JPH04229540A - 透過電子顕微鏡用試料交換装置 - Google Patents
透過電子顕微鏡用試料交換装置Info
- Publication number
- JPH04229540A JPH04229540A JP2414368A JP41436890A JPH04229540A JP H04229540 A JPH04229540 A JP H04229540A JP 2414368 A JP2414368 A JP 2414368A JP 41436890 A JP41436890 A JP 41436890A JP H04229540 A JPH04229540 A JP H04229540A
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 8
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は透過電子顕微鏡の鏡
筒側面より試料室内に挿入された試料駆動装置の駆動棒
先端に取付けられた試料を交換するめたの試料交換装置
に関する。
筒側面より試料室内に挿入された試料駆動装置の駆動棒
先端に取付けられた試料を交換するめたの試料交換装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】 従来、図7(a),(b)に示すよ
うな構成の透過電子顕微鏡の試料ホルダーが知られてい
る。図7(a)において、試料ホルダーの導入棒51の
先端には試料保持部52が設けられ、該試料保持部52
に設けられた凹部53には試料54を載置したメッシュ
55がばねやねじなどの押圧部材56により固定されて
いる。該試料ホルダーは図示しないゴニオメータに保持
されており、該ホルダー先端の部はゴニオメータにより
磁極片57の間隙の電子線光軸Oの位置まで挿入されて
電子線の照射を受ける。また、前記ゴニオメータは、試
料を光すに直交する平面内で移動させたり、光軸に対し
て傾斜させたりする機能を備えている。
うな構成の透過電子顕微鏡の試料ホルダーが知られてい
る。図7(a)において、試料ホルダーの導入棒51の
先端には試料保持部52が設けられ、該試料保持部52
に設けられた凹部53には試料54を載置したメッシュ
55がばねやねじなどの押圧部材56により固定されて
いる。該試料ホルダーは図示しないゴニオメータに保持
されており、該ホルダー先端の部はゴニオメータにより
磁極片57の間隙の電子線光軸Oの位置まで挿入されて
電子線の照射を受ける。また、前記ゴニオメータは、試
料を光すに直交する平面内で移動させたり、光軸に対し
て傾斜させたりする機能を備えている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】 さて、上述のよう
な所謂サイドエントリータイプの試料ホルダーには複数
の試料を比較観察するために図7(b)に示すように試
料保持部52に複数の試料を装着することができるもの
もあるが、その数は高々数個である。これ以上の試料に
対して比較観察を行なう場合には、一度、試料をホルダ
ーから取り外して交換するか、または試料ホルダーを必
要本数用意することによって行なっている。前者ように
、試料をホルダーから取り外して交換した場合には、外
した試料を再び装着する際に前と同じ条件例えば、数万
倍に拡大して観察されるような領域(部位)に関して試
料の方位(取り付けの回転角)を再び同じ向きに取り付
け一致させることは手作業では不可能である。また、薄
片状の試料では表裏を誤って取り付けてしまう場合もあ
り、観察条件の再現性に乏しくなることが問題となる。
な所謂サイドエントリータイプの試料ホルダーには複数
の試料を比較観察するために図7(b)に示すように試
料保持部52に複数の試料を装着することができるもの
もあるが、その数は高々数個である。これ以上の試料に
対して比較観察を行なう場合には、一度、試料をホルダ
ーから取り外して交換するか、または試料ホルダーを必
要本数用意することによって行なっている。前者ように
、試料をホルダーから取り外して交換した場合には、外
した試料を再び装着する際に前と同じ条件例えば、数万
倍に拡大して観察されるような領域(部位)に関して試
料の方位(取り付けの回転角)を再び同じ向きに取り付
け一致させることは手作業では不可能である。また、薄
片状の試料では表裏を誤って取り付けてしまう場合もあ
り、観察条件の再現性に乏しくなることが問題となる。
【0004】また、後者のように使用者が試料ホルダを
複数本用意するような場合は、装置がコスト高となり甚
だ不経済である。
複数本用意するような場合は、装置がコスト高となり甚
だ不経済である。
【0005】さらに、透過電子顕微鏡用の試料は非常に
薄く、且つメッシュの直径も3mmと小さいため、その
交換作業は至極面倒であり、不慣れな操作者は交換作業
