JPS5841480A - 磁気バブルメモリデバイスの製造方法 - Google Patents

磁気バブルメモリデバイスの製造方法

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JPS5841480A
JPS5841480A JP56137036A JP13703681A JPS5841480A JP S5841480 A JPS5841480 A JP S5841480A JP 56137036 A JP56137036 A JP 56137036A JP 13703681 A JP13703681 A JP 13703681A JP S5841480 A JPS5841480 A JP S5841480A
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JP
Japan
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magnetic
bubble memory
magnet plate
magnetic bubble
memory device
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JP56137036A
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JPS6412037B2 (ja
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Yoshiyuki Tsujita
辻田 嘉之
Masaru Kawaguchi
優 川口
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高速で駆動でき、薄形かつ放熱性の良1、n1
%傷頼性の磁気バブルメモリデバイスを祷るためO1l
造方法に関するものである。
gimlは従来C)DIP(Dual 1m1ln會P
ae1cmg*)IIO磁気パプルメ峰リゾすイス〇−
例を示す断曹構成図である。 PIWAにおいて、例え
ばセライックなどくよ)形成された絶縁性1職10中央
部にはキャビティ1aが形成され、このキャビティ1a
内に磁気バブルメモリチップ!が接着して同定されてい
る。また図示されてい1に−が、この磁気バブルメモリ
チップ2上の電極と基si上の電極間はボンディングワ
イヤ3で電気的に接続され、この基板1のキャビティ1
a内には磁気バブルメモリチップ2とポンディワイヤ3
とを保護する目的で応力緩和効果を有するチップコート
レジン4が注入して優化されている。又、磁気バブルメ
モリチップ2がチップコートレジン4で固着された基板
1の外局部には回転磁界発生用O内コイル5、外コイル
6が互に直交して組込まれている。図示していないが基
ill上の電極とIJ−ドフレームTとは電気的および
機械的Km続固定されている。
そして、基111全体とリードフレーム7の外部リード
を除く中央部分とがモールドレジン8で覆うように成形
されている。この場合の成形法としては、一般に作業性
および量産性の優れたトランスファーモールド法が用い
られる。この後、整磁板8と磁石1110とを接着剤で
貼合せた磁石板ブロック1組を互いに平行にして向い合
うように、モールドレジン魯の外表m11に接着剤で固
着する。
この後、外乱磁界からチップを守るシールドケ−ス1ズ
の中に入れる。磁石板ブロック取付は部分の詳細は第2
図に示すようになっている。磁石板ブ寵ツクと平行に向
い合うモールドレジン面は、モールド部分全体がトラン
スファーモールド用金型にある場合には、図の点線13
の位置にあるが金型取外し螢に図の実線11<2)よう
に外@に凸になるように変形する。この変形は、トラン
スファモールド時に生じ走モールドレジン内部のEE@
応力が金層取シ外し直後に解放されて生じるものである
。そこで、磁石w取付は部分の端部には予め平行出し用
段部14を設けておき、磁石板ブロックがチップ面と平
行になるようにしてbる。なお、磁石板ブロックがチッ
プ国と平行でない場合KFi、磁石板によって作られる
磁界分布が1され、磁気パプルメ毫りとしての十分な4
?性が得られなくなる。王妃のように磁石板ブロックを
取シ付けた構造の磁気バブルメモリデバイスにおいては
、磁石板ブロックとモールドレジンl1liK接着剤1
s+−関1・があるため盆体O厚さが大きくな)放熱性
が悪いという問題がある。したがって、大メモリ容量O
パプルメ篭りチップを梧載した磁気パズルメモリデバイ
スを高速で動作させた場合、回転磁界発生用の外コイル
及び内コイルの発熱が大きくなシ、チップと磁石板ブロ
ック間の温度差が大きくなる、このため、磁石11O磁
束密度が変化しチップ内のバブルが動作するに必要な適
正バイアス磁界が得られなくなる。
この問題を解決する方法としては、第3図に示すように
論述の平行出し用段部を烏止し、レジンモールドをする
際に磁石板プルツク%同時にモールドする方法がある。
しかし、との場合には、全型取ル外しIL*に、磁石板
ブロックに比較して熱膨張係数の大きいモールドレジン
が熱収縮して磁石板ブロックFi周辺から中央部の方向
に圧縮力17を費ける。この丸め、磁石板ブロックが外
側を凸にして変形し、磁石板は〒般にフェライトででき
ているために磁石板及び整1m職社脆性が大きくクラッ
ク1宿を生じ易−0こOようにクラックが生じた場合に
は、バイアス磁界分布が不均一になってバブルメモリと
しての十分e特性が得られなぐなる。なお、モールド方
式としてはトランスファーモールド方式および注型方式
で行う場合があるが、いずれも磁石板ブロックにクラッ
クが生じ易い。
本発明の目的は、上記従来技術の問題を解決し、薄型で
放熱性の優れた高速で駆動できる磁気バブルメモリの製
