JPS60248861A - ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 - Google Patents

ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金

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JPS60248861A
JPS60248861A JP59104355A JP10435584A JPS60248861A JP S60248861 A JPS60248861 A JP S60248861A JP 59104355 A JP59104355 A JP 59104355A JP 10435584 A JP10435584 A JP 10435584A JP S60248861 A JPS60248861 A JP S60248861A
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JP
Japan
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bonding
ball
strength
wire
aluminum alloy
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Masanori Nishida
西田 雅典
Minoru Yokota
稔 横田
Kazuo Sawada
沢田 和夫
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は半導体素子のチップ電極と外部リードフレーム
を電気的接続するために用いられるボンディングワイヤ
用アルミニウム合金に関するものである。
(背景技術) 従来、半導体素子のチップ電極と外部リードフレームと
の接続にはワイヤボンディングが多く使われている。そ
の接続に使われているのはAu 線とAl 線で多くは
Au 線である。Au 線は酸水素炎や放電などで接続
部にポールを形成させて熱圧着又は超音波熱圧着するポ
ールボンディングにより接続するが、チップ電極のAI
! と金属間化合物を形成し、ボンディング強度の信頼
性に劣る。又Auの価格が不安定である。一方、Al線
は従来1重量%Si 含有のものを使用しているが、接
続部に良好なポール形成が出来難いため、超音波圧接す
るウェッジボンディングによる接続が行われている。し
かし、ポールボンディングに比ベラエツジボンディング
は1回あたりの溶接所要時間が長く作業性に劣る。その
ためポールボンディングにより接続可能なAI! 線が
望まれている。
(発明の開示) 本発明は上述の問題点を解決するために成されたもので
、良好なポールを形成し、ポールボンディングによる接
続を可能にすると共に、ボンディング強度を向上し、コ
ストを低減しうる特許請求の範囲に記載のボンディング
ワイヤ用アルミニウム合金を提供せんとするものである
本発明において合金中のS i 、Mg +Mn は線
材強度を高めるとともにボンディング強度を向上させる
効果を有する。S i 、Mg +Mn量を0.5〜3
重量%と規定したのは、0.5 重量%未満では線材強
度、ボンディング強度の改善に効果がなく、3重量%を
越えると、それ以上の改善の効果がなくなるだけですく
、逆に線材強度、伸線加工性、ボンディング強度が劣化
するためである。又、合金中のZr+Tt+Cr +V
+Cu +Bのおのおのはボール形成部の近傍の著しい
軟化や脆化を防止してボンディング強度を高めるもので
、1種以上の合計含有量が、0.02〜0.5重量%で
ある必要があり、0.02重量%未満ではその効果がな
(,0,5重量%を越えると伸線加工性が悪くなり、製
造が困難となるおそれがある。又、合金中のBe * 
L l+ Bの各々は溶融によるボール形成時にアルミ
ニウムの酸化皮膜形成を抑止して良好なボールを形成し
、ボンディング強度を向上させるもので、1種以上の合
計含有量が0.001〜0.3重量%と規定したのは0
.001重量%未満ではボール形成能に効果がなく、0
.3 重量%を越えるとその効果が飽和し、又高価とな
るためである。
かように構成することにより、本発明のボンディングワ
イヤ用アルミニウム合金は線径30μm前後の極細線と
して優れた伸線加工性、ボールボンディング性、ボンデ
ィング強度を得ることができる。
(実施例) 第1表に示す種々の組成のAl 合金を溶解鋳造し熱間
押出後、皮剥、伸線、中間軟化の工程を径て直径30μ
mのボンディングワイヤにした。!1〜7は本発明例、
f8〜14は比較例、A 15は従来例である。これら
のポンディングワイヤをボール形成能、ボンディング強
度、ループ形成状態、伸線加工性、耐食性について調査
した結果を第2表に示す。ボンディング強度はポンディ
ングワイヤをボールボンダにて半導体素子のチップ電極
と外部リードフレームの間をボンディングして線の中央
において破壊試験をした時の強度を従来のAl−1,0
重量%Si合金の場合を1.0として相対値で表わした
ものであり、ループ形成状態は半導体素子のチップ電極
と外部リードフレームの間に接続された時のポンディン
グワイヤが形成する円弧(ループ)の状態を表わしたも
のである。
第2表より本発明によるA1〜7は比較例、従来例に比
べ、ボール形状又はボンディング強度が非常に優れてい
ることがわかる。
(発明の効果) 上述のように構成させた本発明のポンディングワイヤ用
アルミニウム合金は次のような効果がある。
(イ)A1合金がBe+ r、i、 Bから選ばれる元
素の内1種以上の合計が0.OO’1〜0.3重量%を
含むため、ボール形成時にアルミニウムの酸化皮膜形成
を抑止して良好なボールを形成し、Si+ Mg+ M
n から選ばれる元素の内1種以上の合計が0.5〜3
重量%を含むので線材強度が高められ、さらにZr +
 Ti+Cr lVr Cuから選ばれる元素の内1種
以上の合計が、0.02〜0,5重量%を含むのでボー
ル形成部の近傍の著しい軟化や脆化を防止される等の効
果によりポンディング強度が向上する。
C口)ボールポンディングによる接続が可能であるため
、ポンディング速度が向上し、又Au 線を使用せず、
かつポンディング強度が向上するため信頼性が向上し、
コストを低減する。
【図面の簡単な説明】
第1図は半導体素子のチップ電極と外部リー、ドフレー
ムの開を接続した例を示す断面図である。 図中、1・・・リードフレーム、2・・・ポンディング
ワイヤ、3・・・電極、4・・・半導体素子を示す。 オI図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) S 1 、Mg +Mn から選ばれる元素の
    内1種以上の合計が0.5〜3重量%を含有し、かっZ
    rs Tt+ Cr+V# Cuから選ばれる元素の内
    1種以上の合計が、0.02〜0.5 重量%を含有し
    、さらにBe+ L1# Bから選ばれる元素の内1種
    以上の合計が0.001〜0.3重量%をも含有し、残
    部が本質的にA7 よりなることを特徴とするボンディ
    ングワイヤ用アルミニウム合金。
JP59104355A 1984-05-22 1984-05-22 ボンデイングワイヤ用アルミニウム合金 Pending JPS60248861A (ja)

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