JPS5843045A - 計算機システム切り換えによる自動試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はマイクロブ四グラム祠御方式の計津機のシステ
ム試験方式に関するものである＠特に計算機システムに
固有の試験用オペレーティング。

システム（以下、Ｄ−Ｏ８と称する。）にょっ讐、え実
行させる様にした計算機テストシステムの１動試験方式
に、ある＠ 、計算機テストシステムの従来例は第“１図・に示され
ている０図において１１はＣＰＵ、２はシステム°スト
レージ、２ａＦｉ制御記憶装置、２ｂは主記憶装置１．
３は磁気ディスク装−１４はラインプリンタ、５はキー
ボード°Ｉディスプレイ装置、６は回線制御′装置％７
，８はフロッピー°ディスクク装置はマイクロプログラ
ム系（以下・マイクー−系と称す。）の処−埋専用およ
びマイクロプログラム系（以下、マクロ系と称す◎）の
処理専用上して用途別に夫々用いられる・この様な＊ｇ
における・ファーム・ウェア（以下、システム・ファー
ムと称する・）の格納された７四ツピー・ディスク９ａ
をフｐツピー・ディスク装置１７にセットし１試験用の
オペレーティング０システム（システム管理用プ四グラ
今が主体を成すもので、以下Ｄ−納された）四ツビー・
ディスク９０＊９ｄｔフロツピー・ディスク装置８にセ
ットする０次に１キーｔ−ド・ディスプレイ装置５に具
備されたイニシャル・マイク四プログラム・ロード・キ
ー５ａをオペレータが押圧すると、前記フシツビー°デ
ィスク９ａからシステム“ファームが制御記憶装置１ａ
、に格納される・また、キーボード°ディ支プレイ装、
ｔｌ１５に具−されたイニシャル°プ四グラム・ロード
・キー’５　ｂをオペレータが押圧すると・Ｍ記フνツ
ピー・ディス、り９　Ｑ　、　　９　ｅＬｉ）ｈ・うＤ
−Ｏ８およびマ多口’Ｔ　Ｐが夫々主記憶装置２ｂに格
納ノ され、この終了と共に、キーボード・ディスプレイ装置
５の表示画面上に計算機はオペレータからの指示待ちで
ある旨を表示する＠この状態で各梱゛テストプ・ダラム
の一行開始が準備完了したこりになる。

従来のテストプログラムと杜通常、主記憶装置２ｂ内に
格納されているマクＯＴＰモジュー↑を称するものであ
るが、１しかし当該モジュールは実テストプログラム°
モジュールどして入出力装置な〜どＥ直接制御出来るよ
うなマイクル系テストプログラム・モジュールが用いら
れる。（屏、マイクロ系のテストプログラムをマイクロ
ＴＰと称する・　） 最初にマクｐＴＰによる計算機システム試験、の実行に
つき以下に説明する０すなわち、オペレータは主記憶装
置２Ｃに格納された複数個のマクロＴＰのうち実行させ
たいマクロ系ＴＰを選んで、これをキーボード°ディス
プレイ装置５上のプログラム・セレクションキー５Ｐよ
多入力指示する〇このオペレータの指示入力に応答して
その正否を確認させるために表示画面上にプログラム名
などの情報が表示される。オペレータはこれを見て、誤
った情報表示がなされた場合、再入力し直し、正しいと
な糺ばキーボード・ディスプレイ装置５上に具備された
ブ四ダラム、・スタート・キー５　、ａを押圧する＠こ
の様にして、計算機システムに接続された磁気ディスク
装置３をはじめとする各種のテストとは、入出力装置の
うちプリンタに例をとれば、各棺文学パターンの印字動
作、印字用紙の任意行送多機能、印字用紙のプリンタに
セット。

