JPS5887841A - 半導体素子のボンデイング用Al線 - Google Patents
半導体素子のボンデイング用Al線Info
- Publication number
- JPS5887841A JPS5887841A JP56187332A JP18733281A JPS5887841A JP S5887841 A JPS5887841 A JP S5887841A JP 56187332 A JP56187332 A JP 56187332A JP 18733281 A JP18733281 A JP 18733281A JP S5887841 A JPS5887841 A JP S5887841A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bonding
- wire
- strength
- tensile strength
- improved
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/43—Manufacturing methods
- H01L2224/432—Mechanical processes
- H01L2224/4321—Pulling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01022—Titanium [Ti]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01023—Vanadium [V]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01024—Chromium [Cr]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/0104—Zirconium [Zr]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体素子のチップ電極と外部1ノードを接続
するために使用するワイヤボンディング用kl線に関す
る。
するために使用するワイヤボンディング用kl線に関す
る。
従来、一般的に使用されているAu線はシリコンテップ
電極として蒸着されているktと容易に金属間化合物を
つくり、その結果ボンディング強度を著しく低下させる
ため該Au線の代替としてシリコンチップ電極と同種の
At線が使用されている。
電極として蒸着されているktと容易に金属間化合物を
つくり、その結果ボンディング強度を著しく低下させる
ため該Au線の代替としてシリコンチップ電極と同種の
At線が使用されている。
とのA4線は市純度の場合にあっては軟かすぎて超音波
ボンディング強度が十分に得られないので、その硬さを
増すためと極細線加工をし易すくするために1wt%の
シリコン(Sl)を添加して使用している。
ボンディング強度が十分に得られないので、その硬さを
増すためと極細線加工をし易すくするために1wt%の
シリコン(Sl)を添加して使用している。
しかし、このAt線は化学的に活性金属であることから
酸化し易すく高温下で接合させる熱圧着法には不適であ
って、もっばら超音波接合法により接合作業が行カわれ
ていた。
酸化し易すく高温下で接合させる熱圧着法には不適であ
って、もっばら超音波接合法により接合作業が行カわれ
ていた。
最近、アルゴンカスなど不活性ガス(r囲気を利用する
ことにより、A4線においてもAu線と同様に熱圧着法
の採用が可能となった、。
ことにより、A4線においてもAu線と同様に熱圧着法
の採用が可能となった、。
しかるに従来使用されるAt線は前述のように高純度(
99,9%以上)のA7に1wt%のシリコンを含有さ
せたものであるが、このAt線で熱圧着した場合にはA
7ボールの形状が安定しないばかりでなく、結晶微細化
に劣り接着強度が小さすぎるとともに高速ボンダーを使
用するに十分な機械的強度が得られないなど、ボンディ
ング性能に劣る不具合がみられた。
99,9%以上)のA7に1wt%のシリコンを含有さ
せたものであるが、このAt線で熱圧着した場合にはA
7ボールの形状が安定しないばかりでなく、結晶微細化
に劣り接着強度が小さすぎるとともに高速ボンダーを使
用するに十分な機械的強度が得られないなど、ボンディ
ング性能に劣る不具合がみられた。
本発明は10[る従来At線の不具合を所定の碓加元累
を含有させることによって解消し、熱1:E 着法によ
るボンディング性能を向」二させることを目的とするも
ので、1wt%のシリコンを添加しない高純度のAtに
、0.3−0.7 wtXCr 、 O,(15−02
wt%Ti、 0.1−0.3wt!%Zrおよび00
5〜o1wt%■の群より選択された少くとも1元素を
含有せしめたことを特徴とする。
を含有させることによって解消し、熱1:E 着法によ
るボンディング性能を向」二させることを目的とするも
ので、1wt%のシリコンを添加しない高純度のAtに
、0.3−0.7 wtXCr 、 O,(15−02
wt%Ti、 0.1−0.3wt!%Zrおよび00
5〜o1wt%■の群より選択された少くとも1元素を
含有せしめたことを特徴とする。
面、上記本発明のAt哲は熱圧着法だけではなく、超音
波接合法にあっても十分その使Illに供し7得るもの
である。
波接合法にあっても十分その使Illに供し7得るもの
である。
上記添加元素、Cr、’自、Zr 、 V 11、夫々
Atのボンディング強度を高めるもので、その含有)1
が0、3 wtXCr 、 (1,05wtXTi