に時間がかかると共に試料の取付け作業中に大切な試料
を壊してしまう場合もある。
薄く、且つメッシュの直径も3mmと小さいため、その
交換作業は至極面倒であり、不慣れな操作者は交換作業
に時間がかかると共に試料の取付け作業中に大切な試料
を壊してしまう場合もある。
【0006】本発明は上述した問題点を考慮し、複数の
試料交換を簡単且つ再現性良く行なうことのできる透過
電子顕微鏡用試料交換装置を提供することを目的として
いる
試料交換を簡単且つ再現性良く行なうことのできる透過
電子顕微鏡用試料交換装置を提供することを目的として
いる
【0007】。
【課題を解決するための手段】 本発明は上述した問
題点を考慮し、鏡筒側面より試料室内の対物レンズ磁極
片間隙近傍に挿入された試料駆動装置の駆動棒先端に試
料薄片または試料を載置したメッシュを保持した薄板を
着脱するようにした試料交換装置において、前記鏡筒側
面に開閉可能な蓋体を有する予備室を設けると共に、該
予備室の蓋体に前記薄板を複数保持するための回転体と
該回転体を所望の位置に回転するためのモータと、前記
回転体の保持部に保持された薄板の一端を挾持し該回転
体の保持部を貫通して試料駆動棒の先端に薄板を搬送す
るための試料導入棒を設けたことを特徴としている。
題点を考慮し、鏡筒側面より試料室内の対物レンズ磁極
片間隙近傍に挿入された試料駆動装置の駆動棒先端に試
料薄片または試料を載置したメッシュを保持した薄板を
着脱するようにした試料交換装置において、前記鏡筒側
面に開閉可能な蓋体を有する予備室を設けると共に、該
予備室の蓋体に前記薄板を複数保持するための回転体と
該回転体を所望の位置に回転するためのモータと、前記
回転体の保持部に保持された薄板の一端を挾持し該回転
体の保持部を貫通して試料駆動棒の先端に薄板を搬送す
るための試料導入棒を設けたことを特徴としている。
【0008】
【実施例】 以下、本発明の実施例を図面に基づいて
説明する。図1は本発明の一実施例を説明するための装
置構成図、図2は予備室の開閉動作および及び回転体の
着脱を説明するための図、図3は2図に示される回転体
のA−A´矢視図、図4は試料交換棒を説明するための
図、図5は交換動作を説明するための図、図6は試料の
冷却装置を備えた実施例を説明するための図である。
説明する。図1は本発明の一実施例を説明するための装
置構成図、図2は予備室の開閉動作および及び回転体の
着脱を説明するための図、図3は2図に示される回転体
のA−A´矢視図、図4は試料交換棒を説明するための
図、図5は交換動作を説明するための図、図6は試料の
冷却装置を備えた実施例を説明するための図である。
【0009】図1において、鏡筒1内部に形成された試
料室2には対物レンズおよびその磁極片(いずれも図示
せず)が配置されている。鏡筒1には試料室2内に試料
及び交換棒を導入するための通路3が設けられており、
該通路3を介して鏡筒1側面に予備室4が取付けられて
いる。また、予備室4内は鏡筒内の試料室とは独立して
排気するために真空ポンプ(図示せず)に接続されてい
る。この予備室4を形成する蓋体5はヒンジ6によって
開閉自在に取付けられており、ツメ7は蓋体5の閉塞時
に該蓋体5をロックするために設けられている。該蓋体
5の外側にはパルスモータ8が取付けられ、該モータの
軸9が蓋体5を貫通して予備室4内に挿入されている。 予備室4内に突出したモータの軸9には回転体10が取
り付けられている。この回転体10はつまみ部11に設
けられた係止機構12のピン13が軸9先端部に設けら
れた切り欠き14に係合されて該軸に固定されている。
料室2には対物レンズおよびその磁極片(いずれも図示
せず)が配置されている。鏡筒1には試料室2内に試料
及び交換棒を導入するための通路3が設けられており、
該通路3を介して鏡筒1側面に予備室4が取付けられて
いる。また、予備室4内は鏡筒内の試料室とは独立して
排気するために真空ポンプ(図示せず)に接続されてい
る。この予備室4を形成する蓋体5はヒンジ6によって
開閉自在に取付けられており、ツメ7は蓋体5の閉塞時
に該蓋体5をロックするために設けられている。該蓋体
5の外側にはパルスモータ8が取付けられ、該モータの
軸9が蓋体5を貫通して予備室4内に挿入されている。 予備室4内に突出したモータの軸9には回転体10が取
り付けられている。この回転体10はつまみ部11に設
けられた係止機構12のピン13が軸9先端部に設けら
れた切り欠き14に係合されて該軸に固定されている。
【0010】また、この回転体10には同心円周上に複
数の試料保持部15が設けられ、該保持部15に試料を
載置したメッシュ16を保持した薄板17が挿入されて
いる。 また、前記通路3と回転体10の保持部15
に保持された薄板17aを結ぶ軸B上に位置するように
蓋体5を貫通して摺動可能な試料交換棒18が設けられ
