JP4542786B2 - 試料保持装置 - Google Patents

Description

本発明は、荷電粒子ビーム装置のような電子顕微鏡システムにおいて視認または画像形成時に試料を保持する試料保持装置に関する。

図１は電子顕微鏡のような従来技術の典型的な荷電粒子ビーム装置１を示すが、これはEngelen et al.の米国特許第５，２８０．１８７号に記載されている。荷電ビーム装置１は、例えば、１０^-7トルの真空度にできる支柱３を有する。電子源５は電子ビームを光軸７に沿って放出するが、このビームは二重集光系８及び対物レンズ９により試料１１に投射される。対物レンズ９の下方部分は、回折レンズ、中間レンズ及び２つの投射レンズ（全てレンズ１０で略示される）と協働して、試料１１の画像をターゲット２０上に、例えば１０⁶の倍率で形成する。

荷電粒子ビーム装置１のような顕微鏡システムにおいて、試料１１は通常、試料ホルダー１３により支持される。試料ホルダー１３は球面軸受１７を介して支柱３に連結されているため、試料ホルダーを光軸７に平行な方向に光軸７に対して約１ｍｍ、また、光軸７に垂直な方向に約１ｍｍの距離にわたり変位させることができる。さらに、試料ホルダー１３をその軸を中心として回転させることより試料１１を傾けることができる。試料１１を傾けるのは、様々な方向から種々の角度で見た試料１１の多数の画像を得るために重要である。このような多数の角度で形成される画像は、試料１１の三次元画像の再構成、試料１１の回折画像の検査に利用することが可能であり、また、試料１を材料分析する場合は、対物レンズ９の上方極片９ａに隣接して配置され、電子ビームが試料１１に発生させるＸ線を検出するＸ線検出器からの信号を最適化するために使用できる。

レイリーの理論によると、試料１１における観察可能な最小細部の寸法はλ／ａに比例し、ａは対物レンズ９の開口数、λは電子の波長である。３００ｋＶにもなる電子エネルギーでは、波長は約２×１０^-3 ｎｍにもなる。対物レンズ９により生じる球面収差によりかかる解像力は得られないが、その理由は、光軸７上の点が対物レンズ９により直径がＣ_sａ³に比例するスポットとして画像形成されるからである。このＣ_sは球面収差係数である。開口数が球面収差を減少させるためのできるだけ小さい値と、レイリーに従って解像力を最大にするためのできるだけ大きい値との間で選択されると、最小解像力が得られる。その場合、観察可能な最小細部の寸法は０．０６７Ｃ_s１／４λ^1/4である。高解像力の電子顕微鏡では、１ｍｍの球面収差係数の値では０．１７−０．２０ｎｍの解像力が得られる。このように低い収差係数は、極片９ａと９ｂの間の距離を１ｍｍに等しくすることにより得られる。高解像力を得るには極片距離を小さくする必要があるため、極片間に導入される試料ホルダーの部分を非常に薄くしなければならない。さらに、試料１１の画像を乱す振動を防止するために試料ホルダー１３が十分な剛性を持つようにする必要がある。また、一般的にグリッドとして知られる円形金属メッシュ上に支持された、例えば、厚さ２０ｎｍの炭素フィルムより成る試料１１を、損傷しないように簡単な態様で試料ホルダー１３に固定できなければならない。

図２は、荷電粒子ビーム装置１に試料１１を保持するための試料ホルダー１３の一部を形成する従来型試料保持装置２１の等角投影図である。この試料保持装置２１は、米国特許第５，２８０，１７８号に記載されており、試料１１を配置する支持表面２３を有する。試料１１は支持表面２３上に可撓性保持要素２５によりクランプされるが、この保持要素は環状中央部分２７より成る接触部分と３つのアーム２９ａ、２９ｂ、２９ｃとを有する。各アーム２９は、試料保持装置２１の周端縁部３３と弾性係合できるラグ３１を有する。ラグ３１の１つには、保持要素２５を容易に取り外せるようにする取り外し部分３５が設けられている。支持表面２３は試料保持装置２１の上面３９から凹んだ位置にあるため、保持要素２５は試料保持装置２１の垂直方向位置決め端縁部４１と接触する。従って、円筒表面の幾つかの部分より成る垂直な端縁部４１により、支持表面２３の平面上に円形試料１１を配置することが可能であるが、試料は保持要素２５により定位置に保持される。

