JPS58169762A - 電子線装置 - Google Patents

電子線装置

Info

Publication number
JPS58169762A
JPS58169762A JP57050019A JP5001982A JPS58169762A JP S58169762 A JPS58169762 A JP S58169762A JP 57050019 A JP57050019 A JP 57050019A JP 5001982 A JP5001982 A JP 5001982A JP S58169762 A JPS58169762 A JP S58169762A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
magnetic pole
hole
objective lens
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP57050019A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0211976B2 (ja
Inventor
Takashi Yanaka
谷中 隆志
Kazuo Osawa
大沢 一夫
Kosuke Kyogoku
京極 光祐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
INTERNATL PRECISION Inc
Original Assignee
INTERNATL PRECISION Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by INTERNATL PRECISION Inc filed Critical INTERNATL PRECISION Inc
Priority to JP57050019A priority Critical patent/JPS58169762A/ja
Priority to GB08308260A priority patent/GB2118770B/en
Priority to US06/479,172 priority patent/US4596934A/en
Publication of JPS58169762A publication Critical patent/JPS58169762A/ja
Publication of JPH0211976B2 publication Critical patent/JPH0211976B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子II装置、特に試料保持装置に改良を加え
た電子a装置に関□するものである。
電子線装置の一書として41に透過証電子−徽鏡を挙げ
ると、その構造例としては、一般的に第1図に示すよう
なものがある。これは、電子銃6と、集束レンズ5とを
内蔵し、糸束レンズ50丁方に励磁コイル8,10t−
備えた対物レンズ9を配置し、さらKそのF方に中間レ
ンズ11と投影レンズ12とを備えた1411wIk鏡
本体1、及びI#l像鏡本体1の下方に配置され且つ当
該顕像鏡本体1に固定されると共に内部に役、影スクリ
ーン14を配置した中空の室16′に形成するigi*
″M2から成っている。@徽鏡本体1の中央部分には電
子銃6から発射された電子線の軸(以下、光軸という)
6に沿って長手方向に延びる中空孔7が形成されている
。対物レンズ9は励磁コイル8によって励磁される上側
磁1i16と、この上側磁極16から下方へ所定の間隔
金あけて配置され、励磁コイル10によって励磁される
下側磁極17とをfL、上1111[j16と下側磁極
17との間には試料保持装置20が挿入、引出し可能に
配置される。
このような構成を有する透過微電子曙徽鏡は、その性能
が年々向上し、分解能は固体試料の原子的構造を結儂す
るレベルまで向上して来てお〉、一般には為性能電子l
1lIlll!鏡と言われている−この高性能電子頑轍
鏡では、対物タンス9の収差係数は極@Kまで小さくさ
れ、その値は、電子線の加速電圧がtoo kv の電
fws壷鏡では・球面収差係数Cs、色収差係数Ccと
もK11lll(ミリメートル)li[である。
ところで、電子頑鑞鏡の性−決定に型費な役@を果す上
紀分解峨は、理論的には次の犬で表ここで、 a:分解II!(Illm) C3二対物レンズの球面収差係数(■)λ:加速電子線
の波長(′■) である。
この式からも明らかなように、固体のより忠実な原子構
造gIIを得るKは、加速電圧を烏(して電子線の波長
λ1mくするか又は球面収差係数Cstよシ小さくする
必要がある。現状においては、電子**―の最高の分解
症は加速電圧が1000 kV (+?ロボルト)て得
られてお〕、このときの電子線の波長線、λ= &7 
X 1G −” L、球面収差は、Cs = 2〜3■
である。
と仁ろが、電子線の波長λを小さくするには、電子線の
加速電圧を大幅に上昇させなければならず、これを達成
するためには製造コストが急激に上昇する恐れがある。
このため、1000kvの加速電圧を生じさせることの
できる高性能電子1111徽鍾は全世界でΦ間1〜2台
楊度生産されるに過ぎない。そこて、電子Ta1lk鏡
の分解能を経済的な問題に左右されることなくよシ一層
向上させるためには、上記11)式に基づき球面収差C
st小さくする必要がある。そして球面収差を小さくす
るために鍛良の措置は、対物レンズ9の上下側磁極16
.17間距離を小さくシ、試料保持装置20上の試料と
磁極16.17との距−1つまシワ−キング・ディスタ
ンスを短くすることである。しかしながら、このような
措置を行うとなると以下の如き問題が新たに生じて来る
即ち、試料保持装置20の保持部は最小でも光軸方向の
厚みが2−以上に設定されていることである。この厚さ
は、保持部に、試料メイシエを載置固定し、試料傾斜作
動部材を組込み、爽にその上原子@Vペルの分解il!
