JPS5812342B2 - 連続ドライエッチング方法 - Google Patents

連続ドライエッチング方法

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JPS5812342B2
JPS5812342B2 JP4635481A JP4635481A JPS5812342B2 JP S5812342 B2 JPS5812342 B2 JP S5812342B2 JP 4635481 A JP4635481 A JP 4635481A JP 4635481 A JP4635481 A JP 4635481A JP S5812342 B2 JPS5812342 B2 JP S5812342B2
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JP
Japan
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etching
gas
chamber
wafer
time
Prior art date
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JP4635481A
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English (en)
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JPS57161065A (en
Inventor
中村守孝
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/18Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
    • H01J37/185Means for transferring objects between different enclosures of different pressure or atmosphere

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、連続ドライエッチング方法に関し、さらに詳
しく述べると、ウエハを1枚ずつエッチング室に送り込
んで連続的にドライエッチングを実施する、いわゆる枚
葉連続方式による連続ドライエッチング方法に関する。
従来から用いられているドライエッチング方法としてバ
ッチ式がある。
バッチ式のエッチング方法は、周知の通り、5〜25枚
のウエハを短時間のうちに一度に処理してしまうという
利点を有している。
しかしながら、この方法は、ウエハの大口径化、ウエハ
間の均一性、エッチングの再現性及び精度、装置の自動
化及び省力化などのようなドライエッチング技術のかか
える多くの問題を十分に解決するに至っていない。
ところが、最近になつて、インラインとして全ラインの
自動化を行なうことも可能な新しいタイプの連続ドライ
エッチング方法がいくつか開発された。
そのなかの1つが、今本発明において問題としていると
ころの枚葉連続方式による連続ドライエッチング方法で
ある。
1枚葉連続方式“とけ、通常カセットに収納されている
ウエハを1枚ずつ取り出して連続的にエッチング室に送
り込み、エッチングの完了したウエハを順次別のカセッ
トに収納するエッチング方法を指している。
このようなインライン型の1枚処理あるいは1枚どりと
称される連続ドライエッチング方法は、ウエハの大口径
化に対処し得るばかりでなく、ウエハ間にばらつきがな
い、高精度のエッチングが可能である。
エッチングプロセス条件の調整が迅速かつ容易に可能で
ある、等の多くの利点を有している。
たゾ、この方法には、エッチング速度がおそくて1サイ
クルの処理時間がかなり長いという欠点があり、このこ
とは、バッチ式のエッチング方法に比較して処理量が僅
かであるということを示唆している。
従来のインライン型1枚処理方法において、その処理時
間が長いことにはエッチング室へのガス導入のON−O
FF動作に原因があると考えられる。
なぜなら、インライン型1枚処理方法は、一般的に、エ
ッチングを行なうたび毎にエッチング室へのガス導入の
ON−OFF動作を繰り返しており、したがって、エッ
チングガスを導入し始めてからそのガスの流れが安定す
るまでの時間についてエッチングの開始をあし控えなけ
ればならず、また、エッチング完了後、使用済みのガス
を系外に排出する時間をとらなければならないからであ
る。
簡潔に言うと、エッチング工程毎のエッチング開始まで
の待ち時間とエッチング完了後におけるガス排出時間と
が処理量増加のネックとなっている。
上述のようなガス流量の安定化に原因する時間の無駄を
なくするため、インライン型1枚処理プロセスのすべて
を通じてエッチングガスをエッチング室に導入する解決
法も提案されておりかつ実際にそれ用の装置も市販され
ている。
しかしながら、この方法は、ウエハハンドリング(エッ
チング工程の前後にある工程)中にもエッチングガスを
導入することを必須の要件としており、使用するエッチ
ングガスが強い腐食性を有している時などにおいて問題
である。
例えばCCl4,BCI,,PCl3,Cl2,Br2
,BBr3などのような腐食性の強いガスをエッチング
ガスとして使用する場合、ハンドリングメカニズムの腐
食、故障などがひきおこされることは必至である。
もちろん、このようなたれ流し法(以下、エッチング室
に間断なくエッチングガスを導入する方法をこのように