図３は、米国特許第５，２８０，１７８号に記載された別の試料保持装置２１の等角投影図である。この実施例の試料１１は可撓性舌部４３、４５による弾性力により支持表面２３上にクランプされるため、弾性クランピングの周知の利点が得られる。

図２に示す試料保持装置２１は、種々の高さの試料に対してある許容範囲を有し、どちらかと言えばそれほど厚くない。しかしながら、クリップ２７と本体３９の間の３つの係合点を同時に並列させる必要があるためオペレータにとって使用し辛いことがわかっている。さらに、試料を観察する傾斜角に有限の限界が存在するが、その理由は、試料１１の周囲全体に試料の上方にくる構造部分があり、また支持構造を試料の周囲全体でその下方に位置させる必要があるからである。図３に示す装置２１では、可撓性舌部４３、４５が試料の周囲の個別の位置にあるため、試料を少なくとも１つの軸を中心として傾ける時に大きな傾斜角で試料を見る妨げにならないように配置することが可能である。しかしながら、このアプローチには、クリップから抑制力を受けると同時に試料をクリップの下方で摺動させなければならないという問題点がある。このため装填が容易でなく、壊れやすい試料が損傷し易い。

試料を保持し支持するさらに別の装置は、Yamanaka et al.の米国特許第４，５９６，９３４号に教示されている。この装置では、検査すべき試料は円形の試料グリッド上に配置され、グリッドは図１に関連して記載された試料ホルダー１３の一部を形成するかその態様で使用される移動可能な試料ホルダー内に形成された円筒状皿孔に配置される。試料ホルダー内に形成された対応の溝にスナップ係合されるＣ字形保持ばねが記載されている。この機構には種々の厚さの試料を拘束する能力に限界があり、Ｃ字形保持ばねは一部のオペレータにとって取り扱いが容易でないことが判明している。

試料を拘束する別の周知の従来型方法及び装置は、試料ホルダーの本体に形成された内側螺設部に係合する外側螺設部を有するリングを利用する。この機構は、螺設部が剛性であるため壊れやすい試料を損傷し易い。さらに、一部の用途において、例えば、多数の角度における観察結果から三次元モデルを再構成するためには、試料を鉛直軸から大きい角度で（即ち、その表面にほぼ平行に）観察する必要がある。螺設部を有するリングは試料支持面に垂直な方向において厚いため、大きな角度での試料の画像を不明瞭にし、観察を限られた角度範囲に限定することになる。即ち、試料の上の視野はビームが垂直に入射すると円形であるが、ホルダーが傾斜されると螺設部付のリングにより徐々に減少するかあるいは影により「猫の目」状となり、最終的に、視野が中位の傾斜角（例えば、垂直から±５０度）でごくわずかなものとなる。

