JPH0610621B2 - 検量線作成方法 - Google Patents
検量線作成方法Info
- Publication number
- JPH0610621B2 JPH0610621B2 JP23000682A JP23000682A JPH0610621B2 JP H0610621 B2 JPH0610621 B2 JP H0610621B2 JP 23000682 A JP23000682 A JP 23000682A JP 23000682 A JP23000682 A JP 23000682A JP H0610621 B2 JPH0610621 B2 JP H0610621B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- display
- designated
- data
- approximation
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は分光分析等における検量線作成方法に関する。
検量線は分析装置の測定出力から分析目的物質の濃度等
を求めるため作成した測定出力と分析目的物質の濃度等
との間の関係グラフで、測定出力軸も分析目的物質の濃
度等を表わす軸ともリニヤスケールで関係グラフも直線
と云つた単純なものから、縦横軸ともノンリヤスケール
（例えば対数目盛等）で関係グラフも曲線と云つた複雑
なものまで分析対象によつて適当する検量線の形は色々
である。このような検量線は通常、人が標準試料につい
て測定を行つて手書きで作成しているが、自動的に検量
線を作成する装置も提案されている。本発明はこのよう
な検量線作成装置の改良に関するものである。
検量線は分析装置の測定出力から分析目的物質の濃度等
を求めるため作成した測定出力と分析目的物質の濃度等
との間の関係グラフで、測定出力軸も分析目的物質の濃
度等を表わす軸ともリニヤスケールで関係グラフも直線
と云つた単純なものから、縦横軸ともノンリヤスケール
（例えば対数目盛等）で関係グラフも曲線と云つた複雑
なものまで分析対象によつて適当する検量線の形は色々
である。このような検量線は通常、人が標準試料につい
て測定を行つて手書きで作成しているが、自動的に検量
線を作成する装置も提案されている。本発明はこのよう
な検量線作成装置の改良に関するものである。
分光分析等で自動的に検量線を作成する場合、マイクロ
コンピュータのデータ処理機能を利用し行うのである
が、上述したように検量線には色々な型があり分析対象
によつて適当なものを選ぶべきであるのに、従来装置は
或る一つの型の検量線しか作ることができず、また実際
問題としてどの型の検量線が適当かを判断できるデータ
表示機能も用意されていなかつた。
コンピュータのデータ処理機能を利用し行うのである
が、上述したように検量線には色々な型があり分析対象
によつて適当なものを選ぶべきであるのに、従来装置は
或る一つの型の検量線しか作ることができず、また実際
問題としてどの型の検量線が適当かを判断できるデータ
表示機能も用意されていなかつた。
従つて本発明は、どのような型の検量線が適当かを判断
できるようなデータ表示機能と検量線の型を選択して指
定できる機能を付加した検量線作成方法を提供すること
を目的として成された。
できるようなデータ表示機能と検量線の型を選択して指
定できる機能を付加した検量線作成方法を提供すること
を目的として成された。
本発明検量線作成方法は操作案内及び検量線のグラフ表
示等を行うＣＲＴと、データ処理、演算、制御機能を有
する制御回路を用い、この制御回路によって検量線の縦
横座標軸の種類を表示させ、この選択指定入力操作によ
って選択指定された座標軸によって測定データを表示さ
せ、検量線の近似法の種類を表示させて、その選択指定
入力操作によって選択指定された近似法によって測定デ
ータに対する検量線を構成するデータの演算を行わせ、
この演算結果に基づき、実測値と検量線のグラフとを重
ねて表示せしめる動作段階を径て検量線を作成すること
を特徴とするものである。
示等を行うＣＲＴと、データ処理、演算、制御機能を有
する制御回路を用い、この制御回路によって検量線の縦
横座標軸の種類を表示させ、この選択指定入力操作によ
って選択指定された座標軸によって測定データを表示さ
せ、検量線の近似法の種類を表示させて、その選択指定
入力操作によって選択指定された近似法によって測定デ
ータに対する検量線を構成するデータの演算を行わせ、
この演算結果に基づき、実測値と検量線のグラフとを重
