JPH0255894B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0255894B2 JPH0255894B2 JP58204472A JP20447283A JPH0255894B2 JP H0255894 B2 JPH0255894 B2 JP H0255894B2 JP 58204472 A JP58204472 A JP 58204472A JP 20447283 A JP20447283 A JP 20447283A JP H0255894 B2 JPH0255894 B2 JP H0255894B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relay
- circuit
- relays
- diagnostic
- matrix
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 19
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 14
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000009474 immediate action Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
- H01H47/002—Monitoring or fail-safe circuits
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する分野］
本発明は、マトリクス状に配列されたリレーの
故障の有無を自動的に診断する診断装置に関す
る。
故障の有無を自動的に診断する診断装置に関す
る。
［従来技術］
従来より、マトリクスの格子点にON／OFFリ
レ接点を配置してなるマトリクス・リレー回路は
よく知られている。
レ接点を配置してなるマトリクス・リレー回路は
よく知られている。
ところで、このようなマトリクス・リレー回路
に使用されるリレーは機械部品であり、IC等の
電気回路部品に比べて故障の発生する確率が高い
のが普通である。マトリクス・リレー回路のリレ
ーは、しばしば電気回路のキーポイントに使用さ
れ、その場合故障が発生するともはや回路が正常
に動作しなくなる。従来、このような場合におい
て、リレーの故障の有無を自動的に診断するとい
う方法はなく、素早く対処できないという問題が
あつた。
に使用されるリレーは機械部品であり、IC等の
電気回路部品に比べて故障の発生する確率が高い
のが普通である。マトリクス・リレー回路のリレ
ーは、しばしば電気回路のキーポイントに使用さ
れ、その場合故障が発生するともはや回路が正常
に動作しなくなる。従来、このような場合におい
て、リレーの故障の有無を自動的に診断するとい
う方法はなく、素早く対処できないという問題が
あつた。
［発明の目的］
本発明は、この様な点に鑑み、マトリクス・リ
レー回路におけるリレーの故障の有無を簡単に診
断することのできる診断装置を提供することにあ
る。
レー回路におけるリレーの故障の有無を簡単に診
断することのできる診断装置を提供することにあ
る。
［発明の概要］
マトリクス状に配置された多数個の被試験リレ
ーを有するリレー回路と、このリレー回路の各リ
レーそれぞれ付勢することのできるリレードライ
バ回路と、前記リレー回路の隣接する列又は行に
係わる２つのリレーを対象としそのONまたは
OFF状態を検出しその結果を２値信号として得
ることのできる診断回路と、前記リレードライブ
回路を駆動し目的とするリレーをON又はOFFに
するためのコントロール信号と前記診断回路を制
御するためのコントロール信号を発生するととも
に、前記診断回路から得られた結果をもとに故障
リレーの有無及び少なくとも故障リレーを含む一
対のリレーの位置を特定することができる中央処
理装置を具備したことを特徴とする。
ーを有するリレー回路と、このリレー回路の各リ
レーそれぞれ付勢することのできるリレードライ
バ回路と、前記リレー回路の隣接する列又は行に
係わる２つのリレーを対象としそのONまたは
OFF状態を検出しその結果を２値信号として得
ることのできる診断回路と、前記リレードライブ
回路を駆動し目的とするリレーをON又はOFFに
するためのコントロール信号と前記診断回路を制
御するためのコントロール信号を発生するととも
に、前記診断回路から得られた結果をもとに故障
リレーの有無及び少なくとも故障リレーを含む一
対のリレーの位置を特定することができる中央処
理装置を具備したことを特徴とする。
［実施例］
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第