図４は、試料を拘束するさらに別の従来型装置を示す。この装置は、レバーが試料支持面に平行な軸を中心として枢動することにより各レバーの一方の端部を試料の上面に接触してほぼ鉛直な拘束力をその上に加えることができるものである。詳述すると、図４では、支持面１００は試料の主要な位置決め表面である。レバーの一部を形成するジョー１０３、１０４をヒンジ１０５及び１０６を中心として回転させることにより、試料を面１００にほぼ鉛直な力で押圧することができる。この力は、可撓性材料で作られたワイヤ脚部１０１、１０２により適用され、制御されるため、弾性クランピングの公知の利点が得られる。試料を大きな傾斜角で見るためには、この構成は、ジョー１０３、１０４及びワイヤ脚部１０１、１０２より成るレバーが試料の周囲の個別位置を占めることが可能であり、少なくとも１つの軸を中心として傾斜させた時に見る角度により試料を見る妨げにならないように配置できるという利点がある。即ち、拘束機構による中央領域への視線が妨げられることなく少なくとも１つの軸を中心として試料を傾斜することができる。市販されているかかる装置の一例であるGatan, Inc.のモデル670 Ultra High Tilt Holderは、試料を鉛直な入射角から±８０度傾斜させても試料は不明瞭にならないと宣伝されている。しかしながら、拘束力を加えるのと同じ枢動運動により、装填時及び取り外し時にレバー（即ち、ジョー１０３及び１０４の先端部）を試料から離れる方向に後退させる。従って、オペレータは拘束力を印加する前にちょっと休んでから、試料及びレバーの位置決めをチェックするのは困難である。各レバーのジョー１０３及び１０４を試料から持ち上げるには、各レバーのワイヤ脚部１０１、１０２を試料支持面の下方で枢動させる必要があるが、これはオペレータによる高精度の操作を難しくする。これをさらに難しくしているのは、オペレータが試料を取り付けたのとは反対側からワイヤ脚部１０１、１０２を操作しなければならないとことである。さらに、この装置を、電子顕微鏡のような荷電粒子装置において通常遭遇するような狭い空間内に簡単に装着できるように小さくするのは容易でない。

試料を拘束する別の公知の方式として、ほぼ単一の面内に位置する２つの平坦な支持表面と、試料（通常はリボン状）の２つの対向端部をそれぞれ上述した２つの平坦な支持表面に固定するためのねじ及び座金のような手段とより成るものがある。これは通常、１つの表面が観察中の試料を引き伸ばすように移動可能な、所謂拘束式ホルダーの１つの特徴である。公知の拘束式ホルダーでは、クランプ機構を試料装填の目的で完全に取り外す必要があるため、使用しづらい。

これらの従来型試料拘束装置は全て試料の下方に位置する静止支持面と、試料の上方に位置する可動または着脱自在の拘束要素とを用いるものである。試料を大きな傾斜角で見ることができるという特性は拘束要素の形状及び寸法並びに試料の下方の支持構造の形状及び寸法の両方により影響を受けるということがわかる。従って、これらの要素のそれぞれの厚さが実際の視覚を制限するため、大きい傾斜角で見ることができるようにそれらの要素をできるだけ薄くするのが望ましい。しかしながら、拘束要素の設計及び物理的特性により支持構造の設計及び物理的特性に物理的制約が加わるため、これらの要素が互い無関係ではないことがわかる。例えば、螺設部付きリングの拘束要素は皿孔の対応螺設部を必要とし、支持表面上の試料を介して下向きの力を印加する。従って、この支持構造は永続的な変形を起こさずにこの力に抵抗するだけの十分な大きさと強度を持つ必要がある。同様に、弾性支持機構はホルダーの構造内に力を発生させるが、この力はホルダーが永続的な歪みを起こさずに支えなければならない。

