JPS58169762A - 電子線装置 - Google Patents
電子線装置Info
- Publication number
- JPS58169762A JPS58169762A JP57050019A JP5001982A JPS58169762A JP S58169762 A JPS58169762 A JP S58169762A JP 57050019 A JP57050019 A JP 57050019A JP 5001982 A JP5001982 A JP 5001982A JP S58169762 A JPS58169762 A JP S58169762A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- magnetic pole
- hole
- objective lens
- electron beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/20—Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子II装置、特に試料保持装置に改良を加え
た電子a装置に関□するものである。
た電子a装置に関□するものである。
電子線装置の一書として41に透過証電子−徽鏡を挙げ
ると、その構造例としては、一般的に第1図に示すよう
なものがある。これは、電子銃6と、集束レンズ5とを
内蔵し、糸束レンズ50丁方に励磁コイル8,10t−
備えた対物レンズ9を配置し、さらKそのF方に中間レ
ンズ11と投影レンズ12とを備えた1411wIk鏡
本体1、及びI#l像鏡本体1の下方に配置され且つ当
該顕像鏡本体1に固定されると共に内部に役、影スクリ
ーン14を配置した中空の室16′に形成するigi*
″M2から成っている。@徽鏡本体1の中央部分には電
子銃6から発射された電子線の軸(以下、光軸という)
6に沿って長手方向に延びる中空孔7が形成されている
。対物レンズ9は励磁コイル8によって励磁される上側
磁1i16と、この上側磁極16から下方へ所定の間隔
金あけて配置され、励磁コイル10によって励磁される
下側磁極17とをfL、上1111[j16と下側磁極
17との間には試料保持装置20が挿入、引出し可能に
配置される。
ると、その構造例としては、一般的に第1図に示すよう
なものがある。これは、電子銃6と、集束レンズ5とを
内蔵し、糸束レンズ50丁方に励磁コイル8,10t−
備えた対物レンズ9を配置し、さらKそのF方に中間レ
ンズ11と投影レンズ12とを備えた1411wIk鏡
本体1、及びI#l像鏡本体1の下方に配置され且つ当
該顕像鏡本体1に固定されると共に内部に役、影スクリ
ーン14を配置した中空の室16′に形成するigi*
″M2から成っている。@徽鏡本体1の中央部分には電
子銃6から発射された電子線の軸(以下、光軸という)
6に沿って長手方向に延びる中空孔7が形成されている
。対物レンズ9は励磁コイル8によって励磁される上側
磁1i16と、この上側磁極16から下方へ所定の間隔
金あけて配置され、励磁コイル10によって励磁される
下側磁極17とをfL、上1111[j16と下側磁極
17との間には試料保持装置20が挿入、引出し可能に
配置される。
このような構成を有する透過微電子曙徽鏡は、その性能
が年々向上し、分解能は固体試料の原子的構造を結儂す
るレベルまで向上して来てお〉、一般には為性能電子l
1lIlll!鏡と言われている−この高性能電子頑轍
鏡では、対物タンス9の収差係数は極@Kまで小さくさ
れ、その値は、電子線の加速電圧がtoo kv の電
fws壷鏡では・球面収差係数Cs、色収差係数Ccと
もK11lll(ミリメートル)li[である。
が年々向上し、分解能は固体試料の原子的構造を結儂す
るレベルまで向上して来てお〉、一般には為性能電子l
1lIlll!鏡と言われている−この高性能電子頑轍
鏡では、対物タンス9の収差係数は極@Kまで小さくさ
れ、その値は、電子線の加速電圧がtoo kv の電
fws壷鏡では・球面収差係数Cs、色収差係数Ccと
もK11lll(ミリメートル)li[である。
ところで、電子頑鑞鏡の性−決定に型費な役@を果す上
紀分解峨は、理論的には次の犬で表ここで、 a:分解II!(Illm) C3二対物レンズの球面収差係数(■)λ:加速電子線
の波長(′■) である。
紀分解峨は、理論的には次の犬で表ここで、 a:分解II!(Illm) C3二対物レンズの球面収差係数(■)λ:加速電子線
の波長(′■) である。
この式からも明らかなように、固体のより忠実な原子構
造gIIを得るKは、加速電圧を烏(して電子線の波長
λ1mくするか又は球面収差係数Cstよシ小さくする
必要がある。現状においては、電子**―の最高の分解
症は加速電圧が1000 kV (+?ロボルト)て得
られてお〕、このときの電子線の波長線、λ= &7
X 1G −” L、球面収差は、Cs = 2〜3■
である。
造gIIを得るKは、加速電圧を烏(して電子線の波長
λ1mくするか又は球面収差係数Cstよシ小さくする
