JPS5913941A - ミクロト−ムのナイフ検査装置 - Google Patents

ミクロト−ムのナイフ検査装置

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JPS5913941A
JPS5913941A JP11444683A JP11444683A JPS5913941A JP S5913941 A JPS5913941 A JP S5913941A JP 11444683 A JP11444683 A JP 11444683A JP 11444683 A JP11444683 A JP 11444683A JP S5913941 A JPS5913941 A JP S5913941A
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JP
Japan
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knife
cutting edge
cutting
light source
inspection device
Prior art date
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Pending
Application number
JP11444683A
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English (en)
Inventor
ウオルタ−・ビレク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
C Reichert Optische Werke AG
Original Assignee
C Reichert Optische Werke AG
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Filing date
Publication date
Application filed by C Reichert Optische Werke AG filed Critical C Reichert Optische Werke AG
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Pending legal-status Critical Current

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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
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    • G01N2001/061—Blade details
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    • G—PHYSICS
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    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0058—Kind of property studied
    • G01N2203/0089—Biorheological properties

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の背景 本発明はミクロトーム、特にウルトラミクロトームに関
連する。詳記すれば本発明はミクロトームのナイフの検
査装置に関連する。
ミクロトームで得られる薄い切片の品質は。
主としてナイフの切断縁の品質によって決まる。特に、
ガラスのナイフが通常使用されるウルトラミクロトーム
の場合には、切断操作を行う前にナイフの損傷（例えば
切断縁の刃こぼれ。
又は鋸歯状変形）及び汚染を検査することが重要でおる
。ナイフの検査は通常暗視野照明で行われる。従来のウ
ルトラミクロトームでは、このナイフ検査は、顕微鏡及
び／又は低レベル照明装置を調節式にするか、又はナイ
フを保持器内で大きい傾斜角度に固定して行われた。ウ
ルトラミクロトームでは、切断縁の品質を検査する追加
スポット照明光源を設けることも行われ、この光は上方
から斜めに切断縁を照明する。
切断縁の品質を検査する上記の方法は、最初観察顕微鏡
、及び／又は低レベル光源を、ナイフの切断縁が正確に
観察できる位置に揺動させた後、切断に必要な正常位置
に戻さなければならないから検査は面倒であるか、又は
別の機器を必要とする。
オｊｌ順化１首 本発明の目的は、簡単にナイフの切断縁の品質を検査で
きる装置を提供することにあシ、この装置はコストをあ
まり増大せずに製造できる。
本発明の要約 本発明によれば、試料の薄い切片を切断するナイフ、観
察顕微鏡。及びナイフの切断縁に光を投射する低レベル
横光源を有するミクロ）−ムに設けられるナイフ検査装
置が得られ、この検査装置はナイフ保持器を有し、該ナ
イフ保持器は、ナイフ切断縁に沿う軸線の周りで、試料
を切断する小傾斜試料切断位置と、ナイフ切断縁の、光
の投射を受ける露出面と低レベル光源（３） の光路が少くとも２０°の夾角で交差する大傾斜位置と
の間で軸回転するように配置される。
前記の型式の公知ウルトラミクロトームでは、ナイフ保
持器は軸回転調節が可能であるが。
この回転調節装置はナイフ切断縁のリード角。
即ちナイフの露出面と試料の切断面との間の角度が、対
象試料に最も有利な角度値になるように設定する目的に
のみ使用されるものである。
原則としてこの角度は１０°以上になることはないから
ナイフ保持器の軸回転範囲は、ウルトラミクロトームの
試料アームが揺動できる弧状通路の近くに示されるゼロ
点を基準にして１５°に限定される。