１図は本発明に係るリレーの動作診断装置の一実
施例を示す概略的構成図である。同図において、
１０はマトリクス・リレー回路で、ここでは４行
（Ｌ０〜Ｌ３）16列（Ｐ０〜Ｐ１５）でなるマト
リクスの格子点（64点）にON／OFF接点のリレ
ーが配置され、行及び列指定で各リレーが駆動さ
れるようになつている。２０はリレードライブ回
路で、中央処理装置（例えばマイクロプロセツサ
で構成される。以下この装置をCPUと略称す
る。）３０の制御によりリレー回路の64個のリレ
ーをそれぞれ個別に駆動することができるように
なつている。４０は診断回路で、その出力は２線
式でリレー回路１０の列Ｐ０とＰ１に接続され、
リレーの異常を検出できるようになつている。
CPU３０は診断回路４０を制御するようになつ
ており、そのコントロール信号としてＣ１〜Ｃ３
があり、次の機能を持つ。
１図は本発明に係るリレーの動作診断装置の一実
施例を示す概略的構成図である。同図において、
１０はマトリクス・リレー回路で、ここでは４行
（Ｌ０〜Ｌ３）16列（Ｐ０〜Ｐ１５）でなるマト
リクスの格子点（64点）にON／OFF接点のリレ
ーが配置され、行及び列指定で各リレーが駆動さ
れるようになつている。２０はリレードライブ回
路で、中央処理装置（例えばマイクロプロセツサ
で構成される。以下この装置をCPUと略称す
る。）３０の制御によりリレー回路の64個のリレ
ーをそれぞれ個別に駆動することができるように
なつている。４０は診断回路で、その出力は２線
式でリレー回路１０の列Ｐ０とＰ１に接続され、
リレーの異常を検出できるようになつている。
CPU３０は診断回路４０を制御するようになつ
ており、そのコントロール信号としてＣ１〜Ｃ３
があり、次の機能を持つ。
Ｃ１：診断回路４０の出力をＰ０とＰ１に接続す
る。
る。
Ｃ２：診断回路４０での電流供給の制御。
Ｃ３：診断回路４０のフリツプフロツプ（詳細は
後述する）をクリヤする。
後述する）をクリヤする。
また、CPUは診断回路の出力（リレー動作の
試験結果である２値信号）を読みとることができ
るようになつている。
試験結果である２値信号）を読みとることができ
るようになつている。
第２図は診断回路の詳細を示す構成図である。
図において、X1，X2はリレー回路のリレー接点
である。４１１，４１２はそれぞれＤタイプのフ
リツプ・フロツプ（以下Ｄ−FFという）、４２１
はトランジスタ、４２２はバツフア・アンプ、４
２５はリレー接点４２３，４２４を駆動するドラ
イブ回路である。このドライブ回路には信号C1
が加えられる。４３０は比較回路で、４３１，４
３２はコンパレータ、４３３〜４３６はそれぞれ
抵抗素子である。コントロール信号Ｃ２はバツフ
ア・アンプ４２２を介してトランジスタ４２１に
加えられる。トランジスタ４２１のエミツタ電極
は抵抗素子４３３〜４３５よりなる分圧回路を介
して基準電位点COMに接続されると共に、抵抗
素子４３６とリレー接点４２３の直列回路を介し
て被試験リレー接点の一端に接続され、また被試
験リレー接点の他端はリレー接点４２４を介して
基準の電位点COMに接続されている。抵抗素子
４３と４３４の分圧点Ｂはコンパレータ４３１の
−入力端子に接続され、抵抗素子４３４と４３５
の分圧点Ｃはコンパレータ４３２＋入力端子に接
続されている。抵抗素子４３６とリレー接点４２
３の接続点Ｅは、コンパレータ４３１，４３２の
＋、−入力端子にそれぞれ接続されている。Ｄ−
FF４１１，４１２におけるプリセツト端子PRは
コンパレータ４３１，４３２の出力端子に、Ｄ端
子は基準電位点COMに、またクリア端子CLRは
＋5Vの電源端子にそれぞれ接続されている。ク
ロツク端子CKにはクロツク信号としてコントロ
ール信号Ｃ３が加えられる。
図において、X1，X2はリレー回路のリレー接点
である。４１１，４１２はそれぞれＤタイプのフ
リツプ・フロツプ（以下Ｄ−FFという）、４２１
はトランジスタ、４２２はバツフア・アンプ、４
２５はリレー接点４２３，４２４を駆動するドラ
イブ回路である。このドライブ回路には信号C1
が加えられる。４３０は比較回路で、４３１，４
３２はコンパレータ、４３３〜４３６はそれぞれ
抵抗素子である。コントロール信号Ｃ２はバツフ
ア・アンプ４２２を介してトランジスタ４２１に
加えられる。トランジスタ４２１のエミツタ電極
は抵抗素子４３３〜４３５よりなる分圧回路を介
して基準電位点COMに接続されると共に、抵抗
素子４３６とリレー接点４２３の直列回路を介し
て被試験リレー接点の一端に接続され、また被試
験リレー接点の他端はリレー接点４２４を介して
基準の電位点COMに接続されている。抵抗素子
４３と４３４の分圧点Ｂはコンパレータ４３１の
−入力端子に接続され、抵抗素子４３４と４３５
