JPH0329752Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〈考案の技術分野〉 この考案は例えばIC試験装置に用いられるリ
レーマトリツクスの不良個所を見付けることがで
きるリレーマトリツクス試験装置に関し、特に簡
単な構造で安価に作ることができ、然も不良個所
を確実に特定することができるリレーマトリツク
ス試験装置を提供しようとするものである。

〈考案の背景〉 IC試験装置では試験しようとするICの端子に
試験項目が変わる毎に各種の回路を切換えて接続
することが行なわれている。この切換を行なうた
めにリレーマトリツクス回路が用いられている。

リレーマトリツクス回路は複数のＸ線とＹ線を
有し、このＸ線とＹ線の間にリレー接点を接続し
て構成される。リレー接点の数は数10乃至数100
となる。このような多くの数のリレー接点が存在
するためリレー接点が不良になつたとき、つまり
励磁コイルに電流を流し、これを断続しても接点
が応動しない状態になつたとき、そのリレー接点
を特定することが大変な作業となる。

〈従来技術の１〉 第１図及び第２図により従来行なわれているリ
レーマトリツクスの試験方法を説明する。

図中１はリレーマトリツクスを示す。リレーマ
トリツクス１は複数のＸ線X₁，X₂，X₃……と、
複数のＹ線Y₁，Y₂，Y₃……と、これらＸ線とＹ
線に両端を接続したリレー接点K_1-1，K_1-2，
K_1-3，……K_2-1，K_2-2，K_2-3，……及びK_3-1，
K_3-2，K_3-3，……によつて構成される。尚図で
は励磁コイルは省略して示している。

第１図の例ではＸ線X₁，X₂，X₃……にコント
ロールリレーKc₁，Kc₂，Kc₃……を接続し、コ
ントロールリレーKc₁，Kc₂，Kc₃……を通じて
電源２からＸ線X₁，X₂，X₃……に選択的に電圧
Ｅを与えることができるように構成すると共にＹ
線Y₁，Y₂，Y₃……と共通電位点３との間に選択
的に電圧計４を接続する。図の例ではＹ線Y₁と
共通電位３との間に電圧計４を接続した場合を示
す。

コントロールリレーKc₁，Kc₂，Kc₃……の各
常閉接点NCは共通電位点３に接続し、常開接点
NOを電源２に接続する。

このような接続構造により、例えばＹ線Y₁に
一端が接続されたリレー接点R_1-1，R_1-2，R_1-3
を検査する場合、先ずコントロールリレーKc₁を
オンにし線X₁に電源２の電圧Ｅを印加する。リ
レー接点R_1-1，R_1-2，R_1-3が全てオフになつて
いれば電圧計４はゼロを指示している。ここでリ
レー接点K_1-1をオンに制御すれば電圧計４に電
源２の電圧Ｅが指示される。

コントロールリレーKc₁をオフに戻し、コント
ロールリレーKc₂をオンに操作する。これと共に
リレーK_1-2をオンに操作することにより電圧計
４に電源２の電圧Ｅが指示される。

リレー接点K_2-1，K_2-2，K_2-3……を試験する
場合は電圧計４を線Y₂に接続し、コントロール
リレーKc₁，Kc₂，Kc₃とリレー接点K_2-1，K_2-2，
K_2-3……を順次オン、オフ操作して試験を行な
う。

またリレー接点K_3-1，K_3-2，K_3-3……を試験
する場合は電圧計４を線Y₃に接続し、コントロ
ールリレーKc₁，Kc₂，Kc₃……とリレー接点
K_3-1，K_3-2，K_3-3……をオン、オフ操作して試
験を行なう。

〈第１図の欠点〉 第１図の回路構造によるとき次のような不都合
が生じる。つまりリレー接点K_1-1を試験する場
合において、コントロールリレーKc₁をオンにし
たとき、他のリレー接点K_1-2，K_1-3が不良のた
めオンになつていたとすると、リレー接点K_1-1
をオンにしても電圧計４に電源２の電圧Ｅが表示
されない。このためリレー接点K_1-1，K_1-2，
K_1-3……の中のどれかが溶着等によりオンの状
態になつていることが解るが、どのリレー接点が
その不良状態になつているかを特定することはで
きない。不良のリレー接点を特定するには例えば
テスタと目視にたよることとなり、その労力は大
きい。

