JPS5880647A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS5880647A JPS5880647A JP17918081A JP17918081A JPS5880647A JP S5880647 A JPS5880647 A JP S5880647A JP 17918081 A JP17918081 A JP 17918081A JP 17918081 A JP17918081 A JP 17918081A JP S5880647 A JPS5880647 A JP S5880647A
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/043—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
- G03G5/0436—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure combining organic and inorganic layers
-
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子写真感光体に関する亀のであp。
高耐久性、金色性、環境安定性、高画質Oi!kjL1
れ良電子写真感光体に関するものである。
れ良電子写真感光体に関するものである。
電子写真感光体紘所定の4I性を得るため、あるい紘適
用される電子写真f w−にスの種類に応じて種々の構
成をとるものであ為、そして、電子写真感光体の代表的
なものとして、支持体上に光導電層が形成されて%/h
:b感光体および表i[IK絶縁層臀O表藺被覆層を備
え大感光体があり、広く用いられている。支持体と光導
電層から構成される感光体は、最も一般的な電子写真グ
ロ七スによる、即ち、帯電、lj儂露光および現像、更
に必要に応じて転写による画像形成に用いられる。iた
、絶縁層を備えた感光体について、ζO絶縁層は、光導
電層の保−1感光体の機械的強度の改善、暗減衰特性の
改善、tたは、特定の電子写真シーセスに適用される九
め等Oil的のために設けられるものである。このよう
な絶縁層を有する感光体または、絶縁層を有する感光体
を用いる電子写真fWs−にスの代表的な例は、例えば
、米2*許第2860048号公報、特公昭41−16
429号、公報、特公j@48−3γ13号公報、轡会
!1142−239104IQ報、特公@4B−241
4m号公報、特公昭4m−11747号公報、特公昭$
8−4111号会報、などに記載されている。
用される電子写真f w−にスの種類に応じて種々の構
成をとるものであ為、そして、電子写真感光体の代表的
なものとして、支持体上に光導電層が形成されて%/h
:b感光体および表i[IK絶縁層臀O表藺被覆層を備
え大感光体があり、広く用いられている。支持体と光導
電層から構成される感光体は、最も一般的な電子写真グ
ロ七スによる、即ち、帯電、lj儂露光および現像、更
に必要に応じて転写による画像形成に用いられる。iた
、絶縁層を備えた感光体について、ζO絶縁層は、光導
電層の保−1感光体の機械的強度の改善、暗減衰特性の
改善、tたは、特定の電子写真シーセスに適用される九
め等Oil的のために設けられるものである。このよう
な絶縁層を有する感光体または、絶縁層を有する感光体
を用いる電子写真fWs−にスの代表的な例は、例えば
、米2*許第2860048号公報、特公昭41−16
429号、公報、特公j@48−3γ13号公報、轡会
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4m号公報、特公昭4m−11747号公報、特公昭$
8−4111号会報、などに記載されている。
電子写真シーセス、轟然のことであるが、適用される電
子写真faミセス応じた所定の感度、電気特性、更には
光学411性を備えていることが要求されるが、一般に
、耐久性、耐熱性、耐湿性、耐コロナイオン性等に優れ
え先導電層を備えているととも望まれる。この点で、ア
モルファスシリコン(以下「a−81Jと称する)殊に
1そ0中で水素化アモルファスシリコン(以下1”’a
−81:HJと称す)は、従来汎用されてiる8o、“
S・〒・、O[i。
子写真faミセス応じた所定の感度、電気特性、更には
光学411性を備えていることが要求されるが、一般に
、耐久性、耐熱性、耐湿性、耐コロナイオン性等に優れ
え先導電層を備えているととも望まれる。この点で、ア
モルファスシリコン(以下「a−81Jと称する)殊に
1そ0中で水素化アモルファスシリコン(以下1”’a
−81:HJと称す)は、従来汎用されてiる8o、“