発明の概要

本発明によると、試料保持装置であって、第１の端部と第２の端部の間を延びる縦方向軸を有し、溝が設けられた主要本体と、主要本体の溝に設けられた試料支持表面と、試料支持表面から外れた第１の位置から試料支持表面の周囲にわたり侵入する第２の位置へ主要本体に沿い溝内を縦方向軸に実質的に平行な方向で移動可能な拘束要素とより成り、主要本体の溝は拘束要素全体が溝内に収まる深さを有し、拘束要素はその本体部分に沿って延びるスロットを有し、拘束要素は柔軟性を有する複数のフィンガを有し、複数のフィンガは拘束要素が第２の位置にある時試料支持表面の周囲にわたり侵入し、試料保持装置はさらに、スロットを貫通して主要本体内に延びる固定手段を備え、スロットと固定手段とは拘束要素の主要本体に沿う運動を制限し、拘束要素と主要本体の間には付勢要素が設けられ、固定手段は付勢要素により与えられる力に抗して拘束要素に主要本体の上面にほぼ垂直な方向の力を選択的に印加することにより拘束手段を主要本体に、また、試料を試料支持表面に拘束することを特徴とする試料保持装置が提供される。
本発明の目的は、従来より知られた可撓性拘束装置及び方法の利点を備えると共に広い範囲の傾斜角にわたる観察能力を損なわずに試料の装填及び取り外しをより簡単且つ高い信頼度で行えるようにした試料ホルダーを提供することにある。本発明による拘束装置のシステムは、試料に何らかの力を印加する前に視覚による試料の正確な整列を可能にする。さらに本発明では、ホルダーの上方側面のみにオペレータがアクセスすれば試料を装填したり取り出したりすることができる。これは、当業者、例えば、電子顕微鏡分野の当業者であれば、オペレータにとって利点であることが分かるであろう。さらに、本発明は拘束力の試料表面にわたる分布を改善することができる。これにより、壊れやすい試料を優しく拘束するだけでなく均等でない表面を有する試料を拘束することが可能となる。

本発明の一実施例によると、試料保持装置は、その周囲に隆起した端縁部を有する、好ましくは円形の試料支持表面を備えた主要本体を有する。隆起端縁部は、試料を支持表面の面上の既知の位置に拘束する円筒状表面を形成する。１またはそれ以上の円錐状表面は、隆起端縁部の頂部から上方に延びて試料を所望の位置に案内するオペレータを支援する。１またはそれ以上の可撓性拘束要素は、試料領域の周辺に位置し、装置の主要本体の縦方向軸に沿って移動可能である。各拘束要素は、その運動を試料とオーバーラップするか試料とオーバーラップする位置から後退させることのできる通路に拘束する溝内に位置するのが好ましい。各拘束要素には、好ましくは、拘束要素の移動時に拘束要素の試料接触部分を支持表面の上面から持ち上げるばねのような付勢要素が設けられる。各拘束要素は、ねじのような作動固定手段を有し、オペレータはこの手段によりばね要素の力に抗して試料に試料支持面に実質的に鉛直な拘束力を加えることができる。オペレータが拘束力を取り除く時にこの拘束要素を容易に移動させることができるように、各拘束要素はさらに、隆起タブまたはペグまたは、最も好ましくはホールのような把持要素を有するのが好ましい。本発明は、拘束要素を前進させたり後退させたりすることが可能であり、また拘束力の印加または除去をホルダーに関する１つの方向から全て行えるという利点を有する。各拘束要素の試料接触部分は、好ましい実施例において、別個のフィンガに分割されるため、各フィンガは個別の拘束力を試料の個別の位置に及ぼすことができる。これは、他の方法では損傷を受けるか、保持が十分でないと知られる普通でない形状の、または壊れやすい試料の場合に利点となる。これらのフィンガは、例えば、１枚のシート材料にスロットを切削するか、小さな可撓性ワイヤを１枚のシート材料の端縁部を越えて突出するように溶接するか、または当業者に明らかな他の方法により形成することができる。拘束要素、ばね及び支持構造は、燐青銅またはベリリウム‐銅のような非磁性材料で作るのが好ましい。各拘束要素の試料接触部分は、例えば、０．５ｍｍだけ試料とオーバーラップするのが好ましいが、これにより所望の視野の外側にありながら安定保持のための十分な係合が得られる。拘束要素の幾何学的形状及び材料は、５グラムの力のように試料を積極的に固定するのに十分であるが、２０グラムを超えない力のように試料に損傷を与えない十分に小さい拘束力を与えるように選択する必要がある。

本発明の別の実施例によれば、各拘束要素は試料支持面に平行な面内での回転により試料領域からが後退することができる。試料ホルダーの他の特徴及び利点は実質的に同じである。この場合、オペレータは試料を定位置に別個に取り付け、拘束要素を旋回させて所望の位置に移動させ、各拘束要素により試料に拘束力を加えることができる。

