JPH0426069B2 - - Google Patents

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JPH0426069B2
JPH0426069B2 JP58168726A JP16872683A JPH0426069B2 JP H0426069 B2 JPH0426069 B2 JP H0426069B2 JP 58168726 A JP58168726 A JP 58168726A JP 16872683 A JP16872683 A JP 16872683A JP H0426069 B2 JPH0426069 B2 JP H0426069B2
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JP
Japan
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terminal
mode
circuit
driver circuit
output
Prior art date
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Expired
Application number
JP58168726A
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English (en)
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JPS6060572A (ja
Inventor
Takeshi Ikeda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP58168726A priority Critical patent/JPS6060572A/ja
Publication of JPS6060572A publication Critical patent/JPS6060572A/ja
Publication of JPH0426069B2 publication Critical patent/JPH0426069B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 この発明はICテスタについてのものであり、
さらに詳しくいえばOモードのときでもIモード
のときと同じインピーダンスに保ち、試験される
ICの出力をコンパレータに忠実に転送すること
ができるICテスタに関するものである。
(b) 従来技術 従来回路の一例を第1図に示す。第1図の1は
ドライバ回路、2はコンパレータ、3は試験され
るIC(以下、「DUT」という)、4はゲート回路、
5と6はリレーである。
DUT3の入力ピンに端子7からのパターン信
号を加えるには、リレー5をオンにし、ゲート回
路4、ドライバ回路1およびリレー5を介してパ
ターン信号をDUT3の入力ピンに加える。
また、DUT3の出力ピンからDUT3の出力を
取り出すには、リレー6をオンにし、リレー6と
コンパレータ2を介してDUT3の出力を外部に
取り出す。この場合、ドライバ回路はオフにす
る。
DUT3のピンが双方向性の場合は、リレー5
とリレー6をオンにし、ドライバ回路1とコンパ
レータ2を同時に接続する。このようにDUT3
のピンが双方向性の場合、DUT3が入力モード
のときIモード、出力モードのときOモードとい
う。
次に、第2図と第3図を参照してDUT3が双
方向性の場合を説明する。
第2図は第1図でのIモードとOモードの真理
値表であり、第3図は第1図各部の信号波形の一
例を示す図である。
第1図の端子8にはモード切換信号、端子7に
は試験用のパターン信号を入力する。出力41と
出力42はゲート回路4の出力で、論理値が互い
に反転する。VOUTはドライバ回路1の出力であ
る。
端子8が「H」のとき、ドライバ回路1はIモ
ードになり、端子7が「H」のときVIHをVOUT
出力し、これをDUT3に供給する。端子7が
「L」のときはVILをVOUTに出力し、これをDUT
3に供給する。
端子8が「L」のとき、ドライバ回路1はOモ
ードになり、ドライバ回路1の出力はオフにな
る。したがつて、VOUTはハイインピーダンス状
態になり、DUT3の出力をコンパレータ2へ転
送する。
第3図アは端子8に加えるモード切換信号の波
形、第3図イは端子7のパターン信号の波形、第
3図ウはVOUTの信号波形である。
(c) 従来技術の問題点 第1図のような従来回路では、ドライバ回路1
からDUT3までのラインをドライバ回路1の出
力インピーダンスと同じインピーダンスにし、I
モードの場合に波形の反射が生じないようにイン
ピーダンス整合をとつている。
しかし、Oモードの場合はドライバ回路1とコ
ンパレータ2はハイインピーダンスになるので、
ラインの整合がとれなくなり波形がひずむという
問題がある。
(d) 発明の目的 この発明は、ICテスタをOモードにした場合
でも、Iモードの場合と同じインピーダンスに保
ち、DUT3の出力をコンパレータ2へ忠実に転
送することができるICテスタを提供するもので
ある。
(e) 発明の実施例 まず、この発明による実施例の構成図を第4図
に示す。
第4図は、第1図の従来回路にセレクタ9、オ
ア回路10、端子11および端子12を追加した
ものである。オア回路10の2つの入力には、端
子11からドライバイネーブル「H」信号と、端
子12からドライバイネーブル「L」信号を加え
る。
セレクタ9は3つのスイツチを連動して切換え
るスイツチであり、端子8の信号が「H」でオ
ン、「L」でオフになる。
セレクタ9をオンにするとセレクタ9の接点は
ゲート回路4側に接続され、端子94→端子9
1、端子96→端子92、端子98→端子93を
接続する。セレクタ9をオフにするとセレクタ9
の接点はオア回路10側に接続され、端子95→
端子91、端子97→端子92、端子99→端子
