JPH1010042A - 赤外顕微鏡 - Google Patents

赤外顕微鏡

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JPH1010042A
JPH1010042A JP18137696A JP18137696A JPH1010042A JP H1010042 A JPH1010042 A JP H1010042A JP 18137696 A JP18137696 A JP 18137696A JP 18137696 A JP18137696 A JP 18137696A JP H1010042 A JPH1010042 A JP H1010042A
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JP
Japan
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prism
sample
spherical
holder
infrared
Prior art date
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Pending
Application number
JP18137696A
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English (en)
Inventor
Kiyoshi Wada
潔 和田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP18137696A priority Critical patent/JPH1010042A/ja
Publication of JPH1010042A publication Critical patent/JPH1010042A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 プリズムホルダによるATRプリズムの位置
決め精度を損なうことなくATRプリズムを試料に圧着
したり試料から離すことが可能な赤外顕微鏡を提供す
る。 【解決手段】 可視観察時にはプリズム支持体20によ
り球体プリズム26を支持し、昇降体16を上昇させて
球体プリズム26を試料34の表面から離す。赤外測定
時には球体プリズム26をプリズム保持口32に配して
プリズム支持体20で上から押圧し、球体プリズム26
の位置を固定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は赤外顕微鏡に関し、
特に赤外顕微鏡を用いて全反射測定法により試料の表面
を分析する際に使用される対物鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】全反射吸収(Attenuated Total Reflect
ance)を利用した試料の分析法(以下、「ATR法」と
する)の原理について図5を参照しながら説明する。図
5(a)において、試料34よりも高い屈折率を有する
プリズム(ATRプリズム)27に試料34を圧着し、
赤外光を試料34の表面に向けて全反射臨界角以上の入
射角で照射すると、赤外光はATRプリズム27に入射
した後、ATRプリズム27と試料34との境界面35
で全反射される。全反射の際、赤外光は図5(b)に示
したように境界面35を僅かに(測定赤外光の波長の数
分の1)越えて試料34側へ侵入し、試料34の表面部
分により固有の吸収を受ける。このように試料表面で反
射された赤外光の吸収スペクトルを解析することによ
り、試料表面の分析を行なうことができる。
【0003】図6は、従来より用いられている赤外顕微
鏡の対物光学系の構成を示す図である。図の対物光学系
には、カセグレン式の対物鏡14、略半球状のATRプ
リズム(以下、「半球プリズム60」とする)、半球プ
リズム60を保持するためのプリズムホルダ62、試料
34を載置するための試料ステージ36を含む。上記半
球プリズム60の直径は数mm程度である。上記プリズ
ムホルダ62は水平方向にスライドさせることができる
ようになっている。また、上記試料ステージ36の3次
元空間上の位置は所定範囲内で自由に変化させることが
できる。以上の他にも、図示されてはいないが、赤外光
源、可視光源、赤外光を検出するための測定光学系及び
可視光を用いて試料を目視観察するための目視光学系等
が赤外顕微鏡の構成要素として含まれている。
【0004】以上のような構成の赤外顕微鏡を用いてA
TR法による分析を行なう場合、まず図6(a)に示し
たようにプリズムホルダ62をスライドさせて半球プリ
ズム60を試料34の表面から退避させる。この状態で
可視光源からの可視光を試料34に直接照射し、目視光
学系により試料34の像を目視観察しながら試料ステー
ジ36により試料34の位置を調節し、試料34の表面
上の測定点を対物鏡の焦点に位置させる。このように試
料34の位置を決定した後、図6(b)に示したように
プリズムホルダ62を水平方向にスライドさせて半球プ
リズム60が試料34の上方に位置するようにし、更に
試料ステージ36を上昇させて半球プリズム60の底面
に試料34を圧着させる。ここで、半球プリズム60の
底面は完全な平面ではなく、僅かに下方に膨らんだ球面