本発明によると、拘束要素を試料が１つの軸を中心として傾斜する角度とは無関係に試料が陰にならないように試料の周囲の個別位置に配置することが可能である。従って、試料を視界を妨げられることなく見ることができる角度は本質的に支持構造だけにより決まる。このため、直径３ｍｍのディスク形試料を用いる時は、例えば±８０度の傾斜を与えることができるように選択的に薄くすることができる。

当業者は、特定の実施例について述べたが、本発明の思想及びアプローチに沿って他の多くの変形例が可能であることがわかるであろう。

図５は、本発明の第１の実施例による試料ホルダー２２５の等角投影図である。図６は図５の線Ａ−Ａに沿う試料ホルダー２２５を示す断面図である。試料ホルダー２２５は、荷電粒子ビーム装置のような電子顕微鏡システムにおいて視認または画像形成すべき円形試料を支持する円形の支持表面２００を有する。支持表面２００の境界の一部として、支
持表面２００の両側において支持表面から垂直に延びる端縁部２０１Ａ、２０１Ｂがある。端縁部２０１Ａ、２０１Ｂはそれぞれ円筒状表面の一部を構成する。円錐状部分２０２は端縁部２０１Ａ、２０１Ｂの頂部から延びるため、大きい傾斜角で試料を見易くする切欠き部分が円錐状部分２０２の間に残される。円錐状部分２０２はまた、端縁部に２０１Ａ、２０１Ｂが境界を接する支持表面２００の領域内に試料を案内する働きがある。拘束要素２０３は、試料ホルダー２２５の主要本体２０８の溝２０６内に配置され、その内部で移動可能である。溝２０６は、図６に示すように拘束要素２０３全体が溝内に収まる深さを有し、拘束要素２０３の運動を、ほぼ支持表面の面２００の方へまたはそれから遠ざかる方向であって、主要本体２０８の縦方向軸にほぼ平行で且つ端縁部２０１Ａの中心点と端縁部２０１Ｂの中心点の間の第２の方向にほぼ垂直な第１の並進方向に制約する。拘束要素２０３は、ねじ２０９により溝２０６内に保持され、図６からわかるように拘束要素２０３の直下に位置するばね２１０または同様な付勢要素の付勢作用に抵抗する。あるいは、ねじ２０９の代わりにウェッジまたは他の適当な固着手段を用いて各拘束要素２０３を定位置に保持することができる。ばね２１０は、ベリリウム‐銅のような非磁性ばね材料より成るのが好ましい。拘束要素２０３の本体部分に沿って延びて溝２０６内の拘束要素２０３の運動をねじ２０９に接触させて制限するスロット２０４を拘束要素に設けるのが好ましい。ばね２１０は拘束要素２０３を溝２０６の底面から離れる方向に持ち上げる傾向があるが、ねじ２０９はこの持ち上げる程度を制限し、これにより拘束要素２０３の自由位置を調節することができる。拘束要素２０３にはホール２０５または隆起タグまたはペグのような別の把持要素を設けるのが好ましく、これによりオペレータは拘束要素２０３を試料から離れた領域で把持することができる。前方位置において、拘束要素２０３は支持表面２００の周辺にわたり侵入するが、後退位置において、拘束要素２０３はそれ自身の表面に鉛直な方向での支持表面２００の投射を妨げないように支持表面２００から後退している。図５及び６において支持ホルダー２２５を２つの拘束要素を有するものとして示すが、試料ホルダー２２５にただ１つの拘束要素２０３を設けても本発明の範囲から逸脱しないことが当業者にわかるであろう。