造方法を提供することにある。
このような目的を達成するために不発IjlIは、少な
くとも周辺の4側面に弾性を有する物質をコーティング
などして取付けた磁石板ブロックを用いテ、他の磁気バ
ブルメモリデバイス用部品と一緒にレジンモールドする
ことにある。この弾性を有する物質としては、ジエン系
合成ゴム、オレフィンlk 合成ゴム、ポリウレタン系
合成ゴム及びシリコーンゴム等が使用可能であるが、耐
熱及び耐寒性に優れかつ熱膨張係数がモールドレジンよ
p太をいものが本発明の磁気バブルメモリデバイス用と
して最も適している。
以下、本発明の内容を実施例を用いて説明する。
実施例1 第4図にてこO実施例を説明する。フェライトでできて
いる正方形O磁石1!10と整磁板8とを接着剤で貼合
せた磁石板ブロックの周辺の411面に熱硬化型の未硬
化シリコーンゴム液を塗布し。
120℃の炉に入れて60分間加熱して熱硬化させた。
熱硬化後のシリ;−ンゴA19の厚さは約100β賜で
あった。このようにして周側間にシリコーンゴム1sを
職夛付は九磁石なブロックをE気バブルメモリデバイス
1個について2#Iづつ準備し、他の部品と一緒にトラ
ンスファーモールド法でレジンそ一ルドを行つ九、この
場合にtib金型を取シ外して室温に冷却後も磁石板ブ
ロックにクラックの発生がなかった。また、このように
して作製した磁気バブルメモリデバイスを回転磁界駆動
周波数400KHzで駆動させても、チップと磁石蓼ブ
ロック間0Ill差は5℃以下であった。すなわち、本
発明の製造方法によシ、磁石クブロックとモールドレジ
ン面との間に隙間をつくることなく、極めて放熱性に優
れ友薄型の磁気バブルメモリデバイスを提供できた。こ
のようにして作製した磁気バブルメモリデバイスO1!
幀性試験を行った結果、20年以上の使用でも磁石板ブ
ロックのクラック発生がなく十分な信頼性を有すること
がわかった。なお、以上の実施例にょ夛磁石砿ブロック
にクラックが生じない理由は次の通シである。
(1)モールド後の冷却過程で0レジンの熱収縮力は、
シリコーンゴム自体のゴム弾性のため緩和。
分(され、磁石板ブロックに集中的な方が加わらなくな
る。
(2)モールド後の冷却過程で、シリコーンゴム自身の
熱膨張係数がモールドレジンのそれよりもはるかに大き
いため、ゴム自身が毫−ルドレジン↓)も大きく収縮し
てモールドレジンの熱収縮力を吸収し、磁石板ブロック
に力が加わらくなる。
5j!施例2 末端にメタクリル基又はアクリル基を有するポリブタジ
ェンプレポリマを主成分とする紫外11iF!化レジン
の未硬化物を磁石板ブロック周側面に塗布し、四方から
紫外線を解剖して硬化させ丸、このようにして周辺にポ
リブタジェン系ゴムを敗り付けた磁石板ブロックを実施
例1と同じ方法で他の部品と一緒にレジンモールドした
。このよりにしてでき九磁気バブルメモリデバイスは、
実施例1と同様に11111で優れた放熱性を有し、か
つ十分な個Ili性をもっていることが確認された。
以上の実施例においては、磁石板ブロックに取り付けた
弾性を有する物質の厚さは約100μmであったが、1
0μ賜以上の厚さで目的効果が得られることが分ってい
る。
又、弾性を有する物質は、上記の2実施例に限定される
ものではなく、同様の特性を有する他の各種物質も使用
可能であることは言うまでもない。
又、弾性を有する物質は磁石板ブロックの周側面以外に
も必!!に応じて取)付けることができる。
本発明によれば、落蓋で放熱の優れた磁気バブルメモリ
デバイス、すなわち大容Iのチップを搭載し、極めて高
速で駆動できる高性能でかつ高偏頼性の磁気バブルメモ
リデバイスを提供できる。
【図面の簡単な説明】
j[11図は従来の磁気バブルメモリデバイス0叛造を
示す断面図、第2図は第1EC)磁石板取付り部分を詳
細に説明する断面図、第3図は別の従来の磁石板取付は
方法を示す断面図、第4図は本発明の磁気バブルメモリ
デバイスの製造方法の一笑施例による磁石板取付は部分
の断面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 整磁榎と磁石板とを貼合せた磁石板ブロックの少なくと
    も周側面に弾性を有する物質を取り付けた後、デバイス
    の他の部品とともにレジンモールドすることを特徴とす
    る磁気バブルメモ豐デノ(イスOS造方法。
JP56137036A 1981-09-02 1981-09-02 磁気バブルメモリデバイスの製造方法 Granted JPS5841480A (ja)

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JPS5841480A true JPS5841480A (ja) 1983-03-10
JPS6412037B2 JPS6412037B2 (ja) 1989-02-28

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004055888A1 (ja) * 2002-12-16 2004-07-01 Sony Corporation 磁気メモリ装置

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004055888A1 (ja) * 2002-12-16 2004-07-01 Sony Corporation 磁気メモリ装置
EP1575088A1 (en) * 2002-12-16 2005-09-14 Sony Corporation Magnetic memory device
EP1575088A4 (en) * 2002-12-16 2008-02-27 Sony Corp MAGNETIC MEMORY SYSTEM

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