必要がある。現状においては、電子**―の最高の分解
症は加速電圧が1000 kV (+?ロボルト)て得
られてお〕、このときの電子線の波長線、λ= &7
X 1G −” L、球面収差は、Cs = 2〜3■
である。
と仁ろが、電子線の波長λを小さくするには、電子線の
加速電圧を大幅に上昇させなければならず、これを達成
するためには製造コストが急激に上昇する恐れがある。
加速電圧を大幅に上昇させなければならず、これを達成
するためには製造コストが急激に上昇する恐れがある。
このため、1000kvの加速電圧を生じさせることの
できる高性能電子1111徽鍾は全世界でΦ間1〜2台
楊度生産されるに過ぎない。そこて、電子Ta1lk鏡
の分解能を経済的な問題に左右されることなくよシ一層
向上させるためには、上記11)式に基づき球面収差C
st小さくする必要がある。そして球面収差を小さくす
るために鍛良の措置は、対物レンズ9の上下側磁極16
.17間距離を小さくシ、試料保持装置20上の試料と
磁極16.17との距−1つまシワ−キング・ディスタ
ンスを短くすることである。しかしながら、このような
措置を行うとなると以下の如き問題が新たに生じて来る
。
できる高性能電子1111徽鍾は全世界でΦ間1〜2台
楊度生産されるに過ぎない。そこて、電子Ta1lk鏡
の分解能を経済的な問題に左右されることなくよシ一層
向上させるためには、上記11)式に基づき球面収差C
st小さくする必要がある。そして球面収差を小さくす
るために鍛良の措置は、対物レンズ9の上下側磁極16
.17間距離を小さくシ、試料保持装置20上の試料と
磁極16.17との距−1つまシワ−キング・ディスタ
ンスを短くすることである。しかしながら、このような
措置を行うとなると以下の如き問題が新たに生じて来る
。
即ち、試料保持装置20の保持部は最小でも光軸方向の
厚みが2−以上に設定されていることである。この厚さ
は、保持部に、試料メイシエを載置固定し、試料傾斜作
動部材を組込み、爽にその上原子@Vペルの分解il!
を出し得るに充分な防振性を持たせるために不可欠のも
のである。そして、この試料保持装置加は、光軸6に対
して横方向から磁極間隙内に出し入れされる(いわゆる
サイドエントリ一方式)から、対物レンズ9の磁極間[
2■以下には出来ないことになる。このような事情によ
り、従来においては磁極間隙の最小値にtよぼ2■とし
、これよりも小さくするような対策は殆ど考慮されてい
なかつ九。したがって対物レンズ9の球面収差について
も、磁極間隙を2101以下にすればC@<1(−)と
なることがわかっていながら実理化されていなかった。
厚みが2−以上に設定されていることである。この厚さ
は、保持部に、試料メイシエを載置固定し、試料傾斜作
動部材を組込み、爽にその上原子@Vペルの分解il!
を出し得るに充分な防振性を持たせるために不可欠のも
のである。そして、この試料保持装置加は、光軸6に対
して横方向から磁極間隙内に出し入れされる(いわゆる
サイドエントリ一方式)から、対物レンズ9の磁極間[
2■以下には出来ないことになる。このような事情によ
り、従来においては磁極間隙の最小値にtよぼ2■とし
、これよりも小さくするような対策は殆ど考慮されてい
なかつ九。したがって対物レンズ9の球面収差について
も、磁極間隙を2101以下にすればC@<1(−)と
なることがわかっていながら実理化されていなかった。
なお、一つの解決策として、対物レンズ9m極間!Iを
2−以下とし、この磁極間に上lI磁他16又は下側磁
極17の中空孔7全通して光軸6の方向に出し入れする
(いわゆるトップエンドする穴径は少くとも5箇以上が
実用上必要である。
2−以下とし、この磁極間に上lI磁他16又は下側磁
極17の中空孔7全通して光軸6の方向に出し入れする
(いわゆるトップエンドする穴径は少くとも5箇以上が
実用上必要である。
この友め、逆に球面収差が大きくなるという不具合が生
じてしまう。
じてしまう。
本発明は、このような従来の問題点を一掃するためにな
されたもので、その第1の目的は、試料メツシュ及び試
料の保持は充分に行え、且つ充分なる防振性を保有して
いる上、2■以下の対物レンズ磁極間隙内に挿入、引出
し可能な試料保持装置金儲えた電子線装置を提供するこ
とである。
されたもので、その第1の目的は、試料メツシュ及び試
料の保持は充分に行え、且つ充分なる防振性を保有して
いる上、2■以下の対物レンズ磁極間隙内に挿入、引出
し可能な試料保持装置金儲えた電子線装置を提供するこ
とである。
また本発明の第2の目的は、極小寸法を有する対物レン
ズ磁極間隙内に挿入、引出しOJ能であると共に1かか
る磁極間隙内でも試料を傾斜させ得る試料保持部及び試
料傾斜部材を備えた試料保持装置を備えた電子線装置f
t提供することである。
ズ磁極間隙内に挿入、引出しOJ能であると共に1かか
る磁極間隙内でも試料を傾斜させ得る試料保持部及び試
料傾斜部材を備えた試料保持装置を備えた電子線装置f
t提供することである。
本発明の要旨i1試料保持装置の先端部に設けられた試
料保持部において、試料保持装置装填時に対物レンズ磁