オペレータは、実際には、最初にねじ２０９を緩めて、拘束要素２０３を支持表面２００から離れる方向に後退させる。次いで、オペレータは、支持表面２００上に試料を配置し、拘束要素２０３を試料の一部とオーバーラップする位置に押し出す。この位置で、オペレータは全てのコンポーネントの整列関係、特に、試料に対する拘束要素２０３の位置を、試料に拘束力を加える前にチェックすることができる。次に、オペレータは、ねじ２０９を固く締めて、拘束要素２０３、そして試料に下向きの力を選択的に印加する。試料に印加される力の大きさは、ねじ２０９を締めるためのねじ回しの一部を形成するトルク制限装置によるか、または、例えば試料と接触関係にあるフィンガ２１１の撓曲によるような拘束要素２０３の固有のコンプライアンスにより制御することができる。好ましい実施例では、この力は、拘束要素２０３の端部に設けられた複数のフィンガ２１１を介して試料に伝えられる。柔軟性を有するのが好ましいフィンガ２１１は、たとえ凸凹のまたは均等でない表面を有する試料であってもその試料と多数の点で接触する。フィンガ２１１は、例えば、１枚のシート材料にスロットを切削するか、小さな可撓性ワイヤをシート材料の端縁部から突出するように溶接するか、または当業者に明らかな他の方法により形成することができる。主要本体２０８には、電子顕微鏡のような荷電粒子ビーム装置の動作において必要とされるように、荷電粒子ビームが試料及び試料ホルダー２２０を通過して観察できるように、ホール２０７を設けるのが好ましい。

各拘束要素２０３の試料接触部分は、例えば０．５ｍｍだけ試料とオーバーラップするのが好ましく、これにより所望の視野の外側にありながらしっかりと保持するための十分な係合が得られる。拘束要素２０３の幾何学的形状及び材料は、５グラムの力のように試料をしっかりと固定するのに十分であるが、２０グラムを超えない力のように試料に損傷を与えないように十分小さな拘束力を発生するように選択しなければならない。

図７は、円筒軸２２０に固定された図５及び６の試料ホルダー２２５を示す等角投射図である。円筒軸２２０は、試料支持面に平行な軸を有し、試料ホルダー２２５を荷電粒子ビーム装置のような顕微鏡システムの支柱内に挿入するために使用される。当業者であればわかるように、図８に関連して説明する試料ホルダー２３０は、試料ホルダー２２５の代わりに円筒軸２２０に固定できる。電子顕微鏡分野の当業者は、試料ホルダー２２５または２３０のような拘束機構と円筒軸２２０とより成るこの構成の利点がわかるであろう。即ち、これらの実施例は、試料を装填するにあたり上述したような利便性を提供し、試料を安全に拘束し、市販の顕微鏡の傾斜機構に通常設けられる軸２２０の主要な軸線を中心とする広範囲の傾斜角でも試料領域を妨げられずに視認する能力を与える。

図８は、本発明の別の実施例による試料ホルダー２３０の平面図である。試料ホルダー２３０は、全て図５及び６に関連して説明したように、支持表面２００、拘束要素２０３、ばね２１０（図８には図示せず）及びフィンガ２１１を有する。しかしながら、試料ホルダー２３０の拘束要素２０３は、ショルダーねじなどのような固定装置２１２により与えられる軸を中心とする回転により支持表面２００から後退している。拘束要素２０３の回転は、支持表面２００が存在する水平面にほぼ平行な水平な面内で起こる。拘束要素２０３の本体にはスロット２１３が設けられているが、このスロットは、拘束要素２０３がねじ２０９またはピン、差込型クランプ、カムまたはウェッジのような同様の係合機構と係合したり係合関係から離脱したりするのを可能にする。係合すると、ねじ２０９のような係合手段は拘束要素２０３に下向きの力を与え、これにより図５及び６に関連して説明したような下向きの力が発生する。試料ホルダー２３０はまた、支持表面２００の上面から垂直に延びる端縁部２０１Ａ、２０１Ｂと、端縁部２０１Ａ、２０１Ｂの頂部から延びる円錐状部分２０２とを有する。図８からわかるように、端縁部２０１Ａ、２０１Ｂは、支持表面２００上の上述した態様での拘束要素の回転を可能にする位置にある。同様な実施例ではばね２１０（図８に図示せず）は省略可能であり、その代わりに、拘束要素２０３をコンプライアンス材料で形成してばね２１０と拘束要素２０３とを単一部品に結合してもよい。別の同様な実施例では、ただ、ばね２１０を省略する。