’1 o、 I wtXZr10、05 wt%V以
丁ではその実効が少なく、0.7 wtXCr 、
0.2 wtX Ti 、 0. :(wtXZr
、 0.1 wtXVを越えるとA、を中に固溶せず
に折用してボンディング強jりが劣化する弊害を生ずる
1、以下に実施例を示すっ 各試料はkt合金を溶解鋳造し、線引加工により直径3
0μ脳の極線ボンディングA1.勝としたものである。
Atのボンディング強度を高めるもので、その含有)1
が0、3 wtXCr 、 (1,05wtXTi
’1 o、 I wtXZr10、05 wt%V以
丁ではその実効が少なく、0.7 wtXCr 、
0.2 wtX Ti 、 0. :(wtXZr
、 0.1 wtXVを越えるとA、を中に固溶せず
に折用してボンディング強jりが劣化する弊害を生ずる
1、以下に実施例を示すっ 各試料はkt合金を溶解鋳造し、線引加工により直径3
0μ脳の極線ボンディングA1.勝としたものである。
各試料の施加元索及びその含有計は次表(1)に示す通
りであって、その試料1・1α1〜20は本発明の実施
品、14[1,21は1 wt ′:XS i ′(i
−添加せる従来品である。
りであって、その試料1・1α1〜20は本発明の実施
品、14[1,21は1 wt ′:XS i ′(i
−添加せる従来品である。
上記各試料をもって機械的性質、Atボールの形状、而
・1食性を測定した結果を表(2)に示す。
・1食性を測定した結果を表(2)に示す。
尚、表中の初期とは線引加工した直後の引張強さをいう
。
。
5−
表(2)
6−
上記表から知れるように本発明実施品のAt4早は従来
A7線に較べて引張強さが改善されるので線引力1工中
に@線したり、ボンディング・作業中に断線を起したり
することがないとともにAtボールの形状が真球状に安
定することによってボンディング後の引張強さが高く接
着強度が改善される々ど熱圧着法を使用する除のボンデ
ィング性能が向上する。
A7線に較べて引張強さが改善されるので線引力1工中
に@線したり、ボンディング・作業中に断線を起したり
することがないとともにAtボールの形状が真球状に安
定することによってボンディング後の引張強さが高く接
着強度が改善される々ど熱圧着法を使用する除のボンデ
ィング性能が向上する。
又、引張強さが向上するので、従来の超音波接合法を利
用しても1lj1線叫び)不具合がなく有益である。
用しても1lj1線叫び)不具合がなく有益である。
尚、本発明は前述した配合のktHAにさらに他の特性
を増すための元素を1又は複数含有をせることも任意で
あり、例えばA、tの結晶微細化、高温特性を増大させ
るために0.01〜0.05 wt%Caを含有させる
等である。
を増すための元素を1又は複数含有をせることも任意で
あり、例えばA、tの結晶微細化、高温特性を増大させ
るために0.01〜0.05 wt%Caを含有させる
等である。
特許出願人 )日中電子工業株式会社手わ〜:ネ山
i’lE?キ畳 昭11μ57<1−11 II t’7 日特浩庁長
官 若 杉 相 人 IQ昭和 556
狂 特 Yl 願 第 IE)73:32 月2
、発明の名称 半1(ホ索rのボンデインク用At線 3、補正をする右 事件どの関係 特 Yl 出 願 人氏名(名称
) 田中電了f染株式会と14、代理人 イ。■ 所 東卓都文京ト白11151目14吊7I
35、補if−命令のElにt (自発補正)昭和
(f 月 [1
i’lE?キ畳 昭11μ57<1−11 II t’7 日特浩庁長
官 若 杉 相 人 IQ昭和 556
狂 特 Yl 願 第 IE)73:32 月2
、発明の名称 半1(ホ索rのボンデインク用At線 3、補正をする右 事件どの関係 特 Yl 出 願 人氏名(名称
) 田中電了f染株式会と14、代理人 イ。■ 所 東卓都文京ト白11151目14吊7I
35、補if−命令のElにt (自発補正)昭和
(f 月 [1
Claims (1)
- 高uiOAAに、0.3−0.7 wt%のクロム(C
r)、0、05−0.2 wt Xのチタン(Ti )
、0.1−0.3 wt%のジルコニウム(Zr)およ
び005〜0.1 wt%のバナジウム(V)の群より
選択された少なくとも1元素を含有せしめた半導体素子
のボンディング用At線
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56187332A JPS5887841A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 半導体素子のボンデイング用Al線 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56187332A JPS5887841A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 半導体素子のボンデイング用Al線 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5887841A true JPS5887841A (ja) | 1983-05-25 |
JPS645460B2 JPS645460B2 (ja) | 1989-01-30 |
Family
