DE3224375A1 - Vorrichtung zur ueberpruefung der qualitaet des messers an einem mikrotom, insbesondere ultramikrotom - Google Patents

Vorrichtung zur ueberpruefung der qualitaet des messers an einem mikrotom, insbesondere ultramikrotom

Info

Publication number
DE3224375A1
DE3224375A1 DE19823224375 DE3224375A DE3224375A1 DE 3224375 A1 DE3224375 A1 DE 3224375A1 DE 19823224375 DE19823224375 DE 19823224375 DE 3224375 A DE3224375 A DE 3224375A DE 3224375 A1 DE3224375 A1 DE 3224375A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
knife
quality
checking
angle
ultramicrotome
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19823224375
Other languages
English (en)
Other versions
DE3224375C2 (de
Inventor
Walter Wien Bilek
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
C Reichert Optische Werke AG
Original Assignee
C Reichert Optische Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by C Reichert Optische Werke AG filed Critical C Reichert Optische Werke AG
Priority to DE19823224375 priority Critical patent/DE3224375C2/de
Priority to AT211883A priority patent/ATA211883A/de
Priority to GB08316138A priority patent/GB2129957B/en
Priority to JP11444683A priority patent/JPS5913941A/ja
Priority to SE8303690A priority patent/SE8303690L/xx
Priority to FR8310723A priority patent/FR2529678A1/fr
Priority to CA000431654A priority patent/CA1190446A/en
Publication of DE3224375A1 publication Critical patent/DE3224375A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3224375C2 publication Critical patent/DE3224375C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
    • G01N1/06—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting providing a thin slice, e.g. microtome
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
    • G01N1/06—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting providing a thin slice, e.g. microtome
    • G01N2001/061—Blade details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
    • G01N1/06—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting providing a thin slice, e.g. microtome
    • G01N2001/068—Illumination means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0058—Kind of property studied
    • G01N2203/0089—Biorheological properties