ており、該交換棒18の予備室4内側の端部には前記薄
板17の一端を挾持するためのチャック27が取付けら
れている。この蓋体5に設けられた交換棒挿入用の貫通
穴には交換棒支持用のブロック20が取付けられており
、該ブロック20には真空封止のためにOリング21a
,21bが設けられ、この2つのOリングの間が排気管
22を介して図示しない真空ポンプにより排気されるよ
うに構成されている。
数の試料保持部15が設けられ、該保持部15に試料を
載置したメッシュ16を保持した薄板17が挿入されて
いる。 また、前記通路3と回転体10の保持部15
に保持された薄板17aを結ぶ軸B上に位置するように
蓋体5を貫通して摺動可能な試料交換棒18が設けられ
ており、該交換棒18の予備室4内側の端部には前記薄
板17の一端を挾持するためのチャック27が取付けら
れている。この蓋体5に設けられた交換棒挿入用の貫通
穴には交換棒支持用のブロック20が取付けられており
、該ブロック20には真空封止のためにOリング21a
,21bが設けられ、この2つのOリングの間が排気管
22を介して図示しない真空ポンプにより排気されるよ
うに構成されている。
【0011】この交換棒18の摺動は交換棒の端部に設
けられたモータ23に取付けられギヤ24と該ギヤ24
に係合するように交換棒18に沿って設けられたラック
25によって行なわれる。なお、該ラック25は導入棒
を覆うケース26に取付けられている。
けられたモータ23に取付けられギヤ24と該ギヤ24
に係合するように交換棒18に沿って設けられたラック
25によって行なわれる。なお、該ラック25は導入棒
を覆うケース26に取付けられている。
【0012】図2は予備室4の蓋体5を開いた状態にお
いて回転体10を着脱する動作を説明するための図であ
る。前記つまみ部11に設けられた係止機構12を解除
しピン13を軸9の切り欠き部14より外すことにより
、回転体12は軸9より取り外される。このように、取
り外された回転体10に対して操作者は試料を載置した
複数の薄板17を取付けることができる。また、取り外
された回転体5は薄板17を複数個保持したままの状態
でデシケータ等の保存装置内に収容しておくことも可能
である。図3は図2に示す回転体12のA−A´矢視図
である。本実施例においては、回転体に保持部が16個
設けられているが、該薄板17の面積は1〜2cm2
程度と小形なので回転体には数十個の薄板を取り付ける
ことも可能である。
いて回転体10を着脱する動作を説明するための図であ
る。前記つまみ部11に設けられた係止機構12を解除
しピン13を軸9の切り欠き部14より外すことにより
、回転体12は軸9より取り外される。このように、取
り外された回転体10に対して操作者は試料を載置した
複数の薄板17を取付けることができる。また、取り外
された回転体5は薄板17を複数個保持したままの状態
でデシケータ等の保存装置内に収容しておくことも可能
である。図3は図2に示す回転体12のA−A´矢視図
である。本実施例においては、回転体に保持部が16個
設けられているが、該薄板17の面積は1〜2cm2
程度と小形なので回転体には数十個の薄板を取り付ける
ことも可能である。
【0013】図4は交換棒18の先端部に取付けられた
チャックを説明するための図である。図4(a)におい
て、薄板17の一端を挾持するチャック27aおよび2
7bは軸28について回動するように構成されており、
該チャック27aおよび27bの端部は常にばね29に
よってチャック先端が閉じられる方向に回転力が加えら
れている。そのため、交換棒18の内部を通された軸3
0の先端に取付けられたぎぼし31を図中右方向より左
方向へ移動してチャック端部のつめに当接させることに
よりチャック先端が開かれる。この軸30の駆動は図1
に示すエアシリンダ19によって行なわれる。この状態
で交換棒18をモータ23により駆動しチャック先端を
回転体10の試料保持部15まで移動させ、前記軸30
をさらに左方向へ移動させると前記ぎぼし31の凹部に
チャックの後端部のつめがかかり、チャック先端が閉じ
られ薄板17の端部が該チャック先端のつめによって挾
持される。そして、エアシリンダ32によってゲートバ
ルブ33が開かれると該チャックによって挾持された薄
板は前記交換棒18によって軸Bに沿って駆動され、通
路3を介して試料室2内に導入される。
チャックを説明するための図である。図4(a)におい
て、薄板17の一端を挾持するチャック27aおよび2
7bは軸28について回動するように構成されており、
該チャック27aおよび27bの端部は常にばね29に
よってチャック先端が閉じられる方向に回転力が加えら
れている。そのため、交換棒18の内部を通された軸3
0の先端に取付けられたぎぼし31を図中右方向より左
方向へ移動してチャック端部のつめに当接させることに