の分圧点Ｃはコンパレータ４３２＋入力端子に接
続されている。抵抗素子４３６とリレー接点４２
３の接続点Ｅは、コンパレータ４３１，４３２の
＋、−入力端子にそれぞれ接続されている。Ｄ−
FF４１１，４１２におけるプリセツト端子PRは
コンパレータ４３１，４３２の出力端子に、Ｄ端
子は基準電位点COMに、またクリア端子CLRは
＋5Vの電源端子にそれぞれ接続されている。ク
ロツク端子CKにはクロツク信号としてコントロ
ール信号Ｃ３が加えられる。
この様な構成における動作を次に説明する。診
断項目としては、ON試験とOFF試験がある。
ON試験は、接点が閉じているべき時に確かに
閉じているかどうか、接触抵抗が大きすぎない
か、動作時間が長すぎないかを調べる。
断項目としては、ON試験とOFF試験がある。
ON試験は、接点が閉じているべき時に確かに
閉じているかどうか、接触抵抗が大きすぎない
か、動作時間が長すぎないかを調べる。
一方、OFF試験では、接点が開いているべ
きときに確かに開いているかどうか、接触抵抗
が小さすぎないか、復帰時間が長すぎないかを
検査する。両試験とも、、、が総べて正常
でなければそのリレーを異常と判断する。
きときに確かに開いているかどうか、接触抵抗
が小さすぎないか、復帰時間が長すぎないかを
検査する。両試験とも、、、が総べて正常
でなければそのリレーを異常と判断する。
次に、診断の方式について説明する。第３図に
示すように診断回路４０から見て、直列に２つ並
んでいるリレーX1，X2を交互に診断する。リレ
ー接点を閉じる（ONにする）命令をmake命令、
開く（OFFにする）命令をbreak命令とする。リ
レーX1の試験の場合、リレーX2は常にmakeとし
ておき、リレーX1のみmakeすることによりON
試験を、逆にmakeされているリレーX1をbreak
することによりOFF試験をそれぞれ実施する。
示すように診断回路４０から見て、直列に２つ並
んでいるリレーX1，X2を交互に診断する。リレ
ー接点を閉じる（ONにする）命令をmake命令、
開く（OFFにする）命令をbreak命令とする。リ
レーX1の試験の場合、リレーX2は常にmakeとし
ておき、リレーX1のみmakeすることによりON
試験を、逆にmakeされているリレーX1をbreak
することによりOFF試験をそれぞれ実施する。
リレーX1についても同様である。
この様なON試験、OFF試験とも第４図のよう
な処理フローに従つて行われる。第４図及び第５
図を参照して動作を説明すれば次の通りである。
CPU３０から、リレードライブ回路２０への制
御信号を与え、リレーX1を駆動して第５図のロ
に示すようにmakeにする。続いて、リレーX2に
ついても同様にしてmakeとする（同図ハ）。リ
レーの駆動開始から第５図のイに示す待ち時間ａ
（リレーの動作時間及び復帰時間）を経た後、
CPUからのコントロール信号Ｃ１〜Ｃ３により
診断回路４０が付勢される。すなわち、信号Ｃ１
によりドライズ回路４２５が付勢されリレー４２
３，４２４がともにONとなり、更に信号Ｃ２に
よりトランジスタ４２１がONとなつて分圧回路
４３２に電流が供給され（第５図のニ）、続いて
信号Ｃ３によりＤ−FF４１１，４１２がクリヤ
される（同図のホ）。
な処理フローに従つて行われる。第４図及び第５
図を参照して動作を説明すれば次の通りである。
CPU３０から、リレードライブ回路２０への制
御信号を与え、リレーX1を駆動して第５図のロ
に示すようにmakeにする。続いて、リレーX2に
ついても同様にしてmakeとする（同図ハ）。リ
レーの駆動開始から第５図のイに示す待ち時間ａ
（リレーの動作時間及び復帰時間）を経た後、
CPUからのコントロール信号Ｃ１〜Ｃ３により
診断回路４０が付勢される。すなわち、信号Ｃ１
によりドライズ回路４２５が付勢されリレー４２
３，４２４がともにONとなり、更に信号Ｃ２に
よりトランジスタ４２１がONとなつて分圧回路
４３２に電流が供給され（第５図のニ）、続いて
信号Ｃ３によりＤ−FF４１１，４１２がクリヤ
される（同図のホ）。
これによりリレーX1とX2とのON／OFF状態
の検出が可能となる。今、リレーX1とX2とが共
にONの状態である場合にはコンパレータ４３１
の出力が、“Ｌ”、コンパレータ４３２の出力が
“Ｈ”となり、その各出力はＤ−FF４１１，４１
２のプリセツト端子PRに入力される。Ｄ−FF
は、プリセツト端子に“Ｌ”が与えられると、そ
のＱ出力が“Ｈ”になるようになつているため、
Ｄ−FF４１１は“Ｈ”のＤ１信号を出力し、４
１２は“Ｌ”のＤ２信号を出力する。CPUはこ
のＤ１，Ｄ２信号を読み取り、リレー良否判別
（故障の合つた場合はその一対のリレーの位置も
知ることができる）を行い（同図ホ）、その後診
断回路へのコントロール信号を落す。