を出し得るに充分な防振性を持たせるために不可欠のも
のである。そして、この試料保持装置加は、光軸6に対
して横方向から磁極間隙内に出し入れされる(いわゆる
サイドエントリ一方式)から、対物レンズ9の磁極間[
2■以下には出来ないことになる。このような事情によ
り、従来においては磁極間隙の最小値にtよぼ2■とし
、これよりも小さくするような対策は殆ど考慮されてい
なかつ九。したがって対物レンズ9の球面収差について
も、磁極間隙を2101以下にすればC@<1(−)と
なることがわかっていながら実理化されていなかった。
なお、一つの解決策として、対物レンズ9m極間!Iを
2−以下とし、この磁極間に上lI磁他16又は下側磁
極17の中空孔7全通して光軸6の方向に出し入れする
(いわゆるトップエンドする穴径は少くとも5箇以上が
実用上必要である。
この友め、逆に球面収差が大きくなるという不具合が生
じてしまう。
本発明は、このような従来の問題点を一掃するためにな
されたもので、その第1の目的は、試料メツシュ及び試
料の保持は充分に行え、且つ充分なる防振性を保有して
いる上、2■以下の対物レンズ磁極間隙内に挿入、引出
し可能な試料保持装置金儲えた電子線装置を提供するこ
とである。
また本発明の第2の目的は、極小寸法を有する対物レン
ズ磁極間隙内に挿入、引出しOJ能であると共に1かか
る磁極間隙内でも試料を傾斜させ得る試料保持部及び試
料傾斜部材を備えた試料保持装置を備えた電子線装置f
t提供することである。
本発明の要旨i1試料保持装置の先端部に設けられた試
料保持部において、試料保持装置装填時に対物レンズ磁
極の対向頂部間を横切る所定の区域の厚みを、その他の
区域の厚みよシも薄く成形し、狭い対物レンズ磁極間隙
内に楽に挿脱出来る様にした点にある。このような構成
は、試料保持部の対物レンズ磁極に対応する部分に、磁
極頂面径より大きな穴をあける一方、試料保持装置熾か
ら上記穴にかけて所定の幅寸法を有する薄肉部を形成し
、I!に上記穴の内部に試料メツシュを配置固定するこ
とによって実現される。この薄肉部は例えば縣−程度の
厚さに設定されており、それ以外の部分は、従来通92
−或はこれ以上の厚さに設定される。試料メツシュの厚
さは02■程度であるから、対物レンズ磁極間隙の寸法
を2■より小さく設定してあっても試料保持装置の挿脱
は楽に行える。また、上記薄肉St−設けたことによる
強度或は防振性の低下等は、当該薄肉部以外の部分の厚
みを大きくとっておくことにより、光分禰うことが出来
る。試料の傾斜は試料保持装置の保持棒部分を回転させ
ることにより行い得る。また試料保持部に所だの形状の
開口を設け、この開口内に上記穴をあけた板を傾斜回転
可能に取付けて傾斜支持体とする一方、この傾斜支持体
を対物レンズ磁極間隙の外方位置で試料傾斜部材に連結
し、上記保持棒部分の回転による傾斜とは異なる方向へ
の傾斜を行えるようにすることもできる。
以下、本発明の実施真を添付の図面を参照してl#細に
説明する。
11pJ2図乃至第4図は本発明の第1の実施例を示す
図である。この実施例に係る電子線装置の試料保持装置
f20は、試料ホルダ15と、試料ホルダ15上に、載
置される試料メツシュ29と、試料メツシュ29に押圧
1足するメツシュ押えスプリング62とから成る。試料
ホルダ15は、−f!kfI&本体1の側1に回転可能
に支持された保持棒21と、保持421の先端部に一体
的に設けられた試料保持部22とから成る。試料保持s
22の略中矢部分にはm極JJ[面径よりも充分に大き
な径を何するIj形、その他所定の形状の孔26が貫通
して設けられであ・シ、該孔26の下部には−a24Q
肯壁より半径方向内方に向けて張り出した柵s25が設
けられている。また、孔26の側壁には当該側壁から半
径方向外方に向けて切込まれ友@26が局方向に延びて
形成されている。試料ホルダ15t)保持棒21は、そ
の 軸心を中心にして回転出来るよう、円柱形の棒体か
ら成っている。一方、保持部22は、全体が2〜3−の
厚さt有する板状体から成っている。この保持ms 2
5 Kは更に、先端から孔26Kかけて所定の幅寸法で
削9取られた切欠837が形成され保持s22先熾部分
にへ5−程度の薄肉部24に形成している。切欠857
の肉肯部後熾には、#126の上側において、棚@25
に憬うようにして孔26の開口縁から半径方向内方へ向
けて突出した係止部27.28が形成されている。また
薄肉部24の先端略中央部分には凹S3aが切込み形成
されている。
試料メツシュ29は、電子、線が透過し得るよう網目構
造′に有する試料載置部61とこの試料載置ツシュnは
保持部nの棚部25上に置かれると共に、その外周縁を
#$26内に嵌入させて裾付けられる。そして、試料メ
ツシュ29の上方からは、メツシュ押えスプリング62
が孔26内に入れられ、その両側端を係止部27.28
に1&会させて固定すると共に、試料メツシュ29を棚
11s25へ向けて押付は固定する。
かかる試料保持装置に対して、電子頑徽鏡の対物レンズ
9は、第3図に示すように上下m磁極16.17がそれ
ぞれ開き角が60度前後の比較的急傾斜のm−円錐構造
に形成され、両iam間隙の寸法dは2−以下、例えば
1.3〜1.5■ と、極小寸法に設定されている。F
vam極17には、磁極頂面から所定の距離だけ離れた
位置に、光軸6に直交する方向に径寸法が約L5■の挿
通孔66が開設してあり、この挿通孔品内には支持棒6