状となっており、半球プリズム60と試料34とが接触
する領域は直径数十〜数百μm程度の小さな領域とな
る。この小領域を以下ではプリズムと試料との「接点」
と呼ぶことにする。この接点に赤外光源からの赤外光が
照射され、試料34からの反射赤外光が検出光学系によ
り検出される。
【0005】従来より用いられているプリズムホルダ及
びそのスライド機構の一例を図7に示す。対物鏡がその
内部に固定されている対物鏡ホルダ72の底面には一対
のガイド片74、74が平行に固定されており、これら
によりプリズムホルダ70が摺動可能に挟持されてい
る。対物鏡ホルダ72の底面の2つのガイド片74、7
4の間には開口75が設けられている。一方、プリズム
ホルダ70の中央にはプリズム保持口76が設けられて
おり、この内部にATRプリズムが固定されている。ま
た、プリズムホルダ70のプリズム保持口76の両側に
は開口77、77が設けられている。このようなプリズ
ムホルダ70及びそのスライド機構において、赤外測定
時にはガイド片74、74の内側面の凸部78とプリズ
ムホルダ70の側面の凹部79とを嵌合させ、プリズム
保持口76が対物鏡ホルダ72の開口75の直下に位置
するようにする。一方、可視観察時にはプリズムホルダ
70をスライドさせていずれか一方の開口77が対物鏡
ホルダ72の開口75の直下に位置するようにする。
【0006】なお、プリズムホルダを水平方向ではなく
上下方向に移動可能とした対物鏡も従来より知られてい
るが、この場合も可視観察時及び赤外測定時の基本的動
作は上記と同様である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】可視観察により設定さ
れた測定点の正しい測定データを得るには、ATRプリ
ズムと試料との接点を測定点に正確に一致させなければ
ならない。一方、先に述べたようにATRプリズムと試
料との接点は極めて小さいため、プリズムホルダや対物
鏡ホルダの形状や寸法の僅かな誤差によってプリズムの
位置にズレが生じただけでも上記接点と測定点とが正確
に一致しなくなる。従って、プリズムホルダや対物鏡ホ
ルダを作成する際には高い精度が要求される。ところ
が、上記従来の赤外顕微鏡の場合、ATRプリズムを試
料に圧着したり試料から退避させたりするためにプリズ
ムホルダをスライドあるいは昇降させる構成となってい
たため、例えプリズムホルダにATRプリズムを正確に
固定しても、プリズムホルダをスライドあるいは昇降さ
せる機構に関する誤差が存在すれば、ATRプリズムと
試料との接点を測定点に正確に一致させることができな
いという問題があった。
【0008】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、プリズ
ムホルダによるATRプリズムの位置決め精度を損なう
ことなくATRプリズムを試料に圧着したり試料から退
避させることが可能な赤外顕微鏡を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係る赤外顕微鏡は、全反射吸収法に
よる試料の分析を行なうための対物鏡を備える赤外顕微
鏡であって、 a)球状に成形された球体プリズムと、 b)該球体プリズムを保持するためのプリズム保持口を有
し対物鏡に対して固定されたプリズムホルダと、 c)可視観察時には上記球体プリズムを上記プリズム保持
口から除去し、赤外測定時には上記球体プリズムを上記
プリズム保持口に配するプリズム移動機構と、を備える
ことを特徴としている。
【0010】
【発明の実施の形態】可視観察時には、プリズム駆動機
構は球体プリズムをプリズムホルダのプリズム保持口か
ら除去し、可視光源から可視光が直接試料に照射される
ようにする。一方、赤外測定時には、プリズム駆動機構
は球体プリズムをプリズムホルダのプリズム保持口に配
し、球体プリズムに試料を接触させて、赤外光源からの
赤外光が球体プリズムを通して球体プリズムと試料との
接点に照射されるようにする。
【0011】
【発明の効果】本発明に係る赤外顕微鏡では、プリズム
保持口を予め対物鏡に対して正しい位置に固定すること
により、赤外観察時における球体プリズムと試料との接
点の位置は常に正確に維持される。従って、ATRプリ
ズムの位置を決定する複雑な機構を有する従来の赤外顕
微鏡に比べてより高い精度でATRプリズムの位置を決
定することができる。また、製造時における対物鏡の調
整作業をより簡素化することができるため、製造コスト
を低減することもできる。
【0012】また、赤外顕微鏡を用いて試料表面の2次
元領域をATR法で測定する場合、ATRマッピング、
すなわちATR法による測定を試料ステージを微小量ず
つ移動させながら繰り返し行なうことにより対象となる
全領域を測定するという作業を行なうが、本発明に係る
赤外顕微鏡では、プリズムが球体であるため、ATRマ
ッピングを行なう際に球体プリズムを試料に接触させた
状態のまま試料ステージを移動させることができる。こ
のとき、球体プリズムは試料の移動とともに転がるた
め、球体プリズムに摩耗が生じることはない。このよう
に、本発明に係る赤外顕微鏡によれば、ATRマッピン
グのために試料ステージを移動させる度毎に該試料ステ
ージを下降させてプリズムから試料を離すという作業を
行なう必要がないため、測定効率が向上する。
【0013】
