JPS63102234A - ウエハ乾燥方式 - Google Patents

ウエハ乾燥方式

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Publication number
JPS63102234A
JPS63102234A JP61247688A JP24768886A JPS63102234A JP S63102234 A JPS63102234 A JP S63102234A JP 61247688 A JP61247688 A JP 61247688A JP 24768886 A JP24768886 A JP 24768886A JP S63102234 A JPS63102234 A JP S63102234A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
tape
pressure
cleaning fluid
cover
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61247688A
Other languages
English (en)
Inventor
Ichiro Hayashi
一郎 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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  • Dicing (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ウェハ状態の半導体素子を多数のチップに
切断する際の洗浄・転帰工程に適用されるウェハ乾燥方
式に関するものである。
[従来の技術] 第2図は、従来のウェハ乾燥方式を示すものである。
同図において、(1)はウェハ、(2)はウェハ(1)
を貼り付けたテープ、(3)はテープ(2)を支持する
フレーム、(4)はテープ(2)およびフレーム(3)
を固定して回転させるためのテーブル、(5)は温風等
を吹き付けるためのノズルである。
つぎに、動作について説明する。フレーム(3)に支持
されたテープ(2)にウェハ(1)を貼り付け、このウ
ェハ(1)を、ダイシング後の洗浄が終了した後にテー
ブル(4)に固定する。テーブル(4)を回転させるこ
とにより、ウェハ(1)を高速で回転させながら、ノズ
ル(5)よりウェハ表面に温風を吹き付けて洗浄時にウ
ェハ表面に付着した液(純水)を除去する。この後、さ
らに温風を吹き付け、ウェハ表面に吸着している洗浄液
を蒸発させる。
[発明が解決しようとする問題点] 従来のウェハ乾燥方式は、洗浄液として純水を使用し、
常圧で乾燥させるため、洗浄液の8点以上まで加熱し、
短時間で洗浄液を完全に蒸発させるためには、100℃
以上に昇温させる必要がある。一方、従来使用している
テープ(2)の#熱温度は70℃程度である。このため
、ウェハ(1)をテープ(2)に貼り付けた状態でダイ
シングを行なうテープダイシングにおいては、テープ(
2)の耐熱温度以下の温度で乾燥させねばならず、乾燥
に長面間を要するといった問題点があった。
この発明は上記従来の問題点を解消するためになされた
もので、ダイシング後に洗浄されたウェハの乾燥時間の
短縮化を図り得るウェハ乾燥方式を提供することを目的
とする。
[問題点を解決するための手段] この発明に係るウェハ乾燥方式は、ウェハを貼り付けた
テープごと密閉し、ウェハおよびテープの周囲を減圧す
るとともに加熱するようにしたものである。
[作用] この発明においては、ウェハおよびテープの周囲を減圧
してウェハを加熱するから、減圧効果によりウェハに吸
着された洗浄液の沸点が下げられることになり、したが
って、ウェハの乾燥が促進される。
[発明の実施例] 以下、この発明の実施例を図面にしたがって説明する。
第1図はこの発明に係るウェハ乾燥方式の一例を示すも
ので、従来のものと同一部所には同一符号を付して説明
を省略する。
同図において、(6)はテープ(2)に貼り付けられた
ウェハ(1)等を加熱するためのヒートブロック、(7
)は上記ウェハ(1)の周囲を減圧するために上記ウェ
ハ(1)やテープ(2)等を被うカバーであり、上記ヒ
ートブロック(6)ならびにヒートブロック(6)との
接触部に設けられたシール用0リンク゛(9)縛ととも
に密閉構造体(9)を構成している。
つぎに動作について説明する。
従来方法と同様にウェハ(1)の表面に付着した洗浄液
を除去した後、フレーム(3)に支持されたテープ(2
)にウェハ(1)を貼り付け、これらをヒートブロック
(&)上に載置し、上から密閉力、<−CT)を被せる
。これにより、カバー<r’t)内は密閉構造となる。
カバー(ワ)内を真空で引き、減圧した後、ヒートブロ
ック(b)で加熱すれば、ウェハ(1)に吸着した洗浄
液が蒸発される。すなわち、上記減圧効果により、洗浄
液の沸点が下げられ、これよりも高温でウェハ(1)を
加熱させることにより乾燥時間が早められるうえ、耐熱
温度が70℃程度のテープ(2)であってもこれを変形
させたりするおそれもなくなる。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、ダイシング後に洗浄さ
れたウェハおよびテープを密閉構造の中で減圧し、この
状態で加熱するようにしたから、テープ等を変形させる
ことなく、ウェハの乾燥に要する時間を短縮できる効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるウェハ乾燥方式を示
す概略構成図、第2図は従来のウェハ乾燥方式を示す概
略構成図である。 (1)・・・ウェハ、(2)・・・テープ、(ら)・・
・ヒートブロック、(3)・・・密閉構造体。 なお、図中、同一符号は同一もしくは相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェハをテープに貼り付けた状態でダイシングを
    行なつた後の該ウェハを洗浄液で洗浄し、ついでこのウ
    ェハに付いた洗浄液を乾燥させる工程におけるウェハ乾
    燥方式において、上記洗浄後のウェハおよびテープを密
    閉構造の中で減圧し、上記洗浄液の沸点を下げてウェハ
    を加熱することを特徴とするウェハ乾燥方式。
JP61247688A 1986-10-17 1986-10-17 ウエハ乾燥方式 Pending JPS63102234A (ja)

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JP61247688A JPS63102234A (ja) 1986-10-17 1986-10-17 ウエハ乾燥方式

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JPS63102234A true JPS63102234A (ja) 1988-05-07

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JP (1) JPS63102234A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0358418A (ja) * 1989-07-27 1991-03-13 Ebara Corp ウェハ真空乾操装置
JPH0358419A (ja) * 1989-07-27 1991-03-13 Ebara Corp ウェハ真空乾操装置
JPH0426122A (ja) * 1990-05-22 1992-01-29 Yoshihide Shibano 水洗浄後の高集積度ワークの乾燥方法及び装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0358418A (ja) * 1989-07-27 1991-03-13 Ebara Corp ウェハ真空乾操装置
JPH0358419A (ja) * 1989-07-27 1991-03-13 Ebara Corp ウェハ真空乾操装置
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