の検出が可能となる。今、リレーX1とX2とが共
にONの状態である場合にはコンパレータ４３１
の出力が、“Ｌ”、コンパレータ４３２の出力が
“Ｈ”となり、その各出力はＤ−FF４１１，４１
２のプリセツト端子PRに入力される。Ｄ−FF
は、プリセツト端子に“Ｌ”が与えられると、そ
のＱ出力が“Ｈ”になるようになつているため、
Ｄ−FF４１１は“Ｈ”のＤ１信号を出力し、４
１２は“Ｌ”のＤ２信号を出力する。CPUはこ
のＤ１，Ｄ２信号を読み取り、リレー良否判別
（故障の合つた場合はその一対のリレーの位置も
知ることができる）を行い（同図ホ）、その後診
断回路へのコントロール信号を落す。
この様な処理フローで各リレーの故障診断を行
うが、全リレーを診断する場合の診断順序の一例
を次に述べる。
うが、全リレーを診断する場合の診断順序の一例
を次に述べる。
ステツプ１
第６図に示すように、リレー回路のＰ０列、
Ｐ１列に配置された４対のリレーを順次診断す
る。
Ｐ１列に配置された４対のリレーを順次診断す
る。
ステツプ２
第７図に示すように、Ｐ０例Ｌ０行、Ｐ１列
Ｌ１行の２つのリレーをmakeしておき、Ｌ０
行とＬ１行の14対のリレーを診断する。診断後
は、Ｐ０列Ｌ０行とＰ１列Ｌ１行との２つのリ
レーを共にbreakとしておく。
Ｌ１行の２つのリレーをmakeしておき、Ｌ０
行とＬ１行の14対のリレーを診断する。診断後
は、Ｐ０列Ｌ０行とＰ１列Ｌ１行との２つのリ
レーを共にbreakとしておく。
ステツプ３
第８図に示すように、Ｐ０列Ｌ２行、Ｐ１列
Ｌ３行の２つのリレーをmakeにしておき、Ｌ
２行とＬ３行の14対のリレーを診断する。診断
後は、Ｐ０列Ｌ２行とＰ１列Ｌ３行との２つの
リレーを共にbreakとしておく。
Ｌ３行の２つのリレーをmakeにしておき、Ｌ
２行とＬ３行の14対のリレーを診断する。診断
後は、Ｐ０列Ｌ２行とＰ１列Ｌ３行との２つの
リレーを共にbreakとしておく。
以上の手順により64個のリレーを診断すること
ができる。
ができる。
ただし、ステツプ１で検査するリレーは、ステ
ツプ２、３でのキーポインとなるリレーが含まれ
ているので、ステツプ１で異常が検出された場合
には、ステツプ２、３の検査は中断する。
ツプ２、３でのキーポインとなるリレーが含まれ
ているので、ステツプ１で異常が検出された場合
には、ステツプ２、３の検査は中断する。
OFF試験で動作異常のリレーが検出された場
合は、そのとき検査している２つのリレーの内、
どちらかが異常であると言える。
合は、そのとき検査している２つのリレーの内、
どちらかが異常であると言える。
なお、診断回路のリレー回路に対する接続位置
は実施例に限らず他の列又は行であつてもよい。
また、リレー回路のマトリクスの大きさは２×２
以上任意とすることができる。
は実施例に限らず他の列又は行であつてもよい。
また、リレー回路のマトリクスの大きさは２×２
以上任意とすることができる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、マトリ
クス・リレー回路の各リレーの故障をON／OFF
試験により簡単に検出することができ、しかも故
障リレーの位置もほぼ特定することができる。
クス・リレー回路の各リレーの故障をON／OFF
試験により簡単に検出することができ、しかも故
障リレーの位置もほぼ特定することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す概念的構成
図、第２図は診断回路の一具体例、第３図はリレ
ーのON／OFF試験の様子を説明するための図、
第４図は診断方式を説明するためのフローチヤー
ト、第５図は動作を説明するためのタイムチヤー
ト、第６図ないし第８図は診断の順序と診断リレ
ーを示すための図である。 １０……マトリクス・リレー回路、２０……リ
レードライブ回路、３０……中央処理装置、４０
……診断回路。
図、第２図は診断回路の一具体例、第３図はリレ
ーのON／OFF試験の様子を説明するための図、
第４図は診断方式を説明するためのフローチヤー
ト、第５図は動作を説明するためのタイムチヤー
ト、第６図ないし第８図は診断の順序と診断リレ
ーを示すための図である。 １０……マトリクス・リレー回路、２０……リ
レードライブ回路、３０……中央処理装置、４０
……診断回路。
Claims (1)
- １ マトリクス状に配置された多数個の被試験リ
レーを有するリレー回路と、このリレー回路の各
リレーをそれぞれ付勢することのできるリレード
ライバ回路と、前記リレー回路の隣接する列又は
行に係わる２つのリレーを対象としそのONまた
はOFF状態を検出しその結果を２値信号として
得ることのできる診断回路と、前記リレードライ
ブ回路を駆動し目的とするリレーをON又はOFF