よりチャック先端が開かれる。この軸30の駆動は図1
に示すエアシリンダ19によって行なわれる。この状態
で交換棒18をモータ23により駆動しチャック先端を
回転体10の試料保持部15まで移動させ、前記軸30
をさらに左方向へ移動させると前記ぎぼし31の凹部に
チャックの後端部のつめがかかり、チャック先端が閉じ
られ薄板17の端部が該チャック先端のつめによって挾
持される。そして、エアシリンダ32によってゲートバ
ルブ33が開かれると該チャックによって挾持された薄
板は前記交換棒18によって軸Bに沿って駆動され、通
路3を介して試料室2内に導入される。
【0014】5図は前記試料室に導入された薄板の交換
動作を説明するための図である。5図において試料駆動
棒34は試料交換棒18の軸B上で該試料交換棒18に
対向する方向から挿入されている。該試料駆動棒34の
先端には薄板の一端を挾持するために受け部35および
つめ36等からなる支持機構が設けられている。該支持
機構のつめ36は常にばね37によってその先端が閉じ
られる方向に回転力が加えられている。交換棒18によ
り薄板17が図中右方向より左方向へ移動されてつめ3
6当接されると該つめ36の先端が開かれる。この状態
で交換棒18をさらに駆動すると薄板17の端部に設け
られた溝に前記つめが係合して、該薄板17が試料駆動
棒34に挾持される。このとき、薄板17の先端が受け
部35の端部に設けられた電極37に接触したことを検
出して、前記交換棒18の移動を停止すると共に前記軸
30を後退させてチャックを開放した後、該交換棒18
を予備室4内まで後退させる。
動作を説明するための図である。5図において試料駆動
棒34は試料交換棒18の軸B上で該試料交換棒18に
対向する方向から挿入されている。該試料駆動棒34の
先端には薄板の一端を挾持するために受け部35および
つめ36等からなる支持機構が設けられている。該支持
機構のつめ36は常にばね37によってその先端が閉じ
られる方向に回転力が加えられている。交換棒18によ
り薄板17が図中右方向より左方向へ移動されてつめ3
6当接されると該つめ36の先端が開かれる。この状態
で交換棒18をさらに駆動すると薄板17の端部に設け
られた溝に前記つめが係合して、該薄板17が試料駆動
棒34に挾持される。このとき、薄板17の先端が受け
部35の端部に設けられた電極37に接触したことを検
出して、前記交換棒18の移動を停止すると共に前記軸
30を後退させてチャックを開放した後、該交換棒18
を予備室4内まで後退させる。
【0015】なお、薄板17を試料駆動棒34より取り
外す場合は、再び交換棒18を試料室2内に導入して薄
板17の端部を挾持する。そして、試料駆動棒34内に
貫通された軸38によりつめ36の他端を押して支持を
解除した後、交換棒18を後退して該薄板17が回転体
10の保持部15まで戻される。
外す場合は、再び交換棒18を試料室2内に導入して薄
板17の端部を挾持する。そして、試料駆動棒34内に
貫通された軸38によりつめ36の他端を押して支持を
解除した後、交換棒18を後退して該薄板17が回転体
10の保持部15まで戻される。
【0016】次に導入される薄板は操作者の選択または
電子顕微鏡装置に予め定められたプログラムにより決定
されるが、いずれの場合も回転体10をパルスモータ8
によって駆動して、該回転体中の所望の試料保持部を軸
B上に移動させる。この回転位置の制御はパルスモータ
8の軸9に取り付けられたロータリーエンコーダ39等
から信号に基づいて行なわれる。
電子顕微鏡装置に予め定められたプログラムにより決定
されるが、いずれの場合も回転体10をパルスモータ8
によって駆動して、該回転体中の所望の試料保持部を軸
B上に移動させる。この回転位置の制御はパルスモータ
8の軸9に取り付けられたロータリーエンコーダ39等
から信号に基づいて行なわれる。
【0017】図6は試料の冷却装置を備えた場合の実施
例を説明するための図である。図6において、蓋体5の
外側にはパルスモータ8が取付けられ、該モータの軸9
が蓋体5を貫通して予備室4内に挿入されているが、予
備室4内に突出したモータの軸9の先端に取り付けられ
た回転体10と蓋体5の間に熱伝導率の良い材料で形成
された冷却ブロック40が取り付けられている。この冷
却ブロック40は熱伝導棒41を介して予備室4外部に
設けられた冷媒槽43に接続されている。冷却ブロック
40は回転体5の試料保持部と接触するように設けられ
ている。また、冷却ブロック40は軸9および回転体5
のつまみ部11や蓋体5からの熱の流入を防止するため
に熱絶縁部材44、45を介して支持されている。
例を説明するための図である。図6において、蓋体5の
外側にはパルスモータ8が取付けられ、該モータの軸9
が蓋体5を貫通して予備室4内に挿入されているが、予