ねて表示せしめる動作段階を径て検量線を作成すること
を特徴とするものである。
本発明によるときは、濃度既知の標準試料を測定し、縦
横の座標軸指定及び濃度指定を行うと、ＣＲＴ上に指定
された座標軸で指定濃度に対する測定出力が表示され
る。この表示を見てオペレータはどのような近似がこの
場合適当かを判断して近似方法を指定すると、指定され
た近似によるグラフがＣＲＴ上に表示され、これによつ
て指定した座標軸及び近似方法の適，不適を判定するこ
とが可能となる。オペレータが不適と判定したら再び座
標軸の指定変え、近似方法の指定変えによつてより適切
な検量線を得ることができる。以下実施例によつて本発
明を説明する。
横の座標軸指定及び濃度指定を行うと、ＣＲＴ上に指定
された座標軸で指定濃度に対する測定出力が表示され
る。この表示を見てオペレータはどのような近似がこの
場合適当かを判断して近似方法を指定すると、指定され
た近似によるグラフがＣＲＴ上に表示され、これによつ
て指定した座標軸及び近似方法の適，不適を判定するこ
とが可能となる。オペレータが不適と判定したら再び座
標軸の指定変え、近似方法の指定変えによつてより適切
な検量線を得ることができる。以下実施例によつて本発
明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。１は分光光度計、２
はマイクロコンピュータ（ＣＰＵ）で３は表示用ＣＲＴ
である。分光光度計２はＣＰＵから送られて来るパルス
によりステッピングモータを介して波長送りされ、ＣＰ
Ｕはそのパルスを計数して波長値に換算しており、また
分光光度計から測定出力を取込んでメモリに記憶させる
機能を有する。４は操作卓のキーボードである。
はマイクロコンピュータ（ＣＰＵ）で３は表示用ＣＲＴ
である。分光光度計２はＣＰＵから送られて来るパルス
によりステッピングモータを介して波長送りされ、ＣＰ
Ｕはそのパルスを計数して波長値に換算しており、また
分光光度計から測定出力を取込んでメモリに記憶させる
機能を有する。４は操作卓のキーボードである。
第２図は分光光度計等を含めたＣＰＵの機能ブロック図
であり、第３図はＣＰＵの手順を表すフローチャートで
ある。この第２図の機能ブロック図と第３図のフローチ
ャートを用いてこの実施例の動作を説明する。
であり、第３図はＣＰＵの手順を表すフローチャートで
ある。この第２図の機能ブロック図と第３図のフローチ
ャートを用いてこの実施例の動作を説明する。
検量線を作成する場合、目的物質の濃度が既知の数種の
標準試料について分光光度計１によって測定を行い、測
定値と濃度とを測定データ記憶手段２２に記憶させる。
次に、ＣＰＵ中の選択制御手段２１が縦軸、横軸の種類
の組合わせに記憶手段２３から縦軸、横軸の種類の組合
わせを読み出し、ＣＲＴ３に供給する（イ）。これによ
り、ＣＲＴ３には第４図に示すように、縦軸、横軸の種
類の組合せが番号を付けて表示される。第４図において
は、１番が縦横ともリニヤスケール、２番が横軸（濃度
軸）対数、縦軸（吸光度）リニアスケール等となってい
る。
標準試料について分光光度計１によって測定を行い、測
定値と濃度とを測定データ記憶手段２２に記憶させる。
次に、ＣＰＵ中の選択制御手段２１が縦軸、横軸の種類
の組合わせに記憶手段２３から縦軸、横軸の種類の組合
わせを読み出し、ＣＲＴ３に供給する（イ）。これによ
り、ＣＲＴ３には第４図に示すように、縦軸、横軸の種
類の組合せが番号を付けて表示される。第４図において
は、１番が縦横ともリニヤスケール、２番が横軸（濃度
軸）対数、縦軸（吸光度）リニアスケール等となってい
る。
オペレータはこの表示から適当と思う組合せを選び、そ
の番号をキーボード４によって入力する。すると、選択
制御手段２１は測定データ記憶手段２２から測定データ
を読み出し、番号で指定された座標軸スケールの組合せ
によって標準試料の目的物質の濃度と測定出力とをＣＲ
Ｔ３に表示する。このとき、近似法記憶手段２４から近
似法の種類が読み出され、データとともに表示される
（ロ）。第５図はこのときの画面表示の一例であり、１
番が直線近似、２番が非直線近似である。
の番号をキーボード４によって入力する。すると、選択
制御手段２１は測定データ記憶手段２２から測定データ
を読み出し、番号で指定された座標軸スケールの組合せ
によって標準試料の目的物質の濃度と測定出力とをＣＲ
Ｔ３に表示する。このとき、近似法記憶手段２４から近
似法の種類が読み出され、データとともに表示される
（ロ）。第５図はこのときの画面表示の一例であり、１