S・〒・、O[i。
zlIoなどの他の光導電材料に較べて゛機械的強度、
耐熱性、耐湿性、耐コロナイオン・性;等に優れ走4の
であり、従来の光導電材料にとって代わる可能性を有す
るものである。
耐熱性、耐湿性、耐コロナイオン・性;等に優れ走4の
であり、従来の光導電材料にとって代わる可能性を有す
るものである。
ところがa−81はそれ自体状暗抵抗が他の光導電材料
にくらべて低い場合があるので光導電層を構成し次場合
、電荷保持の点でなお改善される必要がある。又、8・
等に較べて、a−111の層形成速度が一般には遅す為
く、所定厚0層厚を得るのに時間がかか〕量産的に問題
がなくはない。
にくらべて低い場合があるので光導電層を構成し次場合
、電荷保持の点でなお改善される必要がある。又、8・
等に較べて、a−111の層形成速度が一般には遅す為
く、所定厚0層厚を得るのに時間がかか〕量産的に問題
がなくはない。
本発明は、光導電層を有機半導体層と1−81層の多層
構成で、金色性を出し一有機半導体の特性上の耐久性の
不備な点を補足しつつ、a−gs層の層形成速度の遍さ
による量産性の問題を回避し、かつ表面被覆層に窒化ケ
イ素を形成させて機械的耐久性を著しく改善させ良悪光
体を提供することを1九る目的とする4のである。
構成で、金色性を出し一有機半導体の特性上の耐久性の
不備な点を補足しつつ、a−gs層の層形成速度の遍さ
による量産性の問題を回避し、かつ表面被覆層に窒化ケ
イ素を形成させて機械的耐久性を著しく改善させ良悪光
体を提供することを1九る目的とする4のである。
本発明に用いられる支持体としては、メテンレスムj、
Cr、Me、’ム−、h 、 Nh 、 Ta 、 W
b 4%0金jlXti、これらの合金の導電性支持体
、或いi、合成樹脂のフィルム又はシート、又はガラス
セラ書ツタ等の電気絶縁性支持体であ〕、支持体重に光
導電層が堆積される前に、必要に応じて一連の清浄処理
がmされる。なお電気絶縁性支持体の場合には、必要に
応じて、その表面を導電処理される。
Cr、Me、’ム−、h 、 Nh 、 Ta 、 W
b 4%0金jlXti、これらの合金の導電性支持体
、或いi、合成樹脂のフィルム又はシート、又はガラス
セラ書ツタ等の電気絶縁性支持体であ〕、支持体重に光
導電層が堆積される前に、必要に応じて一連の清浄処理
がmされる。なお電気絶縁性支持体の場合には、必要に
応じて、その表面を導電処理される。
例えば、ガラスであれば、1m、Os、 alo、等で
その表面が導電処理され、或い4ポリイオPフイル五等
の合成樹脂フィルムであれば、ムL、ムfl * Pb
mzl、出、Ta等の金属を以って真空蒸着、電子ビ
ーム蒸着、スノやツタリング等で地理し、又は前記金属
でう電ネート処理して、そ6表面が導電処理される。
その表面が導電処理され、或い4ポリイオPフイル五等
の合成樹脂フィルムであれば、ムL、ムfl * Pb
mzl、出、Ta等の金属を以って真空蒸着、電子ビ
ーム蒸着、スノやツタリング等で地理し、又は前記金属
でう電ネート処理して、そ6表面が導電処理される。
光導電層は、支持体側から、有機半導体材料で構成され
る下部層、a−111で構成される上部層から成する。
る下部層、a−111で構成される上部層から成する。
このIIK本発不発に於いては、光導電層が支持体側よ
)%窒化され九層構造を有する橡に形成することに−よ
〕、支持体と光導電層との間に於ける機械的及び電気的
接触性及び機械的密着性に於いて、着しい改良が計られ
ると共に、表面被覆層としての窒化硅素層を、a−11
1から成る上部層上に設ける為に熱的に比較的弱い有機
半導体層を保躾することが出来る勢の利点を有する。
)%窒化され九層構造を有する橡に形成することに−よ
〕、支持体と光導電層との間に於ける機械的及び電気的
接触性及び機械的密着性に於いて、着しい改良が計られ
ると共に、表面被覆層としての窒化硅素層を、a−11
1から成る上部層上に設ける為に熱的に比較的弱い有機
半導体層を保躾することが出来る勢の利点を有する。
又1表面被覆層を窒化硅素で構成することによシ、機械
的強度、耐久性、耐湿性、耐熱性等の点に於いて着しい
改良が計!られる。
的強度、耐久性、耐湿性、耐熱性等の点に於いて着しい
改良が計!られる。
本発明に於いて、光導電層の下部層を構成するのに使用
される有機半導体材料としては、非光照射時の抵抗(暗
抵抗)及び成膜性として良好な特性を有するものから選
択して使用するのがi!重しい。その様な有機半導体材
料としては、PvK、力□ルp4 ソール、N−エテル
カルパゾ゛−ル、NLイソfロビルカルノ量ゾール、N
−フェニルカルバソール、テトラ7!エルピレン、1−
メチルCシン、(リレン、°クリセン、アントラセン、