4にビス66止めされ九対物絞965が挿入されている
。   ・ かかる構mtt有するから、本実施例においては、試料
メツシュn上に試料t−置し、試料ホルダ15を顕像鏡
本体1の儒筒部から磁極間隙へ向は光軸6に直交する方
向へ挿入f詐る。試料ホルダ15の先端部には薄肉s2
4が設けられているから、当該試料ホルダ15の磁他間
隙内に入る部分は、保持部22に装填された試料メツシ
ュ29及び試料t8−わせてもl−足らずの厚さしかな
い。したがって試料ホルダ15は上記極小寸法に設定さ
れた磁極間隙に充分に挿入6せることが可能であシ、こ
れによって試料メツシュ29の中心を光軸に合わせるこ
とができる。そして試料ホルダ15を所定位置まで挿入
すると、保持[22先端に設けた凹部38は、!iI議
鏡本体1の対向側七に取付は固定されたホルダ受39に
係合し、試料ホルダ15に支持する。
いま、上下側磁極16.17における中空孔7の穴径を
0.71、最小磁極間隙寸法dをt、3 all。
a極頂向径t2日、a4ii頂角6G’の対物レンズに
おいて、加速電圧100kVで試料の観察を行ったとこ
ろ、球園収差係数Csは約(13■となった。
また、この状態において対物絞シf:躯便した明視針傷
、暗視針傷、電子回折偉は、従来の対物レンズにおける
と同様の容易さで得られた。このことから、電子線の加
速電圧を上昇させることなく、解儂性の良い浮子構造像
が得られることがわかる。なお、保持棒21の軸心を中
心にして、当該保持棒21を回転させることにより、試
料傾斜を行うことが出来る。特に、孔26は、対物レン
ズ−極面の径より充分に大きな径に開設しであるから、
保持部22の厚内部が上下側磁極16、17に干渉する
ことなく、約±15°の試料傾斜が得られる。
なお、この実施例において、試料ホルダ15の保持部2
2先漏には薄肉部24が設けられているが、この部分を
完全に切シ落して孔23に続く中空の切欠部67とし、
試料ホルダ15を片持梁構造にするCともできる。
第5図及び第6図は本発明の第2の実施例を示す図であ
る。この実施例において、試料ホルダ15は、その保持
部22の中央部分に矩形状の収納開口40が形成される
と共に、その両側には−対のねじ孔41が対向して穿設
されている。この収納開口40内には、この収納開口4
0に遊嵌し得る外形及び寸法を有する板状の傾斜支持台
46が配置され、ねじ孔41に螺合させた止めねじ42
に軸傾斜支持台43の両側に設けた受部45に9に会さ
せることにより、回転可能に支持される。傾斜支持台4
6には、磁極頂面径よりも光分に大きな祉を有する円形
の孔26が貫通して設けられてν9、上記第117)*
施例におけると同様の棚部25、壽26が形成されてい
る。tた、保持s22の先端VCは切欠部37及び凹部
38t−形成した薄肉824が形成され、傾斜支持台4
6には切欠部57、薄内鄭24のそれぞれに連続する様
に切欠s46薄内s44がそれぞれ設けられ、切欠部4
6の両w後端には係止部27.28が設けられている。
なお、試料メツシュ汐及びメツシュ押えスプリング62
の構造及びMR付は方法は、上記第1の、実施例におけ
ると同様である。
かかる構成を有するため、不実m例に係る試料保持装置
20もま九、上記第1の実施例におけると同様、試料ホ
ルダ15の磁極間隙内に入る部分は、試料メツシュ汐及
び試料を合わせてもl−足らずの厚さしかない。したが
って、この試料ホルダ15は、極小寸法に設定された磁
極間隙に充分に東に挿入する仁とが可能である。そして
、この実施例においては、試料ホルダ15は、保持棒2
1を回転させることにより列えばX軸傾斜を行うことが
でき、又他方、止めねじ42を回転させることくよりX
軸に直交するY軸傾斜を行わせることが出来る。このた
め、上記第1の実施列におけるよりは、よシ一層バラエ
ティに富んだ試料観察を行うことができる。
なお、上記実施においては、1過型電子1I111[鏡
の対物レンズ磁極ギャップ間に試料を挿入保持するため
の保持装置について説明して来たが、走査型電子−徽鏡
において4分解能を向上させるために対物レンズ磁極間
隙内に試料を挿入することがある。この様な場合におい
ても本発明會胃効に適用することができる。更に、電子
頑f11硯に限らず、同様の機能を有する他の装置にも
適用することが可能である。
以上説明したように、本発明によれば、試料ホルダの保
持部に対物レンズ磁極の頂内径よ多も光分に大きな孔を
設け、保持部先端から上記孔まで延びる切欠部を設ける
と共に、孔内に試料メツシュを設置した電子線装置の試
料保持装置としたため、対物レンズ′磁極、関imt大
幅に小さく設定してもスムーズに試料の挿脱及び傾斜が
出来るようになり、当該電子線装置の分解能を向上させ
ることが可能になる。筐た、試料傾斜に際しても試料ホ
ルダの保持部や傾斜部材が対物レンズ磁極に干渉する仁
とはなく、最大限の試料傾斜を行うことができる。更に
対物絞りを磁極間隙から充分に離れfc磁陣内部に配置
−rるようにしたため、上記磁極間隙を有効に利用でき
る等、楕々の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、匠米からの電子電磁−の一般的な構造例を不
す鮒面図である。 飢2図は、本発明の第1の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置を分解して示す@?Il!図である。 第3図は、上記第1の実施例における試料保持装置を対