極の対向頂部間を横切る所定の区域の厚みを、その他の
区域の厚みよシも薄く成形し、狭い対物レンズ磁極間隙
内に楽に挿脱出来る様にした点にある。このような構成
は、試料保持部の対物レンズ磁極に対応する部分に、磁
極頂面径より大きな穴をあける一方、試料保持装置熾か
ら上記穴にかけて所定の幅寸法を有する薄肉部を形成し
、I!に上記穴の内部に試料メツシュを配置固定するこ
とによって実現される。この薄肉部は例えば縣−程度の
厚さに設定されており、それ以外の部分は、従来通92
−或はこれ以上の厚さに設定される。試料メツシュの厚
さは02■程度であるから、対物レンズ磁極間隙の寸法
を2■より小さく設定してあっても試料保持装置の挿脱
は楽に行える。また、上記薄肉St−設けたことによる
強度或は防振性の低下等は、当該薄肉部以外の部分の厚
みを大きくとっておくことにより、光分禰うことが出来
る。試料の傾斜は試料保持装置の保持棒部分を回転させ
ることにより行い得る。また試料保持部に所だの形状の
開口を設け、この開口内に上記穴をあけた板を傾斜回転
可能に取付けて傾斜支持体とする一方、この傾斜支持体
を対物レンズ磁極間隙の外方位置で試料傾斜部材に連結
し、上記保持棒部分の回転による傾斜とは異なる方向へ
の傾斜を行えるようにすることもできる。
料保持部において、試料保持装置装填時に対物レンズ磁
極の対向頂部間を横切る所定の区域の厚みを、その他の
区域の厚みよシも薄く成形し、狭い対物レンズ磁極間隙
内に楽に挿脱出来る様にした点にある。このような構成
は、試料保持部の対物レンズ磁極に対応する部分に、磁
極頂面径より大きな穴をあける一方、試料保持装置熾か
ら上記穴にかけて所定の幅寸法を有する薄肉部を形成し
、I!に上記穴の内部に試料メツシュを配置固定するこ
とによって実現される。この薄肉部は例えば縣−程度の
厚さに設定されており、それ以外の部分は、従来通92
−或はこれ以上の厚さに設定される。試料メツシュの厚
さは02■程度であるから、対物レンズ磁極間隙の寸法
を2■より小さく設定してあっても試料保持装置の挿脱
は楽に行える。また、上記薄肉St−設けたことによる
強度或は防振性の低下等は、当該薄肉部以外の部分の厚
みを大きくとっておくことにより、光分禰うことが出来
る。試料の傾斜は試料保持装置の保持棒部分を回転させ
ることにより行い得る。また試料保持部に所だの形状の
開口を設け、この開口内に上記穴をあけた板を傾斜回転
可能に取付けて傾斜支持体とする一方、この傾斜支持体
を対物レンズ磁極間隙の外方位置で試料傾斜部材に連結
し、上記保持棒部分の回転による傾斜とは異なる方向へ
の傾斜を行えるようにすることもできる。
以下、本発明の実施真を添付の図面を参照してl#細に
説明する。
説明する。
11pJ2図乃至第4図は本発明の第1の実施例を示す
図である。この実施例に係る電子線装置の試料保持装置
f20は、試料ホルダ15と、試料ホルダ15上に、載
置される試料メツシュ29と、試料メツシュ29に押圧
1足するメツシュ押えスプリング62とから成る。試料
ホルダ15は、−f!kfI&本体1の側1に回転可能
に支持された保持棒21と、保持421の先端部に一体
的に設けられた試料保持部22とから成る。試料保持s
22の略中矢部分にはm極JJ[面径よりも充分に大き
な径を何するIj形、その他所定の形状の孔26が貫通
して設けられであ・シ、該孔26の下部には−a24Q
肯壁より半径方向内方に向けて張り出した柵s25が設
けられている。また、孔26の側壁には当該側壁から半
径方向外方に向けて切込まれ友@26が局方向に延びて
形成されている。試料ホルダ15t)保持棒21は、そ
の 軸心を中心にして回転出来るよう、円柱形の棒体か
ら成っている。一方、保持部22は、全体が2〜3−の
厚さt有する板状体から成っている。この保持ms 2
5 Kは更に、先端から孔26Kかけて所定の幅寸法で
削9取られた切欠837が形成され保持s22先熾部分
にへ5−程度の薄肉部24に形成している。切欠857
の肉肯部後熾には、#126の上側において、棚@25
に憬うようにして孔26の開口縁から半径方向内方へ向
けて突出した係止部27.28が形成されている。また
薄肉部24の先端略中央部分には凹S3aが切込み形成
されている。
図である。この実施例に係る電子線装置の試料保持装置
f20は、試料ホルダ15と、試料ホルダ15上に、載
置される試料メツシュ29と、試料メツシュ29に押圧
1足するメツシュ押えスプリング62とから成る。試料
ホルダ15は、−f!kfI&本体1の側1に回転可能
に支持された保持棒21と、保持421の先端部に一体
的に設けられた試料保持部22とから成る。試料保持s
22の略中矢部分にはm極JJ[面径よりも充分に大き
な径を何するIj形、その他所定の形状の孔26が貫通
して設けられであ・シ、該孔26の下部には−a24Q
肯壁より半径方向内方に向けて張り出した柵s25が設
けられている。また、孔26の側壁には当該側壁から半
径方向外方に向けて切込まれ友@26が局方向に延びて
形成されている。試料ホルダ15t)保持棒21は、そ
の 軸心を中心にして回転出来るよう、円柱形の棒体か