にするためのコントロール信号と前記診断回路を
制御するためのコントロール信号を発生するとと
もに、前記診断回路から得られた結果をもとに故
障リレーの有無及び少なくとも故障リレーを含む
一対のリレーの位置を特定することができる中央
処理装置を具備したことを特徴とするマトリクス
状に配列さたリレーの動作診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58204472A JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58204472A JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097525A JPS6097525A (ja) | 1985-05-31 |
| JPH0255894B2 true JPH0255894B2 (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=16491092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58204472A Granted JPS6097525A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | マトリクス状に配列されたリレ−の動作診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097525A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61292833A (ja) * | 1985-06-19 | 1986-12-23 | 横河電機株式会社 | マトリクスリレ−動作診断装置 |
-
1983
- 1983-10-31 JP JP58204472A patent/JPS6097525A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6097525A (ja) | 1985-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0087212B1 (en) | Method of and apparatus for the automatic diagnosis of the failure of electrical devices connected to common bus nodes and the like | |
| JP3306062B2 (ja) | 負荷が機能するかどうかを監視する装置 | |
| JPS6218062B2 (ja) | ||
| JPS62245161A (ja) | スイッチ動作監視用の自己検査回路及びその自己検査方法 | |
| JP2621481B2 (ja) | 駆動回路の診断方式 | |
| JPH0255894B2 (ja) | ||
| JPS61292833A (ja) | マトリクスリレ−動作診断装置 | |
| JPH0646522A (ja) | 遮断器用操作制御回路の常時監視装置 | |
| JPH0329752Y2 (ja) | ||
| JP2569487B2 (ja) | 電圧マージン試験装置 | |
| JP2022022686A (ja) | 故障診断装置 | |
| JPS5828670A (ja) | 表示装置の試験装置 | |
| SU526834A1 (ru) | Устройство дл поиска неисправностей бесповоротных комбинационных схем | |
| JPH03732B2 (ja) | ||
| JPS6154115A (ja) | スイツチ回路 | |
| JPH0926451A (ja) | リレーコイルの劣化診断装置 | |
| KR0175828B1 (ko) | 부하 자기진단장치 | |
| JPH0338710Y2 (ja) | ||
| JPH06350092A (ja) | Ｍｏｓパワーデバイス用高信頼性集積回路構造 | |
| SU892445A1 (ru) | Устройство дл диагностики логических узлов | |
| JP3197524B2 (ja) | 給湯機器の故障診断装置 | |
| JPH02296167A (ja) | 論理回路の診断方法 | |
| JPS6089208A (ja) | 制御回路試験方法 | |
| JPH11118252A (ja) | 燃焼機器の故障診断装置 | |
| JPS5858685B2 (ja) | 制御用入出力機構の故障診断装置 |