物レンズ磁極間隙に挿入した状mtを示す断面園である
。 111!4図は、上記第1の実施例における試料保持装
置を対物レンズ磁極間隙に挿入した状態を示す平面図で
ある。 第5図は、本発明の第2の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置上分解して示す斜視図である。 @6図は、上記第1の実施例における試料保持装置1を
対物レンズ磁極@隙に挿入した状態を示す平面図である
。 1・・・4最鏡本体   6・・・電子銃8.10・・
・励磁コイル 9・・・対物レンズ15・・・試料ホル
ダ   16・・・上側磁極17・・・下側磁極   
 λ・・・試料保持装置21・・・保持棒     2
2・・・試料保持部b・・・孔       29・・
・試料メッシュあ・・・対物絞υ    67・・・切
欠部45・・・傾斜支持台 特許出願人 株式会社 国 際 梢 工第1図 第2図 第3図 第4図 第511 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l)上側磁極と、この上111磁極から所定の関−をあ
    けて設けられ圧下側磁極と′に有する対物レンズと、保
    持棒及び保持棒の先端に設けられた保持部から成る試料
    ホルダを有し、対物レンズの磁極間隙内に試料を挿脱す
    る試料保持装置とを備えた電子線装置において、上記試
    料保持装置は、試料ホルダの保持部略中央部に対物レン
    ズ磁極の頂WJI!!よシも充分に大きな径を有する孔
    を設け、保持部先熾から上記孔まで延びる切欠部を設け
    ると共に、孔内に試料メツシュを配置固定したことを特
    徴とする電子線装置。 2)試料ホルダの保持部には収納開口が形成され、当該
    収納開口内には、傾斜支持台が、保持棒の軸心に対して
    交差する軸を中心にして回転可能に壜付けられ、当該傾
    斜支持台の略中央部に孔が形成されておシ、且つ切欠部
    は、保持部先端から傾斜支持台の先燗側部分を通シ、孔
    まで延びていることを特徴とする特許請求の範l!l第
    1項記載の電子線装置。 3)対物レンズの磁極間隙の寸法は2ミリメートル以下
    に設定されていることt%黴とする特許請求の範s菖1
    項又は!82項記載の電子線装置。 4)保持部に設けた切欠部には、厚さが1 ミリメート
    ル以下の薄肉部が形成されており、切欠部以外の部位は
    2ミリメートル以上の厚さに形成されていることを特徴
    とする請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記載の
    電子線装置。 5)保持部に設けた切欠部は、保持部先端から孔まで中
    空溝状κ延びていること′t−特徴とする特許請求の範
    囲第1項乃至第3項のいずれかに記載の電子線装置。 6)試料メツシュは対物レンズの磁極頂面径よシも充分
    に大きな外径寸法を有し、中央部分に網目構造の試料載
    置部が設けられ、その外側を支持部で包囲して成ること
    を%像とするql#許請求の範囲第1項乃至第5項のい
    ずれかに記載の電子線装置。 7)傾斜支持台を支える支持Sは対物レンズの磁極間隙
    部より外側に設けられていることを特徴とする特許請求
    の範−菖2項記載の電子纏装置。 8)対物レンズの下側磁極には磁極頂部から充分噛れ友
    部位に光軸と直交する挿通孔が設けられ、この挿通孔よ
    り、対物絞9が着脱自在に導入されることt*黴とする
    特許請求の範囲at項乃至第7項のいずれかに記載の電
    子線装置。
JP57050019A 1982-03-30 1982-03-30 電子線装置 Granted JPS58169762A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57050019A JPS58169762A (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子線装置
GB08308260A GB2118770B (en) 1982-03-30 1983-03-25 Specimen holder for electron microscope
US06/479,172 US4596934A (en) 1982-03-30 1983-03-28 Electron beam apparatus with improved specimen holder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57050019A JPS58169762A (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子線装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33520288A Division JPH01236566A (ja) 1988-12-29 1988-12-29 電子線装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58169762A true JPS58169762A (ja) 1983-10-06