〈従来技術の２〉 第２図の例ではＸ線X₁，X₂，X₃……にそれぞ
れドライバ５₁，５₂，５₃……から出力を与え、
Ｙ線Y₁，Y₂，Y₃……に電圧比較器６₁，６₂，６₃
……を接続し、例えばリレー接点K_1-1をオンに
しておき、ドライバ５₁からＨ論理を線X₁に与え
る。このとき電圧比較器６₁からＬ論理が出力さ
れるとリレー接点K_1-1は正常で、他のリレー接
点K_1-2，K_1-3……がオフになつていることが解
る。

リレー接点K_1-2を試験するときはドライバ５₂
から線X₂にＨ論理を与え、リレー接点K_1-2をオ
ンに操作する。このときリレー接点K_1-2が正し
くオンになつていれば電圧比較器６₁からＬ論理
が出力される。このように各ドライバ５₁，５₂，
５₃……からＨ論理を出力し、試験すべきリレー
接点をオンにすることにより電圧比較器６₁，６
_２，６₃……からそれぞれの状態においてＬ論理が
出力されることにより各リレー接点が正常である
ことが解る。この第２図の方法によればドライバ
５₁〜５₃に与える論理信号と、電圧比較器６₁，
６₂，６₃から出力される論理信号の関係は予め知
られているから、マイクロコンピユータによつて
論理信号を出力し、読込むことにより高速処理が
可能となる。

〈第２図の欠点〉 第２図の例でも例えばリレー接点K_1-1がオン
のとき他のリレー接点K_1-2，K_1-3の中のどれか
がオンになつていると他のドライバ５₂，５₃……
がＬ論理を出力していることからこれら各ドライ
バ５₁，５₂，５₃……とTTL（トランジスタ・トラ
ンジスタロジツク）を使用しているものとすると
電圧比較器６₁にはＬ論理が入力され、電圧比較
器６₁はＨ論理を出力する。この結果K_1-2，K_1-3
……のどれかがオンの状態になつていることが解
るが、どのリレー接点がオンの状態になつている
かを特定することができない不都合がある。

〈考案の目的〉 この考案は不良となつているリレー接点を特定
することができるリレーマトリツクス試験装置を
提供しようとするものである。

〈考案の概要〉 この考案ではＸ線又はＹ線の何れか一方を選択
的に共通電位に接続すると共にＸ線又はＹ線の他
方に直流電圧を与え、この直流電圧を与えた線を
コンデンサを通じて電圧比較器に接続する構造と
したものである。

この構造においてリレー接点を順次オン、オフ
駆動することにより、リレー接点が正しくオン、
オフ動作するときコンデンサを介して共通電位に
立下るパルス信号を得ることができる。よつてこ
のパルス信号が出力されるか否かによりリレー接
点が正常か否かを判定する。このとき試験中でな
いリレー接点はコンデンサを介して電圧比較器に
接続されるため、他のリレー接点がオンの状態の
ままになつていてもその影響を受けることがな
い。

よつて試験中のリレー接点についてだけ良、否
を判定でき不良のリレー接点を特定することがで
きる。

〈考案の実施例〉 第３図にこの考案の一実施例を示す。第３図に
おいて第１図及び第２図と対応する部分には同一
符号を付して示す。

図中１は検査すべきリレーマトリツクスを示
す。この例ではリレー接点K_1-1，K_1-2……K_1-o，
K_2-1，K_2-2……K_2-o，K_o-1，K_o-2，……K_o-oを
３接点形リレー接点とした場合を示す。また各リ
レー接点を〇印で示す。

Ｘ及びＹ線はそれぞれ三本を一組として取扱う
ものとする。つまり三本のＹ線を共通接続し、そ
の各共通接続したものを１チヤンネル、２チヤン
ネル，……ｎチヤンネルと呼ぶこととする。この
各チヤンネルの接続点を極性反転形のドライバ７
_１，７₂……７_oの各出力端子に接続する。各ドラ
イバ７₁，７₂……７_oにはラツチ回路８から選択
的にＨ論理を与え、何れか一つのチヤンネルを共
通電位に接続する動作を行なう。