ID=16204141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56187332A Granted JPS5887841A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 半導体素子のボンデイング用Al線 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5887841A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59208770A (ja) * | 1983-05-12 | 1984-11-27 | Hitachi Ltd | ボ−ルボンデイング用アルミ合金極細線 |
JPS607164A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ボンデイングワイヤ |
JPS607165A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ボンディングワイヤ |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7144346B2 (ja) * | 2019-03-20 | 2022-09-29 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 遠隔測定システム、および、遠隔測定方法 |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP56187332A patent/JPS5887841A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59208770A (ja) * | 1983-05-12 | 1984-11-27 | Hitachi Ltd | ボ−ルボンデイング用アルミ合金極細線 |
JPH0412620B2 (ja) * | 1983-05-12 | 1992-03-05 | Hitachi Ltd | |
JPS607164A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ボンデイングワイヤ |
JPS607165A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ボンディングワイヤ |
JPH0423826B2 (ja) * | 1983-06-24 | 1992-04-23 | Sumitomo Electric Industries | |
JPH0436462B2 (ja) * | 1983-06-24 | 1992-06-16 | Sumitomo Electric Industries |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS645460B2 (ja) | 1989-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5887841A (ja) | 半導体素子のボンデイング用Al線 | |
JPS62127438A (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPH084100B2 (ja) | ボンディング線 | |
JP3090548B2 (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPS60162741A (ja) | ボンデイングワイヤ− | |
JPH06112251A (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPS60248861A (ja) | ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 | |
JP3090549B2 (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPS6280241A (ja) | 半導体素子のボンデイング用銅線 | |
JPH01162343A (ja) | ボンディングワイヤ | |
JPS62130254A (ja) | ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 | |
JPS645459B2 (ja) | ||
JPS62216238A (ja) | 耐食性に優れた半導体素子用銅ボンデイング線 | |
JPH08236686A (ja) | ベアボンド用銅合金リードフレーム | |
JPH06112253A (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPH06112252A (ja) | 半導体素子用Pt合金極細線 | |
JPH06112259A (ja) | 半導体素子用ボンディング線 | |
JPS60248862A (ja) | ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 | |
JPS6126745A (ja) | ボンデイングワイヤ | |
JPS6296642A (ja) | ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 | |
JP3147601B2 (ja) | 高温強度に優れた半導体装置組立用Pb合金はんだ材 | |
JP3142391B2 (ja) | 自動ワイヤボンダ用放電電極 | |
JPS60100645A (ja) | ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 | |
JPH0454383B2 (ja) | ||
JPH0380344B2 (ja) |