テトラセン、テトラ7エン、!−フェニルナフタリン、
アゾピレン、フルオレン、フルオレノ7、l−エチルピ
レン、ア七チルピレン、2.s−ベンゾ!リセリン。
される有機半導体材料としては、非光照射時の抵抗(暗
抵抗)及び成膜性として良好な特性を有するものから選
択して使用するのがi!重しい。その様な有機半導体材
料としては、PvK、力□ルp4 ソール、N−エテル
カルパゾ゛−ル、NLイソfロビルカルノ量ゾール、N
−フェニルカルバソール、テトラ7!エルピレン、1−
メチルCシン、(リレン、°クリセン、アントラセン、
テトラセン、テトラ7エン、!−フェニルナフタリン、
アゾピレン、フルオレン、フルオレノ7、l−エチルピ
レン、ア七チルピレン、2.s−ベンゾ!リセリン。
3.4−ベンゾピレン、1.4−;i+’口毫ピレン、
フェニルインドール、4リビニルビレン、4リビエルテ
ト2*ン、4リビ孟ル(リレン、19Nニルテトラフエ
ン、dIリアタリロニトリル、ハFK : TNF(単
量体での毫ル比1:1)に、テ′トッ゛工)aフルオレ
ノン、ジニトロアント2セン、ゾエ)E17クリデン、
テトラシアノフイレン、ゾニトロアントラキノン勢が挙
げられる。
フェニルインドール、4リビニルビレン、4リビエルテ
ト2*ン、4リビ孟ル(リレン、19Nニルテトラフエ
ン、dIリアタリロニトリル、ハFK : TNF(単
量体での毫ル比1:1)に、テ′トッ゛工)aフルオレ
ノン、ジニトロアント2セン、ゾエ)E17クリデン、
テトラシアノフイレン、ゾニトロアントラキノン勢が挙
げられる。
辷れもの有機光導電材料は、要求されるi性を低下させ
ない範囲に於いて、2種以上混合して使用しても良いし
、又、下記に示した電気絶縁性の結着剤と適尚な溶剤と
共に混合して使用しても良い。
ない範囲に於いて、2種以上混合して使用しても良いし
、又、下記に示した電気絶縁性の結着剤と適尚な溶剤と
共に混合して使用しても良い。
この様な樹脂結着剤としては、熱硬化性樹脂、熱可塑性
樹脂、光硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂、X線硬化性樹
脂等があ)、具体的には、フェノール樹脂二フラン樹N
:キシレン樹脂:ホルムアルデヒト樹脂:尿素樹脂:メ
ラミン樹脂ニアニリン樹脂;、スルホンア建ド樹脂:ア
ルキP41を脂:不飽和Iリエステル樹脂:工Iキシ樹
脂ニトリアリルシアヌレ−)1111:/リエチレン:
/97”ロピレン:ポリスチレン:4り酢酸ビニル:
4リアクリレート:/リメタクリレート:/り塩化ビニ
ル=4り塩化Cニリデン=4リテトラフルオロエチレン
:/リクOa)リフルオロエチレン:IIIリフッ化ビ
エビニルり弗化Cニリデン:ラトラフルオロエチレン:
ヘキナフルオロf−ピレン共重合体:クロロトリフルオ
ロエチレン:弗化ビニリゾy共重合体等の弗素樹脂:d
IIJアタリロニトリル二dIリビニルエーテル:ポリ
C&ルケトン:dI!Jエーテル:4リカー−ネ−)、
11Iリエステル;ナイロン6、ナイpン662オイロ
ン6/66等のfリアミI#:/リウレタン:シリコー
ン酢酸セルロース、エチルセルロース、!ロビオイ酢酸
セルロース、等のセルロース誘導体二等々が挙げられ、
これ等は、必要KEじて2種以上混合して使用℃ても嵐
い。
樹脂、光硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂、X線硬化性樹
脂等があ)、具体的には、フェノール樹脂二フラン樹N
:キシレン樹脂:ホルムアルデヒト樹脂:尿素樹脂:メ
ラミン樹脂ニアニリン樹脂;、スルホンア建ド樹脂:ア
ルキP41を脂:不飽和Iリエステル樹脂:工Iキシ樹
脂ニトリアリルシアヌレ−)1111:/リエチレン:
/97”ロピレン:ポリスチレン:4り酢酸ビニル:
4リアクリレート:/リメタクリレート:/り塩化ビニ
ル=4り塩化Cニリデン=4リテトラフルオロエチレン
:/リクOa)リフルオロエチレン:IIIリフッ化ビ
エビニルり弗化Cニリデン:ラトラフルオロエチレン:
ヘキナフルオロf−ピレン共重合体:クロロトリフルオ
ロエチレン:弗化ビニリゾy共重合体等の弗素樹脂:d
IIJアタリロニトリル二dIリビニルエーテル:ポリ
C&ルケトン:dI!Jエーテル:4リカー−ネ−)、
11Iリエステル;ナイロン6、ナイpン662オイロ
ン6/66等のfリアミI#:/リウレタン:シリコー
ン酢酸セルロース、エチルセルロース、!ロビオイ酢酸
セルロース、等のセルロース誘導体二等々が挙げられ、
これ等は、必要KEじて2種以上混合して使用℃ても嵐
い。
有機半導体材料で構成される光導電層の下部層の層厚と
しては通常は適宜所望Kll!りて決定されるものであ
るが、好オしくは1〜30jI、最適には3〜20声と
