JPS6297337A - 乾燥装置 - Google Patents

乾燥装置

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Publication number
JPS6297337A
JPS6297337A JP23801485A JP23801485A JPS6297337A JP S6297337 A JPS6297337 A JP S6297337A JP 23801485 A JP23801485 A JP 23801485A JP 23801485 A JP23801485 A JP 23801485A JP S6297337 A JPS6297337 A JP S6297337A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drying
wafers
dust
wafer
dried
Prior art date
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Pending
Application number
JP23801485A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Shitsupou
七宝 修
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体工業において使用されるウェハ乾燥装
置に関する。
従来の技術 従来、この種の装置は3種に分類されている。
第1のタイプは、第3図(2L)に示すようなウェハを
カセットに入れたまま高速回転させるものである。
第2のタイプは、第3図(b)に示すようなウェハ表面
上の水膜を窒素ガスで吹きとばすもので、ウェハは一枚
づつ乾燥される。第3のタイプは、第3図(C)に示す
ようなウェハをカセットに入れたまま有機容剤中につけ
た後に引き上げるものである。
第3図において、4は容器、6はウェハ、6はカセット
、11は清浄空気512はフィルター、13はモーター
、14はN2配管、16は水膜、16はウェハ搬送機、
17はアーム、18は有機溶剤を示す。
発明が解決しようとする問題点 第3図(a)に示すタイプの乾燥装置では、一度に数カ
セット6のウェハ6を乾燥できるが機械的部分が多いた
めに乾燥後のウェハ6上にダストが残ってしまう。第3
図(b)に示すタイプでは、乾燥後のウェハ6上に残る
ダストは少ないが、枚葉式なために処理時間が長くなっ
てしまう。第3図(C)に示すタイプでは、乾燥後のウ
ェハ5上に残るダストは少なく処理時間も短いが、ダス
ト上に微量の有機物が残ってしまう。
本発明は、乾燥後のウェハ6上に残るダストが少なく一
度に数カセット6のウェハ5を乾燥できる乾燥装置の提
供を目的とするものである。
問題点を解決するための手段 本発明の特徴は、第1図に示すように真空ポンプ9およ
びヒーター7により、水洗・排水後容器4内を真空排気
しながら7o〜80℃まで加熱して乾燥する点である。
第1図において、1はふた。
2は純水配管、3はノズル、4は容器、6はウェハ、6
はカセット、7はヒーター、8は排水口、9は真空ポン
プ、1oはトラップ、19は水抜き、20はリークコッ
クを示す。
作用 容器4内を真空ポンプ9で排気しながらヒーター7で7
0°C以上に加熱して乾燥させるのでダストの吹き上げ
がなく、乾燥後のウェハ6上のダスト残りが少ない。
実施例 第1図に示すように、ノズル3から純水を出してウェハ
を洗浄後、排水口8から排水する。その後、ふた1を閉
じてヒーター7で70°C以上に加熱しながら真空ポン
プ9で容器4内を真空排気し、ウェハ6を乾燥する。乾
燥処理終了後、リークコック12を開けて容器4内を大
気圧に戻し、ふた1を開けてカセット6を取り出す。
第2図は加熱時の均一性を上げるためにヒーター7をラ
ンプヒーター21にしたものである。
発明の効果 本発明の乾燥装置を朗用することで、一度に数カセット
6のウェハ6を乾燥後のダスト残りのない状態で乾燥で
きる。半導体工業において、高集積化が進み乾燥後のダ
スト残りが大きな問題となっている今日、本発明の乾燥
装置は産業上極めて価値の高いものである。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の実施例の乾燥装置の概略図、
第3図は従来の乾燥装置の概略図である。 1・・・・・・ふた、2・・・・・・純水配管、3・・
・・・・ノズル、4・・・・・・容器、6・・・・・・
ウェハ、6・・・・・・カセット、7・・・・・・ヒー
ター、8・・・・・・排水口、9・・・・・・真空ポン
プ、1o・・・・・・トラップ、19・・・・・・水抜
L 20・・・・・・リークコック。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 フI(抜、5 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハの乾燥をカセットごと減圧下で70℃以上に加熱
    して行なうことを特徴とする乾燥装置。
JP23801485A 1985-10-24 1985-10-24 乾燥装置 Pending JPS6297337A (ja)

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JP23801485A JPS6297337A (ja) 1985-10-24 1985-10-24 乾燥装置

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JP23801485A JPS6297337A (ja) 1985-10-24 1985-10-24 乾燥装置

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JPS6297337A true JPS6297337A (ja) 1987-05-06

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100420009B1 (ko) * 1999-12-16 2004-02-25 주성엔지니어링(주) 반도체소자 제조장치
KR100464853B1 (ko) * 2002-06-20 2005-01-06 삼성전자주식회사 순간감압가열 건조방법 및 장치

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KR100420009B1 (ko) * 1999-12-16 2004-02-25 주성엔지니어링(주) 반도체소자 제조장치
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