本発明は、製造コストを大幅に高くすることなく、ナイ
フ保持器の傾動範囲を大きく増加することにより、ナイ
フ検査の目的でナイフの切断縁が明瞭に見える位置にナ
イフの算出面を移動し、この位置にナイフを固定するこ
とによって観察顕微鏡及び／又は低レベル光源の追加移
動範囲を設ける必要がないことの発見によって（４） 達成されたものである。所望の結果を得るための上記の
最小角度は２０°で、４５°以下がよい。
好適実施例の説明 本発明の実施例を示す図面について説明すると、第１図
に示されるウルトラミクロトームは、上下に移動でき、
かつ試料又は標本２を固定する試料アーム１を含む。こ
の上下運動間に試料２はナイフ３の刃を通って案内移動
され切片が得られる。観察顕微鏡４は切断過程を観察し
たりナイフを検査するため設けられ、この顕微鏡の光軸
は５で示される０ナイフ／試料区域を照明するためウル
トラミクロトーム内に低レベル光源６が配置され、この
光源の光は偏向鏡７で上向き光路８に偏向される０ 第１図のウルトラミクロトームは公知型式のものである
から構造の詳細に関する説明は省略する。
第２図及び第３図は、ナイフ３に傾動運動を与える装置
の拡大図である。切断縁３１Ｔ方でナイフ３には排出ト
ラフ１１が設けられる。ウル（５） トラミクロトームを操作する際、トラフ１１には液体が
供給され、ナイフの切断縁３１で切断された試料切片を
次々に受取る０ナイフ３を常法通り固定支持するナイフ
保持器１２は、ウルトラミクロトームの支持台上の円柱
形滑り面１４上を滑動する揺動腕即ちロッカ１３で支持
される０滑り面１４上のロッカ１３の運動により。
ナイフ保持器１２とナイフ３はナイフの切断縁３°を軸
線として軸回転する０ 上記の装置によって、試料２の切断面（この面は第２及
び第３図には示されない）に対するナイフ露出面１５０
角度が設定でき、又ナイフの切断縁３”の観察に必要な
角度α（第２図）も設定できる。
上記の角度設定は偏心回転ノブ１６（第２及び第３図に
略示される）で行われ、ノブの偏心ビンはロッカ１３の
端面に接触作用する。偏心ピンの偏心度は、第２図に示
されるナイフ保持器１２の傾斜位置で露出面１５と低レ
ベル光源の光路８が少くとも２０°の角度で交差するよ
う（６） に選択される。
この角度位置でナイフ３の切断縁３１を明瞭に観察でき
、光軸５及び／又は光路８を変更することなく切断縁の
品質を十分に検査できる。
図面には詳細に示されていないが、もちろんナイフ保持
器１２は第２図の大傾斜位置と第３図の小傾斜切断位置
にそれぞれ適当なりランプ装置で固定される。
【図面の簡単な説明】
第１図はウルトラミクロトームの略示断面図；第２図は
ナイフ保持器がナイフの切断縁を検査する傾斜位置にあ
る状態を示し；第３図は切断位置にあるナイフ保持器の
詳細図である。 ２・・・試料、　３・・・ナイフ、３１・・・ナイフ切
断縁、　４・・・観察顕微鏡、　５・・・光軸、　６・
・・低レベル光源、　７・・・偏向鏡、　８・・・光路
、１１・・・排出トラフ、　１２・・・ナイフ保持器、
　１３・・・ロッカ、１４・・・滑り面、１５・・・ナ
イフ露出面、１６・・・偏心回転ノブ（７） ＦｉＣ）、’Ｉ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、　試料の薄い切片を切断するナイフ、観察顕微鏡及
    びナイフの切断縁に光を投射する低レベル光源を有する
    ミクロトームに使用されるナイフ検査装置で、該ナイフ
    検査装置はナイフ保持器を含み、該ナイフ保持器は、ナ
    イフ切断縁に沿う軸線の周りで、試料を切断する小傾斜
    試料切断位置と、ナイフ切断縁の、光の投射を受ける露
    出面と低レベル光源の光路が少くとも２０゜の夾角で交
    差する大傾斜位置との間で軸回転するように配置されて
    いるナイフ検査装置。 ２、上記第１項記載の装置で、ナイフ切断縁の露出面と
    低レベル光源の光路との夾角が４５°以下であるナイフ
    検査装置。 ３、上記第１項記載の装置で、ナイフ保持器が円柱形滑
    り面内に配置され、又小傾斜試料切断位置と大傾斜位置
    との間で上記ナイフ保持器を移動する偏心回転ノブが設
    けられているナイフ検査装置。
JP11444683A 1982-06-30 1983-06-27 ミクロト−ムのナイフ検査装置 Pending JPS5913941A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE32243758 1982-06-30
DE19823224375 DE3224375C2 (de) 1982-06-30 1982-06-30 Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5913941A true JPS5913941A (ja) 1984-01-24

Family

ID=6167205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11444683A Pending JPS5913941A (ja) 1982-06-30 1983-06-27 ミクロト−ムのナイフ検査装置

Country Status (7)

Country Link
JP (1) JPS5913941A (ja)
AT (1) ATA211883A (ja)
CA (1) CA1190446A (ja)
DE (1) DE3224375C2 (ja)
FR (1) FR2529678A1 (ja)
GB (1) GB2129957B (ja)
SE (1) SE8303690L (ja)

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FR2529678A1 (fr) 1984-01-06
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