されるのが望ましい。
しては通常は適宜所望Kll!りて決定されるものであ
るが、好オしくは1〜30jI、最適には3〜20声と
されるのが望ましい。
有機半導体材料で構成される下部層上に設けられるa−
81で構成される上部層社、1114. lit、H。
81で構成される上部層社、1114. lit、H。
等を用い1例えば!−−放電で堆゛積させる方法勢によ
って形成し、膜厚紘通常は0.1〜30s、好重しくは
t−5O−とされるのが望ましい。
って形成し、膜厚紘通常は0.1〜30s、好重しくは
t−5O−とされるのが望ましい。
a−11から成る層、殊Ka−111:Hから成る層の
形成の詳#杜1例えば特開昭5446341号、同54
19441号等の公報に記載されており1本発明に於い
てもこれ勢の公報に記載されである方法に従って、層形
成が成される。
形成の詳#杜1例えば特開昭5446341号、同54
19441号等の公報に記載されており1本発明に於い
てもこれ勢の公報に記載されである方法に従って、層形
成が成される。
表面被覆層は、例えば光導電層を形成した彼、減圧状態
とし得る堆積室内K、表ml被覆層を形成する為の原料
である反応オスを導入し、次いで前記堆積室内に於いて
、放電エネルギーを生起させ。
とし得る堆積室内K、表ml被覆層を形成する為の原料
である反応オスを導入し、次いで前記堆積室内に於いて
、放電エネルギーを生起させ。
該放電エネルギーを前記反応ガスに作用させて、ガスゾ
ラズマ状態とし、生成される反応生成物を光導電層上に
堆積させることによって形成される。
ラズマ状態とし、生成される反応生成物を光導電層上に
堆積させることによって形成される。
本発明に於い、て使用される反応ガスは、硅素化合物の
ガスと、該硅素化合物とが反応し、反応生成物として窒
化硅素を生成する反応相手ガスとしての窒素、窒素化合
物或いはこれ醇の混合物とから成る。
ガスと、該硅素化合物とが反応し、反応生成物として窒
化硅素を生成する反応相手ガスとしての窒素、窒素化合
物或いはこれ醇の混合物とから成る。
本発明に於いて有効°とされる上記硅素化合物としてU
、 81114. Ii、H,、10,H,、814H
,、゛勢O水素化硅素(1l11@em4ydrld・
)、5Ict4.811r4等の7% Oj’ 7化硅
素、8量11ct、 、 81HBr、 、 8tHR
Ctffi等ノハロシラン(mal・silam・)等
の無機硅素化合一が挙げられる。
、 81114. Ii、H,、10,H,、814H
,、゛勢O水素化硅素(1l11@em4ydrld・
)、5Ict4.811r4等の7% Oj’ 7化硅
素、8量11ct、 、 81HBr、 、 8tHR
Ctffi等ノハロシラン(mal・silam・)等
の無機硅素化合一が挙げられる。
窒素以外の反応相手ガスとしては、NH,勢の窒素化合
物等が好適なものとして挙げられる。 。
物等が好適なものとして挙げられる。 。
反応ガスを構成する硅素化合物のガスと反応相手−スと
の混合比は、混合きれるガスの種類、所望される一表面
被覆層の特性、放電エネルギーを生起させる方法等に応
じて、堆積内に於いて所望の条件下でeXfラズ・マ化
し得る条件範囲内に於いて適宜決定されるが、硅素化合
物1体積に対して反応相手ガスが通常の場合、1−50
0体積好適には2〜25体積、最遣Kti2〜20体積
とされるのが望ましい。
の混合比は、混合きれるガスの種類、所望される一表面
被覆層の特性、放電エネルギーを生起させる方法等に応
じて、堆積内に於いて所望の条件下でeXfラズ・マ化
し得る条件範囲内に於いて適宜決定されるが、硅素化合
物1体積に対して反応相手ガスが通常の場合、1−50
0体積好適には2〜25体積、最遣Kti2〜20体積
とされるのが望ましい。
反応ガスは、その反応速度を制御する為iAr等の不活
性ガス中に8等O稀釈Iスで必要に従って稀釈して使用
しても東い。
性ガス中に8等O稀釈Iスで必要に従って稀釈して使用
しても東い。
本発明に於いて、殊に有効とされる反応ガスとしては、
1014m )町系、5icz4r )町系、81H4
−N、系等である。
1014m )町系、5icz4r )町系、81H4
−N、系等である。
放電エネルギーを生起させ、鋏放電エネルザーを反応ガ
スに作用させてガスfツズマ化させる方法゛としては、
グー−放電法、スノッターリング法、イオン!レーティ
ンダ法等が採用され、殊にグロー放電法は有効な方法で
ある。
スに作用させてガスfツズマ化させる方法゛としては、
グー−放電法、スノッターリング法、イオン!レーティ
ンダ法等が採用され、殊にグロー放電法は有効な方法で
ある。
本発明に於いて、表面被覆層を形成する際に反応ガスを
!ツノi化し得るのに有効な放電エネルギーを堆積室内