番が直線近似、２番が非直線近似である。
ここで、グラフ表示における点の並び方が曲がり過ぎて
いるとか、高濃度側の点が飛び離れている等の場合、座
標軸の種類の組合せの選択が不適当であったので、オペ
レータがキーボード上の戻りのキーを押すと、ＣＰＵの
動作は（イ）の段階に戻って第４図の表示が行われ、再
び座標軸の種類の組合せの選択を行うと、それに応じて
第５図の表示が行われる。このような操作によって適当
な座標系が選択できる。
いるとか、高濃度側の点が飛び離れている等の場合、座
標軸の種類の組合せの選択が不適当であったので、オペ
レータがキーボード上の戻りのキーを押すと、ＣＰＵの
動作は（イ）の段階に戻って第４図の表示が行われ、再
び座標軸の種類の組合せの選択を行うと、それに応じて
第５図の表示が行われる。このような操作によって適当
な座標系が選択できる。
適当な座標系が選択された場合、オペレータが第５図の
グラフ表示を見て適当と思う近似法の番号をキーボード
４によって入力する。例えば、２番のキーを押すと、非
直線近似の種類がＣＲＴ３上に番号を付して表示される
（図示せず）ので、オペレータは更に折線近似とか２次
曲線近似等の選択を行う。（ロ）の段階でオペレータが
キーボード４で１のキーを押すか、２のキーを押して再
び１、２、…等のキーを押すと、ＣＰＵは次段の計算処
理の動作に入り、測定データ記憶手段２２に記憶されて
いる測定データ及び濃度のデータが演算手段２５に入力
され、選択された近似法に従い近似線即ち検量線が求め
られ、ＣＲＴ３に第６図に示すように表示される。この
場合、検量線の式の形及び係数の値もＣＲＴ３に表示さ
れる。オペレータは表示された検量線と標準試料の測定
値との一致度合を見て満足すべきものかどうか判断し、
不満であればキーボード４で戻りのキーを押すと動作は
（ロ）の段階に戻る。更に戻りのキーを押すと動作は
（イ）の段階まで戻るから、上述した操作を選択を変え
て再度行う。
グラフ表示を見て適当と思う近似法の番号をキーボード
４によって入力する。例えば、２番のキーを押すと、非
直線近似の種類がＣＲＴ３上に番号を付して表示される
（図示せず）ので、オペレータは更に折線近似とか２次
曲線近似等の選択を行う。（ロ）の段階でオペレータが
キーボード４で１のキーを押すか、２のキーを押して再
び１、２、…等のキーを押すと、ＣＰＵは次段の計算処
理の動作に入り、測定データ記憶手段２２に記憶されて
いる測定データ及び濃度のデータが演算手段２５に入力
され、選択された近似法に従い近似線即ち検量線が求め
られ、ＣＲＴ３に第６図に示すように表示される。この
場合、検量線の式の形及び係数の値もＣＲＴ３に表示さ
れる。オペレータは表示された検量線と標準試料の測定
値との一致度合を見て満足すべきものかどうか判断し、
不満であればキーボード４で戻りのキーを押すと動作は
（ロ）の段階に戻る。更に戻りのキーを押すと動作は
（イ）の段階まで戻るから、上述した操作を選択を変え
て再度行う。
本発明検量線作成方法は上述したような構成で、オペレ
ータはＣＲＴの表示との対話形式で操作を行うことがで
き、検量線の型の選択と、選択が適切か否かがグラフ表
示によつて判断できる所に特徴があり、これによつて最
も実際に適した検量線が簡単に作れる。
ータはＣＲＴの表示との対話形式で操作を行うことがで
き、検量線の型の選択と、選択が適切か否かがグラフ表
示によつて判断できる所に特徴があり、これによつて最
も実際に適した検量線が簡単に作れる。
なお上の操作の過程でグラフ表示から見て異常値と認め
られる測定点（第２図で云えば例えば左から３番目の測
定点）のデータを削除して検量線を作ると云う機能、具
体的には削除のキーを押し番号数字のキーを押すことで
その番号の測定データを削除する機能を備えておくと、
不適当なデータをも含めた無理な近似よりも良好な近似
をなす検量線を得ることができる。
られる測定点（第２図で云えば例えば左から３番目の測
定点）のデータを削除して検量線を作ると云う機能、具
体的には削除のキーを押し番号数字のキーを押すことで
その番号の測定データを削除する機能を備えておくと、
不適当なデータをも含めた無理な近似よりも良好な近似
をなす検量線を得ることができる。
第１図は本発明を実施する装置の一例を示すブロック
図、第２図は分光光度計等を含めたＣＰＵの機能ブロッ
ク図、第３図はＣＰＵの手順を表すフローチャート、第
４図は縦軸、横軸の種類の組合わせを表示するＣＲＴ画
面を表す図、第５図は測定データ及び近似法の種類を表
示するＣＲＴ画面を表す図、第６図は検量線及び検量線