されていない又はいる状態の検出機能、インクリボンの
赤黒切シ換えに応じて出力される信号の正否などの各種
機能が正常に働いているかの判断処理を指しておシ、普
通はオペレータが直接計算機よシ指示゛入力すると共に
、これに応答して、その指示入力に対する処理結果を、
指示直後に返して来るもので、オペレータは各＃１機能
の実行後の正否を確認−することが出来る０また、ラニ
ング系の試験とは、計算機システム使用時の環壇条件、
すなわち、温庸、電源電圧、外来ノイズレベル等のパラ
メータを各種変化させづつ所定の；ストルー、チンを連
続して実行可能か否かを比較的長時間を要して実施され
る試験のｉで、前述と同様、プリ・ン、同一文字パター
ンを一行印字するという動作を繰如返して実行させ、計
算機システムが異常状態の試験に相当するものである＠
□このために、ファンクション系のテストはオペレータ
の介入は極めて多く、逆にラニング系のテストにおいて
オペレータの゛介入は殆んど表い′０現“実□的なテス
トプログラム−モジュール“において、７アンクシ甲ン
系のテスト、とラニング系のテストとは必ず併用′され
る必とラニング系のテストにおいて、テストプログラム
がマク田系１のものとマイクロ系のものとに分かれて使
用され、′且つ、これらの拳−プログラムを複数種実行
させねばならない場合には、オペレータと計算機との会
話時間が不使用時梯く含むが故に極めて長時間と−なシ
、効率の良い試験が出来状に、マイクリ系ＴＰＯ実行に
つき以下に説明−する。計算機に電源′投入の直後、計
算機システムは通常）イニシャル・マイクロブ′ログラ
ム゛ロード・キー５ａの押圧操作によって制御記憶装置
２ａ内はシステム°ファームで完全に占有声れて終って
いる０′そのために、オペレータ′は、先にセラ７から
外し１その代９に各マイクロＴＰＯ格納されたフ四ツピ
ー・ディスク９ｂをセットし直し、キーボード・デてス
プレィ装置１５上のイニシャル°マイクロブｐグラム°
ロード・キー５ａを押圧する０この様にするから先にシ
ステム、ファームの格納されていた制御記憶装置２ａ内
は全くマイらば・匍制御記憶竺置内に格納された゛イ？
ＤＴＰのリストが画面表示さむる−。オペレータは、こ
れらマイクロ　ＴＰＯうち、これから実行させたいもの
を選んで、これをキーボード・ディスプレイ装置５上の
プログ５．ラムセレクションキー５Ｐより入力指示する
。このオペレータの指示入力にｊ５答してその正否を確
認させるために表示画面上にマイクａＴＰ名などの情報
が表示される。オペレータはこれを見て、誤ったデータ
表示がなされた場合、再入力をし直し、正しいとなれシ
、キーボー、ド・７して計算機システムに接続された各
種、入出力装置お１よびプリケア等のテストが実行され
るＯ上、述の様にマクロＴＰモジュールおよびマイクロ
ＴＰ−１−ジュールの内、いずれかのモジュールを選択
して実行させることが出来るが、説明力瓢られかる様に
、システム・ファームを破壊するようなテストでログラ
ムの切換え、すなわち１実質的には計算機のシステム機
能そのものの切り換えをオペレータが７０ツピー・ディ
スク９ａ又はフロッピー・ディスク９ｂによって適宜行
わねばならず、＊＊＊のテストプログラムモジュールの
実行を通電しつつ実順する場合に、オペレータカ；計算
機システム試験に長時間拘束されるという欠点力（あつ
；９１、＊＊ｔｔｕｈａｍｇｅｔＲｉ”ｔ、−ｐ。４．
６計算機自体による管理下において自動的になされオペ
レータの介在を不要とすることを目的とするものであシ
、そしてそのためにマイクロ系およびマクｐ系テストプ
田グラムを切り換え実行することの出来る計算機テスト
システムでるって、上記各テストプリグラムの夫々を所
定のテストシステム格納域に記憶させ°た外部記憶装置
と試験用７７゛−五・ウェア又はマイクロ系のテストプ
ｐグラムが格納される制御記憶装置と、マクロ系のテス
トプログラムおよびマクレ系−１マイクロ系のテストプ
ログラムの実行制御を行う試験用オペレーディ、−ング
°　システムを含む主記憶装置とを具備し、前記試験用
オペレーティングごシステムは、試瞬用ファーム°ウェ
アの上記制御記憶装置へのローディング時に電源投入後
の゛処理かマイク、口系のテストプログラム実行後の処
理か観憶させておく状態フラッグと、各種テストプログ
ラムの実行１序を規定するジョブ管理プＵグラムと、該
ジ、ヨプ管理プＶグラムの実行アドレスを記憶するアド
レス・レジスタと、主記憶装置に一旦外一記憶装置から
格納されたマイクロ和テス　ドブ党グラムヲ上記制御、
記憶装置に格納すると共に該マイクロ系のテストプログ
ラムを起動゛させるＭＯ８ＥＸ命令とからなシ、前記ジ
ョブ管理プログラムの指示に従ってマクロまたはマイク
ロ系テストプログラムを切り換え自動的に実行させる福
にした事を特徴とする計算機シス・テム切シ換えによる
自動試験方式を提供するものである。