【実施例】本発明に係る赤外顕微鏡の実施例を図面を参
照しながら説明する。図1は本実施例の赤外顕微鏡の対
物光学系の一部断面図である。図に示した対物光学系
は、対物鏡ホルダ12、対物鏡14、昇降体16、プリ
ズム押圧体18、プリズム支持体20、昇降調節リング
22、口径調節リング24、及び球体プリズム26から
なる。
【0014】カセグレン式の対物鏡14の上面(光源
側)には光通過口30が、対物鏡ホルダ12の底面(試
料側)にはプリズム保持口32がそれぞれ設けられてい
る。対物鏡14は対物鏡ホルダ12の内部で固定されて
いる。昇降体16は対物鏡ホルダ12の内壁面に沿って
昇降可能となっている。プリズム押圧体18は口径の可
変な開口(「プリズム押圧口19」とする)を中央に有
する板状の部品である。また、プリズム支持体20も口
径の可変な開口(「プリズム支持口21」とする)を中
央に有する板状の部品である。プリズム押圧体18及び
プリズム支持体20はともに対物鏡ホルダ12内で昇降
体16により支持されている。昇降調節リング22及び
口径調節リング24は対物鏡ホルダ12の側面に取り付
けられ、対物鏡ホルダ12の中心軸の回りに正逆両方向
に所定範囲内の角度で回転させることができる。上記昇
降体16の位置は昇降調節リング22により調節され、
上記プリズム押圧口19及びプリズム支持口21の口径
は口径調節リング24により調節される。
【0015】なお、図1では対物鏡ホルダ12の底面に
プリズム保持口32を設けるようにしているが、もちろ
ん、プリズムホルダを対物鏡ホルダとは別に作成し、こ
れに昇降体16、プリズム押圧体18、プリズム支持体
20、昇降調節リング22、口径調節リング24、プリ
ズム保持口32を取り付けるようにしてもよい。
【0016】以上のような構成を有する対物光学系の動
作を図1及び図2を参照しながら説明する。
【0017】図2(a)は可視観察時における対物光学
系の状態を示す図である。可視観察時において、まず口
径調節リング24を適宜方向へ回転させると、プリズム
押圧体18のプリズム押圧口19の口径が増大する一
方、プリズム支持体20のプリズム支持口21の口径は
減少する。この結果、球体プリズム26はプリズム支持
体20により支持されるようになる。次に、昇降調節リ
ング22を適宜方向へ回転させると、昇降体16は上方
へ移動する。この結果、球体プリズム26も上方へ移動
し、試料34の表面には光通過口30から供給される可
視光が直接照射されるようになる。この状態で試料34
の表面上の測定点を設定する。
【0018】図2(b)は赤外測定時における対物光学
系の状態を示す図である。赤外測定時において、まず昇
降調節リング22を可視観察時とは反対の方向へ回転さ
せると、昇降体16は下方へ移動する。プリズム支持体
20が対物鏡ホルダ12の底面に達したら、口径調節リ
ング24を可視観察時とは反対方向へ回転させる。する
と、プリズム支持体20のプリズム支持口21の口径が
増加し、やがて球体プリズム26はプリズム支持体20
による支持を失って対物鏡ホルダ12のプリズム保持口
32により保持されるようになる。一方、プリズム押圧
体18のプリズム押圧口19の口径は口径調節リング2
4の回転とともに減少し、やがてプリズム押圧体18の
先端が球体プリズム26の上部に接して球体プリズム2
6を上から下へ押圧するような力を加えるようになる。
この押圧力により球体プリズム26は対物鏡ホルダ12
のプリズム保持口32に押圧され、所定位置に固定され
る。この状態で、試料ステージ36を上昇させて試料3
4を球体プリズム26の底面に圧着し、光通過口30か
ら赤外光を照射して測定を行なう。
【0019】上記対物光学系においては単一の口径調節
リング24によりプリズム押圧口19の開度調節とプリ
ズム支持口21の開度調節を連動して行なうようにした
が、もちろん、それぞれの開度が独立した手段により別
個に調節されるようにしてもよい。また、プリズム押圧
体18用の昇降体とプリズム支持体20用の昇降体を独
立して設けてもよい。
【0020】プリズム支持体のプリズム支持口の口径を
変化させる機構の例を図3及び図4参照しながら説明す
る。なお、以下の説明はプリズム押圧体18のプリズム
押圧口19の口径を変化させる機構についても基本的に
当てはまるものである。
【0021】図3はプリズム支持口の口径を変化させる
機構の一例を示す図である。図に示した機構は口径調節
リング24及び8枚の略扇形の支持板40から主として
成る。口径調節リング24は中心44の回りに回動可能
となっており、その内周縁にはギヤ41が形成されてい
る。一方、各支持板40の弧状部にはギヤ42が形成さ
れており、ギヤ42は上記口径調節リングのギヤ41と
噛み合っている。口径調節リング24を適宜方向に回転
させると、上記ギヤ41及び42の作用により各支持板
40はそれぞれ回転軸43を中心として口径調節リング
24の回転に応じた方向に回転する。このようにして8
枚の支持板40の先端から成るプリズム支持口21の口
径を変化させるのである。例えば、可視観察時には図3
(a)に示したように支持板40の先端が中心44付近
に集まるようにし、赤外測定時には図3(b)に示した
ように中心44から離れるようにする。
【0022】図3に示した支持板40は、可視光及び赤
外光(特に赤外光)に対して透明な材料によりこれを作