93を接続する。
DUT3が双方向性の場合は、リレー5とリレ
ー6をオンにする。
次に、第5図〜第7図を参照して第4図の動作
を説明する。
第5図は第4図でのIモードとOモードの真理
値表であり、第6図と第7図は第4図各部の信号
波形図の一例である。
セレクタ9がオンで、端子7が「H」のとき
は、端子91=「H」、端子92=「L」となり、
VOUT=VIHをDUT3に供給する。この場合、端子
98には「H」を入力する。
セレクタ9がオンで、端子7が「L」のとき
は、端子91=「L」、端子92=「H」となり、
VOUT=VILをDUT3に供給する。
セレクタ9がオフのときは、端子11と端子1
2の状態で出力の状態が変化する。
端子11=「L」、端子12=「L」のときは、
端子93=「L」となり、VOUTはハイインピーダ
ンスの状態になる。
端子11=「H」、端子12=「L」のときは、
端子91=「H」、端子92=「L」、端子93=
「H」となり、ドライバ回路1はイネーブルにな
る。この状態では、ドライバ出力インピーダンス
を介してDUT3の出力はVIHで終端される。
端子11=「L」、端子12=「H」のときは、
端子91=「L」、端子92=「H」、端子93=
「H」となり、ドライバ回路1はイネーブルにな
る。この状態では、ドライバ出力インピーダンス
を介してDUT3の出力はVILで終端される。
第6図と第7図のアは端子8に加えるモード切
換信号の波形、イは端子7のパターン信号の波
形、ウはVOUTの信号波形である。
(f) 発明の効果 この発明によれば、Iモードと同じようにOモ
ードの場合にもDUT3までのラインをドライバ
回路1のVIHまたはVILで終端し、インピーダンス
整合をとることができるので、DUT3の出力波
形を忠実にコンパレータ2へ転送することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来回路の一例を示す図、第2図は第
1図の真理値表を示す図、第3図は第1図各部の
信号波形の一例を示す図、第4図はこの発明によ
る実施例の構成図、第5図は第4図の真理値表を
示す図、第6図と第7図はそれぞれ第4図各部の
信号波形の一例を示す図。 1……ドライバ回路、2……コンパレータ、3
……DUT(試験されるIC)、4……ゲート回路、
5……リレー、6……リレー、7……端子、8…
…端子、9……セレクタ、10……オア回路、1
1……端子、12……端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ゲート回路・ドライバ回路・第1のリレー・
    第2のリレーおよびコンパレータを備え、モード
    切換信号をドライバ回路に加えることによりドラ
    イバ回路をIモードとOモードにし、Iモードの
    ときはパターン信号をゲート回路・ドライバ回路
    および第1のリレーを通してDUT(被測定IC)に
    加え、Oモードのときはドライバ回路をオフに
    し、DUTの出力を第2のリレーを通してコンパ
    レータに取り出すICテスタにおいて、 ゲート回路とドライバ回路の間にオア回路とセ
    レクタを設け、オア回路にはドライバイネーブル
    「H」および「L」を加え、セレクタにはモード
    切換信号を加えて切換え、Iモードのときはパタ
    ーン信号をゲート回路・ドライバ回路・第1のリ
    レーを通してDUTに加え、Oモードのときはパ
    ターン信号をセレクタで断にするとともにドライ
    バ回路をオンにし、DUTの出力を第2のリレー
    を通してコンパレータに取り出すとともにドライ
    バ回路のVIHまたはVILで終端することを特徴とす
    るICテスタ。
JP58168726A 1983-09-13 1983-09-13 Icテスタ Granted JPS6060572A (ja)

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JP58168726A JPS6060572A (ja) 1983-09-13 1983-09-13 Icテスタ

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JP58168726A JPS6060572A (ja) 1983-09-13 1983-09-13 Icテスタ

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Publication Number Publication Date
JPS6060572A JPS6060572A (ja) 1985-04-08
JPH0426069B2 true JPH0426069B2 (ja) 1992-05-06

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JP58168726A Granted JPS6060572A (ja) 1983-09-13 1983-09-13 Icテスタ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997024622A1 (fr) * 1994-07-15 1997-07-10 Advantest Corporation Circuit electronique a broche d'entree/sortie
US6064242A (en) * 1995-12-28 2000-05-16 Advantest Corp. I/O pin electronics circuit having a pair of drivers

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JPS6060572A (ja) 1985-04-08

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