に生起させるKは、放電電流密度を、通常は(11〜1
0鴫4、好適には1〜5鴎宿としたムC又は■電流とす
るのが良(、又、充分な〕譬ワーを得る為Ka、通常1
00〜5ooov、好適には5ee−so・Ovの電圧
に調整され投入される電力として、通常0.1〜SOW
、好適には0.8〜IOWとされるのが良い、又、更に
は―ムCの場合、その周波数は通常α2 = 30 M
Hz、好適には5〜20 MHmとされるのが望ましい
。
!ツノi化し得るのに有効な放電エネルギーを堆積室内
に生起させるKは、放電電流密度を、通常は(11〜1
0鴫4、好適には1〜5鴎宿としたムC又は■電流とす
るのが良(、又、充分な〕譬ワーを得る為Ka、通常1
00〜5ooov、好適には5ee−so・Ovの電圧
に調整され投入される電力として、通常0.1〜SOW
、好適には0.8〜IOWとされるのが良い、又、更に
は―ムCの場合、その周波数は通常α2 = 30 M
Hz、好適には5〜20 MHmとされるのが望ましい
。
表面被覆層を形成する為OjI科としての反応ガスを堆
積室内に導入し、ガスプラ・ズマ化する場合の全ガス圧
は、所望に応じ九ガスプラズマが得られる様に適宜決定
されるが、通常の場合、10−2〜3t・rrK保たれ
る。表面被覆層の層厚は、所望されるq#性に応じて、
′ス、使用される材質によりて適宜決定されるが、通常
の場合、0.1〜γOs程度とされ好適には0.1〜2
0s最適には、ト4声とされるのが望ましい。1m1に
表面被覆層が所謂保鰻層としての機能が要求される場合
゛には、通常の場合、10s以下とされ、逆に電、気的
絶縁層としての機能が要求される場合Kti、通常の場
合lOμ以上とされる。丙午ら、この保鏝層と電気絶縁
層とを差別する層厚値は、使用材料及び適用される電子
写真プロセス、電子写真用僧形成部材の構造によって、
変動するもので、先olosという値は絶対的なもので
はない0表面被覆層を形成する方法としては上記し大放
電エネルゼーを利用する方法の他、熱を利用する所謂C
VD法も有効に探聞される。
積室内に導入し、ガスプラ・ズマ化する場合の全ガス圧
は、所望に応じ九ガスプラズマが得られる様に適宜決定
されるが、通常の場合、10−2〜3t・rrK保たれ
る。表面被覆層の層厚は、所望されるq#性に応じて、
′ス、使用される材質によりて適宜決定されるが、通常
の場合、0.1〜γOs程度とされ好適には0.1〜2
0s最適には、ト4声とされるのが望ましい。1m1に
表面被覆層が所謂保鰻層としての機能が要求される場合
゛には、通常の場合、10s以下とされ、逆に電、気的
絶縁層としての機能が要求される場合Kti、通常の場
合lOμ以上とされる。丙午ら、この保鏝層と電気絶縁
層とを差別する層厚値は、使用材料及び適用される電子
写真プロセス、電子写真用僧形成部材の構造によって、
変動するもので、先olosという値は絶対的なもので
はない0表面被覆層を形成する方法としては上記し大放
電エネルゼーを利用する方法の他、熱を利用する所謂C
VD法も有効に探聞される。
実施例1
ムtシリンダーに一リCニルカルハソールヲ浸漬法′で
塗布、乾燥し、IoIsの光導電層を形成し、下部層と
した。この光導電層上に減圧俟置内でs1u4mグロー
放電を与えてアモルファスシリコンを5j形成させ、さ
らに、引続いて、窒化ケイ素を2J設けて保饅膜とした
。得られた感光体に関し「次e帯電、次いで像露光で漕
像を形成し、現儂、転写クリーニングを(シ返し実施す
る電子写真法で耐久試験を実施したが、10万枚でも表
面のクリー二ンダ傷もなく安定な画儂が得られ、特Kl
l境安定性が良好で画質4畠本/騙の鮮鋭さで、又長波
長まで光学的吸収がのびて光源の自由度があり、良好で
あった。
塗布、乾燥し、IoIsの光導電層を形成し、下部層と
した。この光導電層上に減圧俟置内でs1u4mグロー
放電を与えてアモルファスシリコンを5j形成させ、さ
らに、引続いて、窒化ケイ素を2J設けて保饅膜とした
。得られた感光体に関し「次e帯電、次いで像露光で漕
像を形成し、現儂、転写クリーニングを(シ返し実施す
る電子写真法で耐久試験を実施したが、10万枚でも表
面のクリー二ンダ傷もなく安定な画儂が得られ、特Kl
l境安定性が良好で画質4畠本/騙の鮮鋭さで、又長波
長まで光学的吸収がのびて光源の自由度があり、良好で
あった。
実施例2
実施例1において、光導電層下部層の有機半導体層を鋼
フタロシアニンに変えて同様にして感光体を形成し、同
様の試験を行った結果、従来より優れた効果が、得られ
良。
フタロシアニンに変えて同様にして感光体を形成し、同
様の試験を行った結果、従来より優れた効果が、得られ
良。
Claims (1)
- 支持体、光導電層および**被覆層からなゐ感光体にお