がら詳細に説明する＠ ゛　第２図は本発明の計算機テストシステムのハードウ
ェアｍ成を示すもので、図において、第１図と同じ装置
又は物は開切符号を付してあり、７ａ畔マイクｐ系およ
びマクロ系の両方のテストプログラム等の格納出来不ク
ロッピー・ディスク装置２ｄは、主記憶装置１１２１）
内の空き領域（不使用領域）、２Ｃは制御記憶装置２ａ
と主記憶装置２ｂとの境界を糸すアドレ界、１０は境界
アドレスを管理する境界レジスタで！５る０この様な計
算機システムの電源を投入後、試験用システみ・７フー
ムー、およびマクロＴＰおよびＤ−Ｏ８が夫々主記憶装
置２ｂに格納される。この格納動作の終了とこ・ディス
プレイ装置５の表示画 面上で、゛計算機がオ、ペレータからの指示待ちである
１旨表示スる◎オペ１７１．レータはこの時、マクロＴ
Ｐのテストプログラムと５マイクロＴＰの′テストプロ
グラムとの実行スケジューリングおよび起動、停止など
の管理を行うＤ−Ｏ８に起動をかける。この様にするか
も計算機システムのプリケア１、すなわち、制御記憶内
の自己診断、各入出力装置の診断等・につき所要のテス
トプログラムをフロッピ町ディスク、よシ自動的に格納
させファンクション系とラニング系のテストを行う。

、第３ｖ！Ｊは本発明の計算機テストシステムにおけす
るシ゛ステム切シ換えの様子を示すものでる。る。図中
、符号（工）はマクＯＴＰモジ子−〃によるテストモー
ドを示している０これについて説明するとシステム・ス
トレージ２は境界レジスタ１０によって制御、記憶装置
２ａと主記憶装置２ｂとの樟界が管理される０このため
にシステム・ストレージ２内は制御記憶装置１２ａの記
憶容量の大小に応じて境界レジスタ１０はその境界アド
レス情報を記憶させる様にしておき、制御記憶装置２ａ
又は主記憶装置ｆ　２．１）への読み出し又は書き込褐
に常にクセス要求を起こさせる様にすることで、制御記
憶装置１ｔ２ａの制御記憶容量の小さくて済（システム
に対しては主記憶装置ｔ２ｂの記−億容量を増大させシ
ステムストレージ全体としての使用効率をあげている◎
また、システム・ストレージ２中主記憶装置２ｂ内にお
いて、Ｄ’−Ｏ８’ｌｅは　クロＴＰとマイク、Ｄ　Ｔ
　Ｐの混在されたテスト実行のスケその実行制御部が含
まれておシ、このスケシュニルに従つ、てテストプログ
ラムの、自動的な実行が行われる＠また、マクロＴＰモ
ードにあっても、次にマイ′クロＴＰモードへの変更が
有シ得る場合はシステ゛ム・ストレージ２内主記憶装ｆ
ｉｆ２１）のマクロＴＰの記憶領域外の空き記憶領域を
必ず設けられるものとする・以上の様な状帽でＤ−Ｏ８
２ｅはジョブ管理プログラムの制御下で各種誉′ストプ
ログラムを実行することが出来るが、次に図中、７符号
（■）で示きれたマクロＴＰモードからマイク”ＴＰ％
−）″″′変換変換色に″″万説明する・マイクロ系の
テストプログラムを実行すべきことを知らされたとす予
◎この場合、ジョブ管理プログラムのスケジューラの実
行アト・レスをスケジュ−ラ・アドレス・レジスタ２Ｒ
に書き込む・これと同時に、フロッピー・ディ°スク（
一般的にはマイクロＴＰＯ格納されたどんな外部記憶フ
ァイル且記憶さレル。次にり、’−ＯＳ’ｌ、ｅはＭ（
３ＳｍＸ命令２　ｆヲ実行ｆルｏ　Ｍ　Ｏｓ、ｉｘ命令
２　ｆ　トＦｉ、ＭＳの空き領域に書き込ま−，れたマ
イク゛口ＴＰの内容を制御記憶装置２ａの先頭番地から
順次最後まで格納すべきことを指示、シ、更に格納の終
了したマイクロＴＰ自体に、実行処理に移させる機能を
持つものである。この様にするから、今、格納されたマ
イクロＴＰＯ実行終了と同時に先に状態セットのされて
やるフラッグ・レジスタ２Ｆの内容を読み込む０こや場
合、先にフラッグ・レジスタ２Ｆ′５にはマ、イクｏ　
’Ｔ　Ｐを実行すべきルーチンにはいった旨、鄭憶され
ておシ、フラッグ：レジスタ２Ｆの記憶内容は「１　」
となっているので、次に制御記憶装置２ａ内にシステム
°ファームｔ−予めロー゛　ドせねばならないことを検
出し、自ｔＩＪＪ釣にり、−０８２０の制御下で外部記
憶装置からシステム・〕びマクロＴＰＯ格納動作に移る
０７ラツグ・レジスタ２Ｆの一容が「１」となるのは、
−前に主記憶上？空き空間に移された全てのマーイクロ
ＴＰ実行の終了と同時にセットされるものであシ、この
マイクロＴＰの一つずつのステップの実行時点ではフラ
ン　グ・レジスタの内容はｒＯＪとなっている・このた
めに、主記憶装置２′Ｆ３の空き空間か゛ら制御記憶装
ｍｚａへと順次ロードするために、イニシャル・マイク
ロプログラム・ロ１−ド処理のみ実行されるものであシ
、この１５間、イニシャル・−プログラム・°リードや
処理に移らないのは、血機に電源を投入した場合に、こ
れに引き続くイニシャル・マイクロプログラム・ロード
、およびイニシャル・プログラム・ロード処理の手順に
従った制御とは異ならせるへめである・上記の様に、全
ての一イク占プログラムの実行が終了し、再び制御記憶
・装置２ａの領域に、システム・ファームが書き込まれ
て終りと次にマ□クロＴＰモジュール−に対する実行が
可能な状態が形成される。Ｄ−Ｏ８；ｉｒｅはこの時、
再びジョブ管理プログラムからの指令により、先のアド
レス°レジスタ２Ｒの内容にもとづきスケジュールを進
めて行く。次に来るテストプログラムがマクロＴＰであ
れば主記憶装置内のマクロＴＰをそのまま実行すること
にして、Ｄ−Ｏ８２ｅはジョブ管理プワグ。ラムにｌよ
シ所宗のマクロＴＰに起動をかけ、テスト動作を実行す
るが、再びマクロＴＰの実行をすべき事を指示していた
　−場合には、ス、ケジュ１．−ラ・アドレス・レジス
タ２゜Ｒの示す現在アドレスの内容に＋１を加えゼセッ
トし直すと共に、外部記憶装置から主記憶装置内の空き
領域にマイクロ’Ｉ’Ｐ’をロードすべきことを：：ｏ
ｍｍｉ、６６７．６．５、ｉ＜ｖ−ｐｃ６（ｅ、）に、
Ｄ−Ｏ８は自体の内部のスケ、ジュールによってオペレ
ータが予め指示するマクレ系又はマイクロ系のいずれの
系のテストプログラムも自動的に実行指令させることが
可能である。

