路については、ファンクションテストとともにＤ
Ｃパラメータテストも行なって良否を判定する。
Ｃパラメータテストも行なって良否を判定する。
（ｂ） 従来技術
このような場合に使用している従来装置のＩＭ成図の一
例を第１図に示す。
例を第１図に示す。
第１図の１はテストパターンの電圧源を接続する端子、
２はテストパターンを接続する端子、３はＤＣ電源を接
続する端子、４はＤＣ検出出力を外部に取り出す端子、
５は試験される論理回路を接続する端子、７はアナログ
スイッチ、８〜１０はイＪ：号綻をオフオフするスイッ
チである。
２はテストパターンを接続する端子、３はＤＣ電源を接
続する端子、４はＤＣ検出出力を外部に取り出す端子、
５は試験される論理回路を接続する端子、７はアナログ
スイッチ、８〜１０はイＪ：号綻をオフオフするスイッ
チである。
第１図の従来装置でファンクンヨノテストをするときは
、次のように接続する。
、次のように接続する。
スイッチ８をオ／、スイッチ９とスイッチ１０を詞フに
する。そして、端子２にテスト／（ターンを加え、テス
トパターンによりアナログスイッチ７をオフオフする。
する。そして、端子２にテスト／（ターンを加え、テス
トパターンによりアナログスイッチ７をオフオフする。
なお、第１図では図示を省略しているか、第１図のトラ
イバ６とアナログスイッチ７をもう１組配置し、第１図
のアナログスイッチ７と図示を省略したアナログスイッ
チアとを交互にオンオフする。とれにより、端子５に接
続した論理回路に試験信号か加えられる。
イバ６とアナログスイッチ７をもう１組配置し、第１図
のアナログスイッチ７と図示を省略したアナログスイッ
チアとを交互にオンオフする。とれにより、端子５に接
続した論理回路に試験信号か加えられる。
第１図の従来装置でＤＣパラメータテストをするときは
、次のように接続する。
、次のように接続する。
スイッチ８をオフ、スイッチ９とスイッチ１０をオフに
する。
する。
特ニ、ｌ） Ｃパラメータテストのときは、ファンクシ
ョンテスト用のアナログスイッチ７側からのリーク電流
を少なくする必要かあるので、スイッチ８には完全に回
路か切れるスイッチを使用する。
ョンテスト用のアナログスイッチ７側からのリーク電流
を少なくする必要かあるので、スイッチ８には完全に回
路か切れるスイッチを使用する。
（Ｃ） 従来技術の問題点
第１図のような従来装置では、ファンクションテストと
ＤＣパラメータテストを切り換えるためにスイッチ８〜
１０をオンオフする。この場合、スイッチ８〜１０には
リレーなどを使用しているか、オンオフに１ｍｓ程度の
動作時間かかかる。
ＤＣパラメータテストを切り換えるためにスイッチ８〜
１０をオンオフする。この場合、スイッチ８〜１０には
リレーなどを使用しているか、オンオフに１ｍｓ程度の
動作時間かかかる。
このため、多数の論理回路を高速にテストする場合には
、ｆｆ１ｌ＋定時間かかかるという問題かある。
、ｆｆ１ｌ＋定時間かかかるという問題かある。
また、スイッチ８〜１０の動作は機械的接点を接断する
ので、試験装置の他の部品に比べて寿命か短いという問
題かある。
ので、試験装置の他の部品に比べて寿命か短いという問
題かある。
（ｄ） 発明の目的
この発明は、第１図の試験装置の回１？ｒ （？＆成を
変更し、各スイッチを電子スイッチに変えて高速化を図
るとともに、ＤＣパラメータテストのときのリーク電流
か少なくなるようにしたものである。
変更し、各スイッチを電子スイッチに変えて高速化を図
るとともに、ＤＣパラメータテストのときのリーク電流
か少なくなるようにしたものである。
（ｅ） 発明の実施例
まず、この発明による実施例の構成図を第２図にボす。
第２図の１〜５の各端子は第１図のものと同しである。
第２図の１１と１２はアナログスイッチ、１３と１４は
定電流電源、１６は利得１の増幅器、１７はグイオート
ブリッジ、１５はグイオートブリノン１７の出力と増幅
器１Ｇの入力とをスイッチ１２を介してｖＣ続する信号
線、１８と１９は電源接続端子、２０と２１はアナログ
スイッチである。
定電流電源、１６は利得１の増幅器、１７はグイオート
ブリッジ、１５はグイオートブリノン１７の出力と増幅
器１Ｇの入力とをスイッチ１２を介してｖＣ続する信号
線、１８と１９は電源接続端子、２０と２１はアナログ
スイッチである。
ダイメートブリッジ１７と定電流電源１３および定電流
電源１４の組は第１図のアナログスイッチ７に相当する
。
電源１４の組は第１図のアナログスイッチ７に相当する
。
次に、第２図の動作を説明する。
第２１メｊの実施例装置ぶでファンクン、ノブストをす
るときは、次のように接続する。
るときは、次のように接続する。
スイッチ１１を２、′、スイッチ１２をオフ、スイッチ
２０とスイッチ２１をオフにする。電源ｌｒ＋と電源１
４は同時にオンオフさせる。
２０とスイッチ２１をオフにする。電源ｌｒ＋と電源１
４は同時にオンオフさせる。
なお、第２図ても図示を省略しているが、第２図の増幅
器１Ｇ、ダイオードブリッジ１７、電源１３と電源１４
をもう１組配置し、これらの回路を端子２からの制御信
号で交互にオンオフする。
器１Ｇ、ダイオードブリッジ１７、電源１３と電源１４
をもう１組配置し、これらの回路を端子２からの制御信
号で交互にオンオフする。
これにより、端子５に接続した論理回路に試験信号か加
えられる。
えられる。
第２図の実施例装置でＤＣパラメータテストをするとき
は、次のように接続する。
は、次のように接続する。
スイッチ】１をオフ、スイッチ１２をオフ、スイッチ２
０とスイッチ２１をオフ、電源１３と電源１４をオフに
する。
０とスイッチ２１をオフ、電源１３と電源１４をオフに
する。
このように接続すると、グイオートブリッジ１７の出力
と増幅器１６の入力とは、信号線１５て接続されるので
同電位になる。増幅器１６は利得１なのて、結局ダイオ
ードブリッジ１．７の入出力は同電位になる。電源１３
と電源Ｊ４はオフなので、ダイオードブリッジ１７から
端子５へのリーク電流はほとんどなくなる。
と増幅器１６の入力とは、信号線１５て接続されるので
同電位になる。増幅器１６は利得１なのて、結局ダイオ