呼ぶ)であっても、例えばN2t02,H21Ar,H
e,CF4,C2Faなどのような腐食性のないガスを
エッチングガスとして使用する限りにおいて何らの差し
障りもない。
本発明の目的は、腐食性の強いガスをエッチングガスと
して使用可能な、従来技術におけるような処理時間の無
駄を一切排除した改良された連続ドライエッチング方法
、特にインライン型1枚処理方法を提供することにある
本発明者は、上記した目的を達成すべく研究を行なった
結果、処理時間の延長はエッチングガスの導入開始直後
のガス流量の乱れに原因があるという事実に着目し、こ
の原因を消滅させることをもって処理量の増加及び腐食
性ガスの使用という本発明の2大目的を達成し得るとい
うことを見い出した。
すなわち、本発明は、エッチングガス源から連続的に供
給されてくるガスをエッチングの度ごとにエッチング室
に導入し、エツチンク以外の工程においては、ガスの連
続供給を停止させるなどしないで、未使用のま\系外、
すなわち、エッチング装置外に排出することを特徴とし
ている。
本発明は、その好ましいl態様に従うと、エッチングに
供された使用済みのエッチングガスも未使用のま\系外
に排出されるべきエッチングガスもそれを系外に排出す
る以前に適当なトラップを通過させるのが有利である。
エッチングガスは、そのま\系外に排出されたとすると
環境汚染の原因ともなりかねないというものの、一度ト
ラップを通過させると、その殆んどが何らかの形でトラ
ップに捕集されてしまって系外に排出されるものはクリ
ーンな空気だけとなるであろう。
次に、添付の図面を参照しながら本発明を詳し《説明す
る。
第1図は、本発明による連続ドライエッチング方法を実
施するための装置の好ましい1態様を示した系統図であ
る。
ここでは、ウエハをCCl4ガス雰囲気でエッチングす
るインライン型1枚処理方法について説明する。
図中の1はエッチング室であり、この室の前後には、エ
ッチングの再現性を高めるため、ロードロツク室2及び
アンロードロツク室3がそれぞれ配設されている。
エッチング室1を真空に保って大気の侵入を防ぐととも
に各室の密閉を保証するため、各室のウエハ出入口には
それぞれ1個のゲートバルブ4,5,6及び7が設けら
れている。
カセット8に収納されているのは未処理のウエハであり
、これを順次室2,1及び3に案内して所定の処理を実
施し、そして処理後のウエハをカセット9に再び収納す
るために搬送ベルト11,12,13及び14ならびに
ハンドリングメカニズム15及び16が用いられる。
次に、エッチングガスであるCCl4ガスの流路につい
て説明する。
17はCCl,ガスを充填したボンベであり、ここから
CCl4ガスが連続的に供給されている。
なお、ここでは便宜上ボンベ1個によりCCl4ガス源
を説明したけれども、常温常圧下で液体であるCCl,
を乾燥CCl4ガスに変えるためには伺らかのガス化機
構が必要であることを理解されたい。
ボンベ17からの導管1B7途中にはマスフロー19が
設けられていてエッチング室1への安定なCCl4ガス
流の供給を保証している。
なお、マスフロー19の前後に配設されたバルブv3及
び■4は以下の説明のためのものであり、ここではどち
らも開放の状態にある。
エッチング室1内の所定位置にウエハ10が置かれた時
、以下に説明する真空形成手段を用いて室内を真空にす
る。
この時、バルブ■1は閉じたま5であり、CCl,ガス
は開放されたバルブ■2を通ってバイパス導管20の方
向に流れている。
所定の真空度において、バルブV1を開くとともにもう
1つのバルブV2を閉じてエッチング室1にCCI,ガ
スを導入し、よって、ウエハ10のドライエッチングを
実施する。
エッチング完了時、今までエッチング室1に流れていた
CCl,ガスがバイパス導管20の方向に流れるように
バルブ■,及び■2の切り換えを行なう。
その際、同時に、ニードルバルブ■,を開放し、メカニ
カルブースター21によってエッチング室1の排気を行
なう。
なお、メカニカルブースター21に代えて拡散ポンプ、
ターボモレキュラポンプ等を使用してもよい。
バイパス導管20は、メカニカルブースター21の下流
側に合流し、そしてトラップ22に達する。
トラップ22において犬部分のCCl4ガスを捕集され
た後のガスはロータリーポンプ23によりダクト(図示
せず)を介して大気中に放出される。
なお、ロータリポンプ23に並置された24は、同じく
ロータリポンプであり、ロードロック室2及びアンロー
ドロツク室3を真空にする機能を有している。
図中の25は、窒素ガスを充填したボンベであり、この
窒素でもって室2及び3を充満させることができる。
窒素は、大気中の水分などからウエハを保護ずるうえで
有効である。
図示の連続ドライエッチング方法の場合、1つのエッチ
ングサイクルを大別して4工程に分けることができる。
すなわち、下記の4工程:第1工程: ゲートバルブ4を開いてカセット8の未処理ウエハをロ
ードロツク室2(先の工程によりリークの状態にある)
に搬送すると同時に、同じくリークの状態にあるアンロ
ードロツク室3からエッチング処理済みのウエハを取り
出し(ゲートバルブTは開放状態にある)、そしてカセ
ット9に収納する。
この間、エッチング室1ではウエハ10のエッチング中
である。
第2工程: 前記第1工程において開放状態にあったゲートバルブ4
及び7を閉じ、そしてロード1ツク室2及びアンロード
ロック室3内をロータリーポンプ24にようて真空とす
る。
ウエハ10のエッチングがこの工程で完了する。
よって、室10に導入されていたエッチングガス(CC
