JPS59120842A - 検量線作成装置 - Google Patents
検量線作成装置Info
- Publication number
- JPS59120842A JPS59120842A JP23000682A JP23000682A JPS59120842A JP S59120842 A JPS59120842 A JP S59120842A JP 23000682 A JP23000682 A JP 23000682A JP 23000682 A JP23000682 A JP 23000682A JP S59120842 A JPS59120842 A JP S59120842A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- crt3
- approximation
- displays
- cpu2
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分光分析等における検量線作成装置に関する。
検事：線は分析装置の測定出力から分析目的物質の濃度
等を求めるだめ作成した測定出力と分析［」曲物質の濃
度等との間の関係グラフで、測定出力軸も分析目的物質
の濃度等を表わす縦軸ともリニヤスケールで関係グラフ
も直線と云った単純なものから、縦横軸ともノンリニヤ
スケ−／しく例えば対数１盛等）″′関係１゛５７ ％
ＩＪＩ線“ゝ′″″′１複雑なものまで分析対象によ
って適当する検量線 １の形は色々である。
等を求めるだめ作成した測定出力と分析［」曲物質の濃
度等との間の関係グラフで、測定出力軸も分析目的物質
の濃度等を表わす縦軸ともリニヤスケールで関係グラフ
も直線と云った単純なものから、縦横軸ともノンリニヤ
スケ−／しく例えば対数１盛等）″′関係１゛５７ ％
ＩＪＩ線“ゝ′″″′１複雑なものまで分析対象によ
って適当する検量線 １の形は色々である。
このような検量線は通常、人が標準試別について測定を
行って手書きで作成しでいるが、自動的に検量線を作成
する装置も提案されている。本発明はこのような検量線
作成装置の改良に関するものである。
行って手書きで作成しでいるが、自動的に検量線を作成
する装置も提案されている。本発明はこのような検量線
作成装置の改良に関するものである。
に
分光分析等で自動的に検量線を作成する場合、マイクロ
コンピュータのデータ処理機能を利用して行うのである
が、上述したように検量線には色々な型があり分析対象
によって適当なものを′選ぶべきであるのに、従来装置
は成る一つの型の検量線しか作ることができず、また実
際問題としてどの型の検量線が適当かを判断できるデー
タ表示機能も用意されていなかった。
コンピュータのデータ処理機能を利用して行うのである
が、上述したように検量線には色々な型があり分析対象
によって適当なものを′選ぶべきであるのに、従来装置
は成る一つの型の検量線しか作ることができず、また実
際問題としてどの型の検量線が適当かを判断できるデー
タ表示機能も用意されていなかった。
従って本発明は、どのような型の検量線が適当かを判断
できるようなデータ表示機能と検量線の型を選択して」
１）定できる機能をＩｌ−，１加Ｌ２だ検歇線作成装置
を提供することを目的と１．でなされた。
できるようなデータ表示機能と検量線の型を選択して」
１）定できる機能をＩｌ−，１加Ｌ２だ検歇線作成装置
を提供することを目的と１．でなされた。
不発明検叶線作成装置は表示用のＣＲＴとマイクロコン
ピュータ等のデータ処理、演ｑ、制御機能をイｊする：
ＩｉＵ １Ｉｉ１回路とを有し、縦横の座標軸の種類（
リニヤか対数か等）の選択指定と近似方法（曲線・折Ｊ
ｌ線、−二次曲線等）の選択指定と、指定した濃度等に
おいて測定出力を上記選択し、だ縦横座標ＩＱＩ＋によ
ってｃ ＲＴ上に表示する機能と、指定した近似方法に
よる直線或は曲線をＣＲＴ上にグラフ表示する機能とを
上記制御回路に付与したことを特徴とするものである。
ピュータ等のデータ処理、演ｑ、制御機能をイｊする：