本明細書中の用語及び表現は説明用の用語であって限定用の用語として用いたのではなく、かかる用語及び表現を図示説明した特徴またはそれらの部分の均等物を除外するために使用する意図はなく、本発明の範囲内で多数の変形例及び設計変更が可能であることがわかるであろう。本発明の特定の実施例は以上の詳細な説明において述べたものであるが、本発明はただそれらの開示した実施例に限定されず、多数の変形例及び設計変更が可能であることを理解されたい。

電子顕微鏡のような従来技術の荷電粒子ビーム装置の選択されたコンポーネントを示す。 従来技術の試料保持装置の等角投影図である。 別の従来技術の試料保持装置を示す等角投影図である。 試料支持面に平行に向いた軸を中心として枢動するレバーを有するさらに別の試料ホルダーの断面図である。 本発明の第１の実施例による試料保持装置の等角投影図である。 図５の線Ａ−Ａに沿う図５の保持装置を示す断面図である。 図７は試料支持面に平行な軸を有する円筒軸に固定された図５及び６の試料保持装置の等角投影図である。 本発明の第２の実施例による試料保持装置の平面図である。

Claims (8)

1. 試料保持装置であって、
   第１の端部と第２の端部の間を延びる縦方向軸を有し、溝が設けられた主要本体と、
   主要本体の溝に設けられた試料支持表面と、
   試料支持表面から外れた第１の位置から試料支持表面の周囲にわたり侵入する第２の位置へ主要本体に沿い溝内を縦方向軸に実質的に平行な方向で移動可能な拘束要素とより成り、
   主要本体の溝は拘束要素全体が溝内に収まる深さを有し、
   拘束要素はその本体部分に沿って延びるスロットを有し、
   拘束要素は柔軟性を有する複数のフィンガを有し、複数のフィンガは拘束要素が第２の位置にある時試料支持表面の周囲にわたり侵入し、
   試料保持装置はさらに、スロットを貫通して主要本体内に延びる固定手段を備え、
   スロットと固定手段とは拘束要素の主要本体に沿う運動を制限し、
   拘束要素と主要本体の間には付勢要素が設けられ、
   固定手段は付勢要素により与えられる力に抗して拘束要素に主要本体の上面にほぼ垂直な方向の力を選択的に印加することにより拘束手段を主要本体に、また、試料を試料支持表面に拘束することを特徴とする試料保持装置。
2. 支持表面の第１の側から垂直に延びる第１の端縁部と、第１の側に対向する支持表面の第２の側から垂直に延びる第２の端縁部とをさらに備え、第１の端縁部の中心点と第２の端縁部の中心点を結ぶ第２の方向が主要本体の縦方向軸にほぼ垂直である請求項１の試料保持装置。
3. 第１及び第２の端縁部はそれぞれ対向する端部から延びる第１及び第２の円錐状部分を有し、第１及び第２の円錐状部分はそれらの間に切欠き領域を画定する請求項２の試料保持装置。
4. 主要本体にはホールが貫通しており、このホールは試料支持表面により画定される領域内に位置する請求項１の試料保持装置。
5. 拘束要素は、フィンガとは反対側の拘束要素の端部に位置する把持要素を有する請求項２の試料保持装置。
6. 拘束要素は溝内を主要本体の第１の側に沿って移動可能な第１の拘束要素と、溝内を主要本体の第２の側に沿って移動可能な第２の拘束要素とより成る請求項１の試料保持装置。
7. 固定手段は第１の拘束要素を主要本体の第１の側に固定する第１の固定手段と、第２の拘束要素を主要本体の第２の側に固定する第２の固定手段とより成る請求項６の試料保持装置。
8. 主要本体は円筒軸に固着され、円筒軸は主要本体の縦方向軸に平行な縦方向軸を有する請求項１の試料保持装置。

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