備室4内に突出したモータの軸9の先端に取り付けられ
た回転体10と蓋体5の間に熱伝導率の良い材料で形成
された冷却ブロック40が取り付けられている。この冷
却ブロック40は熱伝導棒41を介して予備室4外部に
設けられた冷媒槽43に接続されている。冷却ブロック
40は回転体5の試料保持部と接触するように設けられ
ている。また、冷却ブロック40は軸9および回転体5
のつまみ部11や蓋体5からの熱の流入を防止するため
に熱絶縁部材44、45を介して支持されている。
【0018】この実施例においては、鏡筒側に設けられ
たゲートバルブ46および予備室側に設けられたゲート
バルブ33を閉めることにより鏡筒から予備室を取り外
すことができる。
たゲートバルブ46および予備室側に設けられたゲート
バルブ33を閉めることにより鏡筒から予備室を取り外
すことができる。
【0019】なお、上述した実施例は本発明の一実施例
に過ぎず、本発明は種々変形して実施することができる
。例えば、上述した実施例においては試料駆動棒と試料
交換棒が同軸上に配置された場合について説明したが、
本発明は試料を載置した薄板を光軸に直交する平面内で
試料駆動棒の挿入軸に一致しない方向、例えば真横から
行う場合にも適用することができる。
に過ぎず、本発明は種々変形して実施することができる
。例えば、上述した実施例においては試料駆動棒と試料
交換棒が同軸上に配置された場合について説明したが、
本発明は試料を載置した薄板を光軸に直交する平面内で
試料駆動棒の挿入軸に一致しない方向、例えば真横から
行う場合にも適用することができる。
【0020】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
による透過電子顕微鏡用試料交換装置は、鏡筒側面より
試料室内の対物レンズ磁極片間隙近傍に挿入された試料
駆動装置の駆動棒先端に試料薄片または試料を載置した
メッシュを保持した薄板を着脱するようにした試料交換
装置において、前記鏡筒側面に開閉可能な蓋体を有する
予備室を設けると共に、該予備室の蓋体に前記薄板を複
数保持するための回転体と該回転体を所望の位置に回転
するためのモータと、前記回転体の保持部に保持された
薄板の一端を挾持し該回転体の保持部を貫通して試料駆
動棒の先端に薄板を搬送するための試料導入棒を設けた
ことにより、透過電子顕微鏡用の複数の試料を簡単且つ
再現性良く交換することができる。
による透過電子顕微鏡用試料交換装置は、鏡筒側面より
試料室内の対物レンズ磁極片間隙近傍に挿入された試料
駆動装置の駆動棒先端に試料薄片または試料を載置した
メッシュを保持した薄板を着脱するようにした試料交換
装置において、前記鏡筒側面に開閉可能な蓋体を有する
予備室を設けると共に、該予備室の蓋体に前記薄板を複
数保持するための回転体と該回転体を所望の位置に回転
するためのモータと、前記回転体の保持部に保持された
薄板の一端を挾持し該回転体の保持部を貫通して試料駆
動棒の先端に薄板を搬送するための試料導入棒を設けた
ことにより、透過電子顕微鏡用の複数の試料を簡単且つ
再現性良く交換することができる。
【0021】また、回転体を予備室から取り外すことが
できるため操作者は薄板の装着を手元で行なうことがで
きるため作業が極めて楽になる。
できるため操作者は薄板の装着を手元で行なうことがで
きるため作業が極めて楽になる。
【0022】さらに、発明による試料交換装置の場合、
一本の試料駆動棒に対して、小形な試料を載置した薄板
のみを交換する構成であるため、試料交換のために試料
ホルダーを複数本用意するような場合に比べ装置のコス
トを低く押さえることができる。
一本の試料駆動棒に対して、小形な試料を載置した薄板
のみを交換する構成であるため、試料交換のために試料
ホルダーを複数本用意するような場合に比べ装置のコス
トを低く押さえることができる。
【0023】また、本発明の試料交換装置を用いること
により、自動的に試料交換が行なえるため、焦点合わせ
や撮像などの電子光学系の自動制御化が成された透過電
子顕微鏡に適用することにより自動運転が可能となる。
により、自動的に試料交換が行なえるため、焦点合わせ
や撮像などの電子光学系の自動制御化が成された透過電
子顕微鏡に適用することにより自動運転が可能となる。
【図1】図1は本発明の一実施例を説明するための装置
構成図。
構成図。
【図2】図2は予備室の開閉動作および及び回転体の着
脱を説明するための図。
脱を説明するための図。
【図3】図3は図2に示される回転体のA−A´矢視図
。
。
【図4】図4は交換動作を説明するための図。
【図5】図5は交換動作を説明するための図。
【図6】図6は試料の冷却装置を備えた実施例を説明す
るための図。
るための図。
【図7】図7は従来例を説明するための図。
1:鏡筒 2:試料室3:
通路 4:予備室5:蓋体
6:ヒンジ7:ツメ