ＩｉＵ １Ｉｉ１回路とを有し、縦横の座標軸の種類（
リニヤか対数か等）の選択指定と近似方法（曲線・折Ｊ
ｌ線、−二次曲線等）の選択指定と、指定した濃度等に
おいて測定出力を上記選択し、だ縦横座標ＩＱＩ＋によ
ってｃ ＲＴ上に表示する機能と、指定した近似方法に
よる直線或は曲線をＣＲＴ上にグラフ表示する機能とを
上記制御回路に付与したことを特徴とするものである。
本発明によるときは、濃度既知の標準試ｔ１を測定し２
、Ｈ，横の座標軸指定及び濃度指定を行うと、ＣＲＴ上
に指定された座標軸で指定濃度に対する測定出力が表示
される。この表示を見てオペレータはどのような近似が
この場合適当かを判断（〜てユｔ３、供方法を指定する
占、指定さＪｌだ近似によるグラフがＣＲＴＪ−に表示
され、こＪしによって指定し／、−座標軸及び近似方法
の適、不適を判定することが可能となる。オペレータが
不適と判定しだら再び座標軸の指定変え、近似方法の指
定変えによってより適切な検敏線を得ることができる。
、Ｈ，横の座標軸指定及び濃度指定を行うと、ＣＲＴ上
に指定された座標軸で指定濃度に対する測定出力が表示
される。この表示を見てオペレータはどのような近似が
この場合適当かを判断（〜てユｔ３、供方法を指定する
占、指定さＪｌだ近似によるグラフがＣＲＴＪ−に表示
され、こＪしによって指定し／、−座標軸及び近似方法
の適、不適を判定することが可能となる。オペレータが
不適と判定しだら再び座標軸の指定変え、近似方法の指
定変えによってより適切な検敏線を得ることができる。
以下実施例によって本発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。１ｃ」１分光光度言
１．２はマイクロコンピュータ（Ｃ）Ｕ ） ｆ ３−
１表示用（”ＲＴである。分光光度、ｉｌＬけＣＰＵか
も送られて来るパルスによりスープッピングモータを介
して波長送りされ、ＣＰＵはそのパルスをｄＩ数して波
長値に換算しており、まだ分光九度刷から測定出力を取
込んでメモリに記憶させる機能を有する。４は操作！１
−「−のキーボートである。検Ｍ、線Ｍ成の場合、目的
物質の濃度が既知の数種の標準試料について測定を行い
、測定値と濃度とをメモリに記憶させておく：、検鼠線
作成の動作をスタートさせると、第２図に示す順序で動
作が進行する。
１．２はマイクロコンピュータ（Ｃ）Ｕ ） ｆ ３−
１表示用（”ＲＴである。分光光度、ｉｌＬけＣＰＵか
も送られて来るパルスによりスープッピングモータを介
して波長送りされ、ＣＰＵはそのパルスをｄＩ数して波
長値に換算しており、まだ分光九度刷から測定出力を取
込んでメモリに記憶させる機能を有する。４は操作！１
−「−のキーボートである。検Ｍ、線Ｍ成の場合、目的
物質の濃度が既知の数種の標準試料について測定を行い
、測定値と濃度とをメモリに記憶させておく：、検鼠線
作成の動作をスタートさせると、第２図に示す順序で動
作が進行する。
まずＣＰＵはＣ１″ＸＴ上に縦軸、横軸の種類の組合ぜ
を番号を令１けて表示する口）。図では１番が縦横とも
りニヤスケール、２番が横軸（濃度軸）対数、縦軸（吸
光度）リニヤスケール等となっている。
を番号を令１けて表示する口）。図では１番が縦横とも
りニヤスケール、２番が横軸（濃度軸）対数、縦軸（吸
光度）リニヤスケール等となっている。
オペレータＣ］１、この表示から適当と思う組合せを選
び、そのｉｉｔ号をキーボードによって入力する。そう
するどＣＰ ＩＪはＣＲＴの表示を変えて、上に番りで
指定゛された座標＋ｌ（１＋スケールの組合せによって
メモリに記憶されている標準試料の１］的物質の濃度と
測定出力とをＣＲＴ上に表示する（口）。こ＼でグラフ
表示における点の並び方が曲り過ぎているとか、高濃度
側の点が飛び離れている等の場合、座標ＩＱｔ＋の神偵
の組合せの選択が不適当であったのマ”、・Ａ−−−ボ
ード十、の戻りのキーを押すと、ＣＰＵの動作は（ＡＩ
）の段階に戻り再び座標軸の種類の組合せの選択を行う
と、それに応じて（ロ）の表示がなされる。このような