いて、諌先導電層O下部層が有機半導体層、上部層がア
毫ルツアスシリクンからな)、光導電層上に設けられる
表面被覆層が窒化ケイ素から構成されて%/hゐことを
特徴とする電子写真感光体・
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17918081A JPS5880647A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17918081A JPS5880647A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5880647A true JPS5880647A (ja) | 1983-05-14 |
Family
ID=16061331
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17918081A Pending JPS5880647A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5880647A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007071357A (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Yamatake Corp | 電動アクチュエータ |
US7524598B2 (en) | 2006-06-07 | 2009-04-28 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, and process cartridge and image forming apparatus using the same |
US7678519B2 (en) | 2007-04-16 | 2010-03-16 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
US7951517B2 (en) | 2007-04-18 | 2011-05-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
US8158316B2 (en) | 2007-10-03 | 2012-04-17 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge and image forming apparatus |
US8993206B2 (en) | 2012-06-22 | 2015-03-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
-
1981
- 1981-11-09 JP JP17918081A patent/JPS5880647A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007071357A (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Yamatake Corp | 電動アクチュエータ |
US7524598B2 (en) | 2006-06-07 | 2009-04-28 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, and process cartridge and image forming apparatus using the same |
US7678519B2 (en) | 2007-04-16 | 2010-03-16 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
US7951517B2 (en) | 2007-04-18 | 2011-05-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
US8158316B2 (en) | 2007-10-03 | 2012-04-17 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge and image forming apparatus |
US8993206B2 (en) | 2012-06-22 | 2015-03-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
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