ら成っている。一方、保持部22は、全体が2〜3−の
厚さt有する板状体から成っている。この保持ms 2
5 Kは更に、先端から孔26Kかけて所定の幅寸法で
削9取られた切欠837が形成され保持s22先熾部分
にへ5−程度の薄肉部24に形成している。切欠857
の肉肯部後熾には、#126の上側において、棚@25
に憬うようにして孔26の開口縁から半径方向内方へ向
けて突出した係止部27.28が形成されている。また
薄肉部24の先端略中央部分には凹S3aが切込み形成
されている。
試料メツシュ29は、電子、線が透過し得るよう網目構
造′に有する試料載置部61とこの試料載置ツシュnは
保持部nの棚部25上に置かれると共に、その外周縁を
#$26内に嵌入させて裾付けられる。そして、試料メ
ツシュ29の上方からは、メツシュ押えスプリング62
が孔26内に入れられ、その両側端を係止部27.28
に1&会させて固定すると共に、試料メツシュ29を棚
11s25へ向けて押付は固定する。
造′に有する試料載置部61とこの試料載置ツシュnは
保持部nの棚部25上に置かれると共に、その外周縁を
#$26内に嵌入させて裾付けられる。そして、試料メ
ツシュ29の上方からは、メツシュ押えスプリング62
が孔26内に入れられ、その両側端を係止部27.28
に1&会させて固定すると共に、試料メツシュ29を棚
11s25へ向けて押付は固定する。
かかる試料保持装置に対して、電子頑徽鏡の対物レンズ
9は、第3図に示すように上下m磁極16.17がそれ
ぞれ開き角が60度前後の比較的急傾斜のm−円錐構造
に形成され、両iam間隙の寸法dは2−以下、例えば
1.3〜1.5■ と、極小寸法に設定されている。F
vam極17には、磁極頂面から所定の距離だけ離れた
位置に、光軸6に直交する方向に径寸法が約L5■の挿
通孔66が開設してあり、この挿通孔品内には支持棒6
4にビス66止めされ九対物絞965が挿入されている
。 ・ かかる構mtt有するから、本実施例においては、試料
メツシュn上に試料t−置し、試料ホルダ15を顕像鏡
本体1の儒筒部から磁極間隙へ向は光軸6に直交する方
向へ挿入f詐る。試料ホルダ15の先端部には薄肉s2
4が設けられているから、当該試料ホルダ15の磁他間
隙内に入る部分は、保持部22に装填された試料メツシ
ュ29及び試料t8−わせてもl−足らずの厚さしかな
い。したがって試料ホルダ15は上記極小寸法に設定さ
れた磁極間隙に充分に挿入6せることが可能であシ、こ
れによって試料メツシュ29の中心を光軸に合わせるこ
とができる。そして試料ホルダ15を所定位置まで挿入
すると、保持[22先端に設けた凹部38は、!iI議
鏡本体1の対向側七に取付は固定されたホルダ受39に
係合し、試料ホルダ15に支持する。
9は、第3図に示すように上下m磁極16.17がそれ
ぞれ開き角が60度前後の比較的急傾斜のm−円錐構造
に形成され、両iam間隙の寸法dは2−以下、例えば
1.3〜1.5■ と、極小寸法に設定されている。F
vam極17には、磁極頂面から所定の距離だけ離れた
位置に、光軸6に直交する方向に径寸法が約L5■の挿
通孔66が開設してあり、この挿通孔品内には支持棒6
4にビス66止めされ九対物絞965が挿入されている
。 ・ かかる構mtt有するから、本実施例においては、試料
メツシュn上に試料t−置し、試料ホルダ15を顕像鏡
本体1の儒筒部から磁極間隙へ向は光軸6に直交する方
向へ挿入f詐る。試料ホルダ15の先端部には薄肉s2
4が設けられているから、当該試料ホルダ15の磁他間
隙内に入る部分は、保持部22に装填された試料メツシ
ュ29及び試料t8−わせてもl−足らずの厚さしかな
い。したがって試料ホルダ15は上記極小寸法に設定さ
れた磁極間隙に充分に挿入6せることが可能であシ、こ
れによって試料メツシュ29の中心を光軸に合わせるこ
とができる。そして試料ホルダ15を所定位置まで挿入
すると、保持[22先端に設けた凹部38は、!iI議
鏡本体1の対向側七に取付は固定されたホルダ受39に
係合し、試料ホルダ15に支持する。
いま、上下側磁極16.17における中空孔7の穴径を
0.71、最小磁極間隙寸法dをt、3 all。
0.71、最小磁極間隙寸法dをt、3 all。
a極頂向径t2日、a4ii頂角6G’の対物レンズに
おいて、加速電圧100kVで試料の観察を行ったとこ
ろ、球園収差係数Csは約(13■となった。
おいて、加速電圧100kVで試料の観察を行ったとこ
ろ、球園収差係数Csは約(13■となった。
また、この状態において対物絞シf:躯便した明視針傷
、暗視針傷、電子回折偉は、従来の対物レンズにおける
と同様の容易さで得られた。このことから、電子線の加
速電圧を上昇させることなく、解儂性の良い浮子構造像
が得られることがわかる。なお、保持棒21の軸心を中
心にして、当該保持棒21を回転させることにより、試
料傾斜を行うことが出来る。特に、孔26は、対物レン
ズ−極面の径より充分に大きな径に開設しであるから、
保持部22の厚内部が上下側磁極16、17に干渉する
ことなく、約±15°の試料傾斜が得られる。
、暗視針傷、電子回折偉は、従来の対物レンズにおける