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

C. Reichert Optische Werke AG
Hernalser Hauptstr. 219, A - 117o Wien
21 938.'2o/h
Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom, das ein Beobachtungsmikroskop sowie eine ünterflurlichtquelle aufweist, die auf die Messerkante ausgerichtet sind, wobei für das Messer ein Messerhalter vorgesehen ist, der in eine den Freiwinkel des Messers bestimmende Schwenkstellung um eine in der Messerschneide liegende Schwenkachse einstellbar ist.
Die Qualität der mittels eines Mikrotoms erzeugten Dünnschnitte hängt weitgehend von der Qualität der Messerschneide ab. Insbesondere bei ültramikrotomen, bei denen regelmässig ein Glasmesser zur Anwendung kommt, ist es daher wichtig, das Messer vor der Durchführung von Schnitten auf Beschädigungen (Ausbrüche, Sägezähne) und Verschmutzung zu kontrollieren. Die Kontrolle des Messers wird normalerweise bei einer Dunkelfeldbeleuchtung durchgeführt. Um dies zu
3~24375
erreichen, hat man bei bekannten Ultramikrotomen das Mikroskop und/oder die Unterflurbeleuchtung verstellbar gemacht oder das Kesser zur überprüfung schräger in den Kesserhalter eingespannt. Es ist auch bekannt, für die überprüfung der Schneidenqualität eine zusätzliche Punktlichtleuchte am Ultramikrotom anzuordnen, die von schräg oben her für die Beleuchtung der Messerschneide sorgt.
Die geschilderten bekannten Maßnahmen zur überprüfung der Schneidenqualität sind entweder umständlich od^r erfordern einen zurät?.liefen Einrichtungsaufwand. Denn es ist notwendig/ das Beobachtungsmikroskop und/oder die Unterflurlichtquelle wieder in die für das eigentliche Arbeiten notwendige Ausgangslage zu verbringen, nachdem sie zunächst in diejenige Stellunq verschwenkt worden sind, in der die obenaenannt-.e Bedingung zur genauen Erkennbarkeit der Messerschneide erfüllt ist.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Vorrichtung zu schaffen, mit der es auf einfache Weise und ohne ins-Gewicht fallenden zusätzlichen Aufwand möalich ist/ die Schneidenqualität des Messers zu überprüfen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß der Messerhalter in eine Schwenkrteilung einstellbar ist, in der die Freifläche der Messerschneide mit der Strahlenachse der Unterflurlichtquelle einen Winkel von mindestens 2o° einechiießt.
Die bei den bekannten Ultramikrotomen der eingangs geschilderten Art 'rorgesehene Schwenkversteilbarkeit des Messerhalters dient ausschließlich dazu, den Freiwinkel
der Messerschneide, d.h. den Winkel zwischen der Freifläche des Messers und der Schnittfläche am Präparat, auf den bezüglich des Präparats jeweils günstigsten Wert einzustellen. Dieser Winkel liegt in der Regel nicht Über 1o , weshalb die Verschwenkbarkeit des Messerhalters maximal 15 bezogen auf den durch den Schwenkbogen des Objektarmes des ültramikrotomes definierten Nullpunkt beträgt. Die Erfindung geht nun von der Erkenntnis aus, daß es durch eine merkliche Vergrösserung des Schwenkbereiches des Messerhalters möglich ist, ohne wesentlichen zusätzlichen Aufwand die Freifläche des Messers in diejenige Stellung zu verbringen und dort festzustellen, die eine deutliche Erkennbarkeit der Messerschneide zum Zweck von deren überprüfung gewährleistet, so daß eine zusätzliche Verstellbarkeit des Beobachtungsmikroskops und/oderder Unterflurlichtquelle' nicht notwendig ist. Der Winkel,,.um den verstellt werden muß, beträgt mindestens 20°, liegt „jedoch zweckmässigerweise darüber.
Zur Verschwenkung des Messers kann die bereits vorhandene Vorrichtung derart erweitert werden, daß der VerSchwenkwinkel in dem gewünschten Ausmaß vergrössert und der Messerhalter in der zur überprüfung notwendigen Schwenkstellung feststellbar ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der beiliegenden Zeichnungen erläutert. In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 eine rein schematische Schnittdarstellung eines Ultramikrotoms, von der Seite gesehen, und
Pig. 2, 3 schematische Detaildarstellungen des Messerhalters in der die überprüfung der Messerschneide erlaubenden Schwenkstellung bzw. in der Schneidstellung.
Das in Fig. 1 dargestellte Ultramikrotom weist einen auf- und abbewegbaren Objektarm 1 auf, an dem ein Objekt oder Präparat 2 befestigt ist. Bei der Auf- und Abbewegung wird das Präparat 2 an der Schneide eines Messers 3 vorbeigeführt/ so daß hierdurch ein Dünnschnitt erzeugt wird. Zur Beobachtung des Schneidvorganges und zur Überprüfung des Messers ist ein Beobachtungsmikroskop 4 vorgesehen, dessen optische Achse mit 5 bezeichnet ist. Zur Beleuchtung des Bereiches Messer/Objekt ist eine ünterflurlichtquelle 6 in das Ultramikrotom eingebaut, dessen Lichtstrahl von einem Umlenkspiegel 7 umgelenkt wird, so daß ein nach oben gerichteter Strahlengang 8 entsteht.
Das in Fig. 1 dargestellte Ultramikrotom ist von bekanntem Aufbau und braucht daher für die Zwecke der vorliegenden Darstellung nicht weiter erläutert zu werden.
Die Fig. 2 und 3 zeigen in grösserem Maßstab, jedoch ebenfalls schematisch, die Anordnung zur Schwenkverstellung des Messers 3 . Das Messer 3 trägt eine unterhalb der Messerschneide 3' angeordnete Abschwimmwanne 11, die beim Arbeiten mit dem Ultramikrotom eine Flüssigkeit enthält, welche erzeugte Dünnschnitte von der Messerschneide 3l aufnimmt. Ein Messerhalter 12, durch den das Messer 3 in bekannter Weise festgeklemmt ist, weist
eine Wippe 13 auf, die in einer zylindrischen Lagerbahn 14 am Support des Ultramikrotoms gleitend verschiebbar ist. Die Verschiebung der Wippe 13 in der Lagerbahn 14 führt zn einer Verschwenkung des Messerhalters 12 und damit des Essers 3 um die Messerschneide 3'. Damit kann,einerseits der Winkel der Freifläche 15 des Messers 3 su der in den Fig. 2, 3 nicht gezeigten Schnittfläche des Präparats 2 eingestellt werden, andererseits der für die Beobachtung der Messerschneide 31 notwendige Winkele^ (Fig. 2). Die Einstellung erfolgt mittels eines nur schematisch angedeuteten Exzenter-Drehknopfes 16, dessen Exzenterzapfen auf eine Stirnseite der Wippe 13 wirkt. Die Exzentrizität des ExzenterZapfens ist so gewählt/ daß in der in Fig. 2 dargestellten Schwenkstellung des Messerhalters 12 die Freifläche 15 mit der Strahlenachse 8 einen Winkel c< von wenigstens 2o° einschliesst. Diese Winkelstellung ist ausreichend, um ohne Veränderung der optischen Achse 5 bzw. des Strahlenganges 8 die Schneide 31 des Messers 3 deutlich erkennen und ihre Qualität überprüfen zu können.
Ohne daß dies in der Zeichnung näher dargestellt ist, versteht sich, daß der Messerhalter 12 in der in Fig. gezeigten Schwenkstellung wie auch in der in Fig. 3 gezeigten Schneidestellung durch Klemmmittel festgestellt werden kann.