操作によって適当な座標系が選択できる。（ロ）の段階
でＣＲＴの表示面には近似法の種類が番″Ｔｙを（＝ｔ
して表示されている。図では］１１♀が直線近似、２
番が非直線近似である。こ＼でオペレータがＣＲＴ上の
グラフ表示を見て適当と思゛）近似法の番号をキーボー
ドによって人力する。
び、そのｉｉｔ号をキーボードによって入力する。そう
するどＣＰ ＩＪはＣＲＴの表示を変えて、上に番りで
指定゛された座標＋ｌ（１＋スケールの組合せによって
メモリに記憶されている標準試料の１］的物質の濃度と
測定出力とをＣＲＴ上に表示する（口）。こ＼でグラフ
表示における点の並び方が曲り過ぎているとか、高濃度
側の点が飛び離れている等の場合、座標ＩＱｔ＋の神偵
の組合せの選択が不適当であったのマ”、・Ａ−−−ボ
ード十、の戻りのキーを押すと、ＣＰＵの動作は（ＡＩ
）の段階に戻り再び座標軸の種類の組合せの選択を行う
と、それに応じて（ロ）の表示がなされる。このような
操作によって適当な座標系が選択できる。（ロ）の段階
でＣＲＴの表示面には近似法の種類が番″Ｔｙを（＝ｔ
して表示されている。図では］１１♀が直線近似、２
番が非直線近似である。こ＼でオペレータがＣＲＴ上の
グラフ表示を見て適当と思゛）近似法の番号をキーボー
ドによって人力する。
１９１１えは２１竹のキーを押すと、図では示されてい
ないが、非直線近似の４１Ｆ類がＣＲＴ上に番号をイ」
（−て表示されるので、オペレータは、更に折線近似と
か２次曲線近似等の選択を行う。口の段階でオペレータ
がキーボードで１−のキーを押すか、２のキーを押（７
で再び１，２．・・・笠のキーを押すと、ＣＰＵは次段
の計算処理（ハ）の動作に入り、Ｊ択さ′！１だ近似法
に従い、メモリに記憶されている測定データ及び濃度の
データを用いて近似線即ち検だ線を作り、Ｉ’、 ＲＴ
にグラフ表示する（二）。この場合検敏線の式の形及び
係数の値をも（、ＲＴに表示する。
ないが、非直線近似の４１Ｆ類がＣＲＴ上に番号をイ」
（−て表示されるので、オペレータは、更に折線近似と
か２次曲線近似等の選択を行う。口の段階でオペレータ
がキーボードで１−のキーを押すか、２のキーを押（７
で再び１，２．・・・笠のキーを押すと、ＣＰＵは次段
の計算処理（ハ）の動作に入り、Ｊ択さ′！１だ近似法
に従い、メモリに記憶されている測定データ及び濃度の
データを用いて近似線即ち検だ線を作り、Ｉ’、 ＲＴ
にグラフ表示する（二）。この場合検敏線の式の形及び
係数の値をも（、ＲＴに表示する。
オペレータは表示されだ検昂線と標準試料の測定値との
一致度合を見て満址すべきものわどうか判断し、不満で
あれは戊−ボードで戻りのキーを押すと動作は（ロ）の
段階に戻る。史に戻りのキーを押すと動イ′Ｉ＝ ｔ−
ｊ （イ）の段階まで戻るから、上述し／こ操作を選択
を変えて山鹿行う。
一致度合を見て満址すべきものわどうか判断し、不満で
あれは戊−ボードで戻りのキーを押すと動作は（ロ）の
段階に戻る。史に戻りのキーを押すと動イ′Ｉ＝ ｔ−
ｊ （イ）の段階まで戻るから、上述し／こ操作を選択
を変えて山鹿行う。
本発明検ｆｉ線作成装置は上述したような構成で、オペ
レータはＣＲＴの表示との対話形式で操作を行うことが
でき、検敏線の型の選択と、選択が適切か否かがグラフ
表示によって判断できる所に特徴があり、これによって
最も実際に適した検ｈ１線が簡単に作れる。
レータはＣＲＴの表示との対話形式で操作を行うことが
でき、検敏線の型の選択と、選択が適切か否かがグラフ
表示によって判断できる所に特徴があり、これによって
最も実際に適した検ｈ１線が簡単に作れる。
なお」−の操作の過程でグラフ表示から見て異常値と；
１，３められる測定点（第２図で云えば例えば左から３
番「１の測５ｊ１点）のデータを削除して検袖線を作る
と云う機能、具体的には削除のキーを押し番号数字のキ
ーを押すととでその番号の測定データを削除する機能を
備えておくと、不適当なデータをも含め／こ無岬な近似
よりも良好な近似をなず検）１１．線を得ることができ
る。