と同様の容易さで得られた。このことから、電子線の加
速電圧を上昇させることなく、解儂性の良い浮子構造像
が得られることがわかる。なお、保持棒21の軸心を中
心にして、当該保持棒21を回転させることにより、試
料傾斜を行うことが出来る。特に、孔26は、対物レン
ズ−極面の径より充分に大きな径に開設しであるから、
保持部22の厚内部が上下側磁極16、17に干渉する
ことなく、約±15°の試料傾斜が得られる。
なお、この実施例において、試料ホルダ15の保持部2
2先漏には薄肉部24が設けられているが、この部分を
完全に切シ落して孔23に続く中空の切欠部67とし、
試料ホルダ15を片持梁構造にするCともできる。
2先漏には薄肉部24が設けられているが、この部分を
完全に切シ落して孔23に続く中空の切欠部67とし、
試料ホルダ15を片持梁構造にするCともできる。
第5図及び第6図は本発明の第2の実施例を示す図であ
る。この実施例において、試料ホルダ15は、その保持
部22の中央部分に矩形状の収納開口40が形成される
と共に、その両側には−対のねじ孔41が対向して穿設
されている。この収納開口40内には、この収納開口4
0に遊嵌し得る外形及び寸法を有する板状の傾斜支持台
46が配置され、ねじ孔41に螺合させた止めねじ42
に軸傾斜支持台43の両側に設けた受部45に9に会さ
せることにより、回転可能に支持される。傾斜支持台4
6には、磁極頂面径よりも光分に大きな祉を有する円形
の孔26が貫通して設けられてν9、上記第117)*
施例におけると同様の棚部25、壽26が形成されてい
る。tた、保持s22の先端VCは切欠部37及び凹部
38t−形成した薄肉824が形成され、傾斜支持台4
6には切欠部57、薄内鄭24のそれぞれに連続する様
に切欠s46薄内s44がそれぞれ設けられ、切欠部4
6の両w後端には係止部27.28が設けられている。
る。この実施例において、試料ホルダ15は、その保持
部22の中央部分に矩形状の収納開口40が形成される
と共に、その両側には−対のねじ孔41が対向して穿設
されている。この収納開口40内には、この収納開口4
0に遊嵌し得る外形及び寸法を有する板状の傾斜支持台
46が配置され、ねじ孔41に螺合させた止めねじ42
に軸傾斜支持台43の両側に設けた受部45に9に会さ
せることにより、回転可能に支持される。傾斜支持台4
6には、磁極頂面径よりも光分に大きな祉を有する円形
の孔26が貫通して設けられてν9、上記第117)*
施例におけると同様の棚部25、壽26が形成されてい
る。tた、保持s22の先端VCは切欠部37及び凹部
38t−形成した薄肉824が形成され、傾斜支持台4
6には切欠部57、薄内鄭24のそれぞれに連続する様
に切欠s46薄内s44がそれぞれ設けられ、切欠部4
6の両w後端には係止部27.28が設けられている。
なお、試料メツシュ汐及びメツシュ押えスプリング62
の構造及びMR付は方法は、上記第1の、実施例におけ
ると同様である。
の構造及びMR付は方法は、上記第1の、実施例におけ
ると同様である。
かかる構成を有するため、不実m例に係る試料保持装置
20もま九、上記第1の実施例におけると同様、試料ホ
ルダ15の磁極間隙内に入る部分は、試料メツシュ汐及
び試料を合わせてもl−足らずの厚さしかない。したが
って、この試料ホルダ15は、極小寸法に設定された磁
極間隙に充分に東に挿入する仁とが可能である。そして
、この実施例においては、試料ホルダ15は、保持棒2
1を回転させることにより列えばX軸傾斜を行うことが
でき、又他方、止めねじ42を回転させることくよりX
軸に直交するY軸傾斜を行わせることが出来る。このた
め、上記第1の実施列におけるよりは、よシ一層バラエ
ティに富んだ試料観察を行うことができる。
20もま九、上記第1の実施例におけると同様、試料ホ
ルダ15の磁極間隙内に入る部分は、試料メツシュ汐及
び試料を合わせてもl−足らずの厚さしかない。したが
って、この試料ホルダ15は、極小寸法に設定された磁
極間隙に充分に東に挿入する仁とが可能である。そして
、この実施例においては、試料ホルダ15は、保持棒2
1を回転させることにより列えばX軸傾斜を行うことが
でき、又他方、止めねじ42を回転させることくよりX
軸に直交するY軸傾斜を行わせることが出来る。このた
め、上記第1の実施列におけるよりは、よシ一層バラエ
ティに富んだ試料観察を行うことができる。
なお、上記実施においては、1過型電子1I111[鏡
の対物レンズ磁極ギャップ間に試料を挿入保持するため
の保持装置について説明して来たが、走査型電子−徽鏡
において4分解能を向上させるために対物レンズ磁極間
隙内に試料を挿入することがある。この様な場合におい
ても本発明會胃効に適用することができる。更に、電子
頑f11硯に限らず、同様の機能を有する他の装置にも
適用することが可能である。
の対物レンズ磁極ギャップ間に試料を挿入保持するため
の保持装置について説明して来たが、走査型電子−徽鏡
において4分解能を向上させるために対物レンズ磁極間
隙内に試料を挿入することがある。この様な場合におい