8:パルスモータ9:軸
10:回転体11:つまみ部
12:係止機構13:ピン
14:切り欠き15:試料保持部
16:メッシュ17:薄板
18:試料交換棒19:エアシリンダ 20
:ブロック21a:Oリング 21b:Oリ
ング22:排気管 23:モータ2
4:ギヤ 25:ラック26:
ケース
通路 4:予備室5:蓋体
6:ヒンジ7:ツメ
8:パルスモータ9:軸
10:回転体11:つまみ部
12:係止機構13:ピン
14:切り欠き15:試料保持部
16:メッシュ17:薄板
18:試料交換棒19:エアシリンダ 20
:ブロック21a:Oリング 21b:Oリ
ング22:排気管 23:モータ2
4:ギヤ 25:ラック26:
ケース
Claims (4)
- 【請求項1】 鏡筒側面より試料室内の対物レンズ磁
極片間隙近傍に挿入された試料駆動装置の駆動棒先端に
試料薄片または試料を載置したメッシュを保持した薄板
を着脱するようにした試料交換装置において、前記鏡筒
側面に開閉可能な蓋体を有する予備室を設けると共に、
該予備室の蓋体に前記薄板を複数保持するための回転体
と該回転体を所望の位置に回転するためのモータと、前
記回転体の保持部に保持された薄板の一端を挾持し該回
転体の保持部を貫通して試料駆動棒の先端に薄板を搬送
するための試料導入棒を設けたことを特徴とする透過電
子顕微鏡用試料交換装置。 - 【請求項2】 前記回転体をその駆動軸に着脱可能に
取付けたことを特徴とする請求項1記載の透過電子顕微
鏡用試料交換装置。 - 【請求項3】 前記予備室に回転体に設けられた保持
部を冷却する冷却ブロックと、該冷却ブロックを冷却す
るため冷媒槽を設けたことを特徴とする請求項1及び2
に記載の透過電子顕微鏡用試料交換装置。 - 【請求項4】 前記鏡筒に対して予備室を着脱可能に
したことを特徴とする請求項1乃至3に記載の透過電子
顕微鏡用試料交換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2414368A JPH04229540A (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 透過電子顕微鏡用試料交換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2414368A JPH04229540A (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 透過電子顕微鏡用試料交換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04229540A true JPH04229540A (ja) | 1992-08-19 |
Family
ID=18522856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2414368A Pending JPH04229540A (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 透過電子顕微鏡用試料交換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04229540A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4931500U (ja) * | 1972-06-16 | 1974-03-18 | ||
JPS58169762A (ja) * | 1982-03-30 | 1983-10-06 | Internatl Precision Inc | 電子線装置 |
JPH01276555A (ja) * | 1988-04-28 | 1989-11-07 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡用試料装置 |
-
1990
- 1990-12-26 JP JP2414368A patent/JPH04229540A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4931500U (ja) * | 1972-06-16 | 1974-03-18 | ||
JPS58169762A (ja) * | 1982-03-30 | 1983-10-06 | Internatl Precision Inc | 電子線装置 |
JPH01276555A (ja) * | 1988-04-28 | 1989-11-07 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡用試料装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990202 |