JPS62260324A - 基板乾燥装置 - Google Patents
基板乾燥装置Info
- Publication number
- JPS62260324A JPS62260324A JP61104093A JP10409386A JPS62260324A JP S62260324 A JPS62260324 A JP S62260324A JP 61104093 A JP61104093 A JP 61104093A JP 10409386 A JP10409386 A JP 10409386A JP S62260324 A JPS62260324 A JP S62260324A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ipa
- drying chamber
- drying
- tank
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001035 drying Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 23
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims abstract description 6
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 206010000369 Accident Diseases 0.000 abstract description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000007605 air drying Methods 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は水洗された基板を乾燥する乾燥装置に係わる。
基板には例えば半導体ウエハー.半導体マスク基板液晶
表示用ガラス基板等がある。
表示用ガラス基板等がある。
これら基板は化学処理の前後に純水による洗浄を行うが
,その洗浄のあとに乾燥を行わねばならない。
,その洗浄のあとに乾燥を行わねばならない。
基板サイズが小さい時は高速回転させて遠心力で水を振
り切る方式のスピン乾燥が従来用いられたが,基板が2
00X200 **さらに350 X 350 wmと
大型化するに従いスピン乾燥ではバランスをとるのが困
難となり、基盤を破壊する危険が増大するという欠陥が
ある。
り切る方式のスピン乾燥が従来用いられたが,基板が2
00X200 **さらに350 X 350 wmと
大型化するに従いスピン乾燥ではバランスをとるのが困
難となり、基盤を破壊する危険が増大するという欠陥が
ある。
また、このスピン乾燥の欠陥を除去するため水との親和
性のよいイソプロピールアルコール(IPAと略す)の
蒸気乾燥方式がある。この蒸気乾燥はIPAを沸騰させ
その蒸気を冷却して,その清浄な蒸留IPAで水を置換
して乾燥する。従って,クリーンではあるが引火性の強
いIPAを沸騰させて大量の蒸気を発生させるので極め
て危険であるという欠陥がある。
性のよいイソプロピールアルコール(IPAと略す)の
蒸気乾燥方式がある。この蒸気乾燥はIPAを沸騰させ
その蒸気を冷却して,その清浄な蒸留IPAで水を置換
して乾燥する。従って,クリーンではあるが引火性の強
いIPAを沸騰させて大量の蒸気を発生させるので極め
て危険であるという欠陥がある。
冷却器に異常が発生するとIPAの蒸気が溢れ出て大き
な火災事故の危険がある。
な火災事故の危険がある。
また、事故防止のための消火装置等を備えなければなら
ず乾燥装置が大きくかつ高価になるという欠陥がある。
ず乾燥装置が大きくかつ高価になるという欠陥がある。
尊気乾燥方式の欠陥を除去するためディップ乾燥方式が
ある。この方式は2〜3槽の IPA槽に順次浸漬して
水置換を行い乾燥するので装置が大きくなるという欠陥
がある。また、 IPA槽には常時IPAが満たされ
ているので危険が高いという欠陥がある。
ある。この方式は2〜3槽の IPA槽に順次浸漬して
水置換を行い乾燥するので装置が大きくなるという欠陥
がある。また、 IPA槽には常時IPAが満たされ
ているので危険が高いという欠陥がある。
また、 IPAが次第に汚染されクリーンな基板乾燥
ができないという欠陥がある。
ができないという欠陥がある。
本発明は上記欠陥を除去した新規な発明であって、その
目的は大型基板を損傷することなく乾燥することのでき
る乾燥装置を提供すること、火災事故の危険が極めて少
なく安全な乾燥装置を提供すること1クリーンな乾燥が
可能な乾燥装置を提供することであって乾燥室と溶剤を
貯蔵するタンクとポンプとフィルタと溶剤を加熱する加
熱器と溶剤をスプレーするノズルと排気ダクトとによっ
て達成される。
目的は大型基板を損傷することなく乾燥することのでき
る乾燥装置を提供すること、火災事故の危険が極めて少
なく安全な乾燥装置を提供すること1クリーンな乾燥が
可能な乾燥装置を提供することであって乾燥室と溶剤を
貯蔵するタンクとポンプとフィルタと溶剤を加熱する加
熱器と溶剤をスプレーするノズルと排気ダクトとによっ
て達成される。
第1図は本発明になる基板乾燥装置の構成図である。
タンク1に貯蔵された rPAはポンプ2でフィルタ3
および加熱器13の熱交換器4に送出されてその間加熱
され、ノズル5から乾燥室6に予めセットされた基板7
にスプレーされ水置換を行った後タンク1に回収される
。IPAをスプレーしている時、乾燥室6はふた8でカ
バーされ乾燥室6の内部はダクト9で排気されるのでI
PAが装置外部にもれることがなく安全である。
および加熱器13の熱交換器4に送出されてその間加熱
され、ノズル5から乾燥室6に予めセットされた基板7
にスプレーされ水置換を行った後タンク1に回収される
。IPAをスプレーしている時、乾燥室6はふた8でカ
バーされ乾燥室6の内部はダクト9で排気されるのでI
PAが装置外部にもれることがなく安全である。
また、ふた8を開き基板7を取り出す時は、 IPA
はタンク1に回収され乾燥室6にIPA は残っていな
いので引火の危険もなく安全である。
はタンク1に回収され乾燥室6にIPA は残っていな
いので引火の危険もなく安全である。
水タンク10に貯蔵された水をヒーター11で加熱し、
その温水をポンプ12で熱交換器4に送り出し間接的に
IPAを加熱する。また、 IPA の沸点はおよそ7
0℃なので温水の温度を70℃以下にすることによって
より−1安全なIPA加熱となる。
その温水をポンプ12で熱交換器4に送り出し間接的に
IPAを加熱する。また、 IPA の沸点はおよそ7
0℃なので温水の温度を70℃以下にすることによって
より−1安全なIPA加熱となる。
加熱されたIPAで基Fj、7は加熱されているのでス
プレーを停止すると基板7のIPAは急速に蒸発し、極
めて良質の乾燥が可能となる。IPAを噴霧状態にして
基板7にかけると気化熱により基板の温度は低下する。
プレーを停止すると基板7のIPAは急速に蒸発し、極
めて良質の乾燥が可能となる。IPAを噴霧状態にして
基板7にかけると気化熱により基板の温度は低下する。