l4)の流れ方向を切り換えてバイパス導管20に流す
とともにメカニカルブースター21によってエッチング
室1の室内を排気する。
したがって、この工程の最後の段階において、連続する
3つの処理室2,1及び3はすべて真空の状態にある。
第3工程: ゲートバルブ5及び6を開放し、ハンドリングメカニズ
ム16によってエッチング室1内にあるエッチング処理
済みのウエハ10を隣りのアンロードロツク室3に搬出
し、そして、その搬出と同時に、ロードロック室2内に
ある未処理のウエハ10を隣りのエッチング室1に装入
する(ハンドリングメカニズム15による)。
ウエハハンドリング完了後、今まで開放しておいたゲー
トバルブ5及び6を再び閉塞する。
なお、この説明から、本発明においてはハンドリングメ
カニズム15及び16とエッチングガスとが接触する機
会のないことが理解されるであろう。
第4工程: 今までバイパスさせていたエッチングガスを再びエッチ
ング室1に導入して前記第3工程において装入した未処
理のウエハ10のエッチングを開始する。
同時に、ロードロック室2及びアンロードロツク室3の
真空をもれさせてこれらの室内をリークの状態とする。
さらに、これらの室内にボンベ25からの窒素ガスを充
満させる。
ゲートバルブ4及び7はどちらも閉塞の状態にある。
引き続くドライエッチングサイクルは前記第1工程から
の繰り返しである。
第2図は、エッチング終了時から次のエッチング開始時
に至る一定時間についてエッチング室1内における圧力
の変化を示したグラフである。
なお、参考のため、下記の2方法についても同様の圧力
変化をグラフにプロットした。
ガス導入オンーオフ切換法: 一般的なインライン型1枚処理方法として先に述べた方
法であり、添付の第1図(バイパス導管20及びバルブ
v2は考慮せず)について説明すると、バルブv1は常
に開いておき、バルブ■3及び■4はエッチング終了時
に閉じ、そしてエツチング再開時に開く。
曲線2を参照されたい。たれ流し法: %t述べたように、エッチングガスをエッチング室に間
断なく導入する方法である。
添付の第1図(同じく導管20及びバルブv2は考慮せ
ず)について説明すると、バルブvl,v3及びV4が
すべて常に開いている状態である。
曲線3を参照されたい。
なお、本発明方法における室内圧力の変化については曲
線1を参照されたい。
エッチング室1内における圧力の変化を測定するために
適用した条件は下記の通りである。
測定機器:ピラニゲージ エッチング室:容積約10l 図示の通り、たれ流し法(曲線3)では約0.2トルの
まト一定の圧力が継続した。
本発明方法(曲線1)とガス導入ON70FF切換法(
曲線2)とは20秒経過(ガス導入再開時)までほぼ同
じ真空排気速度を示した。
すなわち、5秒経過後、早くもエッチングガスの大半が
排気されてウエハハンドリングが可能となった。
もちろん、ハンドリングメカニズムがエッチングガスに
さらされたりロードロック室にガスが流れたりすること
はなかった。
ところが、20秒経過後、エッチング再開町能となるや
否や千ツチングガスを再導入したにも拘らず、曲線2の
立ち上がりが異常で、圧力(流量)が安定するまで約2
5秒間の待ち時間が必要であった。
本発明方法(曲線1)の場合には、曲線2とは対照的に
、約5秒間の待ち時間でもって早くも圧力の安定が確か
められた。
Gッチング時間を30秒間、ウエハハンドリング時間を
15秒間として第2図のグラフのデーターから1枚のウ
エハの処理時間(秒)及び処理量(枚/hr)を求める
と、次表に記載のようになる。
上記データから、従来のオンーオフ切換法は本発明方法
及びたれ流し法に較べて著しく処理能力の劣ることが判
る。
さらにこの従来法(エッチングガス導入の直後に著しく
多量のガスがエッチング室に流れ込むので室内の塵埃が
まきあげられてウエハ表面に付着するという欠点を有し
ている。
たれ流し法は、みかけ上の処理能力にすぐれているとい
うものの、ウエハハンドリンク沖におけるハンドリング
メカニズム中エッチングガスとの接触及びロードロック
室内へのエッチングガスの流入が不可避であり、その結
果としてのメカニズムの故障、ロードロック室排熱系の
異常等を屡々ひきおこす。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による連続ドライエッチング方法を実
施するための装置の好ましい1態様を示した系統図、そ
して、第2図は、エッチング終了時から次のエッチング
開始時に至る一定時間についてのエッチング室内圧力の
変化を示したグラフである 図中、1はエッチング室、2はロードロック室、3はア
ンロードロツク室、8及び9はウエハカセット、10は
ウエハ、そして17はエッチングガスボンベである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ウエハを1枚ずつエッチング室に送り込んで腐食性
    の強いエッチングガスにより連続的にドライエッチング
    を実施する方法において、 エッチングガス源から連続的に供給されてくる腐食性の
    強いガスをエッチングの度ごとにエッチング室に導入し
    、エッチング以外の工程においては系外に排出すること
    を特徴とする連続ドライエッチング方法。
JP4635481A 1981-03-31 1981-03-31 連続ドライエッチング方法 Expired JPS5812342B2 (ja)

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