JPS5814667U - 荷電粒子線装置 - Google Patents

荷電粒子線装置

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JPS5814667U
JPS5814667U JP10777181U JP10777181U JPS5814667U JP S5814667 U JPS5814667 U JP S5814667U JP 10777181 U JP10777181 U JP 10777181U JP 10777181 U JP10777181 U JP 10777181U JP S5814667 U JPS5814667 U JP S5814667U
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JP
Japan
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particle beam
sample
charged particle
detecting
difference
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Application number
JP10777181U
Other languages
English (en)
Inventor
正秀 奥村
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はSEM像の一例を示す図、第2図は視野制限し
た時、CRTで観察される試料像を示す図、第3図は線
走査をした結果の試料像信号波形の一例を示す図、第4
図は試料を傾けた場合に視野位置がずれることを説明す
る図、第5図は本考案をSEMに実施した場合の一実施
例を示す図である。 1・・・本考案の全体ブ菊ツク図、2・・・偏向信号発
生器、3,10・・・偏向器、4・・・電子ビーム、5
・・・試料、6・・・二次電子、7・・・検出器、8・
・・増幅器、9・・・CRT、11・・・偏向制御部、
12・・・発振器、13・・・カウンタ、14・・・2
値化回路、16・・・試料微動台、17.18・・・減
算器、19.20・・・ディジタル−アナログコンバー
タ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料に荷電粒子線を照射する手段、該粒子線を該試料上
    で偏向する手段、上記照射の結果の試料情報信号を検出
    する手段、該情報信号にもとづいて映像表示する表示手
    段、および上記試料の微動装置からなる荷電粒子線装置
    において、映像として表示されている試料像の中の、少
    なくとも明るさの変化が生じている部分が含まれる一部
    分を選定し、選定された一部分までの走査の開始点から
    の荷電粒子線の移動量を検出し、保持する手段と、上記
    保持した後において生じた走査の開始点からの上記一部
    分迄の移動量を検出し、上記保持された移動量に対する
    差分を求める手段と、該差分に対応して荷電粒子との相
    対的位置関係を補正する・ 手段とを具備したことを特
    徴とする荷電粒子線装置。
JP10777181U 1981-07-22 1981-07-22 荷電粒子線装置 Pending JPS5814667U (ja)

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JP10777181U JPS5814667U (ja) 1981-07-22 1981-07-22 荷電粒子線装置

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JPS5814667U true JPS5814667U (ja) 1983-01-29

Family

ID=29902199

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JP10777181U Pending JPS5814667U (ja) 1981-07-22 1981-07-22 荷電粒子線装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230096046A (ko) 2021-01-29 2023-06-29 아사히 가세이 가부시키가이샤 감광성 엘리먼트, 및 레지스트 패턴의 형성 방법

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