JPH0211976B2 JPH0211976B2 (ja) 1990-03-16

Family

ID=12847278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57050019A Granted JPS58169762A (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子線装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4596934A (ja)
JP (1) JPS58169762A (ja)
GB (1) GB2118770B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04229540A (ja) * 1990-12-26 1992-08-19 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡用試料交換装置
JP2005522833A (ja) * 2002-04-08 2005-07-28 イー エイ フィシオネ インストルメンツ インコーポレーテッド 試料保持装置
WO2022181128A1 (ja) * 2021-02-24 2022-09-01 株式会社デンソーウェーブ 三次元計測システム
JP2022128586A (ja) * 2021-02-23 2022-09-02 ブルーカー アーイクスエス ゲーエムベーハー Temグリッド用途のためのツール

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4595481A (en) * 1984-08-21 1986-06-17 Komag, Inc. Disk carrier
JP2569011B2 (ja) * 1986-06-11 1997-01-08 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡
JPH0614460B2 (ja) * 1987-05-22 1994-02-23 日本電子株式会社 電子顕微鏡等における試料装置
US4954712A (en) * 1989-10-16 1990-09-04 Wilcox Harry P Specimen retaining ring system for an electron microscope
US5153434A (en) * 1990-05-18 1992-10-06 Hitachi, Ltd. Electron microscope and method for observing microscopic image
EP0504972A1 (en) * 1991-03-18 1992-09-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Specimen holder for use in a charged particle beam device
US5289005A (en) * 1992-05-29 1994-02-22 Jeol Ltd. Electron microscope
KR940007963A (ko) * 1992-09-03 1994-04-28 오오가 노리오 판그물 및 투과형 전자현미경용 시료의 연마방법
JPH06181045A (ja) * 1992-10-13 1994-06-28 Hitachi Ltd 像観察方法及び透過電子顕微鏡装置
US5698856A (en) * 1996-08-05 1997-12-16 Frasca; Peter Specimen holder for electron microscope
US6221614B1 (en) * 1997-02-21 2001-04-24 The Regents Of The University Of California Removal of prions from blood, plasma and other liquids
US6002136A (en) * 1998-05-08 1999-12-14 International Business Machines Corporation Microscope specimen holder and grid arrangement for in-situ and ex-situ repeated analysis
JP2004534360A (ja) * 2001-06-15 2004-11-11 株式会社荏原製作所 電子線装置及びその電子線装置を用いたデバイスの製造方法
DE10258104B4 (de) * 2002-12-11 2005-11-03 Leica Mikrosysteme Gmbh Präparathalter mit Entnahmehilfe für die Mikrotomie und die AFM-Mikroskopie
JP2008159513A (ja) * 2006-12-26 2008-07-10 Jeol Ltd 電子顕微鏡用試料ホルダー
JP2009152087A (ja) * 2007-12-21 2009-07-09 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡
WO2014013709A1 (ja) * 2012-07-17 2014-01-23 株式会社メルビル 試料ホルダー先端部、及び前記試料ホルダー先端部を有する試料ホルダー、並びにゴニオステージ、及び当該ゴニオステージを有する電子顕微鏡
JP6061771B2 (ja) * 2013-04-25 2017-01-18 株式会社日立製作所 試料ホルダおよびそれを用いた荷電粒子線装置
US20160139397A1 (en) * 2014-11-15 2016-05-19 Noah Fram-Schwartz Specimen Stand
US11577296B2 (en) * 2018-03-12 2023-02-14 Massachusetts Institute Of Technology Devices and methods for holding a sample for multi-axial testing

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4931500U (ja) * 1972-06-16 1974-03-18
JPS5126608U (ja) * 1974-08-17 1976-02-26

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL282644A (ja) * 1962-08-29 1964-12-28

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4931500U (ja) * 1972-06-16 1974-03-18
JPS5126608U (ja) * 1974-08-17 1976-02-26

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04229540A (ja) * 1990-12-26 1992-08-19 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡用試料交換装置
JP2005522833A (ja) * 2002-04-08 2005-07-28 イー エイ フィシオネ インストルメンツ インコーポレーテッド 試料保持装置
JP2022128586A (ja) * 2021-02-23 2022-09-02 ブルーカー アーイクスエス ゲーエムベーハー Temグリッド用途のためのツール
WO2022181128A1 (ja) * 2021-02-24 2022-09-01 株式会社デンソーウェーブ 三次元計測システム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0211976B2 (ja) 1990-03-16
US4596934A (en) 1986-06-24
GB2118770B (en) 1985-12-18
GB8308260D0 (en) 1983-05-05
GB2118770A (en) 1983-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58169762A (ja) 電子線装置
JP6047592B2 (ja) 相関光学及び荷電粒子顕微鏡
CN210803880U (zh) 抖动补偿装置、照相装置以及电子设备
US5280178A (en) Specimen holder for use in a charged particle beam device
JP2015141899A5 (ja)
Tsuno et al. Design and testing of omega mode imaging energy filters at 200 kV
JP4542786B2 (ja) 試料保持装置
JPS5938701B2 (ja) 二段試料台を備えた走査型電子顕微鏡
US4024579A (en) Projection television tube system and method of producing same
JP2001338599A (ja) 荷電粒子線装置
JPS6029186B2 (ja) 電子顕微鏡
KR20050115935A (ko) 촬상장치
JPS58161235A (ja) 走査型電子線装置
GB2161019A (en) Electron microscope with interchangeable lenses
JPH0534769B2 (ja)
JPH0713163Y2 (ja) 電子線装置
JP2557267B2 (ja) 複写機の光量調整装置
JPH1064468A (ja) 試料ホルダおよび試料回り止め部材
JP2584683Y2 (ja) 顕微鏡
GB1108366A (en) Improvements in or relating to electron microscopes
US4566789A (en) Panoramic view bore examining apparatus
JPS643168Y2 (ja)
JPS5850610Y2 (ja) 電子顕微鏡等における試料装置
JPS5840527Y2 (ja) X線マイクロアナライザの磁気シ−ルド装置
JPS5853466B2 (ja) 荷電粒子ビ−ム集束偏向装置