ードブリッジ１．７の入出力は同電位になる。電源１３
と電源Ｊ４はオフなので、ダイオードブリッジ１７から
端子５へのリーク電流はほとんどなくなる。
例えば、第１図の従来装置でＤＣパラメータテストをす
るとき、第１図のスイッチ８をオフにずると約２５ｎＡ
のリーク電流か流れる。これに対し、第２図の実施例装
置のリーク電流は約３ｎＡである。
るとき、第１図のスイッチ８をオフにずると約２５ｎＡ
のリーク電流か流れる。これに対し、第２図の実施例装
置のリーク電流は約３ｎＡである。
また、第２は１では切換スイッチにアナログスイッチを
使用しているので、動作時間は約０．１． ｍ ｓ程度
になり、試験装置を高速で動作させることかできる。
使用しているので、動作時間は約０．１． ｍ ｓ程度
になり、試験装置を高速で動作させることかできる。
＜Ｏ発明の効果
との発明によれば、フッ／クンジノテストとＤＣパラメ
ータテストを切り換えて測定する論理回路試験装置で、
機械的スイッチを使わなくてもＤＣパラメータテストの
リーク電流を少なくすることかでき、１雷速に切り換え
られる゛試験装置を提供することかできる。
ータテストを切り換えて測定する論理回路試験装置で、
機械的スイッチを使わなくてもＤＣパラメータテストの
リーク電流を少なくすることかでき、１雷速に切り換え
られる゛試験装置を提供することかできる。
第１図は従来装置の構成図の一例を示す図、第２図はこ
の発明による実施例の構成図。 １〜５・・・・・端子、６ ・トライバ、７ ・アナ
ログスイッチ、８〜１０・・・・スイッチ、１１・・・
・・スイッチ、１２・・・・・スイッチ、１３・・・・
定電流電源、１４・・・ 定電流電源、１５−・・信号
線、１６・・・増幅器、１７・ ・・ダイオードブリッ
ジ、１８・ ・・端子、１９・・・・・端子、２０・・
・スイッチ、２１・・ スイッチ。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司
の発明による実施例の構成図。 １〜５・・・・・端子、６ ・トライバ、７ ・アナ
ログスイッチ、８〜１０・・・・スイッチ、１１・・・
・・スイッチ、１２・・・・・スイッチ、１３・・・・
定電流電源、１４・・・ 定電流電源、１５−・・信号
線、１６・・・増幅器、１７・ ・・ダイオードブリッ
ジ、１８・ ・・端子、１９・・・・・端子、２０・・
・スイッチ、２１・・ スイッチ。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 論理回路のファンクションテストとＤＣパラメータ
テストを切り換えて測定する論理回路試験装置において
、 テストバター／の電圧を選択する第１のスイッチ（１１
）と、 利得１の増幅器Ｏｅと、 グイオートブリッジ０７）と、 グイオートゾリノ７０７ｊに定電流を供給する第１の１
ｈ源０３および第２の電源（＋４１と、ダイオードブリ
ッジａ７の出力と増幅器θＧの入力きを接断する第２の
スイッチ０２１と、Ｉ） Ｃｎｉ源をオンオフする第３
のスイッチＱσ１と、Ｉ） Ｃ４Ｑ出出力をオンオフす
る第４のスイッチ（２１）とを備え、 ファンクンコノテストのときは第１のスイッチ（ＩＩ）
をオン、第２のスイッチｏｂをオフ、第３のスイッチは
と第４のスイッチ（２１）をオフ、第１の電源Ｇ３と第
２の電源（＋４１を同時にオンオフし、ＤＣパラメータ
テストのときは第１のスイッチＯＤをオフ、第２のスイ
ッチ０δをオン、第３のスイッチ＋２（１１と第４のス
イッチ（２１）をオン、第１の電源ＯＪと第２の電源（
１４１をオフにすることを特徴とする論理回路試験装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58076583A JPS59202080A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 論理回路試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58076583A JPS59202080A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 論理回路試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59202080A true JPS59202080A (ja) | 1984-11-15 |
| JPH0461311B2 JPH0461311B2 (ja) | 1992-09-30 |
Family
ID=13609300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58076583A Granted JPS59202080A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 論理回路試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59202080A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11174128A (ja) * | 1997-12-09 | 1999-07-02 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびｉｃテスタ |
-
1983
- 1983-04-30 JP JP58076583A patent/JPS59202080A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11174128A (ja) * | 1997-12-09 | 1999-07-02 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびｉｃテスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0461311B2 (ja) | 1992-09-30 |
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