ても本発明會胃効に適用することができる。更に、電子
頑f11硯に限らず、同様の機能を有する他の装置にも
適用することが可能である。
以上説明したように、本発明によれば、試料ホルダの保
持部に対物レンズ磁極の頂内径よ多も光分に大きな孔を
設け、保持部先端から上記孔まで延びる切欠部を設ける
と共に、孔内に試料メツシュを設置した電子線装置の試
料保持装置としたため、対物レンズ′磁極、関imt大
幅に小さく設定してもスムーズに試料の挿脱及び傾斜が
出来るようになり、当該電子線装置の分解能を向上させ
ることが可能になる。筐た、試料傾斜に際しても試料ホ
ルダの保持部や傾斜部材が対物レンズ磁極に干渉する仁
とはなく、最大限の試料傾斜を行うことができる。更に
対物絞りを磁極間隙から充分に離れfc磁陣内部に配置
−rるようにしたため、上記磁極間隙を有効に利用でき
る等、楕々の効果が得られる。
持部に対物レンズ磁極の頂内径よ多も光分に大きな孔を
設け、保持部先端から上記孔まで延びる切欠部を設ける
と共に、孔内に試料メツシュを設置した電子線装置の試
料保持装置としたため、対物レンズ′磁極、関imt大
幅に小さく設定してもスムーズに試料の挿脱及び傾斜が
出来るようになり、当該電子線装置の分解能を向上させ
ることが可能になる。筐た、試料傾斜に際しても試料ホ
ルダの保持部や傾斜部材が対物レンズ磁極に干渉する仁
とはなく、最大限の試料傾斜を行うことができる。更に
対物絞りを磁極間隙から充分に離れfc磁陣内部に配置
−rるようにしたため、上記磁極間隙を有効に利用でき
る等、楕々の効果が得られる。
第1図は、匠米からの電子電磁−の一般的な構造例を不
す鮒面図である。 飢2図は、本発明の第1の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置を分解して示す@?Il!図である。 第3図は、上記第1の実施例における試料保持装置を対
物レンズ磁極間隙に挿入した状mtを示す断面園である
。 111!4図は、上記第1の実施例における試料保持装
置を対物レンズ磁極間隙に挿入した状態を示す平面図で
ある。 第5図は、本発明の第2の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置上分解して示す斜視図である。 @6図は、上記第1の実施例における試料保持装置1を
対物レンズ磁極@隙に挿入した状態を示す平面図である
。 1・・・4最鏡本体 6・・・電子銃8.10・・
・励磁コイル 9・・・対物レンズ15・・・試料ホル
ダ 16・・・上側磁極17・・・下側磁極
λ・・・試料保持装置21・・・保持棒 2
2・・・試料保持部b・・・孔 29・・
・試料メッシュあ・・・対物絞υ 67・・・切
欠部45・・・傾斜支持台 特許出願人 株式会社 国 際 梢 工第1図 第2図 第3図 第4図 第511 第6図
す鮒面図である。 飢2図は、本発明の第1の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置を分解して示す@?Il!図である。 第3図は、上記第1の実施例における試料保持装置を対
物レンズ磁極間隙に挿入した状mtを示す断面園である
。 111!4図は、上記第1の実施例における試料保持装
置を対物レンズ磁極間隙に挿入した状態を示す平面図で
ある。 第5図は、本発明の第2の実施例に係る電子線装置の試
料支持装置上分解して示す斜視図である。 @6図は、上記第1の実施例における試料保持装置1を
対物レンズ磁極@隙に挿入した状態を示す平面図である
。 1・・・4最鏡本体 6・・・電子銃8.10・・
・励磁コイル 9・・・対物レンズ15・・・試料ホル
ダ 16・・・上側磁極17・・・下側磁極
λ・・・試料保持装置21・・・保持棒 2
2・・・試料保持部b・・・孔 29・・
・試料メッシュあ・・・対物絞υ 67・・・切
欠部45・・・傾斜支持台 特許出願人 株式会社 国 際 梢 工第1図 第2図 第3図 第4図 第511 第6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 l)上側磁極と、この上111磁極から所定の関−をあ
けて設けられ圧下側磁極と′に有する対物レンズと、保
持棒及び保持棒の先端に設けられた保持部から成る試料
ホルダを有し、対物レンズの磁極間隙内に試料を挿脱す
る試料保持装置とを備えた電子線装置において、上記試
料保持装置は、試料ホルダの保持部略中央部に対物レン
ズ磁極の頂WJI!!よシも充分に大きな径を有する孔
を設け、保持部先熾から上記孔まで延びる切欠部を設け
ると共に、孔内に試料メツシュを配置固定したことを特
徴とする電子線装置。 2)試料ホルダの保持部には収納開口が形成され、当該
収納開口内には、傾斜支持台が、保持棒の軸心に対して
交差する軸を中心にして回転可能に壜付けられ、当該傾
斜支持台の略中央部に孔が形成されておシ、且つ切欠部
は、保持部先端から傾斜支持台の先燗側部分を通シ、孔
まで延びていることを特徴とする特許請求の範l!l第
1項記載の電子線装置。 3)対物レンズの磁極間隙の寸法は2ミリメートル以下