三本のＸ線を一組として各組のＸ線を結合回路
９₁，９₂……９_oを通じて共通端子１１ａ，１１
ｂ，１１ｃに接続する。各結合回路９₁，９₂……
９_oは第４図に示すように各Ｘ線と共通端子１１
ａ，１１ｂ，１１ｃの間に接続した三個のコンデ
ンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃと、このコンデンサ
１２ａ，１２ｂ，１２ｃの各両端に直流電圧Ｅを
与える六個のプルアツプ抵抗器１３ａ，１３ｂ，
１３ｃ、及び１４ａ，１４ｂ，１４ｃとによつて
構成することができる。

結合回路９₁〜９_oの各他端側は共通端子１１
ａ，１１ｂ，１１ｃに接続し、各共通端子１１
ａ，１１ｂ，１１ｃは電圧比較器１５ａ，１５
ｂ，１５ｃの入力端子に接続する。電圧比較器１
５ａ，１５ｂ，１５ｃとしては例えばフリツプフ
ロツプを用いるとができる。

電圧比較器１５ａ，１５ｂ，１５ｃの状態はマ
イクロコンピユータ１６に取込まれる。マイクロ
コンピユータ１６は周知のように中央処理装置
（以下CPUと称す）１６ａと、読出専用メモリ
（以下ROMと称す）１６ｂと、読出書込可能な
メモリ（以下RAMと称す）１６ｃとにより構成
され、電圧比較器１５ａ，１５ｂ，１５ｃの状態
を読込むことにより検査中のリレー接点の良、否
を判定する。この判定の結果はマトリツクス形の
表示器１７に表示し、どのリレー接点が不良かを
発光素子群１７ａの発光位置によつて表示するよ
うに構成している。

尚マイクロコンピユータ１６は各リレー接点
K_1-1，K_1-2，……K_1-o，K_2-1，K_2-2，……K_2-o
及びK_o-1，K_o-2，……K_o-oをそれぞれ駆動する
リレーコイルに励磁電流を与える機能を持つが、
ここではその構成を省略して示している。

〈考案の動作〉 第４図を用いてこの考案の動作を説明する。例
えば第４図に示すように１チヤンネルのＹ線を共
通電位点に接続した状態において三個のリレー接
点K_1-1を同時にオン、オフ駆動したとする。

このとき三個のリレー接点K_1-1が正常にオン、
オフ動作したとすれば、各リレー接点がオンにな
つたときコンデンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃの各
一端は共通電位となる。よつてこのときコンデン
サ１２ａ，１２ｂ，１２ｃの全てに充電電流ia，
ib，icが流れるため各共通端子１１ａ，１１ｂ，
１１ｃには図示するように負極性の微分パルス
Pa，Pb，Pcが発生する。リレー接点K_1-1がオフ
に戻るときは正極性の微分パルスが発生する。電
圧比較器１５ａ，１５ｂ，１５ｃとして負論理の
パルスを検知してその状態を反転するフリツプフ
ロツプを用いたとするとリレー接点K_1-1がオン
になり、負論理の微分パルスPa，Pb，Pcが発生
した時点で全てセツト状態に反転し、その状態を
維持する。

従つて三個のリレー接点K_1-1が全てオンにな
れば電圧比較器１５ａ，１５ｂ，１５ｃはセツト
状態に反転する。マイクロコンピユータ１６は電
圧比較器１５ａ，１５ｂ，１５ｃがＨ論理を出力
していることを読込むとリレー接点K_1-1は正常
と判定する。

一方三個のリレー接点K_1-1の中でリレーコイ
ル（特に図示していない）に励磁電流を与えてい
るにもかかわらずオンにならないか、又はオンに
なつたままの接点が存在した場合にはその不良と
なつているリレー接点が接続されているコンデン
サ１２ａ又は１２ｂ，１２ｃはリレー接点が断続
しないため充放電電流が流れることがない。よつ
てその状態のとき共通端子１１ａ又は１１ｂ又は
１１ｃは直流電圧Ｅに保持され、電圧比較器１５
ａ又は１５ｂ，１５ｃは反転動作しない。