尚、１滞において主記憶装置内の！き領域がない場合は
、Ｄ−ＯＳの領域外のマクロＴＰＯ領域上に強制的に外
部記憶装置からマイクロＴＰを格納する様にすることも
出来るＯ ２の様に計算機システムのＤ−Ｏ８を用いてテストプロ
グラム列を順次実・行させる様にしたため自動的にオペ
レータの介在なく試験が出来る。また、試験の種別をラ
ンニング系又はファンクション系赫プログラム実行系列
上、寄せ集める必要はなく任率に混在させることも全く
自由であるから試験のモードに片寄シが出来ず、本来的
な試験を実施出来るという効轡がある０

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の計算機システムの試験方式における八−
ドウエア構成を示すブ、ロック図。第２図Ｍ’本発明の
′計算機システムの試験方式における・・ニドウェア構
成を孝子ブロック図。第３にはマクレ系のデスドブリグ
ラムからマイクロ系のテストプログラムに計算機のシス
テムを切替尋る方法を一念的に示した図である０

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 マイクロ系およ′びマクロ系テストプログラムを切り換
   え実行するととの出来る計算−テストシステムであって
   、±記各テストプログラムの夫々を所定のテストシステ
   ム格納域に記憶させた外部記憶装置と試験用レナーム・
   ′ウニ光又はマイクロ系のテストプログラムが格納され
   る制御記憶装置″と一マクロ系のテストプログラムおよ
   びマクロ系、マイクロ系の讐ストプログラムの実行制御
   を行う試験用オペレーティング・システムを含むＩ本紀
   １ハ装置とを具備し、前記鹸験用オペレーティング・シ
   ステムは、試験用フナーム・ヴエアの上記制御記マ′イ
   クｉ系のテストプログラム実′行棲の処理かを記憶させ
   ておく状態フラッグと、各種テストプログラムの実行−
   序を規定するジョブ管理プログラームと、該ジョブ管理
   プログラムの実行アドレスを記憶スるアドレス・レジス
   タと、主記憶装置に一旦外部記憶装置から格納されたマ
   イクロ系のテストプログラムを上記制御記憶装置に格納
   すると゛共グラム；の一指示に従ってマクロまたはマイ
   クロ系テ。。 ストプログラムを切・り換え自動的に実行させる様にし
   た事を特徴″とする計算機システム切り換えによる自動
   試験方式。