の式の形及び係数の値を表示するＣＲＴ画面を表す図で
ある。
図、第２図は分光光度計等を含めたＣＰＵの機能ブロッ
ク図、第３図はＣＰＵの手順を表すフローチャート、第
４図は縦軸、横軸の種類の組合わせを表示するＣＲＴ画
面を表す図、第５図は測定データ及び近似法の種類を表
示するＣＲＴ画面を表す図、第６図は検量線及び検量線
の式の形及び係数の値を表示するＣＲＴ画面を表す図で
ある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福間 俊明 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 特開 昭57−193898（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−72732（ＪＰ，Ａ) 実願 昭56−75720号（実開 昭57− 188151号）の願書に添付した明細書及び図 面の内容を撮影したマイクロフィルム（Ｊ Ｐ，Ｕ) 実願 昭56−55820号（実開 昭57− 170014号）の願書に添付した明細書及び図 面の内容を撮影したマイクロフィルム（Ｊ Ｐ，Ｕ) ＦＵＪＩＴＳＵ Ｖｏｌ．31 Ｎｏ．３ （1980）平井克秀、岡崎弘、上山信夫、島 村充 著「会話形データ解析システム（Ａ ＸＥＬ）」Ｐ．75−85
Claims (1)
- 【請求項１】操作案内及び検量線のグラフ表示等を行う
ＣＲＴと、データ処理，演算，制御機能を有する制御回
路を用い、この制御回路によって検量線の縦横座標軸の
種類を表示させ、この選択指定入力操作によって選択指
定された座標軸によって測定データを表示させ、検量線
の近似法の種類を表示させて、その選択指定入力操作に
よって選択指定された近似法によって測定データに対す
る検量線を構成するデータの演算を行わせ、この演算結
果に基づき、実測値と検量線のグラフとを重ねて表示せ
しめる動作段階を径て検量線を作成することを特徴とす
る検量線作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23000682A JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23000682A JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120842A JPS59120842A (ja) | 1984-07-12 |
| JPH0610621B2 true JPH0610621B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16901117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23000682A Expired - Lifetime JPH0610621B2 (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 検量線作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0610621B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5037439B2 (ja) * | 2008-06-23 | 2012-09-26 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置 |
| JP5882043B2 (ja) * | 2011-12-20 | 2016-03-09 | 株式会社アルバック | 検量線作成装置、検量線作成方法、及びプログラム、並びに濃度定量装置及び濃度定量方法。 |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP23000682A patent/JPH0610621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| ＦＵＪＩＴＳＵＶｏｌ．３１Ｎｏ．３（１９８０）平井克秀、岡崎弘、上山信夫、島村充著「会話形データ解析システム（ＡＸＥＬ）」Ｐ．７５−８５ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59120842A (ja) | 1984-07-12 |
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