成することが望ましい。また、支持板40に可視光及び
赤外光を通過させるための開口を設けるようにすれば、
可視光及び赤外光が支持板40を透過する際のエネルギ
損失をより低減することができる。
【0023】図4はプリズム支持口の口径を変化させる
機構の別の例を示す図である。図に示した機構は口径調
節リング24及び4枚の略長方形状の支持板50から主
として成る。口径調節リング24上には4本のピン52
が固定されている。一方、各支持板50には上記ピン5
2を挿入するためのピン穴51が形成されている。口径
調節リング24を適宜方向に回転させると、上記ピン5
2及びピン穴51の作用により各支持板50はそれぞれ
回転軸53を中心として口径調節リング24の回転に応
じた方向に回転する。この機構は、可視観察時には図4
(a)のような状態になり、赤外測定時には図4(b)
のような状態になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る赤外顕微鏡の実施例の対物光学
系を示す一部断面図。
【図2】 実施例の対物光学系の(a)可視観察時にお
ける状態を示す図、及び(b)赤外測定時における状態
を示す図。
【図3】 プリズム支持口の口径を変化させる機構の一
例において、(a)可視観察時の状態を示す図、及び
(b)赤外測定時の状態を示す図。
【図4】 プリズム支持口の口径を変化させる機構の別
の例において、(a)可視観察時の状態を示す図、及び
(b)赤外測定時の状態を示す図。
【図5】 ATR法の原理を説明するための図。
【図6】 従来より用いられている赤外顕微鏡の対物光
学系の構成を示す図。
【図7】 従来より用いられているプリズムホルダ及び
そのスライド機構の一例を示す図。
【符号の説明】
12…対物鏡ホルダ 14…対物鏡 16…昇降体 18…プリズム押圧体 20…プリズム支持体 22…昇降調節リング 24…口径調節リング 26…球体プリズム 32…プリズム保持口 34…試料 36…試料ステージ 40、50…支持板 60…半球プリズム 62…プリズムホルダ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 全反射吸収法による試料の分析を行なう
    ための対物鏡を備える赤外顕微鏡であって、 a)球状に成形された球体プリズムと、 b)該球体プリズムを保持するためのプリズム保持口を有
    し対物鏡に対して固定されたプリズムホルダと、 c)可視観察時には上記球体プリズムを上記プリズム保持
    口から除去し、赤外測定時には上記球体プリズムを上記
    プリズム保持口に配するプリズム移動機構と、を備える
    ことを特徴とする赤外顕微鏡。
JP18137696A 1996-06-21 1996-06-21 赤外顕微鏡 Pending JPH1010042A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18137696A JPH1010042A (ja) 1996-06-21 1996-06-21 赤外顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18137696A JPH1010042A (ja) 1996-06-21 1996-06-21 赤外顕微鏡

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Publication Number Publication Date
JPH1010042A true JPH1010042A (ja) 1998-01-16

Family

ID=16099655

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18137696A Pending JPH1010042A (ja) 1996-06-21 1996-06-21 赤外顕微鏡

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JP (1) JPH1010042A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001147379A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Jasco Corp プリズム破損防止機構を備える全反射吸収スペクトル測定装置
JP2009063410A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Jasco Corp 近接場ファイバープローブ、及び近接場光学顕微鏡
JP2017166868A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 株式会社エス・テイ・ジャパン 分析装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001147379A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Jasco Corp プリズム破損防止機構を備える全反射吸収スペクトル測定装置
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