に設定されていることt%黴とする特許請求の範s菖1
項又は!82項記載の電子線装置。 4)保持部に設けた切欠部には、厚さが1 ミリメート
ル以下の薄肉部が形成されており、切欠部以外の部位は
2ミリメートル以上の厚さに形成されていることを特徴
とする請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記載の
電子線装置。 5)保持部に設けた切欠部は、保持部先端から孔まで中
空溝状κ延びていること′t−特徴とする特許請求の範
囲第1項乃至第3項のいずれかに記載の電子線装置。 6)試料メツシュは対物レンズの磁極頂面径よシも充分
に大きな外径寸法を有し、中央部分に網目構造の試料載
置部が設けられ、その外側を支持部で包囲して成ること
を%像とするql#許請求の範囲第1項乃至第5項のい
ずれかに記載の電子線装置。 7)傾斜支持台を支える支持Sは対物レンズの磁極間隙
部より外側に設けられていることを特徴とする特許請求
の範−菖2項記載の電子纏装置。 8)対物レンズの下側磁極には磁極頂部から充分噛れ友
部位に光軸と直交する挿通孔が設けられ、この挿通孔よ
り、対物絞9が着脱自在に導入されることt*黴とする
特許請求の範囲at項乃至第7項のいずれかに記載の電
子線装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57050019A JPS58169762A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 電子線装置 |
GB08308260A GB2118770B (en) | 1982-03-30 | 1983-03-25 | Specimen holder for electron microscope |
US06/479,172 US4596934A (en) | 1982-03-30 | 1983-03-28 | Electron beam apparatus with improved specimen holder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57050019A JPS58169762A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 電子線装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33520288A Division JPH01236566A (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 電子線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58169762A true JPS58169762A (ja) | 1983-10-06 |
JPH0211976B2 JPH0211976B2 (ja) | 1990-03-16 |
Family
ID=12847278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57050019A Granted JPS58169762A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 電子線装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4596934A (ja) |
JP (1) | JPS58169762A (ja) |
GB (1) | GB2118770B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04229540A (ja) * | 1990-12-26 | 1992-08-19 | Jeol Ltd | 透過電子顕微鏡用試料交換装置 |
JP2005522833A (ja) * | 2002-04-08 | 2005-07-28 | イー エイ フィシオネ インストルメンツ インコーポレーテッド | 試料保持装置 |
WO2022181128A1 (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-01 | 株式会社デンソーウェーブ | 三次元計測システム |
JP2022128586A (ja) * | 2021-02-23 | 2022-09-02 | ブルーカー アーイクスエス ゲーエムベーハー | Temグリッド用途のためのツール |
Families Citing this family (20)
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---|---|---|---|---|
US4595481A (en) * | 1984-08-21 | 1986-06-17 | Komag, Inc. | Disk carrier |
JP2569011B2 (ja) * | 1986-06-11 | 1997-01-08 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡 |
JPH0614460B2 (ja) * | 1987-05-22 | 1994-02-23 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡等における試料装置 |
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KR940007963A (ko) * | 1992-09-03 | 1994-04-28 | 오오가 노리오 | 판그물 및 투과형 전자현미경용 시료의 연마방법 |
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US5698856A (en) * | 1996-08-05 | 1997-12-16 | Frasca; Peter | Specimen holder for electron microscope |
US6221614B1 (en) * | 1997-02-21 | 2001-04-24 | The Regents Of The University Of California | Removal of prions from blood, plasma and other liquids |
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DE10258104B4 (de) * | 2002-12-11 | 2005-11-03 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Präparathalter mit Entnahmehilfe für die Mikrotomie und die AFM-Mikroskopie |
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JP2009152087A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Jeol Ltd | 透過電子顕微鏡 |
WO2014013709A1 (ja) * | 2012-07-17 | 2014-01-23 | 株式会社メルビル | 試料ホルダー先端部、及び前記試料ホルダー先端部を有する試料ホルダー、並びにゴニオステージ、及び当該ゴニオステージを有する電子顕微鏡 |
JP6061771B2 (ja) * | 2013-04-25 | 2017-01-18 | 株式会社日立製作所 | 試料ホルダおよびそれを用いた荷電粒子線装置 |
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US11577296B2 (en) * | 2018-03-12 | 2023-02-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Devices and methods for holding a sample for multi-axial testing |
Citations (2)
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JPS4931500U (ja) * | 1972-06-16 | 1974-03-18 | ||
JPS5126608U (ja) * | 1974-08-17 | 1976-02-26 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL282644A (ja) * | 1962-08-29 | 1964-12-28 |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57050019A patent/JPS58169762A/ja active Granted
-
1983
- 1983-03-25 GB GB08308260A patent/GB2118770B/en not_active Expired
- 1983-03-28 US US06/479,172 patent/US4596934A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5126608U (ja) * | 1974-08-17 | 1976-02-26 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0211976B2 (ja) | 1990-03-16 |
US4596934A (en) | 1986-06-24 |
GB2118770B (en) | 1985-12-18 |
GB8308260D0 (en) | 1983-05-05 |
GB2118770A (en) | 1983-11-02 |
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