従つて三つのリレー接点K_1-1を同時にオン、
オフ駆動したとしてもその中のどれかが不良とな
つていればその不良を電圧比較器１５ａ，１５
ｂ，１５ｃの状態が反転したか否かにより検出す
ることができる。

更にこの考案ではリレー接点K_1-1を検査して
いる状態において例えば１チヤンネルのＸ線に接
続した他のリレー接点K_1-2の中でオンの状態で
不良になつているリレー接点が存在したとしても
その不良のリレー接点は結合回路９₂を介して共
通端子１１ａ，１１ｂ，１１ｃに接続されている
ため不良の影響がリレー接点K_1-2の検査に表わ
れない。つまりコンデンサ１２ａ，１２ｂ，１２
ｃを介して各共通端子１１ａ，１１ｂ，１１ｃに
接続されるため検査中でない他のリレー接点がオ
ンになつていてもその影響が他のリレー接点の検
査結果に表われることはない。よつて結果は各リ
レー接点K_1-1だけについて得られるものであり、
この検査をリレー接点K_1-2，……K_1-o，K_2-1，
K_2-2，……K_2-o及びK_o-1，K_o-2，……_o-oについ
て行なえば不良のリレー接点を特定することがで
きる。

特に表示器１７に不良となつているリレー接点
の位置を表示させることによりどのリレー接点が
不良であるかを表示することができ便利である。

尚第５図にマイクロコンピユータ１６の動作順
序を説明するためのフローチヤートを示す。

〈考案の他の実施例〉 上述では三接点が同時にオン、オフ動作する場
合について説明したが、各一個のリレー接点を各
別にオン、オフ動作させることができる構造のリ
レーマトリツクスの場合には第６図に示すように
一個の電圧比較器１５によつて複数のリレー接点
を検査することができる。

つまり結合回路９₁，９₂，……によつて複数の
リレー接点K_1-1，K_1-2，K_1-3を共通接続したと
しても、これら複数のリレー接点K_1-1，K_1-2，
K_1-3を各別に時間をずらしてオン、オフ動作さ
せることにより一個の電圧比較器１５で複数のリ
レー接点K_1-1，K_1-2，K_1-3を各別に検査するこ
とができる。

〈考案の効果〉 以上説明したようにこの考案によればコンデン
サ結合により各Ｘ線を電圧比較器に接続する構造
としたことにより不良のリレー接点の影響を受け
ることなく検査中のリレー接点の状態を正確に検
査することができる。よつて各リレー接点を正確
に検査することができるから全てのリレー接点に
ついて良、不良を判定することができる。従つて
不良のリレー接点を特定することができ便利であ
る。またこの不良個所をマイクロコンピユータ１
６によつて読込むと共に表示器１７に表示するこ
とができるから更に一層便利である。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は従来のリレーマトリツクス
の検査方法を説明するための接続図、第３図はこ
の考案によるリレーマトリツクス試験装置の一実
施例を示す接続図、第４図はこの考案の要部を説
明するための接続図、第５図はこの考案の動作を
説明するためのフローチヤート、第６図はこの考
案の他の実施例を示す接続図である。 １：リレーマトリツクス、K_1-1，K_1-2，…
…：リレー接点、７₁，７₂，……７_o：Ｙ線を共
通電位に接続する手段、１２ａ，１２ｂ，１２
ｃ：コンデンサ、１４ａ，１４ｂ，１４ｃ：Ｘ線
に直流電圧を与える手段。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 両端がＸ・Ｙ線に接続された複数のリレー接
   点と、 Ｂ Ｘ・Ｙ線の何れか一方に共通電位を与える手
   段と、 Ｃ Ｘ・Ｙ線の他方に直流電圧を与える手段と、 Ｄ 直流電圧が与えられたＸ又はＹ線を電圧比較
   器に接続するコンデンサと、 Ｅ 上記リレー接点をオン、オフ駆動する駆動手
   段と、 から成るリレーマトリツクス試験装置。