Claims (2)

  1. 3 2 2 /.375
    C. Reichert Optische Werke AG
    Hernal-er Hauptstr. 219, A - 117o Wien
    21 938 2o/h
    Vorrichtung zur überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom
    Ansprüche
    x 1.!Vorrichtung zur überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom/ insbesondere Ultramikrotom, das ein Beobachtungsmikroskop sowie eine Unterflurlichtquelle aufweist, die auf die Messerschneide ausgerichtet sind, mit einem Messerhalter, der in eine den Freiwinkel des Messers bestimmende Schwenkstellung um eine in der Messerschneide liegende Schwenkachse einstellbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Messerhalter (12) in eine Schwenkstellung einstellbar ist, in der die Freifläche (15) der Messerschneide (31) mit der Strahlenachse (8) der Unterflurl4^tquelle (6.) einen Winkel (cO von mindestens 2o° einschließt,
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkel ( v/) höchstens 45° beträgt.
DE19823224375 1982-06-30 1982-06-30 Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom Expired DE3224375C2 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19823224375 DE3224375C2 (de) 1982-06-30 1982-06-30 Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom
AT211883A ATA211883A (de) 1982-06-30 1983-06-09 Vorrichtung zur ueberpruefung der qualitaet des messers an einem mikrotom, insbesondere ultramikrotom
GB08316138A GB2129957B (en) 1982-06-30 1983-06-14 Microtome knife-checking arrangement
JP11444683A JPS5913941A (ja) 1982-06-30 1983-06-27 ミクロト−ムのナイフ検査装置
SE8303690A SE8303690L (sv) 1982-06-30 1983-06-28 Anordning for kontroll av en mikrotomkniv
FR8310723A FR2529678A1 (fr) 1982-06-30 1983-06-29 Microtome comportant des moyens permettant de verifier l'etat du couteau
CA000431654A CA1190446A (en) 1982-06-30 1983-06-30 Microtome knife-checking arrangement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19823224375 DE3224375C2 (de) 1982-06-30 1982-06-30 Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3224375A1 true DE3224375A1 (de) 1984-01-05
DE3224375C2 DE3224375C2 (de) 1984-09-20

Family

ID=6167205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19823224375 Expired DE3224375C2 (de) 1982-06-30 1982-06-30 Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom

Country Status (7)

Country Link
JP (1) JPS5913941A (de)
AT (1) ATA211883A (de)
CA (1) CA1190446A (de)
DE (1) DE3224375C2 (de)
FR (1) FR2529678A1 (de)
GB (1) GB2129957B (de)
SE (1) SE8303690L (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3327618A1 (de) * 1983-07-30 1985-02-14 Parke, Davis & Co., Morris Plains, N.J. Vorrichtung zum einspannen eines probenkoerpers in einem mikrotom
DE3509395C1 (de) * 1985-03-15 1986-10-02 Parke, Davis & Co., Morris Plains, N.J. Mikrotom mit einer Halteeinrichtung fuer eine optische Beobachtungseinrichtung
DE4412722A1 (de) * 1994-04-13 1994-12-08 Ruediger Prof Dr Ing Haberland Schneidkantenschärfe-Meßgerät

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3413278C2 (de) * 1983-07-30 1992-09-24 Parke, Davis & Co., Morris Plains, N.J. Klemmvorrichtung für das Schneidmesser eines Mikrotomes
EP0164824B1 (de) * 1984-04-07 1992-09-23 Leica Instruments GmbH Klemmvorrichtung für das Messer eines Mikrotomes
US4655274A (en) * 1984-10-26 1987-04-07 Ube Industries, Ltd. Horizontal mold clamping and vertical injection type die cast machine
US5591174A (en) * 1994-02-02 1997-01-07 Chiron Vision Corporation Microkeratome and method and apparatus for calibrating a microkeratome
AU1732095A (en) * 1994-02-02 1995-08-21 Chiron Vision Corporation A microkeratome and method and apparatus for calibrating a microkeratome
DE10228985A1 (de) * 2002-06-28 2004-01-15 Leica Mikrosysteme Gmbh Beleuchtungseinrichtung für Mikrotome bzw. Ultramikrotome
CN100486549C (zh) 2003-04-07 2009-05-13 泰克诺拉斯眼科系统有限公司 微型角膜刀的连杆驱动系统
CN101477241B (zh) * 2009-02-19 2012-10-31 华中科技大学 一种显微光学扫描层析成像装置
CN105021616B (zh) * 2015-07-15 2016-08-17 中国石油大学(华东) 一种高速切削变形场瞬态测量装置及使用方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2615072B2 (de) * 1975-04-10 1977-11-17 Lkb-Produkter Ab, Bromma (Schweden) Verfahren zum justieren eines strahlungsbrechenden und strahlungsdurchlaessigen messers insbesondere aus glas in einem mikrotom und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3103844A (en) * 1958-10-01 1963-09-17 Lkb Produkter Fabrisaktiebolag Microtome with illumination and observation means
AT276800B (de) * 1968-08-30 1969-12-10 Reichert Optische Werke Ag Vorrichtung zum Bearbeiten von Objektblöcken für die Mikrotomie, insbesondere Ultra-mikrotomie