従って、注ぐようにスプレーすることが必要である。
以上説明したように本発明によれば、乾燥室と溶剤を貯
蔵するタンクとポンプとフィルタと溶剤を加熱する加熱
器と溶剤をスプレーするノズルと排気ダクトとにより大
型基板を損傷することなく安全で高品質で小型の乾燥装
置を実現することが可能となる。
蔵するタンクとポンプとフィルタと溶剤を加熱する加熱
器と溶剤をスプレーするノズルと排気ダクトとにより大
型基板を損傷することなく安全で高品質で小型の乾燥装
置を実現することが可能となる。
第1図は本発明になる基板乾燥装置の構成図である。
1はタンク、2はポンプ、3はフィルタ4は熱交換器、
5はノズル、6は乾燥室17は基板、8はふた。9はダ
クト、10は水タンク、11はヒーター、12はポンプ
、13は加熱器である。 特許出願人 シグマ技術工業株式会社代表者 神 1
) 薫
5はノズル、6は乾燥室17は基板、8はふた。9はダ
クト、10は水タンク、11はヒーター、12はポンプ
、13は加熱器である。 特許出願人 シグマ技術工業株式会社代表者 神 1
) 薫
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、乾燥室と溶剤を貯蔵するタンクとポン プとフィルタと溶剤を加熱する加熱器と 溶剤をスプレーするノズルと排気ダクト とからなることを特徴とする基板乾燥装 置。 2、前記加熱器がヒーターと水タンクと熱 交換器であることを特徴とする前記特許 請求の範囲第1項記載の基板乾燥装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61104093A JPS62260324A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 基板乾燥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61104093A JPS62260324A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 基板乾燥装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62260324A true JPS62260324A (ja) | 1987-11-12 |
Family
ID=14371504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61104093A Pending JPS62260324A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 基板乾燥装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62260324A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01300525A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-05 | Hitachi Ltd | 乾燥方法及び装置 |
JPH03154338A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-02 | Canon Sales Co Inc | 蒸気洗浄乾燥装置 |
JPH04155923A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-28 | Ube Ind Ltd | 蒸気乾燥方法及びその装置 |
JPH04155922A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-28 | Ube Ind Ltd | 蒸気乾燥法及びその装置 |
-
1986
- 1986-05-07 JP JP61104093A patent/JPS62260324A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01300525A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-05 | Hitachi Ltd | 乾燥方法及び装置 |
JPH03154338A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-02 | Canon Sales Co Inc | 蒸気洗浄乾燥装置 |
JPH04155923A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-28 | Ube Ind Ltd | 蒸気乾燥方法及びその装置 |
JPH04155922A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-28 | Ube Ind Ltd | 蒸気乾燥法及びその装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970018267A (ko) | 반도체 웨이퍼의 세정·에칭·건조장치 및 그 사용방법 | |
JPS62260324A (ja) | 基板乾燥装置 | |
JP4434435B2 (ja) | 乾性ガスを製造する方法並びに装置、及び乾燥させる方法並びに装置 | |
JP3913472B2 (ja) | 臨界未満の温度および圧力で湿潤多孔物体を乾燥させる方法および装置 | |
JPS62260325A (ja) | 基板乾燥方法 | |
JPS63301528A (ja) | 基板乾燥装置 | |
JP2532324B2 (ja) | 基板洗浄方法及び減圧乾燥装置 | |
JPH03137977A (ja) | 洗浄装置 | |
JP5726812B2 (ja) | シリコンウェーハの乾燥方法 | |
JP2004047515A (ja) | 石英基板の乾燥方法及び石英基板 | |
JPH10335299A (ja) | ウェーハ乾燥装置 | |
JPS61152020A (ja) | 処理装置 | |
JPS63102234A (ja) | ウエハ乾燥方式 | |
JPH02185031A (ja) | 水蒸気乾燥装置 | |
JPH0854184A (ja) | 密閉型洗浄器の乾燥方法と装置 | |
JP3009006B2 (ja) | 半導体基板の乾燥装置 | |
JPH06294578A (ja) | 部品乾燥方法及び乾燥装置 | |
JPH0789547B2 (ja) | 乾燥方法 | |
KR940004787B1 (ko) | 건조방법 및 그 장치 | |
KR980011979A (ko) | 웨이퍼 세정/건조 장치 및 방법 | |
JP3869613B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JPH02152234A (ja) | 蒸気乾燥方法 | |
JP3436426B2 (ja) | 蒸気洗浄方法 | |
JPH01300525A (ja) | 乾燥方法及び装置 | |
JPH07153735A (ja) | Ipa蒸気乾燥装置 |