１，３められる測定点（第２図で云えば例えば左から３
番「１の測５ｊ１点）のデータを削除して検袖線を作る
と云う機能、具体的には削除のキーを押し番号数字のキ
ーを押すととでその番号の測定データを削除する機能を
備えておくと、不適当なデータをも含め／こ無岬な近似
よりも良好な近似をなず検）１１．線を得ることができ
る。
第１図は本発明の−・実施例装置の構成を示すブロック
図、第２図は装置の動作のフローをＣＲＴの表示を中心
にり、で示しだフローチャー１・である。 １・・・分光庁、度；！−ｌ、”・・・マイクロコンピ
ュータ、３、、、 （： Ｉじ１゛、４−・・・キーボ
ー ド。
図、第２図は装置の動作のフローをＣＲＴの表示を中心
にり、で示しだフローチャー１・である。 １・・・分光庁、度；！−ｌ、”・・・マイクロコンピ
ュータ、３、、、 （： Ｉじ１゛、４−・・・キーボ
ー ド。
Claims (1)
- 操作案内及び検量線のグラフ表示等を行うＣＲＴと、デ
ータ処理、演算、制御機能を有する制御回路とよりなり
、検量線の縦横座標軸の種類の表示及び、その選択指定
入力受入れの動作段階と、定入力を受入れる動作段階と
、選択指定された近似法−によって測定データに対する
検量線を構成するデータを演算する動作段階と、この演
算結果に基き、検量線のグラフ表示を行う動作段階を備
えたことを特徴とする検量線作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23000682A JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23000682A JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120842A true JPS59120842A (ja) | 1984-07-12 |
| JPH0610621B2 JPH0610621B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16901117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23000682A Expired - Lifetime JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0610621B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010002398A (ja) * | 2008-06-23 | 2010-01-07 | Horiba Ltd | 分析装置 |
| JP2013130425A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Ulvac Japan Ltd | 検量線作成装置、検量線作成方法、及びプログラム、並びに濃度定量装置及び濃度定量方法。 |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP23000682A patent/JPH0610621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010002398A (ja) * | 2008-06-23 | 2010-01-07 | Horiba Ltd | 分析装置 |
| JP2013130425A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Ulvac Japan Ltd | 検量線作成装置、検量線作成方法、及びプログラム、並びに濃度定量装置及び濃度定量方法。 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0610621B2 (ja) | 1994-02-09 |
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