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2615072B2 (de) * 1975-04-10 1977-11-17 Lkb-Produkter Ab, Bromma (Schweden) Verfahren zum justieren eines strahlungsbrechenden und strahlungsdurchlaessigen messers insbesondere aus glas in einem mikrotom und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
L.Reimer:Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden, Springer Verlag Berlin, Heidelberg, New York 1967 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3327618A1 (de) * 1983-07-30 1985-02-14 Parke, Davis & Co., Morris Plains, N.J. Vorrichtung zum einspannen eines probenkoerpers in einem mikrotom
DE3509395C1 (de) * 1985-03-15 1986-10-02 Parke, Davis & Co., Morris Plains, N.J. Mikrotom mit einer Halteeinrichtung fuer eine optische Beobachtungseinrichtung
DE4412722A1 (de) * 1994-04-13 1994-12-08 Ruediger Prof Dr Ing Haberland Schneidkantenschärfe-Meßgerät

Also Published As

Publication number Publication date
DE3224375C2 (de) 1984-09-20
CA1190446A (en) 1985-07-16
GB2129957B (en) 1985-12-11
ATA211883A (de) 1989-08-15
SE8303690D0 (sv) 1983-06-28
FR2529678A1 (fr) 1984-01-06
GB8316138D0 (en) 1983-07-20
JPS5913941A (ja) 1984-01-24
SE8303690L (sv) 1983-12-31
GB2129957A (en) 1984-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3224375C2 (de) Vorrichtung zur Überprüfung der Qualität des Messers an einem Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom
DE3613279A1 (de) Stichsaege
DE2246852A1 (de) Einrichtung zum einstellen der hoehenlage eines praeparates bei mikrotomen, insbesondere ultramikrotomen
CH512974A (de) Vorrichtung an Tafelschere zum Schneiden nach Markierungen, unter ständiger Beobachtung des Schnittes
DE2428426B2 (de) Vorrichtung zum Stirnschleifen von versenkt arbeitenden Schneidwerkzeugen
EP1136206A2 (de) Schwenkfräsmaschine
DE2833420C2 (de) Vorrichtung zum Schleifen der Schneiden von Spiralbohrern
DE1453213B2 (de)
DE2616608A1 (de) Schneidmaschine
DE202006017387U1 (de) Tiefeneinstellung für an einer Längsschneidemaschine angeordnete Messerhalter
DE545308C (de) Gewindeschneidkopf mit verstellbaren Rundstrehlern fuer die Herstellung von Aussen- oder Innengewinde
DE4037614C1 (en) Powered guiding appts. for machining workpieces - has positioning stop pivoted to protractor adjustable along guide rail
DE3044350A1 (de) Vorrichtung zum besaeumen und zusammenschweissen von zwei bandenden
DE2326024C2 (de) Vorrichtung zum Schneiden von Platten, Folien oder dergleichen
EP0820828B1 (de) Sägevorrichtung zum Erzeugen von Teilschnitten in stabförmigen Hohlprofilen
DE3509395C1 (de) Mikrotom mit einer Halteeinrichtung fuer eine optische Beobachtungseinrichtung
DE2756529C2 (de)
EP3536450B1 (de) Vorrichtung zur einstellung und/oder vermessung eines werkzeugs
EP0075227B1 (de) Einstellgerät für Messerköpfe
AT253250B (de) Einstellvorrichtung für Mikrotom-Messer
DE3325877C1 (de) Ausrichthilfe zum Ausrichten von Baumstämmen
DE102022002164A1 (de) Laser-Schweißkopf
DE3929679A1 (de) Verfahren und einrichtung zum messen der konturen eines koerpers
DE202022001374U1 (de) Laser-Schweißkopf
DE843335C (de) Tafelschere

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee